JPS6244603A - アブソリユ−ト直線位置検出装置 - Google Patents

アブソリユ−ト直線位置検出装置

Info

Publication number
JPS6244603A
JPS6244603A JP18408285A JP18408285A JPS6244603A JP S6244603 A JPS6244603 A JP S6244603A JP 18408285 A JP18408285 A JP 18408285A JP 18408285 A JP18408285 A JP 18408285A JP S6244603 A JPS6244603 A JP S6244603A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern
linear position
detection device
position detection
base material
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP18408285A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0697161B2 (ja
Inventor
Wataru Ichikawa
渉 市川
Yuji Matsuki
裕二 松木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SG KK
Original Assignee
SG KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SG KK filed Critical SG KK
Priority to JP60184082A priority Critical patent/JPH0697161B2/ja
Publication of JPS6244603A publication Critical patent/JPS6244603A/ja
Publication of JPH0697161B2 publication Critical patent/JPH0697161B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、位置決めシステム等で用いられるアブソリ
ュート直線位置検出装置に関し、特に、アブソリュート
て検出し得る範囲を拡大するようにしたものに関する。
〔従来の技術〕
本出願人の出願に係る実開昭58−136718号には
、ロッド部において磁性体と非磁性体を長手方向に所定
ピンチで交互に繰返し設け、このロッド部に近接して1
次コイル及び2次コイルを含対して相対的に変位させ、
センサに対するロッド部のアブソリュート位置に応じた
出力信号をセンサから得るようにしたものが開示されて
いる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、そこにおいて、アブソリュートで検出し得る範
囲は、071部における磁性体と非磁性体の繰返しの1
ピンチ分の長さに限定されてしまうという問題点があっ
た。
この発明は上述の問題点を解決するためになされたもの
で、アブソIJ−−ト位置検出可能範囲を拡大すること
ができるようにしたアブソリュート直線位置検出装置を
提供しようとするものである。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明に係る位置検出装置は、直線変位方向に関して
面積又は配列位置が次第に変化するパターンを所定の物
質により配置した部材き、該部材に近接して設けられ、
該部材に対する位置関係に応じて前記パターンの面積又
は配列位置に関する対応関係が変化し、その対応関係に
応じた出力信号を生ずる誘導形検出ヘッドとを具えたこ
とを特徴とするものである。
〔作用〕
従来のものは磁性体と非磁性体を同じ幅で交互に繰返し
設けるものであったため、その1ピッチ分の長さを長く
することはできなかった。これに対して本発明では、直
線変位方向に関して面積又は配列位置が次第に変化する
・々ターンを設けたため、その変化の1サイクルの長さ
を実用上十分な長さまで長くすることができる。誘導形
検出ヘッドからは、このヘッドとパターンとの対応関係
に応じた出力信号が生ずるので、このパターンの変化の
1サイクルの範囲でアブソリュート位置検出が可能であ
る。
〔実施例〕
以下添付図面を参照してこの発明の一実施例を詳細に説
明しよう。
)       第1図において、ロッド部1は、該ロ
ッド部1に近接して設けられた検出へノド2に対して相
対的に長手方向(軸方向)に直線変位可能であり、その
直線変位方向に関して配列位置が次第に変化するパター
ン1aを所定の物質によりその周囲に配置しである。そ
のようなパターン1aは例えば螺旋状の線条である。検
出ヘッド2は、ロッド部1に対する直線位置関係に応じ
て前記パターン1aに関するその対応関係が変化し、そ
の対応関係に応じた出力信号を生ずる誘導形の検出ヘッ
ドである。第2図によく示されているように、検出ヘッ
ド2は、端部を内側に向けた4つの凸極PA−PDを9
