JPS6240373A - 半連続巻取式真空蒸着装置 - Google Patents
半連続巻取式真空蒸着装置Info
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- JPS6240373A JPS6240373A JP18132285A JP18132285A JPS6240373A JP S6240373 A JPS6240373 A JP S6240373A JP 18132285 A JP18132285 A JP 18132285A JP 18132285 A JP18132285 A JP 18132285A JP S6240373 A JPS6240373 A JP S6240373A
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- JP
- Japan
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- substrate
- bombardment device
- ion bombardment
- vapor deposition
- semi
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は大気圧以下に減圧された真空槽内【おいて長尺
の基板を連続走行させながら基板表面に薄膜を形成する
半連続巻取式真空蒸着装置に関するものであり、コンデ
ンサ用としてのアルミ蒸着から磁気テープ用の磁性材料
の蒸着などに応用されるものである。
の基板を連続走行させながら基板表面に薄膜を形成する
半連続巻取式真空蒸着装置に関するものであり、コンデ
ンサ用としてのアルミ蒸着から磁気テープ用の磁性材料
の蒸着などに応用されるものである。
従来の技術
真空技術は食品加工から半導体製造に至るまで広範囲の
分野で使用されている。この中にあって長尺の基板、主
に高分子より成る基板を用いて、基板を連続して走行さ
せ、この間に基板表面に薄膜形成を行なう半連続巻取式
真空蒸着装置が多く用いられている。これらの主なもの
はアルミ蒸着を行なう包装紙や装飾紙、フィルムコンデ
ンサ。
分野で使用されている。この中にあって長尺の基板、主
に高分子より成る基板を用いて、基板を連続して走行さ
せ、この間に基板表面に薄膜形成を行なう半連続巻取式
真空蒸着装置が多く用いられている。これらの主なもの
はアルミ蒸着を行なう包装紙や装飾紙、フィルムコンデ
ンサ。
反射フィルム等や磁性材料蒸着による磁気テープ等への
使用がある。
使用がある。
特に磁性材料を用いた磁気テープの製造では真空蒸着法
以外にメッキやイオンブレーティング。
以外にメッキやイオンブレーティング。
スパッターリングによる基板表面への薄膜形成が提案さ
れている。
れている。
以下図面を用いて従来装置の構成を述べる。第4図は従
来から用いられている半連続巻取式真空蒸着装置の一例
である。真空槽1内は排気管17゜18により大気圧以
下に減圧される。15.16は排気管の途中に明けられ
ている開閉の為の弁である。真空槽内は遮蔽飯14によ
シ上室6と下室7に分離されている。上室6には長尺の
基板2の巻出3及び巻取4系が設けられていて、真空度
は1O−5(Torr)程度に減圧されている。5は基
板2の走行のためのフリーローラである。下室7は蒸着
を行なうための室で、真空度は10−’ (Torr)
程度に減圧されている。ベース8上に蒸着材料10を収
納するための容器9が置かれている。蒸着材料10は加
熱源11により加熱され溶解した後に蒸発原子12とな
り、蒸着ローラ13の外周に蒸着ローラと同期して走行
する基板2の表面に付着して薄膜を形成する。
来から用いられている半連続巻取式真空蒸着装置の一例
である。真空槽1内は排気管17゜18により大気圧以
下に減圧される。15.16は排気管の途中に明けられ
ている開閉の為の弁である。真空槽内は遮蔽飯14によ
シ上室6と下室7に分離されている。上室6には長尺の
基板2の巻出3及び巻取4系が設けられていて、真空度
