JPS62291734A - 光磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents

光磁気記録媒体の製造方法

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JPS62291734A
JPS62291734A JP61134183A JP13418386A JPS62291734A JP S62291734 A JPS62291734 A JP S62291734A JP 61134183 A JP61134183 A JP 61134183A JP 13418386 A JP13418386 A JP 13418386A JP S62291734 A JPS62291734 A JP S62291734A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光を用いて記録、再生または消去を行なう光磁
気記録媒体に関する。
〔従来の技術〕
従来の光磁気記録媒体は、Tb−?e、Tb−IF  
e  −Oo  、 G(1−?o−00%  G(L
−CosG 6− S m −Oo等の非晶質金属垂直
磁化膜〃スパッタリング法や真空蒸着法などによって成
膜されているが、希土類金属元素を含んでいるため非常
に耐環境特性に劣り、安定した磁気記録特性を維持する
ことができない0すなわち、カー回転角、7アラデ一回
転角、保磁力、透過率、反射率等の変化が激しくピット
エラーレートの経時変化か大きく長期信頼性がない◎そ
のために、基板材料、保護層の材料、媒体の構造など種
々の、検討がなされてきている。また、記録層の耐酸化
性のためT1、Cr、Aftなどの元素を記録層自身に
添加する試みもなされているが、記録層に希土類元素を
使う以上耐酸化性の大きな向上は望めない。
さらに、非晶質金属垂直磁化膜をスパッタリングまたは
蒸着などにより成膜し、1yでも大気にさらすと大気中
の酸素や水分などの不純物が表面吸着し本来のカーヒス
テリシスまたはファラデヒステリシスループの角形比が
悪くなり、残留磁化状態のカー回転角または7アラデ一
回転角が低下してしまう◎そこでこのような問題点をな
くすためには記録層および保護層を真空系内で連続成膜
して作成する必要があるが、基板を同一の治具でおさえ
た状態・あるいは基板の最外部まで成膜した場合は側端
面が露出されるため、この露出面からの酸化が急速に進
行し、有効記録部分を犯すことになる。しかしながら記
録層と保護層を真空系内で連続成膜し、保護層を記録層
の側端面まで覆うという検討はなされていない。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、前述の従来技術では記録層と保護層を真空系内
で連続成膜し、さらに保護層を記録層の側端面まで覆う
という検討がなされていない、ため、記録層の露出面が
存在し、この露出面が大気または光硬化性樹脂などに触
れた場合この露出面からの酸化が急速に進行し、有効記
録部分を犯すという問題点を有していた。
そこで本発明はそのような問題点を解決するものでその
目的とするところは、記録層と保護層を真空系内で連続
成膜した場合生じる記録層の側端面の露出をなくすこと
、すなわち、記録層と保護層を真空系内で連続成膜する
ことにより、記録層の側端面からの酸素や水分の侵入を
防ぎ、耐酸化性の優れた長期信頼性のある光磁気記録媒
体を提供するところにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の光磁気記録媒体は、光を用いて記録、再生また
は消去を行なう光磁気記録媒体において、膜面に垂直な
方向に磁化容易軸を有する非晶質金属垂直磁化膜を記録
層とし、金属または半金属の酸化物、窒化物または硫化
物を主成分とする保護層を用いて該保護層と該記録層を
真空系内で連続成膜して該記録層の側端面を該保護層で
覆ったことを特徴とする。
〔実施例〕
第1図及び第2図は本発明における光磁気記録媒体の概
略図であって、センターホールのある円形のディスク状
基板を例にとっである。第1図はディスク状基板の外周
