JPS62234253A - 光磁気記録媒体及びその製造方法 - Google Patents
光磁気記録媒体及びその製造方法Info
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- JPS62234253A JPS62234253A JP7765686A JP7765686A JPS62234253A JP S62234253 A JPS62234253 A JP S62234253A JP 7765686 A JP7765686 A JP 7765686A JP 7765686 A JP7765686 A JP 7765686A JP S62234253 A JPS62234253 A JP S62234253A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、光磁気メモリに用いられる記録媒体に関する
もので、更に詳しくは、膜面と垂直方向に磁化容易軸を
有する磁性膜を記録層とし、レーザなどの光ビームを照
射した領域に反転磁圧を作ることにより情報を記録する
ことができ、磁気光学効果を利用して読み出すことので
きる光磁気記録媒体に関するものである。
もので、更に詳しくは、膜面と垂直方向に磁化容易軸を
有する磁性膜を記録層とし、レーザなどの光ビームを照
射した領域に反転磁圧を作ることにより情報を記録する
ことができ、磁気光学効果を利用して読み出すことので
きる光磁気記録媒体に関するものである。
(従来の技術)
従来の一般的な光磁気記録媒体は、第2図に示すように
、基体1の上に、第1の保護層2、記録層3、第2の保
護PI4の順に形成したものから成る。基体1としては
、ガラス、A1合金及びPMMA・ポリカーボネイト、
エポキシなどのプラスチック基板が用いられ、第1及び
第2の保護層としては、SiO,SiO2゜5i3N4
AINなどの誘電体薄膜が用いられる。第2の保護層と
しては、誘電体薄膜の外に、Ti、Taなどの金属膜も
用いられる記録層としては、MnB1゜MnCuB1な
どの多結晶体薄膜、Tb、Gd、Dyなどの希土類金属
とFe、Goなどの鉄族遷移金属との組み合せによって
作成される非晶質合金薄膜、また、Gd5Fe5012
などの単結晶薄膜などが知られている。
、基体1の上に、第1の保護層2、記録層3、第2の保
護PI4の順に形成したものから成る。基体1としては
、ガラス、A1合金及びPMMA・ポリカーボネイト、
エポキシなどのプラスチック基板が用いられ、第1及び
第2の保護層としては、SiO,SiO2゜5i3N4
AINなどの誘電体薄膜が用いられる。第2の保護層と
しては、誘電体薄膜の外に、Ti、Taなどの金属膜も
用いられる記録層としては、MnB1゜MnCuB1な
どの多結晶体薄膜、Tb、Gd、Dyなどの希土類金属
とFe、Goなどの鉄族遷移金属との組み合せによって
作成される非晶質合金薄膜、また、Gd5Fe5012
などの単結晶薄膜などが知られている。
これらの薄膜の中で、非晶質合金薄膜は、書き込み感度
が高い、粒界ノイズが無い、膜面に垂直方向の磁気異方
性を有する膜が容易に作れるなどの利点を有するため、
記録媒体として最も有望視されている。
が高い、粒界ノイズが無い、膜面に垂直方向の磁気異方
性を有する膜が容易に作れるなどの利点を有するため、
記録媒体として最も有望視されている。
(発明が解決しようとする問題点)
しかし、これらの非晶質合金薄膜は、活性の高い元素か
ら成るため、その磁気特性は、基体の種類及び第1の保
護層の特性に影響されて変化する。
ら成るため、その磁気特性は、基体の種類及び第1の保
護層の特性に影響されて変化する。
例えば、非晶質合金薄膜としてTbFeCoスパッタ膜
、保護層として屈折率1.8以下の窒化ケイ素(SiN
)スパッタ膜を用いた場合には、TbFeCo膜のカー
ヒステリシスループは、ガラス基板に直接形成したもの
に比べて、Tbが消費された方向にシフトし、角形が悪
く、カー回転角Qkも小さい。これは、上述のSiN膜
が、化学量論組成Si3N4からはずれた組成となり、
緻密性に劣り、酸素などのガスを吸蔵しているために、
TbFeCo膜が酸化した結果生じたものである。一方
、SiN膜を、化学量論組成Si3N4に近づけ、緻密
にしたとしても、この膜は、大きな圧縮応力(5〜IO
X 109dyn/cm2)を有するために、基板に、
PMMAなとの樹脂基板を用いると、そりを生じたり、
又、樹脂から水分の除去が不十分な時は、膜の剥離を生
じることが本発明者によって見出だされた。
、保護層として屈折率1.8以下の窒化ケイ素(SiN
)スパッタ膜を用いた場合には、TbFeCo膜のカー