は1O−5(Torr)程度に減圧されている。5は基
板2の走行のためのフリーローラである。下室7は蒸着
を行なうための室で、真空度は10−’ (Torr)
程度に減圧されている。ベース8上に蒸着材料10を収
納するための容器9が置かれている。蒸着材料10は加
熱源11により加熱され溶解した後に蒸発原子12とな
り、蒸着ローラ13の外周に蒸着ローラと同期して走行
する基板2の表面に付着して薄膜を形成する。
発明が解決しようとする問題点
このように構成された従来の半連続巻取式真空蒸着装置
で、比較的蒸発温度の低いアルミニウムなどの加熱には
抵抗加熱や誘導加熱が用いられる。
で、比較的蒸発温度の低いアルミニウムなどの加熱には
抵抗加熱や誘導加熱が用いられる。
アルミニウム蒸着では基板が高分子形成物の場合蒸着ロ
ーラ13を冷媒などによりマイナス20′c程度まで冷
却することで、蒸発源からの基板2表面に対する輻射熱
や、付着原子が持っている凝縮熱の影響を除去して、基
板2の熱ダメージを防止している。基板2の熱ダメージ
は基板2に対する折スジやシワの発生さらに焼損となり
、蒸着での大きな問題であり、冷却装置は装置価格やラ
ンニングコストなどを含めて製品コストに大きく影−響
を与えている。また蒸発温度が2000°Cにも達する
コバルト、ニッケル等の磁性材料を高分子形成物基板や
高分子形成物表面になんらかの層を形成した複合基板表
面上に蒸着しようとすると、上述のアルミニウム蒸着に
用いる冷却方法では基板の熱ダメージが大きく半連続巻
取式での真空蒸着を効率良く行なうには限界があシ、工
業的な生産性、コスト等から大きな問題となっていた。
ーラ13を冷媒などによりマイナス20′c程度まで冷
却することで、蒸発源からの基板2表面に対する輻射熱
や、付着原子が持っている凝縮熱の影響を除去して、基
板2の熱ダメージを防止している。基板2の熱ダメージ
は基板2に対する折スジやシワの発生さらに焼損となり
、蒸着での大きな問題であり、冷却装置は装置価格やラ
ンニングコストなどを含めて製品コストに大きく影−響
を与えている。また蒸発温度が2000°Cにも達する
コバルト、ニッケル等の磁性材料を高分子形成物基板や
高分子形成物表面になんらかの層を形成した複合基板表
面上に蒸着しようとすると、上述のアルミニウム蒸着に
用いる冷却方法では基板の熱ダメージが大きく半連続巻
取式での真空蒸着を効率良く行なうには限界があシ、工
業的な生産性、コスト等から大きな問題となっていた。
本発明は上記従来の問題点を解決すると共に、生産性、
コスト等に優れた半連続巻取式真空蒸着装置の提案を目
的とするものである。
コスト等に優れた半連続巻取式真空蒸着装置の提案を目
的とするものである。
問題点を解決するための手段
本発明の半連続巻取式真空蒸着装置は、真空槽みに基板
巻出9巻取等の基板走行系、蒸着ローラ。
巻出9巻取等の基板走行系、蒸着ローラ。
蒸着系等と共に、基板表面処理用のイオンボンバード装
置とエレクトロンボンバード装置を設置して成るもので
、イオンボンバード装置は基板の巻出後と、巻出前に設
け、エレクトロンボンバード装置は基板巻出後イオンボ
ンバード装置と蒸着工程の中間に設けた構成である。
置とエレクトロンボンバード装置を設置して成るもので
、イオンボンバード装置は基板の巻出後と、巻出前に設
け、エレクトロンボンバード装置は基板巻出後イオンボ
ンバード装置と蒸着工程の中間に設けた構成である。
作 用
本発明は、イオンボンバード装置とエレクトロンボンバ
ード装置によシ基板表面をボンバード処理することで基
板の静電気除去や脱ガス、また基板帯電等の作用により
従来から問題となっていた基板の熱ダメージを無くすと
ともに薄膜の特性向上を図ることができるものである。
ード装置によシ基板表面をボンバード処理することで基
板の静電気除去や脱ガス、また基板帯電等の作用により
従来から問題となっていた基板の熱ダメージを無くすと
ともに薄膜の特性向上を図ることができるものである。
実施例
第1図は本発明の一実施例である020は真空槽であり
、排気管40.41にて真空排気が行なわれる。41.
