JPS6249926B2 - - Google Patents
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- JPS6249926B2 JPS6249926B2 JP764681A JP764681A JPS6249926B2 JP S6249926 B2 JPS6249926 B2 JP S6249926B2 JP 764681 A JP764681 A JP 764681A JP 764681 A JP764681 A JP 764681A JP S6249926 B2 JPS6249926 B2 JP S6249926B2
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- discharge electrode
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 12
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 claims description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 10
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 9
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/66—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
- G01N21/67—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence using electric arcs or discharges
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- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は鋼材等の内部の成分含有量およびまた
は成分分布状態を短時間で正確に連続測定する方
法に関するものである。
は成分分布状態を短時間で正確に連続測定する方
法に関するものである。
従来、鋼材内部の成分分布の測定は一般的にサ
ルフアープリント法によつている。サルフアープ
リント法は周知の通り成分分布状態を定性的に観
察するものであり、サルフアー偏析帯の有無は把
握できても、鋼材の品質管理上必要な含有量を得
ることは不可能である。このため、正確な測定を
必要とする場合は発光分光分析法を採用すること
が考えられるが、次記の技術的問題で、大形鋼材
の広い面積の分析法には適さなかつた。すなわ
ち、発光分光分析法はよく知られているように放
電電極と試料との間に放電を起し、放電により発
生した元素固有のスペクトル強度を測定すること
により成分含有量を知る方法であるが、一般に放
電初期に発生するスペクトルは不安定なため、こ
の時期のスペクトル強度と成分含有量の対応は確
かでなく、放電開始より一定時間経過後に発生す
るスペクトル強度の測定値をもつて成分含有量と
し、このため前記一定時間に対応する時間、スペ
クトル強度を測定する前に予備放電を行なわなけ
ればならない。
ルフアープリント法によつている。サルフアープ
リント法は周知の通り成分分布状態を定性的に観
察するものであり、サルフアー偏析帯の有無は把
握できても、鋼材の品質管理上必要な含有量を得
ることは不可能である。このため、正確な測定を
必要とする場合は発光分光分析法を採用すること
が考えられるが、次記の技術的問題で、大形鋼材
の広い面積の分析法には適さなかつた。すなわ
ち、発光分光分析法はよく知られているように放
電電極と試料との間に放電を起し、放電により発
生した元素固有のスペクトル強度を測定すること
により成分含有量を知る方法であるが、一般に放
電初期に発生するスペクトルは不安定なため、こ
の時期のスペクトル強度と成分含有量の対応は確
かでなく、放電開始より一定時間経過後に発生す
るスペクトル強度の測定値をもつて成分含有量と
し、このため前記一定時間に対応する時間、スペ
クトル強度を測定する前に予備放電を行なわなけ
ればならない。
現在の発光分光分析法は１本の放電電極と試料
の間に放電現象を起し、予備放電と、スペクトル
強度を一定時間積分して成分含有量を測定する分
析放電を行つている。この分析放電に寄与する試
料の面積は通常２〜７mmφである。これ等のこと
から現在の発光分光分析法で大形鋼材の横断面の
