JPS63249061A - チツプ状電子部品の測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 この発明はチップ状電子部品の測定方法、更に詳しくは
、装＠機に供給するためのキャリアテープに収納された
チップ状電子部品に対し、キャリアテープ内から取出す
ことなく電気的な特性を測定することができる測定方法
に関するものである。

〈従来の技術と問題点〉 従来、リードレスのチップ状電子部品を収納して８着機
に供給するため、第４図ないし第６図に示す如く、一定
間隔で送り孔１を設けたテープ本体２にチップ状電子部
品Ａを収納するキャビティ３をエンボス加工によって形
成し、電子部品Ａを収納したキャビティ３の開口面をテ
ープ本体２上に貼付けたカバーテープ４で閉鎖したキャ
リアテープ５が用いられており、このキャリアテープ５
には、第４図に示すようにキャビティ３に孔のない密閉
タイプと、第５図と第６図のように、キャビティ３の底
部に孔６を設けたタイプのものが使用に供されている。

チップ状電子部品Ａとしては、例えば特開昭５９−２０
５８０９号公報に開示されているような圧電共振子があ
る。

２なおキャビティ３の底部に孔６を設けたタイプのキャ
リアテープ５は、部品装着時に孔６の部分で下からガイ
ドビンを挿入して電子部品を押上げ、キャビティ３内か
ら電子部品Ａの吸着による取出し作業を円滑に行なえる
ようにするものである。

ところで、チップ状電子部品を製造してユーザに供給す
る側は、キャリアテープ５に収納した電子部品Ａの品質
保証の義務があるが、従来のキャリアテープ５では透明
材質の材料を用いている場合、収納後において外観的な
保証は可能であるが、電気的な性能については、テープ
本体２上に貼着したカバーテープ４を剥がし、電子部品
Ａを取出して測定する以外に方法がなかった。

このため、電気的な測定を行なうには、手数と時間がか
かり、カバーテープの粘着力低下を伴うことになり、特
に長期間保存した後の再測定や同形異特性部品の品名判
定などが必要な場合に不便であるという問題がある。

〈発明の目的〉 この発明は、上記のような問題点を解決するためになさ
れたものであり、カバーテープを剥がすことなく内部に
収納した電子部品の電気的な測定が簡単且つ容易に行な
える測定方法を提供することを目的とする。

く問題点を解決するための手段〉 上記のような問題点を解決するため、この発明は、テー
プ本体にキャビティをエンボス加工し、チップ状電子部
品を収納したキャビティの開口面をテープ本体上に貼付
けたカバーテープで閉鎖したキャリアテープを用い、先
端鋭利な測定ビンでキャビティを突き破り、この測定ビ
ンをチップ状電子部品の外部引出電極に接触させ、カバ
ーテープを外さずにチップ状電子部品の電気的な測定を
行なうようにしたものである。

〈作用〉 キャビティ内にチップ状電子部品を収納したキャリアテ
ープにおいて、キャビティの電子部品外部引出電極と対
応する位置を、先端鋭利な測定ビンで突き破り、この測
定ビンを上記電子部品の外部引出電極と接触させれば、
カバーテープを剥がすことなくキャビティ内の電子部品
に対する電気的な測定が行なえる。

〈実施例〉 以下、この発明の実施例を添付図面の第１図ないし第３
図にもとづいて説明する。

なお、第４図ないし第６図と同一部分は同一符号を使用
して説明する。

図示のように、チップ状電子部品Ａを収納するキャリア
テープ５は、送り孔１を一定の間隔で設けたテープ本体
２にキャビティ３をエンボス加工によって一定の間隔で
形成し、電子部品Ａを納めたキャビティ３の開口面をテ
ープ本体２上に貼付けたカバーテープ４で閉鎖して偶成
されている。

帥記キャビティ３内に収納するリードレスのチップ状電
子部品Ａとしては、第１図と第２図の場合、素子を収納
した筒状ケースの両端に外部引出電極Ｂとなる金属キャ
ップを嵌着した積層コンデンサを例示しており、また第
３図は、ケースの一面側に入力端子Ｂ１、Ｂ２とアース
端子Ｂ３を設けた、例えば圧電フィルタのような電子部
品を示している。

上記キャリアチー１５に収納した電子部品Ａの電気的な
特性の測定を行なうには、先端鋭利な金属製の測定ビン
１１を用い、送り孔１を利用してキャリアテープ５を固
定化した状態で、キャビティ３の外部引出電極Ｂと対応
する位置に、外側から測定ビン１１を突き刺してキャビ
ティ３を突き破り、この測定ビン１１を外部引出電極Ｂ
と接触させればよく、カバーテープ４を剥がすことなく
測定が行なえる。

測定ビン１１のキャビティ内３に対する突き破り位置は
、測定ビン１１を外部引出電極Ｂと接触させることがで
きる部分であればよく、第１図はキャビティ３の両側か
ら測定ビン１１を突き差し、第２図はキャビティ３の下
面両側から測定ビン１１を突き差して測定する例を示し
ている。

また、第３図に示す例は、キャビティ３の底面中央に電
子部品Ａの押上用ガイドビンの挿入孔６が設けられ、３
端子形電子部品Ａを収納したキャリアテープ５に対する
測定例を示しており、外部引出電極Ｂ１、Ｂ２に対して
キャビティ３の両側から突き刺した測定ビン１１を接触
させ、中央のアース電極Ｂ３には挿入孔６を利用して測
定ビン１１を接触させることにより測定を行なう。

なお、測定ビン１１は、キャビティ３に対する破ｊＪＡ
ｆｆｉが少なくなるよう、細径に形成するのが好ましい
。

〈効果〉 以上のように、この発明によると、チップ状電子部品を
収納するキャリアテープのキャビティを先端鋭利な測定
ビンで突き破り、外部引出電極に測定ビンを接触させて
電気的な特性を測定するようにしたので、キャリアテー
プ内に収納した電子部品の電気特性の測定がカバーテー
プを剥がすことなく行なえ、測定作業の能率を大幅に向
上させることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図ないし第３図の各々はこの発明に係る測定方法の
測定状態を示す縦断面図、第４図と第５図の各々はキャ
リアテープのテープ本体の異なった例を示す斜視図、第
６図はキャリアテープに電子部品を収納した状態を示す
縦断面図である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. テープ本体にキャビティをエンボス加工し、チップ状電
   子部品を収納したキャビティの開口面をテープ本体上に
   貼付けたカバーテープで閉鎖したキャリアテープを用い
   、先端鋭利な測定ピンでキャビティを突き破り、この測
   定ピンをチップ状電子部品の外部引出電極に接触させ、
   カバーテープを外さずにチップ状電子部品の電気的な測
   定を行なうことを特徴とするチップ状電子部品の測定方
   法。