43は排気管40.43に設けられた弁である。23は
幅50o、長さ1000m。
、排気管40.41にて真空排気が行なわれる。41.
43は排気管40.43に設けられた弁である。23は
幅50o、長さ1000m。
厚さ16μmの高分子形成物表面に樹脂を主成分とする
混合物層を形成した複合基板(以後基板と言う)で、2
4.25はそれぞれ基板の巻出部。
混合物層を形成した複合基板(以後基板と言う)で、2
4.25はそれぞれ基板の巻出部。
巻取部である。27.28はイオンボンバード装置、2
9はエレクトロンボンバード装置、38は蒸着ローラ、
35は蒸発材料、32は加熱源である0 幅5001長さ1000m、厚さ16μmの基板23は
真空槽20の上室22において巻出部24にセットされ
る。上室の真空度は10−’ (Torr )に減圧し
た。基板23は巻出部24よりフリーローラ2eを経て
イオンボンバード装置27に入る。
9はエレクトロンボンバード装置、38は蒸着ローラ、
35は蒸発材料、32は加熱源である0 幅5001長さ1000m、厚さ16μmの基板23は
真空槽20の上室22において巻出部24にセットされ
る。上室の真空度は10−’ (Torr )に減圧し
た。基板23は巻出部24よりフリーローラ2eを経て
イオンボンバード装置27に入る。
イオンボンバード装置には酸素を供給して0 のイオン
を発生させ、基板23に0+のイオンを照射する。この
時の上室は酸素o、sl/Bの供給で10−2(Tor
r)となっている0イオンボンバード装置27を通過し
た基板23はフリーローラ26、図示されてないエキス
パンドローラ、ニラ7’ 0−ラを経て矢視39の回転
方向に回転する蒸着ローラ38の外周に入る。基板23
の走行速度は50cm 7m1yr )であった。下室
31は真空度が10〜5(Torr)に減圧されていて
、上室22とは遮蔽板21′により分離されている。2
1は蒸発物質がエレクトロンボンバード装置29への付
着を防止するための遮蔽板である。遮蔽板21′と上室
22間の室31には蒸着ローラ38と対向してヘエレク
トロンボンバード装置29が設けられていて、エレクト
ロンボンバード装置29から発生した電子線30の一部
を対向した蒸着ローラ38外周上の基板23に照射する
。電子線30を基板23表面に照射することで基板表面
の脱ガスが行なわれるとともに基板23が帯電して蒸着
ローラ38外周への密着力が極めて強くなる。電子線照
射で蒸着ローラ38に密着した基板は、蒸着ローラ38
と共に次の蒸着工程に入る。ベース33上に設けられた
耐火物ルツボ34内に磁性材料であるコバルト、ニッケ
ル合金35を入れ、加熱源32により加熱、蒸発させる
。36は基板23へ ′の蒸発原子37の入射を制限す
るマスクであり、本実施例では最小入射角が0°とした
。尚、加熱源には電子銃を用いた。蒸発原子37の一部
は蒸着ローラ38外周上の基板23上に蒸着して厚さ0
.1μmの薄膜を形成する。尚、蒸発原子37は通常図
示されていないシャッターにより基板23表面へは到達
しないようにしてあり、蒸着時のみシャッターを開状態
にして基板23表面へ薄膜を形成する。表面に薄膜層を
形成した基板23′はフリーローラ26を経て再びイオ
ンボンバード′装置28に入る。イオンボンバード装置
には酸素が供給されていてぴのイオンを発生させて基板
23′の表面にイオンを照射する。この後フリーローラ
26を経て基板は巻取36にいたる。
を発生させ、基板23に0+のイオンを照射する。この
時の上室は酸素o、sl/Bの供給で10−2(Tor
r)となっている0イオンボンバード装置27を通過し
た基板23はフリーローラ26、図示されてないエキス
パンドローラ、ニラ7’ 0−ラを経て矢視39の回転
方向に回転する蒸着ローラ38の外周に入る。基板23
の走行速度は50cm 7m1yr )であった。下室
31は真空度が10〜5(Torr)に減圧されていて
、上室22とは遮蔽板21′により分離されている。2
1は蒸発物質がエレクトロンボンバード装置29への付
着を防止するための遮蔽板である。遮蔽板21′と上室
22間の室31には蒸着ローラ38と対向してヘエレク
トロンボンバード装置29が設けられていて、エレクト
