JPS6229030B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は複数個のチツプ状電子部品を１個ず
つ可撓性の帯状体の長さ方向に分布させて保持さ
せたチツプ状電子部品連、およびこのチツプ状電
子部品連を用いたチツプ状電子部品の電気的特性
測定方法に関する。

従来より、ほとんどの電子部品には、リード線
が付いている。ところが、種々の電子装置の最近
の傾向として、超薄形化や超小形化が進んでい
る。この傾向に応じるために、電子装置の種々の
個所において改良が加えられているが、そのよう
な改良は電子部品のリード線の占有量をできるだ
け少なくするところにまで波及して来ている。そ
のために有利に用いられるのが、リード線をもた
ないチツプ状電子部品である。これは、たとえば
積層コンデンサ、チツプ抵抗、チツプインダクタ
ンスなどに適用されていて、そのある面には、外
部電極が形成されている。そして、このようなチ
ツプ状電子部品は、配線基板に外部電極を介して
直接半田付され、それによつて配線基板に対して
電気的にも機械的にも接続されるのである。

上述のような配線基板へのチツプ状電子部品の
供給は、整列を必要とするため、手作業やパーツ
フイーダなどで行つていた。そのため、手間が煩
雑となり、自動化が困難で、確実性や信頼性が低
いという欠点があつた。

そのために、たとえばマガジン方式が提案され
た。第１図はマガジンを示す斜視図である。この
方式は、収納体１に複数個のチツプ状電子部品２
を並べて収納したマガジン３によつてチツプ状電
子部品２を供給するものである。この収納体１
は、アルミニウムまたはプラスチツクなどによつ
て構成され、一定の長さ寸法をもつものである。
しかしながら、この方式は、マガジン３が比較的
短いためチツプ状電子部品２のプール量が少な
く、頻繁にマガジン３を交換しなくてはならず、
たとえチツプ状電子部品２の取出しを自動化して
も、マガジン３自体の取扱いが難点となる。ま
た、チツプ状電子部品２の自動取出し時には、こ
の電子部品２を直接送り出すことが必要で、送り
出しや位置決めのための装置が必要となる。さら
に、隣り合うチツプ状電子部品２相互が接触して
いるのでこの接触により電子部品２が損傷するこ
とがある。さらにまた、チツプ状電子部品２の電
気的特性を測定する時には、各チツプ状電子部品
２を送り出しながら測定しなければならず、上述
したようにこれまた送り出し装置が必要となり、
測定スピードも早いものとは云えなかつた。

それゆえに、この発明の主たる目的は、上述の
ような問題点を解消しうる、複数個のチツプ状電
子部品を１個ずつ可撓性の帯状体の長さ方向に分
布させた状態で、チツプ状電子部品の電気的特性
を測定可能に保持する形態を持つチツプ状電子部
品連、およびこのチツプ状電子部品連を用いてチ
ツプ状電子部品の電気的特性を測定する方法を提
供することである。

この発明のチツプ状電子部品連は、要約すれ
ば、可撓性の帯状体の長さ方向に分布して形成さ
れた複数個の収納凹部に１個ずつチツプ状電子部
品を収納したものであつて、それによつて上述の
問題点を解消しうるとともに、さらに収納凹部が
位置する可撓性の帯状体に、チツプ状電子部品の
外部電極位置に対応して、測定端子の挿入可能な
孔を少なくとも２つ形成することによつて、チツ
プ状電子部品の電気的特性の測定を高速で処理で
きるようにしたものである。

また、この発明のチツプ状電子部品の電気的特
性測定方法は、要約すれば、上述のチツプ状電子
部品連を用いて行うチツプ状電子部品の電気的特
性測定方法であつて、チツプ状電子部品連の移動
過程中において、帯状体の孔を通してチツプ状電
子部品の電気的特性を測定する過程を含むことを
特徴とするものである。

この発明のその他の目的と特徴は以下に図面を
参照して行う詳細な説明から一層明らかとなろ
う。

第２図および第３図はこの発明のチツプ状電子
部品連の一実施例を説明するための図であつて、
第２図はチツプ状電子部品連の一部を示す平面
図、第３図は第２図のＡ−A′線に沿う断面図で
ある。

複数個のチツプ状電子部品２を１個ずつ収納す
るための収納凹部４が、その長さ方向に分布して
形成された帯状体５は、この実施例では、２つの
層から構成されている。すなわち、上テープ６と
下テープ７とからなる。これら上テープ６および
下テープ７は可撓性の材料から構成され、たとえ
ば紙、樹脂などが選ばれる。そしてこれら上テー
プ６、下テープ７は相互にたとえば接着剤などに
より接合される。また、上テープ６に接着性を有
するシールテープを用いるか、上テープ６を加熱
溶着することにより、下テープ７と接合してもよ
い。下テープ７にはプレスまたはホツトプレスな
どを施すことにより、その長さ方向に分布して形
成される複数個の膨出部８を備える。そして、こ
の膨出部８と上テープ６との間に収納凹部４が形
成される。この収納凹部４には、チツプ状電子部
品２が後述するようにその方向や表裏を決めて収
納される。