0度の間隔で設けた磁性体コア2aと、このコア2aの
各種に巻かれた1次コイル2A+〜2D!及び2次コイ
ル2A2〜2D2とを具備しており、各種PA−PDの
端部によって囲まれた空間にロッド部1が挿入されてい
る。ロッド部1の螺旋パターン1aの1サイクルの長さ
すなわちリード長りは比較的長く設定されており、例え
ば検出対象の全長範囲に対応する。
ロッド部1においてパターン1aを構成する物質は、検
出ヘッド2の硼界に対するその物質の侵入度に応じて異
なる磁気抵抗変化を生せしめるような物質である。その
ような物質としては、ロッド部1の他の部分1bよりも
相対的に良導電体から成るもの、あるいは磁性体から成
るもの、を用いるとよい。
ロッド部1におけるパターンの部分1aを銅のような良
導電体により構成し、他の部分1bをこの良導電体に比
べて導電性の低いもの(例えば鉄)により構成した場合
について考える。検出ヘッド2の各種の1次コイル2A
+〜2DIによる磁束は、各種PA−PDが配された角
度位置においてロッド部1の径方向に夫々生じる。パタ
ーンを構成する螺旋線条1aの1リード長りの範囲にお
いで、ヘッド2の各種PA−PDに対する線条1aの位
置は、該ヘッド2に対するロッド部1の直線位置に応じ
て異なるものとなる。磁束が線条1aの一部を貫くとき
、その部分で渦電流が流れ、それに応じた磁気抵抗変化
が該磁束が通る磁気回路に生じる。従って、ヘッド2の
各種PA−PDの磁気抵抗は、線条1aの1サイクルの
長さLを1サイクルとして変化し、その変化の位相は、
各種り 毎に1の距離分だけずれるものとなる。このように、各
種PA−PDは4相の磁気抵抗変化を示し、仮に各相を
A−Dなる符号で区別するものとする。
この場合、A相に対応する極PAの磁気抵抗変化をコサ
イン相とすると、B相に対応する極PBはサイン相、C
相に対応する極PCはマイナスコサイン相、D相に対応
する極PDはマイナスサイン相となる。
この磁気抵抗の大きさに応じて、検出へノド2に対応す
るロッド部1の位置を、パターン1aの1サイクルの長
さLの範囲内でのアブソリュート値にて検出することが
できる。この検出を位相方式によって行う場合について
説明すると、A、C相の1次コイル2Al+ 2Ctを
正弦信号sinωtによって励磁し、B、D相の1次コ
イル2Bl。
2Dsを余弦信号cosωtによって励磁する。すると
、各2次“コイル2A2〜2D2の誘起電圧を合成した
検出ヘッド出力信号Yとして、 Y = K sin ((1) t + a )   
      ・・・・・・(1)なる交流信号を得るこ
とができる。ここで、αはパターン1aの1リード長り
の範囲内のロンド部L 1の位置Xに対応する位相角であり、α=2πYなる関
係にすることができる。こうして、検出ヘッド出力信号
Yの基準交流信号sinωtに対する位相シフト量αが
、パターン1aの1リード長りの範囲内でのロッド部1
の直線位置Xを示すものとなる。この位相シフト量αは
、適宜の手段によってディジタル又はアナログ的に測定
することができる。
位相方式によって検出ヘッド出力信号Yを生じさせ、こ
の出力信号における位相ずれ量αをディジタルで測定す
るための電気回路の一例を第3図に示す。  ゛ 第3図において、発振部10は基準の正弦信号sinω
tと余弦信号CQSωtを発生する回路、位相差検出回
路11は上記位相ずれαを夫々測定するための回路であ
る。クロック発振器12から発振されたクロックパルス
CPがカウンター3でカウントされる。カウンター6は
例えばモジュロM(Mは任意の整数)であり、そのカウ
ント値がレジスター4に与えられる。カウンター3の±
分局出力からは、クロックパルスCPをy分周したパル
スPcが取り出され、工分周用のフリップフロップ15
のC入力に与えられる。このフリップフロップ15のQ
出力から出たパルスPbがフリップフロップ1乙に加わ
り、互出力から出たパルスPaがフリップフロップ17
に加わり、これら16及び17の出力がローパスフィル
タ18.19及び増幅器20.21を経由して、余弦信
号cosωtと正弦信号sinωtが得られ、検出ヘッ
ド2の各相A〜Dの1次コイル2A+〜2D1に印加さ
れる。
カウンター3におけるMカウントがこれら基準信号co
sωt 、 sinωtの2πラジアン分の位相角に相
当する。すなわち、カウンター乙の1カウント値はQx
  ラジアンの位相角を示している。
6に夫々加わり、該信号Yの正・負極性に応じた方形波
信号が該コン・マレータ23から夫々出力される。この
コンパレータ23の夫々の出力信号の立上りに応答して
立上り検出回路24からパルスTが出力され、このパル
スTに応じてカウンタ13のカウント値をレジスタ14
にロードする。その結果、検出ヘッド出力信号Yにおけ
る位相ずれαに応じたディジタル値DXがレジスタ14
に取り込まれる。こうして、所定範囲り内の直線位置を
アブソリュートで示すデータDXを得ることができる。
ロッド部1に配置する・櫂ターンの形状は上述のものに
限らず、どのようなものでもよい。例えば、第4図に示
すような、2条ねじ式の2つの線条1a1.1a2から
成っていてもよい。この場合、ロッド部1の横断面にお
