JPS6337224A - 分光蛍光光度計 - Google Patents
分光蛍光光度計Info
- Publication number
- JPS6337224A JPS6337224A JP61179967A JP17996786A JPS6337224A JP S6337224 A JPS6337224 A JP S6337224A JP 61179967 A JP61179967 A JP 61179967A JP 17996786 A JP17996786 A JP 17996786A JP S6337224 A JPS6337224 A JP S6337224A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wavelength
- fluorescence
- specimen
- ratio
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001237 Raman spectrum Methods 0.000 claims abstract description 26
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 17
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 23
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 13
- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 claims description 5
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 abstract description 23
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 21
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 abstract description 9
- 238000002189 fluorescence spectrum Methods 0.000 abstract description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 1
- 238000012921 fluorescence analysis Methods 0.000 description 1
- 238000012886 linear function Methods 0.000 description 1
- 238000011017 operating method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/44—Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; Fluorescence spectrometry
- G01J3/4406—Fluorescence spectrometry
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、スペクトル補正処理を必要とする測定に好適
な分光蛍光光度計に関する。
な分光蛍光光度計に関する。
分光蛍光光度計のスペクトル補１１を行う方法として、
［蛍光測定Ｊｉ９８３年学会出版センターの第６３〜７
０頁に記載されているように、光歓子計法、あるいは波
長特性が既知の標準光源を用いる方法が、励起側分光器
、蛍光側分光器、あるいは波長域に応じて用いられてい
る。
［蛍光測定Ｊｉ９８３年学会出版センターの第６３〜７
０頁に記載されているように、光歓子計法、あるいは波
長特性が既知の標準光源を用いる方法が、励起側分光器
、蛍光側分光器、あるいは波長域に応じて用いられてい
る。
）上記従来技術では、スペクトル補正を行うため１，１
、Ｖ専用の装置が必要であり、光度計の波長特性８１す
定時と試料測定時では、光軸９分光器への光の取込まれ
方などが異なるという問題を有している。
定時と試料測定時では、光軸９分光器への光の取込まれ
方などが異なるという問題を有している。
例えば光量子計により蛍光側分光器の波長特性を測定す
る時には、光量子計が必要である他に、励起側分光器と
蛍光側分光器を同一波長で同時走査することが必要であ
る。この場合、両分光器のわずかな波長の違いや光源の
スペクトルが、測定された波長特性に重畳し、試料測定
時にスペクトルの歪となる問題がある。また、標準光源
による方法では、標準光源が必要である他に、標準光源
を試料を設置する位置に置くことはできないため分光器
への光の入り方が、試料測定時と異なるという問題があ
る。
る時には、光量子計が必要である他に、励起側分光器と
蛍光側分光器を同一波長で同時走査することが必要であ