成分分布を測定するには、横断面を２〜７mmφ位
の間隔に区分して、その全区画につき１回１回予
備放電および分析放電を繰返す必要がある。この
ため、作業性が非常に悪く、大形鋼材の中心偏析
帯を迅速的確に測定するには全く不適当であつ
た。
の間に放電現象を起し、予備放電と、スペクトル
強度を一定時間積分して成分含有量を測定する分
析放電を行つている。この分析放電に寄与する試
料の面積は通常２〜７mmφである。これ等のこと
から現在の発光分光分析法で大形鋼材の横断面の
成分分布を測定するには、横断面を２〜７mmφ位
の間隔に区分して、その全区画につき１回１回予
備放電および分析放電を繰返す必要がある。この
ため、作業性が非常に悪く、大形鋼材の中心偏析
帯を迅速的確に測定するには全く不適当であつ
た。
本発明は従来方法の問題点を伴うことなく大形
鋼材の中心偏析帯等の成分含有量およびまたは成
分分布を迅速的確に定量化する発光分光分析法を
提供することを目的とするもので、本発明の特徴
とするところは、発光部に少なくとも各１個の予
備放電電極と分析用放電電極を該発光部の試料分
析面に対する相対移動方向の先頭から順に配設し
て、これら各電極から試料分析面に連続放電しつ
つ、該発光部と試料分析面とを連続的に相対移動
せしめて、該試料中の成分含有量およびまたは成
分分布を測定するにある。すなわち本発明は、従
来単一の放電電極にて予備放電と分析放電を時間
的に区分していたものを、放電電極を役割によつ
て分離し、予備放電電極は予備放電専用とし、分
析用放電電極は分析放電専用とし、放電始期の不
安定なスペクトルを予備放電電極を発生せしめ、
分析放電のときには安定なスペクトルを発生せし
め、分析放電によつて発生したスペクトルのみを
分光し測光する。
鋼材の中心偏析帯等の成分含有量およびまたは成
分分布を迅速的確に定量化する発光分光分析法を
提供することを目的とするもので、本発明の特徴
とするところは、発光部に少なくとも各１個の予
備放電電極と分析用放電電極を該発光部の試料分
析面に対する相対移動方向の先頭から順に配設し
て、これら各電極から試料分析面に連続放電しつ
つ、該発光部と試料分析面とを連続的に相対移動
せしめて、該試料中の成分含有量およびまたは成
分分布を測定するにある。すなわち本発明は、従
来単一の放電電極にて予備放電と分析放電を時間
的に区分していたものを、放電電極を役割によつ
て分離し、予備放電電極は予備放電専用とし、分
析用放電電極は分析放電専用とし、放電始期の不
安定なスペクトルを予備放電電極を発生せしめ、
分析放電のときには安定なスペクトルを発生せし
め、分析放電によつて発生したスペクトルのみを
分光し測光する。
放電によつて発生するスペクトル強度と放電時
間の関係は第１図に示すように成分、含有量及び
成分の状態等によつて異なるが、ある雰囲気のも
とでは第２図に示すように、放電を停止した後再
度放電を行なうとスペクトル強度は停止時の強さ
と等くなり、以後のスペクトル強度と放電時間の
関係は放電を停止しなかつた場合と同様の傾向を
示す。そこで、予備放電電極はＡ部の放電を、分
析用放電電極はＢ部の放電を行なうように構成
し、Ｂ部のスペクトルを分光分析して、成分含有
率を測定する。なお第２図はアルゴンガス雰囲気
中で放電を一時停止したスペクトル強度を示す。
間の関係は第１図に示すように成分、含有量及び
成分の状態等によつて異なるが、ある雰囲気のも
とでは第２図に示すように、放電を停止した後再
度放電を行なうとスペクトル強度は停止時の強さ
と等くなり、以後のスペクトル強度と放電時間の
関係は放電を停止しなかつた場合と同様の傾向を
示す。そこで、予備放電電極はＡ部の放電を、分
析用放電電極はＢ部の放電を行なうように構成
し、Ｂ部のスペクトルを分光分析して、成分含有
率を測定する。なお第２図はアルゴンガス雰囲気
中で放電を一時停止したスペクトル強度を示す。
第３図に本発明を実施する装置構成の一例を示
す。以下第３図を参照して本発明の実施例を説明
する。第３図に示す装置は発光部、分光部、測定
部、記録部及び試料搬送部より成り、発光部は、
予備放電電極１、分析用放電電極２および発光回
路１０よりなる。分光部は集光レンズ３、反射鏡
４、分光素子（プリズムや回析格子）５及びスリ
ツト６より成る。測光部は、光電子増倍管７およ
び増幅器８よりなる。記録部はレコーダー９を用
い、試料搬送部は縦送り機構１１、横送り機構１
２及びベツド１３より成る。本装置を用いて、鋳
片の中心偏析帯を分析する場合を説明する。ベツ
ド１３上に鋳片１４をおき、縦送り機構１１と横
送り機構１２を用いて、中心偏析帯１５が図のよ
うに、予備放電電極１及び分析用放電電極２の直