いて180度対称の2箇所に線条1al1182が位置
するので、検出ヘッド2は第5図に示すような8極型コ
アから成るものとするとよい。8極型コアはA 、 B
 、 C、、D相に対応する極を2組づつ含み、同一相
が180度対称の位置にあるものである。各種には前述
と同様に1次及び2次コイルが巻かれており、位相方式
で検出を行う場合はA、C相とB、D相とでは夫々90
度位相のずれた交流信号(例えば正弦信号と余弦信号)
で励磁を行う。この場合、同一相が180度対称位置に
あるため、ヘッド2の中心とロッド部1の中心が多少ず
れていても、それによる誤差が生じない。
検出ヘッド2は、前述のような4極型あるいは8極型の
ものに限らず、3極型あるいは6極型あるいは12極型
など、その他適宜の極数とすることができる。第6図は
、その−例として6極型のヘッド2を示したものである
。その場合、位相検出方式のための1次コイル励磁交流
信号は、正弦信号と余弦信号のように90度位相のずれ
た信号ではなく、sinωtとsin (ωt−60)
あるいは5in(ωt−120)あるいはsin (ω
t −240)など、60度位相がずれた交流信号ある
いはその倍角だけ位相がずれた交流信号、その他適宜位
相角だけずれた交流信号を用いる。また、その場合、そ
れに対応するパターンは、180度対称に同一相の極が
ない場合は第1図に示すような1条ねじ式の線条1aか
ら成るものを用いてもよく、180度対称に同一相の極
がある場合は第4図に示すような2条ねじ式の線条1a
1.1a2から成るものを用いてもよい。第6図では2
条ねじ式の螺旋線条1a+、1azのパターンがロッド
部1に設けられるものとしている。
また、検出ヘッド2は、第2図、第5図、第6図に示し
たように各種が共通のコア素材によって連続しているも
のに限らず、第7図のように各極毎に分離されたU字形
のコア3〜6から成るものであってもよい。各コア3〜
6は2つの端部を持ち、一方の端部から出て他方の端部
に入る磁束がロッド部1の表面において(少なくともパ
ターンが配置された面において)径方向を指向して通過
する。
また、螺旋状のパターンは必らずしも滑らかな線条1”
+ 1al  t 1a2から成るものである必要はな
く、第8図に示すようにステップ状に配置1     
 されたパターン1a′から成っていてもよく、全体と
して螺旋に近似した変化を示すものであればよい。
上述では、パターンを配置するロッド部1は丸棒形状で
あるが、これは角棒その他任意の形状であってもよい。
第9図はロッド部1を角棒形状とした例を示すもので、
(a)は正面図、(b)は底面図、(C)は横断面図、
である。丸棒の場合と同様に、1つの線条1aを角棒の
周囲に斜めに(螺旋状に)回わすことにより・櫂ターン
を配置するようにしてよい。
また、/fターンの形態は、直線変位方向に関して面積
が次第に変化するようなものであってもよい。第10図
はその一例を示すもので、断面正方形の角形ロッド部1
の4側面の各々に菱形のバター7ja−DI  、1a
−D2 .1a−03+ 1a−D4を配置したもので
ある。隣接する面における菱形パターン1a−DI  
、 1a −D2  ・・・の配置はその1サイクル長
りの1づつずれている。(a)は正面図、Φ月ま底面図
、(C)は検出ヘッド2の部分の横断面図である。(C
)に示されているように、検出ヘッド2の各種PA−P
Dの横幅が角形ロッド部1の一面の横幅に対応するよう
にすれば、直線変位に応じたパターンの面積の変化を適
確に検知することができる。
角形ロッド部1におけるパターンの形状は第11図に示
すような三角形i a −Tとすることもできる。なお
、第10図、第11図に示すような菱形又は三角形のパ
ターンは丸棒のロッド部1においても採用することがで
きる。
また、パターンを配置する部材はロッドに限らず、平板
あるいは任意の物体の平面領域若しくは曲面領域などで
あってもよい。第12図は長尺の平板部材7にパターン
を配置した例を示すもので、(a)は該平板部材7の平
面図、(b)は該平板部材7及びそれに近接して設けた
検出ヘッドの横断面図、である。平板部材7に配置され
たパターンは、第1図に示すようなロッド部1の螺旋パ
ターン1aを展開した形状であり、直線変位方向に対し
て斜めに角度をなした1本の線条7aから成るものであ
る。検出ヘッド2は、4つの相A−Dに対応する分離さ
れた磁性体コア25〜28と各コアに巻かれた1次及び
2次コイルとから成り、各相のコア25〜28は第12
図(1))に示すように、平板部材7の横方向に所定間
隔(この間隔は第2図の極PA−PDの90度の配置間
隔に対応する)で配置されている。、前述と同様に、こ
の斜線状のパターン7aはステップ状に変化するもので
あってもよい。
次に、/々ターン配置部材1,7におけるパターンの形
成法についていくつかの例を挙げて説明する。パターン
1aを構成する良導電体あるいは磁性体の物質は、適宜
の表面加工処理技術(例えば、めっき、溶射、焼付、塗
装、溶着、蒸着、電鋳、フォトエツチングなど)を用い
て付着若しくは形成させるようにするとよい。最近では
、その種の加工処理技術を用いて微細な・ぐターンでも