ヒステリシスループは、ガラス基板に直接形成したもの
に比べて、Tbが消費された方向にシフトし、角形が悪
く、カー回転角Qkも小さい。これは、上述のSiN膜
が、化学量論組成Si3N4からはずれた組成となり、
緻密性に劣り、酸素などのガスを吸蔵しているために、
TbFeCo膜が酸化した結果生じたものである。一方
、SiN膜を、化学量論組成Si3N4に近づけ、緻密
にしたとしても、この膜は、大きな圧縮応力(5〜IO
X 109dyn/cm2)を有するために、基板に、
PMMAなとの樹脂基板を用いると、そりを生じたり、
又、樹脂から水分の除去が不十分な時は、膜の剥離を生
じることが本発明者によって見出だされた。
本発明の目的は、第1の保護層の保護性能を劣化させる
ことなく、膜のストレスを小さくできる光磁気記録媒体
を提供することにある。
ことなく、膜のストレスを小さくできる光磁気記録媒体
を提供することにある。
(問題点を解決するための手段)
第1図に本発明の光磁気記録媒体の断面構成図を示す。
図に示す様に、本発明の光磁気記録媒体は、基体5上に
、誘電体膜がら成る第1の保護層6、膜面に垂直な方向
に磁化容易軸を有する非晶質磁性合金膜から成る記録層
7、金属膜もしくは誘電体膜から成る第2の保護層8の
順に形成して光磁気記録媒体において、第1の保護層6
の屈折率が、膜厚方向に変化していることを特徴とする
。また第1の保護層6の屈折率を変化させるためにはス
パッタ製膜時にスパッタガス圧を連続的に変化させれば
よい。
、誘電体膜がら成る第1の保護層6、膜面に垂直な方向
に磁化容易軸を有する非晶質磁性合金膜から成る記録層
7、金属膜もしくは誘電体膜から成る第2の保護層8の
順に形成して光磁気記録媒体において、第1の保護層6
の屈折率が、膜厚方向に変化していることを特徴とする
。また第1の保護層6の屈折率を変化させるためにはス
パッタ製膜時にスパッタガス圧を連続的に変化させれば
よい。
(作用)
本発明は、基体と記録層の間に形成される保護層として
、組成が化学量論組成からはずれるにつれて、ストレス
が小さくなる様な誘電体膜を用いる場合に、有効である
。この保護層として基板に近い部分に、組成が化学量論
組成からはずれ、ストレスが小さい層を形成し、記録層
に接する部分は、化学量論組成に近い組成となる様に、
膜厚方向に組成を連続的に変化させることによってね記
録層を劣化させることなく平均的ストレスの小さい保護
層を形成できる。
、組成が化学量論組成からはずれるにつれて、ストレス
が小さくなる様な誘電体膜を用いる場合に、有効である
。この保護層として基板に近い部分に、組成が化学量論
組成からはずれ、ストレスが小さい層を形成し、記録層
に接する部分は、化学量論組成に近い組成となる様に、
膜厚方向に組成を連続的に変化させることによってね記
録層を劣化させることなく平均的ストレスの小さい保護
層を形成できる。
(実施例)
PMMA及びガラス基板上に、第1の保護層として、屈
折率が膜厚が増加するにつれて1.78から2゜0迄連
続的に変化した厚さ1000人のSiN膜、記録層とし
て、厚さ1000人のTbO,22(FeO,9CO0
,1)0.78、第2の保護層として、屈折率1.85
、厚さ1000人のSiN膜を形成した。各々の膜は、
マグネトロンスパッタにより、真空を破ることなく連続
に形成した。SiN膜は、Siターゲットに対して、A
rとN2の混合ガス(45゜5%N2)をスパッタガス
とした反応性スパッタにより作製した。SiN膜の屈折
率は、スパッタガス圧により変化させた。第3図に、到
達真空度4X10−5Pa以下、パワー密度4.4W/
cm2におけるSiN膜の屈折率とスパッタガス圧の関
係を示す。第1の保護層形成時には、スパッタガス圧を
、初めに8X10 ”Paに設定し、スパッタを継続さ
せながら、徐々に8゜3X10−2Pa迄真空度を高め
た。第2の保護層は、スパッタガス圧5X10 ”Pa
で形成した。SiN膜のストレスは屈折率と、第4図に
示す関係がある。これらの条件によって得られる第1及
び第2のSiN膜の圧縮応力の大きさは、それぞれ2〜
4×109109dyn1゜5×109109dyn1
であった。記録層TbFeCoは、FeCoターゲット
上に、Tb片を配した複合ターゲットを用い、Arガス
雰囲気で、パワー密度2W1cm2、スパッタガス圧3
.5X10 ”Paで作製した。
折率が膜厚が増加するにつれて1.78から2゜0迄連
続的に変化した厚さ1000人のSiN膜、記録層とし
て、厚さ1000人のTbO,22(FeO,9CO0
,1)0.78、第2の保護層として、屈折率1.85
、厚さ1000人のSiN膜を形成した。各々の膜は、
マグネトロンスパッタにより、真空を破ることなく連続
