JPH10311870A - タイミング発生器 - Google Patents

タイミング発生器

Info

Publication number
JPH10311870A
JPH10311870A JP9122723A JP12272397A JPH10311870A JP H10311870 A JPH10311870 A JP H10311870A JP 9122723 A JP9122723 A JP 9122723A JP 12272397 A JP12272397 A JP 12272397A JP H10311870 A JPH10311870 A JP H10311870A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
rate
asynchronous
cycle
signal
data memory
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9122723A
Other languages
English (en)
Inventor
Akio Sugimura
明男 杉村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP9122723A priority Critical patent/JPH10311870A/ja
Publication of JPH10311870A publication Critical patent/JPH10311870A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 レートに対して独立して周期を設定できる非
同期マルチレートのタイミング発生器を提供すること。 【解決手段】 マルチレート回数データメモリ30と、
マルチレート周期データメモリ40と、マルチレート発
生回路50と、このマルチレート発生回路で発生したマ
ルチレート周期の個数をカウントし、マルチレート回数
データメモリの設定値と同一になるとレート信号を出力
するレート発生回路60とを有するタイミング発生器に
おいて、マルチレート周期と独立に定められた非同期マ
ルチレート周期(ASMrate)を設定する非同期マルチレー
ト周期データメモリ70と、この非同期マルチレート周
期データメモリで定められた非同期マルチレート周期の
信号を発生する非同期マルチレート発生回路80とを具
備している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ディジタルLSI
テスタに用いられるタイミング発生器に関し、特に1テ
ストレート中に複数のクロックを発生するマルチクロッ
クの自由度を増す改良に関する。
【0002】
【従来の技術】マルチクロックのタイミング発生器は、
例えば実開昭61−143334号公報に開示されてい
る。図3は、従来装置の概略を示す構成ブロック図であ
る。図において、基準クロック回路12は、マルチクロ
ック発生回路15に対して基準となるクロック信号を送
るもので、制御部11から制御信号を得ている。クロッ
ク周期設定手段13は、マルチレートの周期データMra
teをマルチクロック発生回路15に送る。レート周期設
定手段14は、マルチレートの回数設定データNをレー
ト信号発生回路18に送る。マルチクロック発生回路1
5は、マルチクロック信号17を出力すると共に、レー
ト信号発生回路18のカウンタ回路19のクロック端子
CLKにもマルチクロック信号17を供給する。
【0003】レート信号発生回路18は、カウンタ19
とコンパレータ22を有している。カウンタ19は、1
テストレート中にマルチレートが幾つ出力されたかを数
えるもので、レート開始と共にマルチレートを数え、そ
のレート中にマルチレートが何回発生したかをカウント
している。コンパレータ22は、カウンタ19の計数値
と予め設定されているマルチレート設定回数のデータと
を比較し、両者が一致したときレート信号21が出力さ
れ、この時点から次のテストレートが開始される。
【0004】このように構成された装置の動作を次に説
明する。図4は図3の装置の動作を説明する波形図で、
(A)はレート信号、(B)はクロック信号、(C)は
マルチクロック、(D)はマルチレートの周期データ、
(E)はマルチレートの回数設定データ、(F)はマル
チレート、(G)はマルチレートの回数カウンタであ
る。マルチクロックを使用するときは、Mrate長*N=
レート長として、レート信号21を得ている。ここで、
Mrate長は、マルチレートの周期データで、クロック周
期設定手段13で設定されている。Nは、マルチレート
の回数設定データで、レート周期設定手段14で設定さ
れている。そして、マルチクロックを使用しない時は、
Mrate長*1=レート長として、レート信号21を得て
いる。このように、マルチレート長を最少単位としたマ
ルチレートを元にして、マルチレートを発生させてい
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
方法では、レート長はマルチレート長の整数倍に限定さ
れると共に、マルチレート信号を基準に発生されるマル
チクロックも、レート信号に対して必ず同期することに
なる。他方、最近の半導体は高集積が可能になったこと
から、全く独立した機能を単一のチップに組み込む場合
も少なくない。このような独立多機能チップの検査に
は、検査対象ブロックをテストする間、それ以外のブロ
ックに検査対象ブロックの動作クロックとは非同期なク
ロックを供給しながら検査を行い、ブロック間の干渉が
無いことを検査したいという要請がある。
【0006】このようなブロック間干渉検査において、
従来のタイミング発生器では、本来同期しているクロッ
クを非同期にみせかけるため、複雑なパターンプログラ
ムに頼る必要があった。つまり、周期データを変更する
動き(以下、on the fly機能という)や複雑なパターン
を駆使しながら非同期クロックに相当する動作をさせる
ため、タイミングのon the flyレベル数の増大、パター
ンの複雑さ、パターンメモリの増大などの問題があっ
た。
【0007】図5は、従来の非同期クロックの生成を説
明する波形図で、(A)はレート、(B1)は非同期ク
ロック、(B2)はエッジタイミング、(C1)はパタ
ーンデータである。ここでは、テストレートR1に対し
て非同期な周期R2のクロックを出力しようとしてい
る。非同期な周期を出力するために、エッジタイミング
は毎サイクルon the fly機能を使用して、出力タイミン
グ(t1−t7)を変更している。またパターンデータ
は、レートにより”1”、”0”のコントロールが必要
になっている。このように煩雑な設定を行ったとして
も、発生可能な非同期クロックにエッジのon the flyレ
ベル数等の制約が生ずるという課題があった。本発明は
上述の課題を解決したもので、レートに対して独立して
周期を設定できる非同期マルチレートのタイミング発生
器を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の請求項1記載のタイミング発生器は、マ
ルチレート周期(Mrate)を単位として一のテスト周期
が何個のマルチレート周期繰り返されるか定義するマル
チレート回数データメモリ30と、原振クロック信号を
基準とするマルチレート周期を設定するマルチレート周
期データメモリ40と、このマルチレート周期データメ
モリで定められたマルチレート周期の信号を発生するマ
ルチレート発生回路50と、このマルチレート発生回路
で発生したマルチレート周期の個数をカウントし、マル
チレート回数データメモリの設定値と同一になるとレー
ト信号を出力するレート発生回路60とを有するタイミ
ング発生器において、前記マルチレート周期と独立に定
められた非同期マルチレート周期(ASMrate)を設定する
非同期マルチレート周期データメモリ70と、この非同
期マルチレート周期データメモリで定められた非同期マ
ルチレート周期の信号を発生する非同期マルチレート発
生回路80とを具備することを特徴としている。
【0009】本発明の請求項1によれば、マルチレート
周期データメモリ40で設定されたマルチレート周期に
従って、マルチレート発生回路50がマルチレート周期