側面及び内周側の記録層の側端面まで保護層で覆う場合
であり、第2図はディスク状基板の外周側の側端面は保
護層で覆い、内周部は、有効記録部分をセンターホール
付近までとらずK、側端面の多少の酸化が無視できる場
合、成膜の操作性を容易にするため内周部分だけは同一
の治具をとりつけたまま第1保護層、記録層、第2保護
層の順に成膜して作製する場合である0 第1図の1は透光性支持体で、ガラスや透明プラスチッ
クなどの材料を用いることができるが、ここではポリカ
ーボネート樹脂を用いた場合を例にとる。2はディスク
のセンターホールである03はディスクへ最初に被着さ
れる第1保護層であり、プラスチックなどの透湿性およ
び吸湿性のある基板を用いた場合、記録層の成膜時ある
いは成膜した後、基板側からの水分や酸素の透過による
記録層の酸化を防ぐ効果を有する。4及び5は第1保護
層を被着する場合、記録層の側端面まで保護層で覆うた
めディスクの最外周あるいは最内周まで記録層を成膜す
ることができないのと同時に、密着粘り合わせ構造やエ
アーサンドイッチ構造をとる場合に、ディスク用基板と
貼り合わせる側の基板との接着強度を増すためにあけて
おく部分である。6は非晶質金属垂直磁化膜の記録層で
あり、7は6の記録層を成膜した後真空系内で記録層の
側端面まで覆うように側端面保護層8を成膜した第2保
護層である。
第2図の9はボリカーボ°ネートの透光性支持体で、1
0はディスクのセンターホール、11は第1保護層、1
2及び13は接着強度を増すためにあけておく部分、1
4は非晶質金属垂直磁化膜の記録層・15は第2保護層
、16は側端面保護層である0゛ 次に、第1図及び第2図に示す構成の光は気記録媒体の
作製工程を図面により説明する。
第3図(a)から第3図(1)は、内径の異なる外周治
具及び外径の異なる内周治具を用いた場合であり、第1
図に示す構成の光磁気記録媒体の作製工程の一例である
@3図(α)に示すように、ポリカーボネート透光性支
持体17を外周治具18、内周治具19及び内周治具1
9を支える支持体20からなる一連、の治具のところに
とりつけ、窒化アルミニウムの焼結体ターゲットを用い
てRIFマグネトロンスパッタリング法により、窒化ア
ルミニウムの第1保護層21を1000X成膜すること
により、第3図(b)に示す構造になる。次に、第3図
(1)に示すように、ボ1rカーボネートの透光性支持
体17に窒化アルミニウムの第1保護層21を1ooo
X成膜したものを18より小さい内径の外周治具22゜
19より大きい外径の内周治具23、及び内周治具23
を支える支持体24からなる一連の治具のところへ真空
系内で搬送し、Tb−Fθ−CO系の記録層25をDO
マグネトロンスパッタリング法により成膜することによ
り、第3図(d)に示す構造になる。
さらに、第3図(ε)に示すようにポリカーボネートの
透光性支持体17に窒化アルミニウムの第1保護層21
を1000χ成膜した後T b−F e −Oo系の記
録層25を成膜したものを18と同じ内径の外周治具2
6.19と同じ外径の内周治具27、及び内周治具27
を支える支持体28からなる一連の治具のところへ真空
系内で搬送し、窒化アルミニウムの焼結体ターゲットを
用いてRFマグネトロンスパッタリング法により、第2
保護層29を1000X成膜することにより、第3図(
1)K示す構造になり、第1図に示す構成の光磁気記録
媒体が作製される。
第3図(α)、@3図(c)及び第3図(−)において
内周治具を支える支持体である20.24及び28はス
パッタの被着面上にあり、スパッタむらを生じさせる要
因となるが、このような構成のものはスパッタの被着面
側またはターゲット側を回転させることにより解決でき
る。以下の実施例においてもこのような支持体がでてく
るが同様にして解決できる。
第4図(α)から第4図(f)は同一の内径の外周治具
及び同一の外径の内周治具を用い、外周および内周治具
を基板(ポリカーボネートの透光性支持体)から離すこ
とにより、外周治具の内周で覆われる部分より広く内周
治具の外周で覆われる部分より狭い領域に第1保護層を
成膜し、外周及び内周治具を基板(ポリカーボネートの