る。この場合、両分光器のわずかな波長の違いや光源の
スペクトルが、測定された波長特性に重畳し、試料測定
時にスペクトルの歪となる問題がある。また、標準光源
による方法では、標準光源が必要である他に、標準光源
を試料を設置する位置に置くことはできないため分光器
への光の入り方が、試料測定時と異なるという問題があ
る。
本発明の目的は、スペクトル補正を行うために、特別な
装置を用いることなく、しかも試料測定時と全く同じ条
件で光度計の波長特性を測定することにある。
装置を用いることなく、しかも試料測定時と全く同じ条
件で光度計の波長特性を測定することにある。
このため本発明は、従来蛍光分析でノイズとされていた
ラマンスペクトルを利用するようにしたものである。す
なわち、少なくとも２本のラマンスペクトルを呈する標
準試料を用いてラマンスペクトルの比を求め、このラマ
ンスペクトルの比に基づいて測定試料の蛍光強度を補正
するようにしたものである。
ラマンスペクトルを利用するようにしたものである。す
なわち、少なくとも２本のラマンスペクトルを呈する標
準試料を用いてラマンスペクトルの比を求め、このラマ
ンスペクトルの比に基づいて測定試料の蛍光強度を補正
するようにしたものである。
ラマンスペクトルは、励起波長に関係せず常に励起波長
と一定波数離れた波長に表われる。２本以上のラマンス
ペクトルを持っている場合、ラマンスペクトルの強度比
は励起波長に関係なく本来一定である。しかるに、励起
波長を変化させた場合、ラマンスペクトルの比自体も変
化する。これは装置の有する波長特性によるものである
。従って、測定に先立って標準試料を用いてラマンスペ
クトルの比を求め、この比から装置の有する波長特性を
求めておき、測定試料の蛍光強度を補正するようにした
ものである。
と一定波数離れた波長に表われる。２本以上のラマンス
ペクトルを持っている場合、ラマンスペクトルの強度比
は励起波長に関係なく本来一定である。しかるに、励起
波長を変化させた場合、ラマンスペクトルの比自体も変
化する。これは装置の有する波長特性によるものである
。従って、測定に先立って標準試料を用いてラマンスペ
クトルの比を求め、この比から装置の有する波長特性を
求めておき、測定試料の蛍光強度を補正するようにした
ものである。
ラマンスペクトルの比を求める場合、ラマン散がる。こ
のため、スペクトルの比を求める場合には、波数単位で
演算した面積積分値を使用するのが好ましい。
のため、スペクトルの比を求める場合には、波数単位で
演算した面積積分値を使用するのが好ましい。
標準試料は、少なくとも２本のラマンスペクトルを呈す
るもので、通常測定試料と異なる試料が用いられるが、
蛍光スペクトルとラマンスペクトルが独立して区別する
測定試料の場合には、標準試料として用いることもでき
る。
るもので、通常測定試料と異なる試料が用いられるが、
蛍光スペクトルとラマンスペクトルが独立して区別する
測定試料の場合には、標準試料として用いることもでき
る。
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第１図において、光源１０から放射される光線は、励起
側分光器１２に入射する。励起側分光器１２の設定波長
はパルスモータ１４によって変えられる。パルスモータ
１４の動作は、ＲＯＭ１６にプログラムされており、パ
スライン１８およびインターフェース２０を介してＣＰ
Ｕ２２によって指令される。所期の励起波長を操作パネ
ル２４でキーインすることによって、励起側分光器１２
の波長が設定される。励起側分光器１２によって取り出
された単色光は、試料セル２６内の測定試料２６Ａを照
射し、試料２６Ａから放射された蛍光は蛍光側分光器２
８に入射する。蛍光側分光器２８は、パルスモータ３０
によって駆動されるが、その動作はＲＯＭ１６にプログ
ラムされており、それに従ってＣＰＵ２２がパスライン
１８、インターフェース２０を介して指令される。所期
の波長範囲を操作パネルでキーインし、波長操作を開始
させるとその波長域の単色光が順次、検知器３２に入射
し、電気信号に変換される。その電気信号はアナログ−
ディジタル変換器３４によってディジタル信号に変えら
れ、各波長における蛍光強度がＲＡＭ３６に記憶される
。ラマンスペクトルの蛍光強度に基づいて装置の波長特
性を求めるための演算プログラムはフロッピディスク３
８に記憶されており、励起波長を所定の範囲で考えたと
きの各波長に対応したラマンスペクトル蛍光強度につい
て演算が行われる。演算によって得られらに、操作パネ
ル２４によってグラフイクプロッタ４２の動作を開始さ
せるとＣＲＴ４０に表示された蛍光スペクトルが記録さ
れる。
側分光器１２に入射する。励起側分光器１２の設定波長
はパルスモータ１４によって変えられる。パルスモータ
１４の動作は、ＲＯＭ１６にプログラムされており、パ
スライン１８およびインターフェース２０を介してＣＰ
Ｕ２２によって指令される。所期の励起波長を操作パネ
ル２４でキーインすることによって、励起側分光器１２