の信号を発生する。マルチレート発生回路50は、マル
チレート周期の信号の個数がマルチレート回数データメ
モリの設定値に到達するとレート信号を出力する。非同
期マルチレート周期データメモリ70により、マルチレ
ート周期と独立に定められた非同期マルチレート周期AS
Mrateを設定できるので、レートに非同期なマルチクロ
ックを発生させることができる。従来例のように、タイ
ミングのon thefly機能を用いて非同期マルチレート周
期を設定する場合に比較すると、on theflyレベル数の
制限やパターンの複雑さを回避できる。
【0010】この場合、請求項2のように、レート発生
回路と非同期マルチレート発生回路は、初回のレート信
号と初回の非同期マルチレート周期信号とを同期させて
スタートするとよい。このようにすると、発生クロック
に再現性が保て、必要なら同期動作も可能になってい
る。
【0011】また、請求項3のように、レート発生回路
と非同期マルチレート発生回路は、中途で非同期マルチ
レート周期をレート信号と非同期に移行させてもよく、
また請求項4のように、中途で非同期マルチレート周期
をレート信号と同期させてもよい。これは、タイミング
のon the fly機能を使用して実現する。
【0012】さらに、請求項5のように、レート発生回
路と非同期マルチレート発生回路は、原振クロック信号
を同一とするよい。原振クロック信号を同一とすると、
発生クロックに再現性が生じ、デバイステストの結果に
も再現性が確保できる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下図面を用いて、本発明を説明
する。図1は本発明の適用されるタイミング発生器の構
成図である。図において、マルチレート回数データメモ
リ30は、マルチレート周期Mrateを単位として一のテ
スト周期が何個のマルチレート周期繰り返されるか定義
する。マルチレート周期データメモリ40は、原振クロ
ック90から送られる原振クロック信号を基準とするマ
ルチレート周期を設定する。マルチレート発生回路50
は、マルチレート周期データメモリ40で定められたマ
ルチレート周期の信号を発生する。レート発生回路60
は、マルチレート発生回路50で発生したマルチレート
周期の個数をカウントし、マルチレート回数データメモ
リ30の設定値と同一になるとレート信号を出力する。
【0014】非同期マルチレート周期データメモリ70
は、マルチレート周期と独立に定められた非同期マルチ
レート周期ASMrateを設定するもので、レートよりも短
い周期でも差し支えない。非同期マルチレート発生回路
80は、非同期マルチレート周期データメモリ70で定
められた非同期マルチレート周期の信号を発生するもの
で、原振クロック90から送られる原振クロック信号を
基準としている。原振クロック90は、水晶発振器のよ
うに正確な高周波信号を生成するものである。制御部1
0は、タイムスロットアドレスによりマルチレート回数
データメモリ30、マルチレート周期データメモリ4
0、非同期マルチレート周期データメモリ70にそれぞ
れ対応する設定値を設定すると共に、マルチレート発生
回路50、レート発生回路60、非同期マルチレート発
生回路80に対して起動/停止命令を掛ける。
【0015】このように構成された装置の動作を次に説
明する。図2は、図1の装置の動作を説明する波形図
で、(A)はレート信号、(B)はクロック信号、
(C)は従来のマルチクロック、(H1)〜(H3)は
非同期マルチクロックの例1〜例3を示している。従来
のマルチクロックでは、レートRate1についてはMrate1
の周期のマルチクロック4発で構成され、同様にレート
Rate2についてはMrate2の周期のマルチクロック3発で
構成されている。
【0016】非同期マルチクロックの例1は、非同期マ
ルチレート周期ASMrate1で連続的にクロック出力してい
る。ここでは、非同期マルチレート周期ASMrate1は、ス
タート点ではレート信号と同期しているが、以後のレー
トでは両者間に何の関係もない。非同期マルチレート発
生回路80は、マルチレート発生回路50とは独立して
設けられていると共に、共通の原振クロック90から送
られる原振クロック信号を基準としている構成だからで
ある。
【0017】非同期マルチクロックの例2は、非同期マ
ルチレート周期ASMrate2で連続的にクロック出力してい
るが、ここでは、非同期マルチレート周期ASMrate2は、
レートRate1,2よりも長い点に特徴がある。非同期マル
チクロックの例3は、予め判っている発生シーケンスに
従って、レート信号とある点で同期をとり、その後のサ
イクルでは同期点以降、on the fly機能によって周期デ
ータを変更する動作を行う。予めレートの周期とその繰
り返し等の情報が判っているならば、スタート点が同期
している任意の周期のマルチクロックの周期が、レート
のそれと一致するポイントは計算することができる。従
って、例3のように非同期マルチレート周期ASMrate3で
スタートし、ある同期点から非同期マルチレート周期AS
Mrate4に周期変更することが可能になる。
【0018】なお、上記実施例においては、制御部10
はマルチレート周期と非同期マルチレート周期で共通と
しているが、両者を個別の制御部により制御してもよい
など、要旨を逸脱しない範囲内で種種変更して実施でき
ることは言うまでもない。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1記載の本
発明によれば、非同期マルチレート周期データメモリ7
0により、マルチレート周期と独立に定められた非同期
マルチレート周期ASMrateを設定できるので、レートに
非同期なマルチクロックを発生させることができる。即
ち、一つのチップに全く独立した2以上の機能を搭載す
る場合に、それぞれの機能ブロック間の干渉を検査する
項目がある。本来、機能的に独立したブロックで、その
動作が他に対して影響しないことが期待される場合、検
査対象ブロック以外を、検査とは関係のない周期で動作
させながら検査することが行われる。この時、検査対象
には本来のテストパターンを用い、検査対象以外には非
同期マルチレート信号を提供することが行われる。半導
体の検査である以上、全くランダムな信号では検査にお
ける再現性が失われていまい、多数のデバイス間の検査
の同等性を確保する目的を達成できない。そこで、非同
期マルチレート周期ASMrateにより、テストレートと関
係のない周期のマルチクロック信号を発生しながら、半
導体内部の干渉に関する検査が可能になる。
【0020】この場合、請求項2のように、レート発生
回路と非同期マルチレート発生回路は、初回のレート信
号と初回の非同期マルチレート周期信号とを同期させて
スタートするとよい。このようにすると、発生クロック
に再現性が保て、必要なら同期動作も可能になってい
る。
【0021】また、請求項3のように、レート発生回路
と非同期マルチレート発生回路は、中途で非同期マルチ
レート周期をレート信号と非同期に移行させてもよく、
また請求項4のように、中途で非同期マルチレート周期
をレート信号と同期させてもよい。即ち、発生シーケン
スが予め判っている場合には、タイミングのon the fly
機能を使用して、ある点からレートと同期をとる設定が
できる。
【0022】さらに、請求項5のように、レート発生回
路と非同期マルチレート発生回路は、原振クロック信号
を同一とするよい。原振クロック信号を同一とすると、
発生クロックに再現性が生じ、デバイステストの結果に
も再現性が確保できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の適用されるタイミング発生器の構成図
である。
【図2】図1の装置の動作を説明する波形図である。
【図3】従来装置の概略を示す構成ブロック図である。
【図4】図3の装置の動作を説明する波形図である。
【図5】従来の非同期クロックの生成を説明する波形図
である。
【符号の説明】
30 マルチレート回数データメモリ 40 マルチレート周期データメモリ 50 マルチレート発生回路 60 レート発生回路 70 非同期マルチレート周期データメモリ 80 非同期マルチレート発生回路 90 原振クロック発生器