ロンボンバード装置29から発生した電子線30の一部
を対向した蒸着ローラ38外周上の基板23に照射する
。電子線30を基板23表面に照射することで基板表面
の脱ガスが行なわれるとともに基板23が帯電して蒸着
ローラ38外周への密着力が極めて強くなる。電子線照
射で蒸着ローラ38に密着した基板は、蒸着ローラ38
と共に次の蒸着工程に入る。ベース33上に設けられた
耐火物ルツボ34内に磁性材料であるコバルト、ニッケ
ル合金35を入れ、加熱源32により加熱、蒸発させる
。36は基板23へ ′の蒸発原子37の入射を制限す
るマスクであり、本実施例では最小入射角が0°とした
。尚、加熱源には電子銃を用いた。蒸発原子37の一部
は蒸着ローラ38外周上の基板23上に蒸着して厚さ0
.1μmの薄膜を形成する。尚、蒸発原子37は通常図
示されていないシャッターにより基板23表面へは到達
しないようにしてあり、蒸着時のみシャッターを開状態
にして基板23表面へ薄膜を形成する。表面に薄膜層を
形成した基板23′はフリーローラ26を経て再びイオ
ンボンバード′装置28に入る。イオンボンバード装置
には酸素が供給されていてぴのイオンを発生させて基板
23′の表面にイオンを照射する。この後フリーローラ
26を経て基板は巻取36にいたる。
第2図、第3図に本発明の主構成要素であるイオンボン
ノ、ぐ−ド装置とエレクトロンボンハート装置の一実施
例を示す。
ノ、ぐ−ド装置とエレクトロンボンハート装置の一実施
例を示す。
第2図イはイオンボンバード装置の概要図を示す。放電
電極40.41はケースカバー42内に設けられている
。ケースカバー42は基板43通過部のスリットを除き
ほぼ密封されている。放電電極へは40と41の甑に電
気導体44′を用いて電力を供給する。交流の場合は8
00(V)4(8)。
電極40.41はケースカバー42内に設けられている
。ケースカバー42は基板43通過部のスリットを除き
ほぼ密封されている。放電電極へは40と41の甑に電
気導体44′を用いて電力を供給する。交流の場合は8
00(V)4(8)。
直流の場合は10QO(至)5(春とした。各放電電極
40.41の放電制御は供給電力量と酸素ガス46の量
で行なった。第2図口に放電電極の内部構造図を示す。
40.41の放電制御は供給電力量と酸素ガス46の量
で行なった。第2図口に放電電極の内部構造図を示す。
直径40.、長さ700mm 、厚さ3Mのステンレス
パイプから成る放電電極ケース46の内部に、外径25
M、内径10M、厚さ20皿の永久磁石47を、ステン
レス支持棒48に永久磁石47が1つ毎にN極、S極が
反発するように5 ’OO1m幅に配置して両端をポル
ト49で固定し、ステンレス支持棒の両端を放電電極ケ
ース46の両端に固定した。このようにして20M間隔
でN、S極間による磁場64ができる。また放電電極は
永久磁石47の放電による温度上昇を防止するため冷却
水51を導入口6oより入れ62の糸路を通し出水口6
3から放出する。尚、冷却水の導入口60及び出水口6
3と図示されていない外部パイプとの接続は水が漏れな
いようにしである。このような放電電極を第1図イの如
く配置して交流80ovを印加して各放電電極41゜4
2の磁場中及び周辺で放電を持続させて酸素ガス46を
0 イオンとして基板43に照射する。
パイプから成る放電電極ケース46の内部に、外径25
M、内径10M、厚さ20皿の永久磁石47を、ステン
レス支持棒48に永久磁石47が1つ毎にN極、S極が
反発するように5 ’OO1m幅に配置して両端をポル
ト49で固定し、ステンレス支持棒の両端を放電電極ケ
ース46の両端に固定した。このようにして20M間隔
でN、S極間による磁場64ができる。また放電電極は
永久磁石47の放電による温度上昇を防止するため冷却
水51を導入口6oより入れ62の糸路を通し出水口6
3から放出する。尚、冷却水の導入口60及び出水口6
3と図示されていない外部パイプとの接続は水が漏れな
いようにしである。このような放電電極を第1図イの如
く配置して交流80ovを印加して各放電電極41゜4
2の磁場中及び周辺で放電を持続させて酸素ガス46を
0 イオンとして基板43に照射する。
第3図にエレクトロンボンバード装置の概要図を示す。