の波長が設定される。励起側分光器１２によって取り出
された単色光は、試料セル２６内の測定試料２６Ａを照
射し、試料２６Ａから放射された蛍光は蛍光側分光器２
８に入射する。蛍光側分光器２８は、パルスモータ３０
によって駆動されるが、その動作はＲＯＭ１６にプログ
ラムされており、それに従ってＣＰＵ２２がパスライン
１８、インターフェース２０を介して指令される。所期
の波長範囲を操作パネルでキーインし、波長操作を開始
させるとその波長域の単色光が順次、検知器３２に入射
し、電気信号に変換される。その電気信号はアナログ−
ディジタル変換器３４によってディジタル信号に変えら
れ、各波長における蛍光強度がＲＡＭ３６に記憶される
。ラマンスペクトルの蛍光強度に基づいて装置の波長特
性を求めるための演算プログラムはフロッピディスク３
８に記憶されており、励起波長を所定の範囲で考えたと
きの各波長に対応したラマンスペクトル蛍光強度につい
て演算が行われる。演算によって得られらに、操作パネ
ル２４によってグラフイクプロッタ４２の動作を開始さ
せるとＣＲＴ４０に表示された蛍光スペクトルが記録さ
れる。
次に、装置の波長特性を補正する補正係数を求める手順
について第２図及び第３図を用いて説明する。
について第２図及び第３図を用いて説明する。
試料セル内に、補正係数を求めるための標準試料がセッ
トされる。標準試料としては、極く一般的な試料で、比
較的ラマン散乱が強く現われるベンゼンが好ましい。ベ
ンゼンの場合、ラマンスペクトルが多数存在するが、ス
リット幅５ｎｍで測定した場合、約９９０■−ｔ、 ３
０６０ｃｎ−’の２本となる。
トされる。標準試料としては、極く一般的な試料で、比
較的ラマン散乱が強く現われるベンゼンが好ましい。ベ
ンゼンの場合、ラマンスペクトルが多数存在するが、ス
リット幅５ｎｍで測定した場合、約９９０■−ｔ、 ３
０６０ｃｎ−’の２本となる。
次に、補正範囲を決定し、励起側分光器からの励起波長
を順次設定し、励起波長に対応したラマンスペクトルを
測定する。この時得られるラマンスペクトルは、第３図
（ａ）に示すものであり、各々のラマン散乱強度を求め
るため波数積分が行ラウンドを差し引いたものとする。
を順次設定し、励起波長に対応したラマンスペクトルを
測定する。この時得られるラマンスペクトルは、第３図
（ａ）に示すものであり、各々のラマン散乱強度を求め
るため波数積分が行ラウンドを差し引いたものとする。
積分値Ｓｚ。
Ｓ２に基づいてスペクトル比ｒ１を求め、ラマンスペク
トルの波長λ１１．λ２１と共に記憶される。
トルの波長λ１１．λ２１と共に記憶される。
以上の操作をあらかじめ決定した補正範囲で繰り返し、
標準試料に基づく測定が終了する。
標準試料に基づく測定が終了する。
ラマンスペクトルの波長λｉ、、λ２１とスペクトル比
ｒ１との関係を第３図（ｂ）に示す。それぞれの励起波
長に対して得られるものは、スペクトル比であるから全
て短波長側を基準とした一次関数となる。第３図（ｃ）
に示す補正係数を求めるには、補正直線１２口の両方に
存在する任意の波長λ０を設定し、その波長λ０が１と
なるように直線４１口を各々行事移動し、各直線の起点
、終点を結んで得られる。この操作を順次繰り返すこと
により、設定した補正範囲全体の補正係数ｆ（λ）を得
ることができる。
ｒ１との関係を第３図（ｂ）に示す。それぞれの励起波
長に対して得られるものは、スペクトル比であるから全
て短波長側を基準とした一次関数となる。第３図（ｃ）
に示す補正係数を求めるには、補正直線１２口の両方に
存在する任意の波長λ０を設定し、その波長λ０が１と
なるように直線４１口を各々行事移動し、各直線の起点
、終点を結んで得られる。この操作を順次繰り返すこと
により、設定した補正範囲全体の補正係数ｆ（λ）を得
ることができる。
次に、測定試料を試料セルにセラ１〜して蛍光スペクト
ルを測定し、補正係数ｆ（λ）によって補４光器および
検知器の波長特性が重なったものである。同様にして、
励起側の波長特性を求める場合は、蛍光波長を固定し、
励起側を走査する。補正精度は、スペクトル比ｒｌ の
数を多くとれば向上する。
ルを測定し、補正係数ｆ（λ）によって補４光器および
検知器の波長特性が重なったものである。同様にして、
励起側の波長特性を求める場合は、蛍光波長を固定し、
励起側を走査する。補正精度は、スペクトル比ｒｌ の
数を多くとれば向上する。
標準試料としてベンゼンを示したが、次の条件を満たす
試料であれば、本発明によるスペクトル補正に適してい
る。
試料であれば、本発明によるスペクトル補正に適してい
る。
（１）同一試料で２本以上のラマンスペクトルを持つこ
と。
と。
これは、混合試料でも良い。また、２本以上とは、蛍光
光度計の分解能（５ｎｍ程度）で２本に分離するもの指
す。
光度計の分解能（５ｎｍ程度）で２本に分離するもの指
す。
（２）２本のラマンスペクトル線の強度比が、同程度で
あること。
あること。
これは、補正演算の精度にとって重要である。
ベンゼンの場合スリット幅５ｎｍで１ ：１．７である
。
。