形成できるマイクロ加工技術が確立されているので、そ
のような技術を用いて精密なパターン形成を行うことが
できる。
第13図は、ロッド部1の基材1cの周囲に銅のような
良導体物質でパターン1aを形成し、その上からクロー
ムめっきのような表面コーティング1dを設けた例を示
している。この場合のパタ−ン形成法としては、基材1
Cの全周に銅めっきを施し、その後不要部分をエツチン
グ等の除去技術により取除くことにより残された銅めっ
き部分により所望のパターン1aが形成されるようにす
る。そして最後に表面仕上げのためにクロームめっき等
の表面コーティング1dを施す。基材1Cは鉄のような
磁性体を用いれば磁束の通りを良くするので好適である
。しかし、プラスチック等の樹脂、その他のものを基材
1cとして用いることもできる。その場合、予め成形さ
れたプラスチック基材1Cの表面に銅等の金属膜をめっ
きするようにしてもよいし、あるいは、金型キャビティ
に電鋳て銅等の金属膜を予め形成し、その後プラスチッ
クを射出成形して金属膜と一体化するようにしてもよい
ところで、第13図に示すように表面コーティI   
   ング1dをパターン部の間の凹みに埋めるように
すると、その部分でどうしてもコーティング1dが沈み
、仕上げ表面が滑らかにならないことが多い。そこで、
第14図に示すように、各パターン1aの間の凹みを適
宜の充填物1eで充填し、その上から表面コーティング
1dを施すようにするとよい。充填物ICとしては、例
えばニッケルめつきなどを用いることができる。
なお、基材1cに銅等の金属膜をめっきし、その後所望
のパターンでエツチングする場合、エツチング薬剤によ
って基材1cの表面が侵されるおそれがある。特に基材
1Cが鉄等の金属である場合その問題が大きい。そのよ
うな問題を解決するために、第15図に示すように、基
材1Cの表面全体にエツチング薬剤に対して耐性を示す
所定の物質1f(例えば樹脂)の薄膜を形成し、その上
    ”から銅めっき等を施し、更に所定のエツチン
グを行ってパターン1aを形成するようにするとよい。
パターンを構成する物質は、銅又はアルミニウム又はそ
の他良導電体物質又はそれらの混合物若しくは化合物、
のように渦電流損によって磁気抵抗変化を生ぜしめるも
のに限らず、導磁量の変化により磁気抵抗変化を生せし
める磁性体物質(例えば鉄あるいはその化合物又は混合
物)であってもよい。そのような磁性体によりパターン
を構成する場合も上述と同様の種々の表面加工技術によ
りパターン形成を行うことができる〇 また、第16図に示すように、ロッド部1の基材1Cを
鉄等の磁性体で作成し、その基材1Cの表面に所望のt
<’ターンに応じた凹所を加工形成し、この凹所に銅等
の良導電体1aを充填することにより所望のパターン形
成を行うようにしてもよい。
この場合、導電体1aのパターンの間に基材1Cの凸部
である磁性体が侵入し、その部分では渦電流損が少なく
なることにより磁気抵抗が小さくなることに加えて、磁
性体の突出によりより一層磁気抵抗を小さくすることが
でき、相乗的効果によりロッド部の変位に対するセンサ
出力信号の応答精度を上げることができる。また、第1
7図に示すように、磁性体から成るロッド部1の基材1
Cの表面に所望のパターンに応じた突出部1aを加工形
成し、この突出部1aを磁性体から成るパターン部とし
てもよい。その場合は、渦電流損ではなく、導磁量に応
じた磁気抵抗変化を生じさせることができる。
また、パターン配置部材に配置するパターンは可視的に
明瞭に区別し得るようになっている必要はなく、視覚的
には他の部分と明瞭に区別できなくても、磁気的性質に
おいて他の部分と区別し得るものであればよい。例えば
、ロッド部1あるいは平板部材7等のパターン配置部材
の基材をステンレスによって構成し、このステンレス基
材上を所望のパターンに従って局部的にレーザ等により
加熱することによりその被加熱部分を磁性体化すること
ができ、これにより基材とパターンは同じステンレスを
素材とするものであっても、パターンの部分を磁性体と
し、その他の部分を非磁性体とすることができる。
パターンを配置したロッド部又はその他の部材は、位置
検出対象である機械又は装置の一部であってよい。例え
ば、流体圧シリンダのピストンロッド位置を検出する装
置に本発明を応用する場合、ピストンロッドを本発明に
おけるパターン配置部材として利用する。あるいは、機
械の移動体をガイドするためのガイド棒を本発明におけ
るパターン配置部材として利用し、移動体に連動して検
出ヘッドの方が該ガイド棒(つまりパターン配置部材)
に沿って移動するようになっていてもよい。
第18図は本発明をピストンロッド位置検出装置として
利用した一例を示す略図であり、29は流体圧シリンダ
の本体、30はピストン、61はピストンロッドである
。ピストンロッド31にはその全長にわたってほぼ1サ
イクルの変化を示す螺旋状の線条パターン31aが配置
されており、このパターン31aを検知する検出ヘッド
2がシリンダ本体29の開口端側に固定されている。検
出ヘッド°2の出力信号は変換回路32に与えられ、ピ
ストンロッド61の全ストローク範囲にわたるアブソリ
ュート位置を示すデータDxが得られる。