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】マルチレート周期(Mrate)を単位として
    一のテスト周期が何個のマルチレート周期繰り返される
    か定義するマルチレート回数データメモリ(30)と、 原振クロック信号を基準とするマルチレート周期を設定
    するマルチレート周期データメモリ(40)と、 このマルチレート周期データメモリで定められたマルチ
    レート周期の信号を発生するマルチレート発生回路(5
    0)と、 このマルチレート発生回路で発生したマルチレート周期
    の個数をカウントし、マルチレート回数データメモリの
    設定値と同一になるとレート信号を出力するレート発生
    回路(60)とを有するタイミング発生器において、 前記マルチレート周期と独立に定められた非同期マルチ
    レート周期(ASMrate)を設定する非同期マルチレート周
    期データメモリ(70)と、 この非同期マルチレート周期データメモリで定められた
    非同期マルチレート周期の信号を発生する非同期マルチ
    レート発生回路(80)と、 を具備することを特徴とするタイミング発生器。
  2. 【請求項2】前記レート発生回路と非同期マルチレート
    発生回路は、初回のレート信号と初回の非同期マルチレ
    ート周期信号とは、同期させてスタートすることを特徴
    とする請求項1記載のタイミング発生器。
  3. 【請求項3】前記レート発生回路と非同期マルチレート
    発生回路は、中途で非同期マルチレート周期をレート信
    号と非同期に移行させることを特徴とする請求項2記載
    のタイミング発生器。
  4. 【請求項4】前記レート発生回路と非同期マルチレート
    発生回路は、中途で非同期マルチレート周期をレート信
    号と同期させることを特徴とする請求項2記載のタイミ
    ング発生器。
  5. 【請求項5】前記レート発生回路と非同期マルチレート
    発生回路は、原振クロック信号を同一とすることを特徴
    とする請求項1記載のタイミング発生器。
JP9122723A 1997-05-14 1997-05-14 タイミング発生器 Pending JPH10311870A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9122723A JPH10311870A (ja) 1997-05-14 1997-05-14 タイミング発生器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9122723A JPH10311870A (ja) 1997-05-14 1997-05-14 タイミング発生器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10311870A true JPH10311870A (ja) 1998-11-24

