JP5974696B2 - 発光分光分析による偏析評価方法および偏析評価装置 - Google Patents
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Description
本発明に係るスパーク放電発光分析法をスラブのマッピング分析に適用し、従来のマッピング分析法による測定結果と比較した。表1は、[C]:0.023wt%,[Si]:0.30wt%,[Mn]:1.26wt%,[P]:0.003wt%,[S]:0.002wt%の鋼材について、種々の条件を変更して上記と同様に測定した各実施例の測定条件と測定結果とを示す。表1に示すように、各実施例について、C,P,Mnのすべてに対して、測定結果の誤差が上記組成の±5%以内にあり、かつ、予備処理時間と本測定時間との合計である合計測定時間が従来のマッピング分析法による測定(60分)よりも短縮されている場合に、効果有と評価した。その結果、本発明を適用した表1の実施例7〜10で効果有と評価できた。
Claims (4)
- 偏析について評価しようとする部分を含む鉄鋼材料をスパーク放電を発生する電極に対し連続的に走査させながら、偏析について評価しようとする部分を含む領域のスパーク放電発光分光分析による偏析元素の濃度マッピング分析を行い、偏析を定量的に評価する方法であって、同一走査線上を2回以上繰返し走査し、かつ、定量のための本走査の前に行う予備走査での走査距離1mmあたりの合計放電エネルギー量を60J超に設定するとともに、前記予備走査での走査距離1mmあたりの放電回数が250回以上となるように前記予備走査での放電繰り返し周波数と走査速度とを調整し、前記予備走査時と前記定量のための本走査時とで、放電エネルギーと走査速度との少なくとも一方を変更することを特徴とする発光分光分析による偏析評価方法。
- 走査距離1mmあたりの合計放電エネルギー量が60Jを超える前記予備走査の後に、前記放電エネルギーと走査速度との少なくとも一方を変更して前記定量のための本走査することにより濃度マッピング分析を行うことを特徴とする請求項1に記載の発光分光分析による偏析評価方法。
- 前記偏析元素には、C,P,Mn,Nb,S,Ti,Cu,Mo,VおよびNiのうちの少なくとも一つの元素が含まれることを特徴とする請求項1または2に記載の発光分光分析による偏析評価方法。
- 偏析について評価しようとする部分を含む鉄鋼材料をスパーク放電を発生する電極に対し連続的に走査させながら、偏析について評価しようとする部分を含む領域のスパーク放電発光分光分析による偏析元素の濃度マッピング分析を行い、偏析を定量的に評価する装置であって、同一走査線上を2回以上繰返し走査し、かつ、予備走査時と定量のための本走査時とで、放電エネルギーと走査速度との少なくとも一方を変更する手段を備え、
前記定量のための本走査の前に行う前記予備走査での走査距離1mmあたりの合計放電エネルギー量が60Jを超えるように設定されるとともに、前記予備走査での走査距離1mmあたりの放電回数が250回以上となるように前記予備走査での放電繰り返し周波数と走査速度とが調整されることを特徴とする発光分光分析による偏析評価装置。
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