JPS6240373A - 半連続巻取式真空蒸着装置 - Google Patents

半連続巻取式真空蒸着装置

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JPS6240373A
JPS6240373A JP18132285A JP18132285A JPS6240373A JP S6240373 A JPS6240373 A JP S6240373A JP 18132285 A JP18132285 A JP 18132285A JP 18132285 A JP18132285 A JP 18132285A JP S6240373 A JPS6240373 A JP S6240373A
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substrate
bombardment device
ion bombardment
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semi
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Kazuo Iwaoka
和男 岩岡
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は大気圧以下に減圧された真空槽内【おいて長尺
の基板を連続走行させながら基板表面に薄膜を形成する
半連続巻取式真空蒸着装置に関するものであり、コンデ
ンサ用としてのアルミ蒸着から磁気テープ用の磁性材料
の蒸着などに応用されるものである。
従来の技術 真空技術は食品加工から半導体製造に至るまで広範囲の
分野で使用されている。この中にあって長尺の基板、主
に高分子より成る基板を用いて、基板を連続して走行さ
せ、この間に基板表面に薄膜形成を行なう半連続巻取式
真空蒸着装置が多く用いられている。これらの主なもの
はアルミ蒸着を行なう包装紙や装飾紙、フィルムコンデ
ンサ。
反射フィルム等や磁性材料蒸着による磁気テープ等への
使用がある。
特に磁性材料を用いた磁気テープの製造では真空蒸着法
以外にメッキやイオンブレーティング。
スパッターリングによる基板表面への薄膜形成が提案さ
れている。
以下図面を用いて従来装置の構成を述べる。第4図は従
来から用いられている半連続巻取式真空蒸着装置の一例
である。真空槽1内は排気管17゜18により大気圧以
下に減圧される。15.16は排気管の途中に明けられ
ている開閉の為の弁である。真空槽内は遮蔽飯14によ
シ上室6と下室7に分離されている。上室6には長尺の
基板2の巻出3及び巻取4系が設けられていて、真空度
は1O−5(Torr)程度に減圧されている。5は基
板2の走行のためのフリーローラである。下室7は蒸着
を行なうための室で、真空度は10−’ (Torr)
程度に減圧されている。ベース8上に蒸着材料10を収
納するための容器9が置かれている。蒸着材料10は加
熱源11により加熱され溶解した後に蒸発原子12とな
り、蒸着ローラ13の外周に蒸着ローラと同期して走行
する基板2の表面に付着して薄膜を形成する。
発明が解決しようとする問題点 このように構成された従来の半連続巻取式真空蒸着装置
で、比較的蒸発温度の低いアルミニウムなどの加熱には
抵抗加熱や誘導加熱が用いられる。
アルミニウム蒸着では基板が高分子形成物の場合蒸着ロ
ーラ13を冷媒などによりマイナス20′c程度まで冷
却することで、蒸発源からの基板2表面に対する輻射熱
や、付着原子が持っている凝縮熱の影響を除去して、基
板2の熱ダメージを防止している。基板2の熱ダメージ
は基板2に対する折スジやシワの発生さらに焼損となり
、蒸着での大きな問題であり、冷却装置は装置価格やラ
ンニングコストなどを含めて製品コストに大きく影−響
を与えている。また蒸発温度が2000°Cにも達する
コバルト、ニッケル等の磁性材料を高分子形成物基板や
高分子形成物表面になんらかの層を形成した複合基板表
面上に蒸着しようとすると、上述のアルミニウム蒸着に
用いる冷却方法では基板の熱ダメージが大きく半連続巻
取式での真空蒸着を効率良く行なうには限界があシ、工
業的な生産性、コスト等から大きな問題となっていた。
本発明は上記従来の問題点を解決すると共に、生産性、
コスト等に優れた半連続巻取式真空蒸着装置の提案を目
的とするものである。
問題点を解決するための手段 本発明の半連続巻取式真空蒸着装置は、真空槽みに基板
巻出9巻取等の基板走行系、蒸着ローラ。
蒸着系等と共に、基板表面処理用のイオンボンバード装
置とエレクトロンボンバード装置を設置して成るもので
、イオンボンバード装置は基板の巻出後と、巻出前に設
け、エレクトロンボンバード装置は基板巻出後イオンボ
ンバード装置と蒸着工程の中間に設けた構成である。
作  用 本発明は、イオンボンバード装置とエレクトロンボンバ
ード装置によシ基板表面をボンバード処理することで基
板の静電気除去や脱ガス、また基板帯電等の作用により
従来から問題となっていた基板の熱ダメージを無くすと
ともに薄膜の特性向上を図ることができるものである。
実施例 第1図は本発明の一実施例である020は真空槽であり
、排気管40.41にて真空排気が行なわれる。41.