透光性支持体)K近づけることにより、外周治具の内周
から内周治具の外周までとほぼ等しい領域に記録層を成
膜して再度外周及び内周治具を基板から離すことにより
外周治具の内周で覆われる部分より広く内周治具の外周
で覆われる部分より狭い領域に第2保護層を成膜するこ
とにより第1図に示す構成の光磁気記録媒体を作製する
作製工程の一例である。
第4図(a)に示すように、ポリカーボネート透光性支
持体30を外周治具51、内周治具32及び内周治具3
2を支える支持体33からなる一連の治具のところにと
りつけ、第1保護層34を、31.32及び33からな
る一連の治具かう離して、酸化珪素の焼結体ターゲット
を用いてRIFマグネトンスパッタリング法により酸化
珪素の第1保護層34を1000χ成膜することにより
、第4図(6)に示す構造になる・次に、第4図(c)
に示すようにポリカーボネート透光性支持体30に酸化
珪素の第1保護層34を成膜したものを31と同一の内
径の外周治具35.52と同一の外径の内周治具36及
び内周治具36を支える支持体37からなる一連の治具
のところへ真空系内で搬送し、ポリカーボネートの透光
性支持体30に窒化珪素の第1保護層34を1000A
成膜したものを、35.36及び37からなる一連の治
具に近づけて、G d −IF e −(! o系の記
録層38をDOvグネトロンスパッタリング法により成
膜することにより、第4図(d) K示す構造になる◇
さらに、第4図(g)K示すように、ポリカーボネート
透光性支持体3゜に酸化珪素の第1保護層34を10Q
OX成膜1−た後G eL −IF e −Co系の記
録層38を31と同一の内径の外周治具59.52と同
一の外径の内周治具40及び内周治具40を支える支持
体41からなる一連の治具のところへ真空系内で搬送し
、第2保護層42を、39,40及び41からなる一連
の治具から離して、酸化珪素の焼結体ターゲットを用い
てRIFマグネトロンスパッタリング法;により第2保
護層42を1oooX成膜することにより、第4図(1
)K示す構造になり、第1図に示す構成の光磁気記録媒
体が作製される0第5図(a)から第5図(A)は同一
の治具を用いて外周及び内周部分を被覆し、第1保護層
、記録層、第2保護層の順に成膜した後、別の治具を用
いて記録層の側端面を被複して第1図に示す構成の光磁
気記録媒体を作成する工程の一例である。
第5図(α)に示すように、ポリカーボネート透光性支
持体43を外周治具44、内周治具45及び内周治具4
5を支える支持体46からなる一連の治具のところにと
りつけ、第1保護層47を硫化亜鉛のターゲットを用い
てRFマグネトロンスパッタリング法により800X成
膜することにより、第51N(6)に示す構造になる。
次に、第5図(c)に示すように、ポリカーボネート透
光性支持体に硫化亜鉛の第1保護層47を800x成膜
したものを、外周治具44、内周治具45及び内周治具
45を支える支持体46からなる一連の治具ごと記録層
であるN d−D y −F e −Oo系の合金ター
ゲットのあるところへ真空系内で搬送し、DOVグネト
ロンスパッタリング法によりN 6− D y −’P
 e−Co系の記録層48を成膜することKより、第5
図(d) K示す構造になる。次に、第5図(g)に示
すように、ポリカーボネートの透光性支持体43に硫化
亜鉛層の第1保護層47を800χ成膜した後、N d
 −D y −F e −Oo系の記録層48を成膜し
たものを、外周治具44、内周治具45及び内周治具4
5を支える支持体46からなる一連の治具ごと硫化亜鉛
のターゲットのあるところへ真空系内で搬送し、RIF
マグネトロンスパッタリング法により硫化亜鉛の第2保
護層49を800χ成膜することにより、第5図り)に
示す構造になる。
さらに、第5図(f)に示すように、ポリカーボネート
の透光性支持体43上に硫化亜鉛の第1保護層47、N
d−Dy−?e−Co系の記録層48、硫化亜鉛の第2
保護層49の順次成膜したものを外周治具50、中間治
具51、内周治具52、外周治具50と中間治具51を
連結させる支持体53および中間治具51と内周治具5
2を連結させる支持体54からなる一連の治具のところ