この発明の特徴的な構成として、収納凹部４が
位置する可撓性の帯状体５、この実施例では下テ
ープ７の膨出部８の下面に２つの孔９ａ，９ｂが
形成されている。これら孔９ａ，９ｂはチツプ状
電子部品２の外部電極（図示せず）と対応する位
置にある。したがつて、孔９ａ，９ｂはチツプ状
電子部品２が抜け落ちないような大きさに選ばれ
るとともに、チツプ状電子部品２の外部電極に対
応する位置に形成され、チツプ状電子部品２の外
部電極の数が増えれば、その数に応じて孔を形成
すればよい。この孔９ａ，９ｂの作用については
後述するチツプ状電子部品の電気的特性の測定方
法から明らかとなろう。

なお、第２図において、１０は送り穴で、帯状
体５に形成され、チツプ状電子部品連を搬送装置
で確実に搬送するためのものである。

第４図はこの発明のチツプ状電子部品連の他の
実施例を示す断面図である。ここに示す帯状体１
１は、この実施例では、３つの層から構成されて
いる。すなわち、上テープ１２、台板１３、およ
び下テープ１４からなり、それぞれ可撓性の材料
から構成され、たとえば紙、樹脂などが選ばれ
る。そして、これら３つの層１２，１３，１４は
相互にたとえば接着剤などにより接合される。台
板１３は、その長さ方向に分布して複数個の矩形
の孔１５が形成されていて、この孔１５と上テー
プ１２と下テープ１４とによつて、収納凹部１６
が形成される。この収納凹部１６が位置する可撓
性の帯状体１１、この実施例では下テープ１４に
孔１７ａ，１７ｂが形成されている。これら孔１
７ａ，１７ｂは前述の孔９ａ，９ｂと同様な趣旨
で形成されている。

第５図はこの発明のチツプ状電子部品の電気的
特性の測定方法の一実施例を説明するための供給
装置の概略図であり、第６図は第５図の供給装置
の一部を構成する測定端子を示す斜視図であり、
第７図は第５図の供給装置のこの発明の特徴的な
工程を行う部分の一部断面側面図である。なお、
ここに説明するチツプ状電子部品の電気的特性の
測定方法は、前述の第２図および第３図に示すチ
ツプ状電子部品連に対応するものである。

第２図および第３図に示すように構成されたチ
ツプ状電子部品連１８はロール状に巻かれ、回転
自在に支持された部品リール１９に引き出し可能
に保持される。部品リール１９から矢印２０方向
に引き出されたチツプ状電子部品連１８はガイド
２１を通つて搬送装置２２まで供給される。搬送
装置２２は間欠動作するベルトコンベア２３を含
み、このベルトコンベア２３の外周面には複数個
の突起２４が等間隔に形成されている。突起２４
は、チツプ状電子部品連１８の帯状体５に形成さ
れた送り穴１０に嵌合して、チツプ状電子部品連
１８の確実な搬送を保証するものである。なお、
第２図の送り穴１０は必ずしも必要なものではな
く、たとえば搬送装置を、チツプ状電子部品連１
８を両側からはさむ１対の送りローラによつて実
現すれば、送り穴を設けることなく確実な搬送が
実現できる。さらに好ましくは、この送りローラ
の周面に滑り止めのための凹凸を形成しておけば
よい。ベルトコンベア２３の上面に対向して、ば
ねによつて下方に付勢されている押え部材２５が
設けられている。この押え部材２５は、チツプ状
電子部品連１８に設けられた送り穴１０への突起
２４の嵌合を確実にするためのものである。搬送
装置２２によつてチツプ状電子部品連１８は矢印
２６方向に搬送される。

搬送装置２２による搬送経路の途中に、チツプ
状電子部品連１８の収納凹部４に収納されたチツ
プ状電子部品２の電気的特性を測定するための測
定端子２７が配置されている。測定端子２７は、
第６図、第７図に示されているように、チツプ状
電子部品連１８の孔９ａ，９ｂに対応するように
プルーブを有しており、間欠的に送られてきたチ
ツプ状電子部品２の外部電極と電気接触してその
電気的特性を測定する。そして次々に送られてく
るチツプ状電子部品２が測定端子２７に対応する
位置に達つしたとき、測定端子２７の先端にある
プルーブがチツプ状電子部品連１８の孔９ａ，９
ｂに挿入され、遂次電気的特性が測定されること
になる。

この測定端子２７の上方にはベルトコンベア２
３に対向して押え部材３０が設けられている。こ
の押え部材３０は、チツプ状電子部品連１８の収
納凹部４に収納されたチツプ状電子部品２と測定
端子２７のプルーブとの電気的接触を確実にする
ためのものである。