43は排気管40.43に設けられた弁である。23は
幅50o、長さ1000m。
厚さ16μmの高分子形成物表面に樹脂を主成分とする
混合物層を形成した複合基板(以後基板と言う)で、2
4.25はそれぞれ基板の巻出部。
巻取部である。27.28はイオンボンバード装置、2
9はエレクトロンボンバード装置、38は蒸着ローラ、
35は蒸発材料、32は加熱源である0 幅5001長さ1000m、厚さ16μmの基板23は
真空槽20の上室22において巻出部24にセットされ
る。上室の真空度は10−’ (Torr )に減圧し
た。基板23は巻出部24よりフリーローラ2eを経て
イオンボンバード装置27に入る。
イオンボンバード装置には酸素を供給して0 のイオン
を発生させ、基板23に0+のイオンを照射する。この
時の上室は酸素o、sl/Bの供給で10−2(Tor
r)となっている0イオンボンバード装置27を通過し
た基板23はフリーローラ26、図示されてないエキス
パンドローラ、ニラ7’ 0−ラを経て矢視39の回転
方向に回転する蒸着ローラ38の外周に入る。基板23
の走行速度は50cm 7m1yr )であった。下室
31は真空度が10〜5(Torr)に減圧されていて
、上室22とは遮蔽板21′により分離されている。2
1は蒸発物質がエレクトロンボンバード装置29への付
着を防止するための遮蔽板である。遮蔽板21′と上室
22間の室31には蒸着ローラ38と対向してヘエレク
トロンボンバード装置29が設けられていて、エレクト
ロンボンバード装置29から発生した電子線30の一部
を対向した蒸着ローラ38外周上の基板23に照射する
。電子線30を基板23表面に照射することで基板表面
の脱ガスが行なわれるとともに基板23が帯電して蒸着
ローラ38外周への密着力が極めて強くなる。電子線照
射で蒸着ローラ38に密着した基板は、蒸着ローラ38
と共に次の蒸着工程に入る。ベース33上に設けられた
耐火物ルツボ34内に磁性材料であるコバルト、ニッケ
ル合金35を入れ、加熱源32により加熱、蒸発させる
。36は基板23へ ′の蒸発原子37の入射を制限す
るマスクであり、本実施例では最小入射角が0°とした
。尚、加熱源には電子銃を用いた。蒸発原子37の一部
は蒸着ローラ38外周上の基板23上に蒸着して厚さ0
.1μmの薄膜を形成する。尚、蒸発原子37は通常図
示されていないシャッターにより基板23表面へは到達
しないようにしてあり、蒸着時のみシャッターを開状態
にして基板23表面へ薄膜を形成する。表面に薄膜層を
形成した基板23′はフリーローラ26を経て再びイオ
ンボンバード′装置28に入る。イオンボンバード装置
には酸素が供給されていてぴのイオンを発生させて基板
23′の表面にイオンを照射する。この後フリーローラ
26を経て基板は巻取36にいたる。
第2図、第3図に本発明の主構成要素であるイオンボン
ノ、ぐ−ド装置とエレクトロンボンハート装置の一実施
例を示す。
第2図イはイオンボンバード装置の概要図を示す。放電
電極40.41はケースカバー42内に設けられている
。ケースカバー42は基板43通過部のスリットを除き
ほぼ密封されている。放電電極へは40と41の甑に電
気導体44′を用いて電力を供給する。交流の場合は8
00(V)4(8)。
直流の場合は10QO(至)5(春とした。各放電電極
40.41の放電制御は供給電力量と酸素ガス46の量
で行なった。第2図口に放電電極の内部構造図を示す。
直径40.、長さ700mm 、厚さ3Mのステンレス
パイプから成る放電電極ケース46の内部に、外径25
M、内径10M、厚さ20皿の永久磁石47を、ステン
レス支持棒48に永久磁石47が1つ毎にN極、S極が
反発するように5 ’OO1m幅に配置して両端をポル
ト49で固定し、ステンレス支持棒の両端を放電電極ケ
ース46の両端に固定した。このようにして20M間隔
でN、S極間による磁場64ができる。また放電電極は
永久磁石47の放電による温度上昇を防止するため冷却
水51を導入口6oより入れ62の糸路を通し出水口6
3から放出する。尚、冷却水の導入口60及び出水口6
3と図示されていない外部パイプとの接続は水が漏れな
いようにしである。このような放電電極を第1図イの如