下を通過するように調整する。調整がすんだら、
ベツド１３を縦送り機構１１側へよせ、Ａ点を予
備放電電極１直下にセツトする。
す。以下第３図を参照して本発明の実施例を説明
する。第３図に示す装置は発光部、分光部、測定
部、記録部及び試料搬送部より成り、発光部は、
予備放電電極１、分析用放電電極２および発光回
路１０よりなる。分光部は集光レンズ３、反射鏡
４、分光素子（プリズムや回析格子）５及びスリ
ツト６より成る。測光部は、光電子増倍管７およ
び増幅器８よりなる。記録部はレコーダー９を用
い、試料搬送部は縦送り機構１１、横送り機構１
２及びベツド１３より成る。本装置を用いて、鋳
片の中心偏析帯を分析する場合を説明する。ベツ
ド１３上に鋳片１４をおき、縦送り機構１１と横
送り機構１２を用いて、中心偏析帯１５が図のよ
うに、予備放電電極１及び分析用放電電極２の直
下を通過するように調整する。調整がすんだら、
ベツド１３を縦送り機構１１側へよせ、Ａ点を予
備放電電極１直下にセツトする。
予備放電開始後、図の手前の方にベツド１３の
縦送りを開始する。Ａ点が分析用放電電極２直下
に位置したとき分析放電を開始する。以下、Ｂ点
が分析用放電電極２直下に位置するまで予備放電
及び分析放電を行ないつつ縦送りを行なう。該分
析用放電開始と同時に分光、測光、記録も開始す
る。予備放電で発光する光が入らないように調整
された集光レンズ３にて、分析用放電で発生する
光のみを反射鏡４を通して回析格子５に導く。回
析格子５で元素特有のスペクトルに分光し、必要
な分析成分のスペクトルをスリツト６によつて選
択し、スリツト６を通つたスペクトルの強度を光
電子増倍管７で電流に変換する。コンデンサで電
流を電圧に変えた後、増幅器８で電圧を高め、レ
コーダー９でスペクトル強度に比例した電圧を記
録する。分析放電で発生するスペクトル強度は成
分含有量に比例するので、レコーダ９の記録速度
とベツド１３の縦送り速度の関係を一定にしてお
けば鋳片の中心偏析帯の任意の成分分布が第４図
に示すように明らかになる。
縦送りを開始する。Ａ点が分析用放電電極２直下
に位置したとき分析放電を開始する。以下、Ｂ点
が分析用放電電極２直下に位置するまで予備放電
及び分析放電を行ないつつ縦送りを行なう。該分
析用放電開始と同時に分光、測光、記録も開始す
る。予備放電で発光する光が入らないように調整
された集光レンズ３にて、分析用放電で発生する
光のみを反射鏡４を通して回析格子５に導く。回
析格子５で元素特有のスペクトルに分光し、必要
な分析成分のスペクトルをスリツト６によつて選
択し、スリツト６を通つたスペクトルの強度を光
電子増倍管７で電流に変換する。コンデンサで電
流を電圧に変えた後、増幅器８で電圧を高め、レ
コーダー９でスペクトル強度に比例した電圧を記
録する。分析放電で発生するスペクトル強度は成
分含有量に比例するので、レコーダ９の記録速度
とベツド１３の縦送り速度の関係を一定にしてお
けば鋳片の中心偏析帯の任意の成分分布が第４図
に示すように明らかになる。
以上の説明で明らかなように、従来の発光分光
分析方法によれば１個の放電電極を用いて時系列
的に予備放電と分析放電の２段階操作によつてス
ポツト的な成分含有量の測定しかできず、従つて
大型鋼材の中心偏析帯測定には、これらを繰り返
す繁雑な作業をともない、多大な労力と時間を要
するのに比し、本発明では、この従来の問題点を
伴なうことなく例えば大型鋼材の中心偏析帯等の
成分含有量及び又は成分分布を的確迅速に連続測
定することが可能であり、鋳造鋳片搬送ラインに
設けると、試料の端面仕上げのみで切出しを必要
とせず、かつ品質とプロセスの異常の有無が更に
迅速に把握出来るのでプロセス調整制御の応答が
早やまる等、工業的に寄与する効果は多大なもの
である。
分析方法によれば１個の放電電極を用いて時系列
的に予備放電と分析放電の２段階操作によつてス
ポツト的な成分含有量の測定しかできず、従つて
大型鋼材の中心偏析帯測定には、これらを繰り返
す繁雑な作業をともない、多大な労力と時間を要
するのに比し、本発明では、この従来の問題点を
伴なうことなく例えば大型鋼材の中心偏析帯等の
成分含有量及び又は成分分布を的確迅速に連続測
定することが可能であり、鋳造鋳片搬送ラインに
設けると、試料の端面仕上げのみで切出しを必要
とせず、かつ品質とプロセスの異常の有無が更に
迅速に把握出来るのでプロセス調整制御の応答が
早やまる等、工業的に寄与する効果は多大なもの
である。
第１図は放電分析における放電時間と放電発光
スペクトルの関係を示すグラフ、第２図は放電を
中断したときの関係を示すグラフである。第３図