付近と５００ｎｍ付近では、波長軸で測定した場合、ス
ペクトルの間隔が異なる。本発明によるスペクトル補正
を行なう場合には、２本のスペクトルが分離しているこ
とが必要である。従って使用する試料のスペクトル間隔
（波数単位）によって、補正可能な波長域が決まる。
ペクトルの間隔が異なる。本発明によるスペクトル補正
を行なう場合には、２本のスペクトルが分離しているこ
とが必要である。従って使用する試料のスペクトル間隔
（波数単位）によって、補正可能な波長域が決まる。
ベンゼンの場合、スペクトル間隔は、２０７０■−１で
ある。これは、２０Ｏｎｍ付近では、８．６ｎｍ、
５００ｎｍ付近では、５７ｎｍに相当する。この結果、
スリット幅５ｎｍに設定した場合、２００ｎｍ付近では
、２本のラマンスペクトルが十分分離せず、測定できな
い。ベンゼンで、スリット幅５ｎｍに設定した場合、測
定可能な波長域は、４００ｎｍ以上である。
ある。これは、２０Ｏｎｍ付近では、８．６ｎｍ、
５００ｎｍ付近では、５７ｎｍに相当する。この結果、
スリット幅５ｎｍに設定した場合、２００ｎｍ付近では
、２本のラマンスペクトルが十分分離せず、測定できな
い。ベンゼンで、スリット幅５ｎｍに設定した場合、測
定可能な波長域は、４００ｎｍ以上である。
２００ｎｍ以上で測定可能とするためには、２本のスペ
クトル間隔が７５０００１１−”以−に離れた試料が必
要である。
クトル間隔が７５０００１１−”以−に離れた試料が必
要である。
）本発明によれば、スペクトル補正を行うためのる。
第１図は本発明の分光蛍光光度計の１実施例を示す構成
図、第２図は補正係数を求める操作手順を示すフローチ
ャート、第３図は補正係数の作成要領を示す説明図であ
る。 １０・・・光源、１２・・・励起側分光器、２２・・・
ＣＰＵ、２６・・・試料セル、２６Ａ・・・測定試料、
２８・・・蛍光側分光器、３２・・・検知器。
図、第２図は補正係数を求める操作手順を示すフローチ
ャート、第３図は補正係数の作成要領を示す説明図であ
る。 １０・・・光源、１２・・・励起側分光器、２２・・・
ＣＰＵ、２６・・・試料セル、２６Ａ・・・測定試料、
２８・・・蛍光側分光器、３２・・・検知器。
Claims (1)
- １、光源、この光源からの光線を分光する励起側分光器
、測定試料を有し前記励起側分光器からの励起光が照射
される試料セル、前記励起光の照射によつて前記測定試
料から発生した蛍光を分光する蛍光側分光器、この蛍光
側分光器からの前記蛍光の強度を検知する検知器、この
検知器からの信号を処理する演算装置とを備え、前記試
料セル内の試料を少なくとも２本のラマンスペクトルを
呈する標準試料としたときに得られるラマンスペクトル
の比を求め、このラマンスペクトル比に基づいて前記測
定試料から得られた蛍光強度を補正するようにしたこと
を特徴とする分光蛍光光度計。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61179967A JPH0765933B2 (ja) | 1986-08-01 | 1986-08-01 | 分光蛍光光度計 |
| US07/077,174 US4798463A (en) | 1986-08-01 | 1987-07-24 | Spectrofluorophotometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61179967A JPH0765933B2 (ja) | 1986-08-01 | 1986-08-01 | 分光蛍光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6337224A true JPS6337224A (ja) | 1988-02-17 |
| JPH0765933B2 JPH0765933B2 (ja) | 1995-07-19 |
Family
ID=16075106
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61179967A Expired - Lifetime JPH0765933B2 (ja) | 1986-08-01 | 1986-08-01 | 分光蛍光光度計 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4798463A (ja) |
| JP (1) | JPH0765933B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05133043A (ja) * | 1991-11-13 | 1993-05-28 | Amex Kiyouhan:Kk | 屋根の棟構造とその施工法 |
| JPH0567723U (ja) * | 1991-12-25 | 1993-09-10 | 真一 金子 | 棟土台瓦 |