位相方式の場合、変換回路32は第3図に示すよ)  
    うな回路である。このようなストロークの全長
にわたるアブソリュート位置検出データDxは、任意の
形態で利用することができる。複数のストローク位置及
び範囲にわたる位置決めその他の制御信号を得るように
する場合、所望のスl−ローク位置又は範囲に対応する
メモリ36内のアドレス位置又は範囲にそれらのストロ
ーク位置又は範囲に対応する制御信号を書込んでおき、
該メモリ36のアドレス入力にアブソリュート位置検出
データDXを入力して書込まれた制御信号を読み出すよ
うにすることが可能である。この場合、例えばメモリ3
3の1アドレスの語長が8ビツトならば、その各ビット
をリミットスイッチ又はカムスイッチの出力に対応させ
て該メモリ63の記憶データのプログラムを行うことが
でき、そうすると8種類のストローク位置又は範囲に対
応するスイッチ出力信号を該メモリ6.3から読み出す
こさができる。メモリ66としては、EPROMのよう
な読み書き可能なメモリを用いるとよい。
なお、上記各実施例では位相方式によって位置検出デー
タを求めるように説明したが、通常の差動トランスで知
られているように電圧方式によって位置に応じた電圧レ
ベルを持つ位置検出データを求めるようにしてもよい。
その場合は、1次コイル励磁用の交流信号に位相差を設
定する必要はない。
また、パターンの設は方は、1サイクルに限らす1サイ
クル未満又は数サイクルであってもよい。
なお、上記各実施例において、検出ヘッドにおける各相
毎の1次コイルと2次コイルは必らずしも別々のコイル
である必要はなく、実開昭58−2621号あるいは実
開昭58−39507号に示されたもののように共通で
あってもよい。
〔発明の効果〕
以上の通り、この発明によれiス、検出ヘッドに対して
相対的に直線変位する部材において直線変位方向に関し
て面積又は配列位置が次第に変化するパターンを配置す
るようにしたので、該パターンの変化の1サイクルを比
較的長くとることができ、該1サイクル長に対応するア
ブンリュート位置検出可能範囲を比較的長くすることが
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す斜視図、第2図は同
実施例の検出ヘッドの横断面図、第3図は同実施例の検
出ヘッドに励磁用交流信号を供給するための回路と該検
出ヘッドの出力信号の電気的位相を検出して位置検出デ
ータを求める回路の一例を示す電気的ブロック図、第・
1図はロンド部に配置する・ぐターンの別の例として2
条ねじ式の螺旋線条のパターンを示す斜視図、 第5図は第4図のパターンを検知するために用いる検出
ヘッドの別の例を示すもので、8極型ヘツドの横断面図
、 第6図は検出ヘッドの別の実施例を示すもので、6極型
ヘツドの横断面図、 第7図は検出ヘッドの更に別の例を示すもので、各極毎
に分離されたコア構造から成るものの横断面図、 第8図はロンド部に配置する螺旋状のパターン−の別の
例を示すもので、ステップ状に変化するようにしたもの
の側面図、 第9図(a)は断面正方形のロンド部に配置されたパタ
ーンの一例を示す正面図、(b)はその底面図、(C)
はその横断面図、 第10図(a)は断面方形のロンド部に配置されたパタ
ーンの別の例を示す正面図、Φンはその底面図、(C)
は検出ヘッドの横断面図、 第11図は断面方形のロンド部に配置されたパターンの
更に別の例を示す正面図、 第12図は長尺の平板部材に・ぐクーンを配置した一例
を示すもので、(a)は平面図、[有])Iマ検出ヘッ
ドの横断面図、 第13図乃至第17図はパターン配置部材上におけるパ
ターン形成法の具体例を夫々示す断面図、第18図は流
体圧シリンダのピストンロッド位置検出に適用したこの
発明の一実施例を示す概略1      図、である。 1 ・ロンド部、7・平板部材、1a、1al +1a
2.1a′、1a−D1〜1a−D4.7a・・・パタ
ーン、2 ・検出ヘッド、2AD、〜21)+・・・1
次コイル、2 A 2〜2D2・・・2次コイル。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、直線変位方向に関して面積又は配列位置が次第に変
    化するパターンを所定の物質により配置した部材と、 該部材に近接して設けられ、該部材に対する位置関係に
    応じて前記パターンの面積又は配列位置に関する対応関
    係が変化し、その対応関係に応じた出力信号を生ずる誘
    導形検出ヘッドとを具えたアブソリュート直線位置検出
    装置。 2、前記パターンは、検出対象範囲のほぼ全域に対応す
    る長さ範囲を1サイクルとして前記変化を示すものであ
    る特許請求の範囲第1項記載のアブソリュート直線位置
    検出装置。 3、前記パターンを構成する前記所定の物質は、前記部
    材の他の部分の材質よりも相対的に良導電体から成るも
    のである特許請求の範囲第1項記載のアブソリュート直
    線位置検出装置。 4、前記パターンを構成する前記所定の物質は、磁性体
    から成るものである特許請求の範囲第1項記載のアブソ