65は直径1.0mm s長さ500 mmのタングス
テン線で、両端を高圧碍子にて絶縁支持している。5b
は電子線57の飛散を防止すると同時に反射させて所定
の基板61への電子線57の照射量を増加させるための
カバーである。タングステンヒータ55に交流100V
の電圧58を印加して電流を流すことでタングステンヒ
ータ56は自己発熱して熱電子を放電する。この熱電子
を電子線として基板61に照射するため加速電圧として
直流30(K V) 5Bのマイナスがタングステンヒ
ータ65に接地され、プラスがアース60に接地される
。電子a67が照射された基板61は表画面、本実施例
においては形状1寸法を掲げて詳細を説明したが、本発
明はこれらに限定されるものではなく、基板材料、蒸着
材料、供給ガス等も同様で、電圧、電流条件も本実施例
のみに限定されるものではないことは言うまでもない。
テン線で、両端を高圧碍子にて絶縁支持している。5b
は電子線57の飛散を防止すると同時に反射させて所定
の基板61への電子線57の照射量を増加させるための
カバーである。タングステンヒータ55に交流100V
の電圧58を印加して電流を流すことでタングステンヒ
ータ56は自己発熱して熱電子を放電する。この熱電子
を電子線として基板61に照射するため加速電圧として
直流30(K V) 5Bのマイナスがタングステンヒ
ータ65に接地され、プラスがアース60に接地される
。電子a67が照射された基板61は表画面、本実施例
においては形状1寸法を掲げて詳細を説明したが、本発
明はこれらに限定されるものではなく、基板材料、蒸着
材料、供給ガス等も同様で、電圧、電流条件も本実施例
のみに限定されるものではないことは言うまでもない。
発明の効果
このようにして構成された本発明の半連続巻取式真空蒸
着装置は、 (1)巻出後のイオンボンバードにより基板に存在する
静電気OがO+で打消され、エレクトロンボンバード効
果が向上する。
着装置は、 (1)巻出後のイオンボンバードにより基板に存在する
静電気OがO+で打消され、エレクトロンボンバード効
果が向上する。
(2) エレクトロンボンバードてより脱ガス作用が
生じ、薄膜組成が蒸発材料にほぼ近くなり、磁性材料で
は良い磁気特性が得られる。
生じ、薄膜組成が蒸発材料にほぼ近くなり、磁性材料で
は良い磁気特性が得られる。
(3) エレクトロンボンバードによるe−の帯電で
基板と蒸着ローラ、の密着力が極めて強くなり基板の熱
劣化が少ない。従って (a) 蒸着での歩留りが向上する。
基板と蒸着ローラ、の密着力が極めて強くなり基板の熱
劣化が少ない。従って (a) 蒸着での歩留りが向上する。
(b) 基板と蒸発源距離を小さくできて、蒸着効率
が向上する。
が向上する。
(C)磁性薄膜の磁気特性が向上した。
(→ 薄膜の付着強度が向上した。
(e) 金属薄膜の光沢度が向上した。
(4)残存e−fイオンボンバードで01によりe″″
を減少して基板の巻取り全正常に行ない、シワやスジの
ない巻取りができた。
を減少して基板の巻取り全正常に行ない、シワやスジの
ない巻取りができた。
(5)冷却設備が不要でイニシャルコスト、ランニング
コストが低い。
コストが低い。
(6)生産性が向上してコスト低減ができた。
第1図は本発明の真空蒸着装置の一実施例を−示す構成
図、第2図イはイオンボンバード装置の概要図、口は放
電電極の内部構造図、第3図はエレクトロンボンバード
装置の概要図、第4図は従来の真空蒸着装置を示す構成
図である。 2o・・・・・・真空槽、23・・・・・・基板、27
.28・・・・・・イオンボンバード装置、38・・・
・・・蒸着ローラ、35・・・・・・蒸発材料、32・
・・・・・加熱源0代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏
男 ほか1名27−28−−41yfソに−Pjlk
fl第2図
図、第2図イはイオンボンバード装置の概要図、口は放
電電極の内部構造図、第3図はエレクトロンボンバード
装置の概要図、第4図は従来の真空蒸着装置を示す構成
図である。 2o・・・・・・真空槽、23・・・・・・基板、27
.28・・・・・・イオンボンバード装置、38・・・
・・・蒸着ローラ、35・・・・・・蒸発材料、32・