は本発明を実施する１つの装置構成を示す斜視
図、第４図は第３図に示す装置による測定結果と
サルフアプリント結果を示すグラフおよび平面図
である。 １：予備放電電極、２：分析用放電電極、３：
集光レンズ、４：反射鏡、５：分光素子、６：ス
リツト、７：光電子増倍管、８：増幅器、９：レ
コーダ、１０：発光回路、１１：縦送り機構、１
２：横送り機構、１３：ベツド、１４：鋳片、１
５：偏析帯。
スペクトルの関係を示すグラフ、第２図は放電を
中断したときの関係を示すグラフである。第３図
は本発明を実施する１つの装置構成を示す斜視
図、第４図は第３図に示す装置による測定結果と
サルフアプリント結果を示すグラフおよび平面図
である。 １：予備放電電極、２：分析用放電電極、３：
集光レンズ、４：反射鏡、５：分光素子、６：ス
リツト、７：光電子増倍管、８：増幅器、９：レ
コーダ、１０：発光回路、１１：縦送り機構、１
２：横送り機構、１３：ベツド、１４：鋳片、１
５：偏析帯。
Claims (1)
- １ 発光部に少なくとも各１個の予備放電電極と
分析用放電電極を、該発光部の試料分析面に対す
る相対移動方向の先頭から順に配設して、これら
各電極から試料分析面に連続放電しつつ、該発光
部と試料分析面とを連続的に相対移動せしめて該
試料中の成分含有量および又は成分分布を測定す
ることを特徴とする連続発光分光分析方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP764681A JPS57122351A (en) | 1981-01-21 | 1981-01-21 | Method of spectrochemical analysis wherein continuous light emission is utilized |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP764681A JPS57122351A (en) | 1981-01-21 | 1981-01-21 | Method of spectrochemical analysis wherein continuous light emission is utilized |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57122351A JPS57122351A (en) | 1982-07-30 |
| JPS6249926B2 true JPS6249926B2 (ja) | 1987-10-22 |
Family
ID=11671584
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP764681A Granted JPS57122351A (en) | 1981-01-21 | 1981-01-21 | Method of spectrochemical analysis wherein continuous light emission is utilized |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57122351A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5855736A (ja) * | 1981-09-28 | 1983-04-02 | Shimadzu Corp | 発光分光分析による濃度分布解析装置 |
| JPS62277539A (ja) * | 1986-05-27 | 1987-12-02 | Nippon Steel Corp | 連続鋳造鋳片の品質評価方法 |
| KR101027278B1 (ko) * | 2008-12-23 | 2011-04-06 | 주식회사 포스코 | 연속 스파크형 슬라브 단면 개재물의 맵 획득시스템 및 획득방법 |
| JP5974696B2 (ja) * | 2012-07-13 | 2016-08-23 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 発光分光分析による偏析評価方法および偏析評価装置 |
-
1981
- 1981-01-21 JP JP764681A patent/JPS57122351A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57122351A (en) | 1982-07-30 |
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