    リュート直線位置検出装置。 5、前記部材の基材が磁性体から成り、磁性体から成る
    前記パターンはこの基材上において突出部として加工形
    成されるものである特許請求の範囲第4項記載のアブソ
    リュート直線位置検出装置。 6、前記部材の基材が磁性体から成り、前記パターンに
    対応する形状をこの基材において凹所として形成し、こ
    の凹所に前記良導電体を埋設して前記パターンを構成さ
    せた特許請求の範囲第3項記載のアブソリュート直線位
    置検出装置。 7、前記部材は、その基材上に前記所定の物質により前
    記パターンを形成し、その上から所定の表面コーティン
    グを施したものである特許請求の範囲第1項記載のアブ
    ソリュート直線位置検出装置。 8、前記部材は、その基材上に前記所定の物質により前
    記パターンを幾分突出させて形成し、該パターンの間の
    凹所に所定の充填物質を充填させて該パターンの上面と
    該充填物質の上面の高さをほぼ揃え、更にその上から全
    体に表面コーティングを施したものである特許請求の範
    囲第1項記載のアブソリュート直線位置検出装置。 9、前記部材はロッドから成り、前記パターンは、前記
    ロッドの周囲に螺旋状に形成されたパターンから成るも
    のである特許請求の範囲第1項記載のアブソリュート直
    線位置検出装置。 10、前記検出ヘッドは、前記パターンの変化の1サイ
    クルの範囲につき、該パターンとの対応位置に応じて異
    なる電気的位相ずれを示す出力信号を生ずるものである
    特許請求の範囲第1項乃至第9項の何れかに記載のアブ
    ソリュート直線位置検出装置。 11、前記部材の基材と前記パターンが同じ物質から成
    り、該基材におけるパターン配置箇所に対して局部的に
    所定の処理を加えることにより該箇所の磁気的性質を変
    更し、これにより該箇所を前記パターンと成すようにし
    た特許請求の範囲第1項記載のアブソリュート直線位置
    検出装置。 12、前記基材はステンレススチールから成り、前記所
    定の処理は加熱処理であり、前記箇所を磁性体に変更す
    ることにより前記パターンが磁性体によって構成される
    ようにした特許請求の範囲第11項記載のアブソリュー
    ト直線位置検出装置。 13、前記部材は、流体圧シリンダのピストンロッドで
    あり、前記検出ヘッド部を該シリンダの本体側に固定し
    、該ピストンロッドの位置を検出するようにした特許請
    求の範囲第1項記載のアブソリュート直線位置検出装置
JP60184082A 1985-08-23 1985-08-23 アブソリユ−ト直線位置検出装置 Expired - Lifetime JPH0697161B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60184082A JPH0697161B2 (ja) 1985-08-23 1985-08-23 アブソリユ−ト直線位置検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60184082A JPH0697161B2 (ja) 1985-08-23 1985-08-23 アブソリユ−ト直線位置検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6244603A true JPS6244603A (ja) 1987-02-26
JPH0697161B2 JPH0697161B2 (ja) 1994-11-30

Family

ID=16147079

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60184082A Expired - Lifetime JPH0697161B2 (ja) 1985-08-23 1985-08-23 アブソリユ−ト直線位置検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0697161B2 (ja)

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02264803A (ja) * 1989-01-17 1990-10-29 Gec Alsthom Sa 回転鋼鉄シャフトの位置を測定する装置及びそのためのトラックの製造方法
JPH04238201A (ja) * 1991-01-21 1992-08-26 Toyota Motor Corp 移動部材の変位検出方法
US5456123A (en) * 1994-01-26 1995-10-10 Simmonds Precision Products, Inc. Static torque measurement for rotatable shaft
US5508609A (en) * 1993-06-30 1996-04-16 Simmonds Precision Product Inc. Monitoring apparatus for detecting axial position and axial alignment of a rotating shaft