く配置して交流80ovを印加して各放電電極41゜4
2の磁場中及び周辺で放電を持続させて酸素ガス46を
0 イオンとして基板43に照射する。
第3図にエレクトロンボンバード装置の概要図を示す。
65は直径1.0mm s長さ500 mmのタングス
テン線で、両端を高圧碍子にて絶縁支持している。5b
は電子線57の飛散を防止すると同時に反射させて所定
の基板61への電子線57の照射量を増加させるための
カバーである。タングステンヒータ55に交流100V
の電圧58を印加して電流を流すことでタングステンヒ
ータ56は自己発熱して熱電子を放電する。この熱電子
を電子線として基板61に照射するため加速電圧として
直流30(K V) 5Bのマイナスがタングステンヒ
ータ65に接地され、プラスがアース60に接地される
。電子a67が照射された基板61は表画面、本実施例
においては形状1寸法を掲げて詳細を説明したが、本発
明はこれらに限定されるものではなく、基板材料、蒸着
材料、供給ガス等も同様で、電圧、電流条件も本実施例
のみに限定されるものではないことは言うまでもない。
発明の効果 このようにして構成された本発明の半連続巻取式真空蒸
着装置は、 (1)巻出後のイオンボンバードにより基板に存在する
静電気OがO+で打消され、エレクトロンボンバード効
果が向上する。
(2)  エレクトロンボンバードてより脱ガス作用が
生じ、薄膜組成が蒸発材料にほぼ近くなり、磁性材料で
は良い磁気特性が得られる。
(3)  エレクトロンボンバードによるe−の帯電で
基板と蒸着ローラ、の密着力が極めて強くなり基板の熱
劣化が少ない。従って (a)  蒸着での歩留りが向上する。
(b)  基板と蒸発源距離を小さくできて、蒸着効率
が向上する。
(C)磁性薄膜の磁気特性が向上した。
(→ 薄膜の付着強度が向上した。
(e)  金属薄膜の光沢度が向上した。
(4)残存e−fイオンボンバードで01によりe″″
を減少して基板の巻取り全正常に行ない、シワやスジの
ない巻取りができた。
(5)冷却設備が不要でイニシャルコスト、ランニング
コストが低い。
(6)生産性が向上してコスト低減ができた。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の真空蒸着装置の一実施例を−示す構成
図、第2図イはイオンボンバード装置の概要図、口は放
電電極の内部構造図、第3図はエレクトロンボンバード
装置の概要図、第4図は従来の真空蒸着装置を示す構成
図である。 2o・・・・・・真空槽、23・・・・・・基板、27
.28・・・・・・イオンボンバード装置、38・・・
・・・蒸着ローラ、35・・・・・・蒸発材料、32・
・・・・・加熱源0代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏
 男 ほか1名27−28−−41yfソに−Pjlk
fl第2図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)10^−^2(Torr)以下に減圧された真空
    槽内に長尺基板の巻出、巻取を含む基板走行系を有する
    半連続巻取式真空蒸着装置において、基板の巻出、巻取
    間にフリーローラ、エキスパンダとともに、少なくとも
    2ケ所以上のイオンボンバード装置と、少なくとも1ケ
    所以上のエレクトロンボンバード装置と、少なくとも1
    ケ所以上の真空蒸着のための蒸発源を併設してなる半連
    続巻取式真空蒸着装置。
  2. (2)基板を巻出から巻取へ走行させ、この間に基板表
    面をイオンボンバード、エレクトロンボンバード、真空
    蒸着、イオンボンバードの順に表面処理を行なうことを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半連続巻取式真
    空蒸着装置。
JP18132285A 1985-08-19 1985-08-19 半連続巻取式真空蒸着装置 Expired - Lifetime JPH0791643B2 (ja)

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