・・・・・加熱源0代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏
男 ほか1名27−28−−41yfソに−Pjlk
fl第2図
Claims (2)
- (1)10^−^2(Torr)以下に減圧された真空
槽内に長尺基板の巻出、巻取を含む基板走行系を有する
半連続巻取式真空蒸着装置において、基板の巻出、巻取
間にフリーローラ、エキスパンダとともに、少なくとも
2ケ所以上のイオンボンバード装置と、少なくとも1ケ
所以上のエレクトロンボンバード装置と、少なくとも1
ケ所以上の真空蒸着のための蒸発源を併設してなる半連
続巻取式真空蒸着装置。 - (2)基板を巻出から巻取へ走行させ、この間に基板表
面をイオンボンバード、エレクトロンボンバード、真空
蒸着、イオンボンバードの順に表面処理を行なうことを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半連続巻取式真
空蒸着装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18132285A JPH0791643B2 (ja) | 1985-08-19 | 1985-08-19 | 半連続巻取式真空蒸着装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18132285A JPH0791643B2 (ja) | 1985-08-19 | 1985-08-19 | 半連続巻取式真空蒸着装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6240373A true JPS6240373A (ja) | 1987-02-21 |
JPH0791643B2 JPH0791643B2 (ja) | 1995-10-04 |
Family
ID=16098655
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18132285A Expired - Lifetime JPH0791643B2 (ja) | 1985-08-19 | 1985-08-19 | 半連続巻取式真空蒸着装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0791643B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0320466A (ja) * | 1989-06-19 | 1991-01-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜の製造方法 |
US5616362A (en) * | 1993-06-02 | 1997-04-01 | Andritz-Patentverwaltungs-Gesellschaft M.B.H. | Process and apparatus for the coating of metal |
JP2000216591A (ja) * | 1999-01-25 | 2000-08-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | シ―ルド材 |
JP2010163693A (ja) * | 2010-04-12 | 2010-07-29 | Ulvac Japan Ltd | 巻取式真空蒸着方法 |
CN103882382A (zh) * | 2014-03-31 | 2014-06-25 | 天津沃特激光全息防伪标识有限公司 | 一种透明激光全息防伪膜静电纹消除装置 |
-
1985
- 1985-08-19 JP JP18132285A patent/JPH0791643B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2679260B2 (ja) * | 1989-06-19 | 1997-11-19 | 松下電器産業株式会社 | 薄膜の製造方法 |
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