JP2001174206A (ja) * 1999-12-17 2001-06-29 Amitec:Kk シリンダ位置検出装置
EP1189015A1 (en) * 2000-09-18 2002-03-20 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. Rotary shaft axial elongation measuring method and device
JP2003207307A (ja) * 2002-01-11 2003-07-25 Mitsutoyo Corp 絶対位置測定装置
JP2004325109A (ja) * 2003-04-22 2004-11-18 Amitec:Kk シリンダ位置検出装置
EP1520119A1 (de) * 2002-07-02 2005-04-06 Continental Teves AG & Co. oHG Stossdämpfer und anordnung zur erfassung von stossdämpferbewegungen
KR20050054573A (ko) * 2003-12-05 2005-06-10 현대자동차주식회사 자동차의 지상고 검출장치
JP2010256122A (ja) * 2009-04-23 2010-11-11 Kayaba Ind Co Ltd シリンダのストロークセンサ
JP2010255715A (ja) * 2009-04-23 2010-11-11 Kayaba Ind Co Ltd シリンダのストロークセンサ
JP2011095269A (ja) * 2003-05-06 2011-05-12 Sri Internatl ピストンロッド位置情報をピストンロッド上の磁性層に記録するシステム及び方法
JP2017116412A (ja) * 2015-12-24 2017-06-29 Kyb株式会社 ストローク検出装置
CN108562215A (zh) * 2018-05-30 2018-09-21 精量电子(深圳)有限公司 一种铁芯件及铁芯连杆组件及位移传感器

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5454665A (en) * 1977-09-21 1979-05-01 Thyssen Industrie Positioning device for machine tool or like
JPS54112668A (en) * 1978-02-22 1979-09-03 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Displacement measuring apparatus of rotators
JPS5923610U (ja) * 1982-08-06 1984-02-14 株式会社エスジ− シリンダ位置検出装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5923610B2 (ja) * 1982-07-07 1984-06-04 アロカ株式会社 比例計数管

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5454665A (en) * 1977-09-21 1979-05-01 Thyssen Industrie Positioning device for machine tool or like
JPS54112668A (en) * 1978-02-22 1979-09-03 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Displacement measuring apparatus of rotators
JPS5923610U (ja) * 1982-08-06 1984-02-14 株式会社エスジ− シリンダ位置検出装置

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02264803A (ja) * 1989-01-17 1990-10-29 Gec Alsthom Sa 回転鋼鉄シャフトの位置を測定する装置及びそのためのトラックの製造方法
JPH04238201A (ja) * 1991-01-21 1992-08-26 Toyota Motor Corp 移動部材の変位検出方法
US5508609A (en) * 1993-06-30 1996-04-16 Simmonds Precision Product Inc. Monitoring apparatus for detecting axial position and axial alignment of a rotating shaft
US5456123A (en) * 1994-01-26 1995-10-10 Simmonds Precision Products, Inc. Static torque measurement for rotatable shaft