チツプ状電子部品２の電気的特性の測定を終え
たチツプ状電子部品連１８は矢印２８の方向へ移
送され、部品リール２９にロール状に巻かれるこ
とになる。

第２図、第３図で示した実施例では、下テープ
７の膨出部８の下面に２つの孔９ａ，９ｂを形成
した例を示し、また第４図で示した実施例では下
テープ１４に孔１７ａ，１７ｂを形成した例を示
しており、いずれも可撓性の帯状体の下面に、収
納凹部に収納したチツプ状電子部品の外部電極に
対応して、測定端子の挿入可能な少なくとも２つ
の孔を形成したが、これに限らず、可撓性の帯状
体の上面または側面に形成してもよい。また、孔
の数も前述したように、２つに限らず、収納凹部
に収納されたチツプ状電子部品の外部電極の数、
形状に対応させて形成すればよい。

なお、上述の説明において、チツプ状電子部品
連１８は第２図、第３図に示したものに対応して
説明したが、第２図、第３図の構成において、上
テープ６を下テープ７に接合していない状態でチ
ツプ状電子部品２の電気的特性を測定するように
してもよい。また、第４図に示したものについて
同様に適用してもよい。

以上のように、この発明のチツプ状電子部品連
によれば、帯状体の複数個のチツプ状電子部品が
長さ方向に分布して保持される形態をもつため、
多数のチツプ状電子部品であつてもコンパクトに
収納できる。また、この収納状態から帯状体に形
成した孔を通して、チツプ状電子部品の電気的特
性を測定することができ、自動測定機により高速
で測定処理が行える。さらに、チツプ状電子部品
のモールド、外部電極形成工程を終えたのちに帯
状体に収納するため、その後に測定が行えること
になり部品の取扱ロスが少なくてすむ。さらにま
た、この収納状態から、自動マウント作業に供す
ることができ、チツプ状電子部品の生産工程、検
査工程を経て、プリント基板などへのマウント工
程等を一連に行うことができる。このほか、チツ
プ状電子部品の数量は、帯状体の長さによつて把
握することができるので、工程管理を簡単に行う
ことができ、さらには、チツプ状電子部品が１個
ずつ個別的に収納された状態であるので、運送中
ばかりでなくマウント時に至るまで一貫して、チ
ツプ状電子部品の劣化や破損を避けることができ
る。

また、この発明のチツプ状電子部品の電気的特
性測定方法によれば、比較的取り扱いの煩雑な小
さいチツプ状電子部品であつても、このチツプ状
電子部品は帯状体を移動させることによつて順次
移動させることによつて順次移送でき、しかもそ
の搬送過程で電気的特性を測定しようとしている
ため、能率よく正確に、さらには高速で測定処理
が行え、迅速な特性検査を実施することができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来のマガジンを示す斜視図である。
第２図および第３図はこの発明のチツプ状電子部
品連の一実施例を説明するための図であつて、第
２図はチツプ状電子部品連の一部を示す平面図、
第３図は第２図のＡ−A′線に沿う断面図であ
る。第４図はこの発明のチツプ状電子部品連の他
の実施例を示す断面図である。第５図はこの発明
のチツプ状電子部品の電気的特性測定方法の一実
施例を説明するための供給装置の概略図であり、
第６図は第５図の供給装置の一部を構成する測定
端子を示す斜視図、第７図は第５図の供給装置の
この発明の特徴的な工程を行う部分の一部断面側
面図である。 ２……チツプ状電子部品、４，１６……収納凹
部、５，１１……帯状体、７，１４……下テー
プ、９ａ，９ｂ；１７ａ，１７ｂ……孔、１８…
…チツプ状電子部品連、２２……搬送装置、２７
……測定端子。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 可撓性の帯状体の長さ方向に分布して複数個
   の収納凹部を形成し、前記収納凹部に１個ずつチ
   ツプ状電子部品を収納したチツプ状電子部品連に
   おいて、 前記収納凹部が位置する可撓性の帯状体に、チ
   ツプ状電子部品の外部電極位置に対応して、測定
   端子の挿入可能な孔が少なくとも２つ形成されて
   いることを特徴とするチツプ状電子部品連。 ２ 可撓性の帯状体の長さ方向に分布して複数個
   のチツプ状電子部品が１個ずつ収納されている収
   納凹部が形成され、かつ前記収納凹部が位置する
   可撓性の帯状体にチツプ状電子部品の外部電極位
   置に対応して測定端子の挿入可能な孔が少なくと
   も２つ形成されているチツプ状電子部品連を用意
   し、 前記帯状体を長さ方向に移動させる一方、それ
   に応じて前記チツプ状電子部品を順次移送させ、 前記孔に測定端子を挿入し、チツプ状電子部品
   の外部電極と電気接触させてチツプ状電子部品の
   電気的特性を測定するようにしたチツプ状電子部
   品の電気的特性測定方法。