Family

ID=14843002

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9122723A Pending JPH10311870A (ja) 1997-05-14 1997-05-14 タイミング発生器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10311870A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007132755A (ja) * 2005-11-09 2007-05-31 Sharp Corp 回路検査方法及び回路検査システム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007132755A (ja) * 2005-11-09 2007-05-31 Sharp Corp 回路検査方法及び回路検査システム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4874963B2 (ja) 低周波数デジタル信号と高周波数デジタル信号との間の同期化
CN104716946B (zh) 时钟信号同步
US7260166B2 (en) Systems for synchronizing resets in multi-clock frequency applications
JPH10311870A (ja) タイミング発生器
JPH08286780A (ja) クロック回路及びこれを用いたプロセッサ並びにプロセッサ動作方法
WO2010021131A1 (ja) 試験装置および試験方法
JP2000249747A (ja) 半導体試験装置のタイミング信号発生回路
JP4190217B2 (ja) クロック生成装置及びオーディオデータ処理装置
JP4004668B2 (ja) データ処理回路
JP4462692B2 (ja) 半導体デバイス
JP4526176B2 (ja) Ic試験装置
JP2877433B2 (ja) 波形生成回路
JPH063416A (ja) Lsiテスタ
JP3408482B2 (ja) 集積回路テスターおよび集積回路試験方法
JPS597968B2 (ja) 複数デジタル回路の同期方法
JPH03144383A (ja) アナログ―ディジタル混成ic用試験装置
JP2006177827A (ja) 半導体集積回路のテスト装置及びテスト方法
JP2004144599A (ja) 半導体集積回路
JPH0439628B2 (ja)
JPH11234094A (ja) トリガ回路
JPH04102083A (ja) タイミング発生器間のスキュー補正回路
JPS6242532B2 (ja)
JPH07209388A (ja) タイミング信号発生装置
JPS61141568A (ja) 同期形発振回路
JPH026770A (ja) テスターのタイミング信号発生回路