へ真空県内で搬送し、側端面保護層55及び56を硫化
亜鉛のターゲットを用いてR?マグネトロンスパッタリ
ング法により成膜することにより、第5図(h)に示す
構造になり、第1図に示す構成の光磁気記録媒体が作製
される。
第6図((1)から第6図(1)は、内径の異なる外周
治具を用いた場合であり、第2図に示す構成の光磁気記
録媒体の作製工程の一例である。
第6図(a)に示すように、ポリカーボネート透光性支
持体57を内周治具59で固定して外周治具58のとこ
ろにとりつけ、第1保護層60を、窒化珪素の焼結体タ
ーゲットを用いてRFマグネトロンスパッタリング法に
より1100χ成膜することKより第6図(6)に示す
構造になる。次に1第6図(c)に示すように、ポリカ
ーボネート透光性支持体57を内周治具59で固定して
窒化珪素の第1保護層60を1100X成膜したものを
58より小さい内径の外周治具61のところへ真空系内
で搬送し、Q d −IF e −OQ系の記録層62
をDCマグネトロンスパッタリング法により成膜するこ
とにより、第6図(d)に示す構造になる。さらに、第
6図(−)に示すようK、ポリカーボネート透光性支持
体57を内周治具59で固定して窒化珪素の第1保護層
60を1100X成膜した後Gd−Fe −Oo系の記
録層62を成膜したものを58と同じ内径の外周治具6
3のところへ真空系内で搬送し、窒化珪素の焼結体ター
ゲットを用いてRIFマグネトロンスパッタリング法に
より窒化珪素の第2保護層69を1100χ成膜するこ
とにより、第6図(7)に示す構成の光記録媒体が作製
される。
第7図(a)から第7図(1)は内周治具で基板を固定
し、内径の等しい外周治具を基板(ポリカーボネートの
透光性支持体)から離すことにより、外周治具の内周で
覆われる部分より広い領域に第1保護層を成膜し、外周
治具を基板(ポリカーボネ−トの透光性支持体)に近づ
けることKより、外周治具の内周から内周治具の外周ま
でとほぼ等しい領域に記録層を成膜した後、再度外周治
具を基板(ポリカーボネートの透光性支持体)から離し
て外周治具の内周で覆われる部分より広い領域に第2保
護層を成膜して第2図に示す構成の光磁気記録媒体を作
製する工程の一例である0 第7図(、)に示すように、ポリカーボネート透光性支
持体65を内周治具67で固定して外周治具(ポリカー
ボネートの透光性支持体)から離して、窒化アルミニウ
ムに窒化珪素を10重量パーセント含有する焼結体のタ
ーゲットを用いてRFマグネトロンスパッタリング法に
より、5iAjlxNyの第一保護層68を1000X
成膜することにより、第71N(&)に示す構造になる
次に、第7図(c)K示すように、ポリカーボネートの
透光性支持体65に5iAnxNyの第1保護層68を
1oooX成膜したものを66と同一の内径の外周治具
69のところへ真空系内で搬送し、ポリカーボネートの
透光性支持体65に5iAAxNYの第1保護層68を
成膜したものを外周治具69に近づけて、T b −F
 e −Co系の記録層70をDCマグネトロンスパッ
タリング法により成膜することにより、第7図(d)に
示す構造になる。
さらに、第7図(−)K示すように、ポリカーボネート
の透光性支持体65に5iA1xNYの第1保護層68
を1000X成膜した後T ’b −IF e −C。
系の記録層70を成膜したものを真空系内で66と同一
の内径の外周治具71のところへ搬送して外周治具71
から離して窒化アルミニウムに窒化珪素を10重量パー
セント含有する焼結体の々−ゲットを用いてRFマグネ
トロンスパッタリング法によりSiAλXNYの第2保
護層グ・2を1000X成膜することにより、第7図(
1)に示す構造になり、第2図に示す構成の光磁気記録
媒体が作製される◇ 第8図(,1)から第8図(A)は同一の治具を用いて
外周及び内周部分を被覆し、第1保護層、記録層、第2
保護層の順に成膜した後、別の治具を用いて外周部分の
記録層の側端面を被覆して第2図に示す構成の光磁気記
録媒体を作成する工程の一例である。
第8図(α)に示すように、ポリカーボネートの透光性
支持体73を内周治具75で固定し、外周治具74のと