に形成した。SiN膜は、Siターゲットに対して、A
rとN2の混合ガス(45゜5%N2)をスパッタガス
とした反応性スパッタにより作製した。SiN膜の屈折
率は、スパッタガス圧により変化させた。第3図に、到
達真空度4X10−5Pa以下、パワー密度4.4W/
cm2におけるSiN膜の屈折率とスパッタガス圧の関
係を示す。第1の保護層形成時には、スパッタガス圧を
、初めに8X10 ”Paに設定し、スパッタを継続さ
せながら、徐々に8゜3X10−2Pa迄真空度を高め
た。第2の保護層は、スパッタガス圧5X10 ”Pa
で形成した。SiN膜のストレスは屈折率と、第4図に
示す関係がある。これらの条件によって得られる第1及
び第2のSiN膜の圧縮応力の大きさは、それぞれ2〜
4×109109dyn1゜5×109109dyn1
であった。記録層TbFeCoは、FeCoターゲット
上に、Tb片を配した複合ターゲットを用い、Arガス
雰囲気で、パワー密度2W1cm2、スパッタガス圧3
.5X10 ”Paで作製した。
PMMA基板を用いた場合でも、膜の剥離は見られず、
又そりも殆んどなかった。又、カーヒステリシスループ
より測定される記録層は、いずれも、補償組成に対して
遷移金属リッチの極性を有し、抗磁力Hcは約5KOe
であった。この特性は、ガラス基板上に直接TbFeC
o膜を形成した場合と、殆んど同じであった。この様に
、TbFeCo膜の磁気特性を劣化させることなく、P
MMA基板を用いた時に生じたSiN膜のストレスに起
因する問題を解決できた。以上述べた効果は基体として
、ポリカーボネイトを用いた時にも同様に見られた。
又そりも殆んどなかった。又、カーヒステリシスループ
より測定される記録層は、いずれも、補償組成に対して
遷移金属リッチの極性を有し、抗磁力Hcは約5KOe
であった。この特性は、ガラス基板上に直接TbFeC
o膜を形成した場合と、殆んど同じであった。この様に
、TbFeCo膜の磁気特性を劣化させることなく、P
MMA基板を用いた時に生じたSiN膜のストレスに起
因する問題を解決できた。以上述べた効果は基体として
、ポリカーボネイトを用いた時にも同様に見られた。
(発明の効果)
本発明によれば、保護層の記録層に対する保護性能を劣
化させることなく保護層のストレスに起因する問題を解
決できる光磁気記録媒体を提供できる。以上の説明では
、基体と記録層の間に形成される保護層として、SiN
膜を用いた場合について述べたが、保護層としてはこれ
に限定されるものではなく、化学量論組成からはずれる
につれて、ストレスが小さくなる様な誘電体膜を用いる
場合、全てに本発明は有効である。
化させることなく保護層のストレスに起因する問題を解
決できる光磁気記録媒体を提供できる。以上の説明では
、基体と記録層の間に形成される保護層として、SiN
膜を用いた場合について述べたが、保護層としてはこれ
に限定されるものではなく、化学量論組成からはずれる
につれて、ストレスが小さくなる様な誘電体膜を用いる
場合、全てに本発明は有効である。
第1図は、本発明の構成を示す図、第2図は従来の構成
を示す図、第3図はSiN膜の屈折率とスパッタガス圧
の関係を示す図、第4図はSiN膜のストレスと屈折率
の関係を示す図である。 図において、1,5・・・基体、2,6・・・誘電体か
ら成る保護層、3,7・・・非晶質磁性合金薄膜の記録
層、4,8・・・金属もしくは誘電体から成る保護層で
ある。
を示す図、第3図はSiN膜の屈折率とスパッタガス圧
の関係を示す図、第4図はSiN膜のストレスと屈折率
の関係を示す図である。 図において、1,5・・・基体、2,6・・・誘電体か
ら成る保護層、3,7・・・非晶質磁性合金薄膜の記録
層、4,8・・・金属もしくは誘電体から成る保護層で
ある。
Claims (3)
- (1)基体上に、誘電体膜から成る第1の保護層、膜面
に垂直な方向に磁化容易軸を有する非晶質磁性合金膜か
ら成る記録層、金属膜もしくは誘電体膜から成る第2の
保護層の順に形成して成る光磁気記録媒体において、第
1の保護層の屈折率が膜厚方向に変化していることを特
徴とする光磁気記録媒体。 - (2)第1の保護層の屈折率が、基体から記録層に近づ
くにつれて大きくなっていることを特徴とする特許請求
の範囲第1項に記載の光磁気記録媒体。 - (3)基体上に、誘電体膜から成る第1の保護層、膜面
に垂直な方向に磁化容易軸を有する非晶質磁性合金膜か
ら成る記録層、金属膜もしくは誘電体膜から成る第2の
保護層の順に形成する光磁気記録媒体の製造方法におい
て、第1の保護層のスパッタリングによる成膜時に、ス
パッタガス圧を連続的に変えることを特徴とする光磁気
