JP4506524B2 - 発光分光分析装置 - Google Patents
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Description
a)複数の試料を測定する際に、各試料において目的元素の測定波長位置の短波長側又は長波長側における最小の信号強度値をI BG 、前記測定波長位置における信号強度値からI BG を差し引いた値をI p とし、前記目的元素の測定波長位置の前記と同じ側において信号強度値が、I BG +I p ×(所定の係数)で表される評価基準値以下のポイントを全て選出してバックグラウンド候補位置とする候補位置選出手段と、
b)前記各試料におけるバックグラウンド候補位置の内、全ての試料に共通して存在するものをバックグラウンド位置として決定するバックグラウンド位置決定手段と、
を有することを特徴とする。
図1に本発明の一実施例であるICP発光分光分析装置の概略構成を示す。本実施例のICP発光分光分析装置は、発光部10、オートサンプラ20、分光部30、検出部40、データ処理部50、及び制御部60から成る。
20…オートサンプラ
30…分光部
31…集光レンズ
32…入口スリット
33…第1凹面鏡
34…平面回折格子
35…第2凹面鏡
36…出口スリット
40…検出部
41…光電子増倍管
50…データ処理部
60…制御部
70…汎用コンピュータ
71…入力部
72…表示部
Claims (3)
- 測定波長位置近傍の波長位置をバックグラウンド位置として設定し、該バックグラウンド位置における信号強度に基づいてバックグラウンド補正を行う機能を有する発光分光分析装置において、
a)複数の試料を測定する際に、各試料において目的元素の測定波長位置の短波長側又は長波長側における最小の信号強度値をI BG 、前記測定波長位置における信号強度値からI BG を差し引いた値をI p とし、前記目的元素の測定波長位置の前記と同じ側において信号強度値が、I BG +I p ×(所定の係数)で表される評価基準値以下のポイントを全て選出してバックグラウンド候補位置とする候補位置選出手段と、
b)前記各試料におけるバックグラウンド候補位置の内、全ての試料に共通して存在するものをバックグラウンド位置として決定するバックグラウンド位置決定手段と、
を有することを特徴とする発光分光分析装置。 - 上記バックグラウンド位置決定手段が、全ての試料に共通して存在するバックグラウンド候補位置が複数ある場合に、測定波長位置に最も近いものをバックグラウンド位置として決定することを特徴とする請求項1に記載の発光分光分析装置。
- 更に、既に設定されたバックグラウンド位置が、新たに測定する試料に対して適用可能か否かを判定する機能を備えた請求項1又は2に記載の発光分光分析装置。
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EP3217420A1 (en) * | 2016-03-09 | 2017-09-13 | Carl Zeiss Microscopy Ltd. | Method, analysis system and computer program product for semi-automated x-ray elemental analysis using a particle microscope |
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Citations (2)
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JPS61270645A (ja) * | 1985-05-24 | 1986-11-29 | Hitachi Ltd | 誘導結合プラズマ発光分析装置 |
JP2000249654A (ja) * | 1999-02-26 | 2000-09-14 | Japan Science & Technology Corp | フーリエ変換ラマン分光測定装置及びその応用 |
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- 2005-03-17 JP JP2005076958A patent/JP4506524B2/ja active Active
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