ころへとりつけ珪素のターゲットを用いてアルゴンと窒
素の混合ガスを導入することによってRIF反応スパッ
タリング法により窒化珪素の第1保m層76を1100
X成膜することにより、第8図(b)に示す構造になる
・次に・第8図(a)に示すように、ポリカーボネート
の透光性支持体73に窒化珪素の第1保護層76を11
00χ成膜したものを、外周治具74及び内周治具75
ごと真空系内でT b −D y −F e −Oo系
の合金ターゲットあるところへ真空系内で搬送し、Do
マグネトロンスパッタリング法によりT b −D y
 −? e−co系の記録層77を成膜することにより
、第8図(d)に示す構造になる0次に、第8図(−)
に示すように1ポリカーボネートの透光性支持体73に
、窒化珪素の第1保護層76を110・OX成膜したも
のを、外周治具74及び内周治具75ごと真空系内で珪
素のターゲットのあるところへ真空系内で搬送し、アル
ゴンと窒素の混合ガスを導入することによってRIF反
応スパッタリング法により窒化珪素の第2保護層78を
1100X成膜することにより、第8図(1)に示す構
舞になる。さらに、第8図(nに示すように、ポリカー
ボネートの透光性支持体73上に窒化珪素の第1保?!
!層76、T b −D 7− P e −Oo系の記
録層77、窒化珪素の第2保護層78の順に成膜したも
のを、外周治具79、内周治具80および内周治具を支
える支持体81からなる一連の治具のところへ真空系内
で搬送し、窒化珪素の焼結体ターゲットを用いてRIP
マグネトロンスパッタリング法により側端面保護層82
を成膜することKより、第8図(A)に示す構造となり
、第2図に示す構成の水磁気記録媒体が作製される◇ また、第3図(、f)、第4図CI))、第5図(幻、
第6図(1)、第7図(1)、第8図(A)および従来
例として、同一の内周治具及び外周治具で基板(ポリカ
ーボネート)を固定したまま窒化珪素第1保護層、Tb
−F e −Co系の記録層、窒化珪素の第2保護層の
順に成膜したもの(第9図)を60℃90%RHの環境
下に1000時間放置したときの外周部分の記録層の劣
化を調べた結果を表1に示す。
尚、本発明の実施例で用いられた記録層の材料、保護層
の材料及び膜厚、記録層や保護層の成膜方法などの変更
は、本発明の要旨を免税しない限り可能である。
〔発明の効果〕
以上述べたように本発明によれば光を用いて記録、再生
または消失を行なう光磁気記録媒体において、膜面に垂
直な方向に磁化容易軸を有する非晶質金属を記録層とし
、金属または半金属の酸化物、窒化物または硫化物を主
成分とする保護層を用いて該保護層と該記録層を真空系
内で連続成膜して該記録層の側端面を該保護層で覆うこ
とにより、記録層と保護層を真空系内で連続成膜した場
合生じる記録層の側端面の露出をなくすこと、すなわち
記録層を成膜した後保護層を記録層の側端面を覆うよう
に真空系内で連続成膜することにより、記録層の側端面
からの酸素や水分の侵入を防ぎ、耐酸化性の優れた長期
信頼性のある光磁気記録媒体を提供する効果を有する0 表 160°90%RH1000時間後の外周部分の性
状の変化
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は本発明における光磁気記録媒体の概
略図である。、第3図(a)から第3図(1)、第4図
(a)から第4図(f)及び第5図(a)から第5図(
A)は第1図に示す構成の光磁気記録媒体の作製工程図
であり、第6図(、)から第6図(1)、第7因(a)
から第7図(1)及び第8図(a)から第8図(A)は
第2図に示す構成の光磁気記録媒体の作製工程図である
019図は従来の光磁気記録媒体の概略図である。 1・・・ポリカーボネートの透光性支持体2・・・ディ
スクのセンターホール 3・・第1保護層 4・・・接着強度を増すためにあけておく部分(外周部
分) 5・・・接着強度を増すためにあけておく部分(内周部
分) 6・・・非晶質金属垂直磁化膜の記録層7・・・第2保
護層 8・・・側端面保護層 9・・・ポリカーボネートの透光性支持体10・・・デ
ィスクのセンターホール 11・・・第1保護層 12・・・接着強度を増すためにあけておく部分(外周