記録媒体の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7765686A JPH0766579B2 (ja) | 1986-04-03 | 1986-04-03 | 光磁気記録媒体及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7765686A JPH0766579B2 (ja) | 1986-04-03 | 1986-04-03 | 光磁気記録媒体及びその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62234253A true JPS62234253A (ja) | 1987-10-14 |
JPH0766579B2 JPH0766579B2 (ja) | 1995-07-19 |
Family
ID=13639924
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7765686A Expired - Lifetime JPH0766579B2 (ja) | 1986-04-03 | 1986-04-03 | 光磁気記録媒体及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0766579B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011004674A1 (ja) * | 2009-07-06 | 2011-01-13 | 古河電気工業株式会社 | 半導体光デバイスの製造方法、半導体光レーザ素子の製造方法および半導体光デバイス |
JP2011014833A (ja) * | 2009-07-06 | 2011-01-20 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 半導体レーザ素子の製造方法、半導体レーザ素子および通信システム |
JP2011014832A (ja) * | 2009-07-06 | 2011-01-20 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 半導体光デバイスの製造方法および半導体光デバイス |
-
1986
- 1986-04-03 JP JP7765686A patent/JPH0766579B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011004674A1 (ja) * | 2009-07-06 | 2011-01-13 | 古河電気工業株式会社 | 半導体光デバイスの製造方法、半導体光レーザ素子の製造方法および半導体光デバイス |
JP2011014833A (ja) * | 2009-07-06 | 2011-01-20 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 半導体レーザ素子の製造方法、半導体レーザ素子および通信システム |
JP2011014832A (ja) * | 2009-07-06 | 2011-01-20 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 半導体光デバイスの製造方法および半導体光デバイス |
CN102474071A (zh) * | 2009-07-06 | 2012-05-23 | 古河电气工业株式会社 | 半导体光学器件的制造方法、半导体光学激光元件的制造方法以及半导体光学器件 |
US8615026B2 (en) | 2009-07-06 | 2013-12-24 | Furukawa Electric Co., Ltd. | Method of manufacturing semiconductor optical device, method of manufacturing semiconductor optical laser element, and semiconductor optical device |
CN102474071B (zh) * | 2009-07-06 | 2015-07-22 | 古河电气工业株式会社 | 半导体光学器件的制造方法、半导体光学激光元件的制造方法以及半导体光学器件 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0766579B2 (ja) | 1995-07-19 |
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