JP2001174206A (ja) * 1999-12-17 2001-06-29 Amitec:Kk シリンダ位置検出装置
EP1189015A1 (en) * 2000-09-18 2002-03-20 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. Rotary shaft axial elongation measuring method and device
US6807870B2 (en) 2000-09-18 2004-10-26 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. Rotary shaft axial elongation measuring method and device
JP2003207307A (ja) * 2002-01-11 2003-07-25 Mitsutoyo Corp 絶対位置測定装置
EP1520119A1 (de) * 2002-07-02 2005-04-06 Continental Teves AG & Co. oHG Stossdämpfer und anordnung zur erfassung von stossdämpferbewegungen
JP2004325109A (ja) * 2003-04-22 2004-11-18 Amitec:Kk シリンダ位置検出装置
JP2011095269A (ja) * 2003-05-06 2011-05-12 Sri Internatl ピストンロッド位置情報をピストンロッド上の磁性層に記録するシステム及び方法
KR20050054573A (ko) * 2003-12-05 2005-06-10 현대자동차주식회사 자동차의 지상고 검출장치
JP2010256122A (ja) * 2009-04-23 2010-11-11 Kayaba Ind Co Ltd シリンダのストロークセンサ
JP2010255715A (ja) * 2009-04-23 2010-11-11 Kayaba Ind Co Ltd シリンダのストロークセンサ
JP2017116412A (ja) * 2015-12-24 2017-06-29 Kyb株式会社 ストローク検出装置
WO2017110668A1 (ja) * 2015-12-24 2017-06-29 Kyb株式会社 ストローク検出装置
CN108474641A (zh) * 2015-12-24 2018-08-31 Kyb株式会社 行程检测装置
CN108562215A (zh) * 2018-05-30 2018-09-21 精量电子(深圳)有限公司 一种铁芯件及铁芯连杆组件及位移传感器

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0697161B2 (ja) 1994-11-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2554465B2 (ja) アブソリユ−ト位置検出装置
JPS6247501A (ja) アブソリユ−ト回転位置検出装置
JPS6244603A (ja) アブソリユ−ト直線位置検出装置
EP0182322B1 (en) Rotational position detection device
US4717874A (en) Reluctance type linear position detection device
US6034624A (en) Induction-type linear position detector device
JPS61137001A (ja) 流体圧シリンダのピストンロツド位置検出装置
JPS60170702A (ja) 直線位置検出装置及び該装置におけるロツド部の製造方法
JP2554479B2 (ja) アブソリユ−ト位置検出装置
JPH0580603B2 (ja)
JP3920394B2 (ja) シリンダ位置検出装置
JPH0786422B2 (ja) 直線位置検出装置におけるロッド部の製造方法
JPS6246202A (ja) 回転位置検出装置
JPS61136696A (ja) 位置検出装置のためのロッド部の製造方法
JPH057522Y2 (ja)
JPH037765Y2 (ja)
JPH06103162B2 (ja) 流体圧シリンダのピストンロッド位置検出装置
JPH03123815A (ja) 円筒形磁気スケール
JPH10153402A (ja) 誘導型直線位置検出装置
JPS61292014A (ja) 位置検出器
JP2007078708A (ja) 直線位置検出装置
JPH0749245A (ja) 磁気スケール装置
JPH0323526Y2 (ja)
JP2004219321A (ja) 半導体磁気抵抗素子を用いた位置変位センサ
JP2004239683A (ja) 半導体磁気抵抗素子を用いた位置変位センサ

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term