部分) 13・・・接着強度を増すためにあけておく部分(内周
部分) 14・・・非晶質垂直磁化膜の記録層 15・・・第2保護層 16・・・側端面保護層 17・・・ポリカーボネートの透光性支持体18・・・
外周治具 19・・・内周治具 20・・・内周治具の支持体 21・・・窒化アルミニウムの第1保護層22・・・外
周治具 23・・・内周治具 24・・・内周治具の支持体 25−−− T b −F e −Oo系の記録層26
・・・外周治具 27・・・内周治具 28・・・内周治具の支持体 29・・・窒化アルミニウムの第2保護層30・・・ポ
リカーボネートの透光性支持体31・・・外周治具 32・・・内周治具 33・・・内周治具の支持体 34・・・酸化珪素の第1保護層 35・・・外周治具 36・・・内周治具 37・・・内周治具の支持体 s a−a a −F s −c o Eの記録層39
・・・外周治具 40・・・内周治具 41・・・内周治具の支持体 42・・・酸化珪素の第2保護層 43−・・ポリカーボネートの透光性支持体44・・・
外周治具 45・・・内周治具 46・・・内周治具の支持体 47・・・硫化亜鉛の第1保護層 48− N d −D y −IF e −Oo 7%
の記録層49・・・硫化亜鉛の第2保護層 50・・・外周治具 51・・・中間治具 52・・・内周治具 53・・・外周治具と中間治具の連結体54・・・中間
治具と内周治具の連結体55・・・側端面保護層(外周
側) 56・・・側端面保護層(内周側) 57・・・ポリカーボネートの透光性支持体58・・・
外周治具 59・・・内周治具 60・・・窒化珪素の第1保護層 61・・・外周治具 62− G (1−IF e −Oo 17.の記録層
66・・・外周治具 64・・・窒化珪素の第2保護層 65・・・ポリカーボネートの透光性支持体66・・・
外周治具 67・・・内周治具 6B=−8iAAxNyの第1保護層 69・・・外周治具 70− T b −71e −Oo系の記録層71・・
・外周治具 72−−−8’LAQxHYの第2保護層75・・・ポ
リカーボネートの透光性支持体74・・・外周治具 75・・・内周治具 76・・・窒化珪素の第1保護層 77− T b −D y −? e −Oo 系の記
録層78・・・窒化珪素の第2保護層 79・・・外周治具 80・・・内周治具 81・・・内周治具の支持体 82・・・側端面保護層 83・・・ポリカーボネートの透光性支持体84・・・
窒化珪素の第1保護層 85− T b −? e −Cj o系の記録層86
・・・窒化珪素の第2保護層 以  上 出願人 セイフーエブソン株式会社 代理人 弁理士最゛上 務 他1名 3・・躬1、保護層 第2V¥] 202゜ ”  lfy  4 Gり<a)      164−
Dフ(b)葛+07(C)        躬 4−L
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Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光を用いて記録、再生または消去を行なう光磁気
    記録媒体において、膜面に垂直な方向に磁化容易軸を有
    する非晶質金属垂直磁化膜を記録層とし、金属または半
    金属の酸化物、窒化物または硫化物を主成分とする保護
    層を用いて該保護層と該記録層を真空系内で連続成膜し
    て該記録層の側端面を該保護層で覆ったことを特徴とす
    る光磁気記録媒体。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60258747A (ja) * 1984-06-05 1985-12-20 Kyocera Corp 光磁気記録素子
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JPS62114141A (ja) * 1985-11-14 1987-05-25 Sharp Corp 磁気光学記憶素子
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