Families Citing this family (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4959549A (en) * | 1986-11-28 | 1990-09-25 | Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation | Determination of properties of coal |
| US5498875A (en) * | 1994-08-17 | 1996-03-12 | Beckman Instruments, Inc. | Signal processing for chemical analysis of samples |
| US5697373A (en) * | 1995-03-14 | 1997-12-16 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Optical method and apparatus for the diagnosis of cervical precancers using raman and fluorescence spectroscopies |
| US5801828A (en) * | 1996-11-14 | 1998-09-01 | Detections Unlimited, Inc. | Apparatus and method for fluorescence spectroscopy of remote sample |
| US20040064053A1 (en) * | 2002-09-30 | 2004-04-01 | Chang Sung K. | Diagnostic fluorescence and reflectance |
| US7404411B2 (en) * | 2005-03-23 | 2008-07-29 | Marathon Ashland Petroleum Llc | Method and apparatus for analysis of relative levels of biodiesel in fuels by near-infrared spectroscopy |
| CN102384786B (zh) * | 2010-09-01 | 2015-09-16 | 北京普源精电科技有限公司 | 一种分光光度计及其控制方法 |
| EP2650673B1 (en) * | 2010-12-08 | 2022-03-02 | Hitachi High-Tech Corporation | Automatic analytical apparatus |
| US8760645B2 (en) | 2011-05-24 | 2014-06-24 | Idexx Laboratories Inc. | Method of normalizing a fluorescence analyzer |
| US10696906B2 (en) | 2017-09-29 | 2020-06-30 | Marathon Petroleum Company Lp | Tower bottoms coke catching device |
| US12000720B2 (en) | 2018-09-10 | 2024-06-04 | Marathon Petroleum Company Lp | Product inventory monitoring |
| US11975316B2 (en) | 2019-05-09 | 2024-05-07 | Marathon Petroleum Company Lp | Methods and reforming systems for re-dispersing platinum on reforming catalyst |
| US11352577B2 (en) | 2020-02-19 | 2022-06-07 | Marathon Petroleum Company Lp | Low sulfur fuel oil blends for paraffinic resid stability and associated methods |
| US11905468B2 (en) | 2021-02-25 | 2024-02-20 | Marathon Petroleum Company Lp | Assemblies and methods for enhancing control of fluid catalytic cracking (FCC) processes using spectroscopic analyzers |
| US11898109B2 (en) | 2021-02-25 | 2024-02-13 | Marathon Petroleum Company Lp | Assemblies and methods for enhancing control of hydrotreating and fluid catalytic cracking (FCC) processes using spectroscopic analyzers |
| US20220268694A1 (en) | 2021-02-25 | 2022-08-25 | Marathon Petroleum Company Lp | Methods and assemblies for determining and using standardized spectral responses for calibration of spectroscopic analyzers |
| US11692141B2 (en) | 2021-10-10 | 2023-07-04 | Marathon Petroleum Company Lp | Methods and systems for enhancing processing of hydrocarbons in a fluid catalytic cracking unit using a renewable additive |
| US11802257B2 (en) | 2022-01-31 | 2023-10-31 | Marathon Petroleum Company Lp | Systems and methods for reducing rendered fats pour point |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6212842A (ja) * | 1985-07-10 | 1987-01-21 | Hitachi Ltd | 螢光分析装置 |
-
1986
- 1986-08-01 JP JP61179967A patent/JPH0765933B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1987
- 1987-07-24 US US07/077,174 patent/US4798463A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05133043A (ja) * | 1991-11-13 | 1993-05-28 | Amex Kiyouhan:Kk | 屋根の棟構造とその施工法 |
| JPH0567723U (ja) * | 1991-12-25 | 1993-09-10 | 真一 金子 | 棟土台瓦 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0765933B2 (ja) | 1995-07-19 |
| US4798463A (en) | 1989-01-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6337224A (ja) | 分光蛍光光度計 | |
| JPH0682098B2 (ja) | 応力評価装置 | |
| JPS6231288B2 (ja) | ||
| JP4324701B2 (ja) | 発光分光分析装置 | |
| JP3132835U (ja) | ３次元測定装置 | |
| WO2013190618A1 (ja) | 分光蛍光光度計 | |
| JPH0829255A (ja) | 波形解析装置 | |
| EP0204855B1 (en) | Method and apparatus for state analysis | |
| JPH0572039A (ja) | 分光蛍光光度計のスペクトル補正方法及びスペクトル補正機能付分光蛍光光度計 | |
| JP4506524B2 (ja) | 発光分光分析装置 | |
| JPH0247542A (ja) | Ｘ線分光器を用いた定量分析方法 | |
| JPH03144347A (ja) | 蛍光分光光度法及びその装置 | |
| JPH11295159A (ja) | 応力測定装置 | |
| JP4279983B2 (ja) | 蛍光ｘ線分析装置 | |
| JPH05340897A (ja) | Ｘ線分光器 | |
| JPH07120391A (ja) | 分光蛍光光度計および定量測定の方法 | |
| JPS60239652A (ja) | 分光けい光光度計のスペクトル測定方法 | |
| JPS63142238A (ja) | 発光分光分析方法および装置 | |
| JPH03285153A (ja) | Ｘ線による定性分析装置 | |
| JP2569500B2 (ja) | Ｘ線分析計測装置 | |
| JPS63165742A (ja) | 検量線作成方法 | |
| JPS63243842A (ja) | 分光蛍光光度計 | |
| JPH01302142A (ja) | 原子吸光光度計 | |
| JPH0763668A (ja) | 化合物組成比測定装置 | |
| JPH02268244A (ja) | 光センサの分光感度測定方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |