JPH074611Y2 - 電子部品の測定装置 - Google Patents
電子部品の測定装置Info
- Publication number
- JPH074611Y2 JPH074611Y2 JP1987146577U JP14657787U JPH074611Y2 JP H074611 Y2 JPH074611 Y2 JP H074611Y2 JP 1987146577 U JP1987146577 U JP 1987146577U JP 14657787 U JP14657787 U JP 14657787U JP H074611 Y2 JPH074611 Y2 JP H074611Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electronic component
- turntable
- rotary plate
- electrodes
- holding hole
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 本考案は、素子を相対する電極で狭持し、この素子を封
止するようにしたリードレスチップ状の電子部品の電気
的特性を測定する装置に関するものである。
止するようにしたリードレスチップ状の電子部品の電気
的特性を測定する装置に関するものである。
従来の技術 従来、この種電子部品、例えば、第４図に示すような、
一対の釘状電極A1,A2に、素子Ｂを狭持し、素子Ｂをガ
ラス管Ｃで封止したダイオード１では、電極A1,A2が極
めて小さく、リードを有する電子部品に較べ、電気的特
性測定装置の測定端子を、電子部品の電極A1,A2に接触
させる方法は限られていた。すなわち、第５図に示すよ
うに、電極A1,A2に、一対の測定端子2a,2bを、軸方法よ
り接触させ、バネ３で加圧、接触状態を良くして測定し
ていた。尚、同図で、４はダイオード１を保持するガイ
ドである。
一対の釘状電極A1,A2に、素子Ｂを狭持し、素子Ｂをガ
ラス管Ｃで封止したダイオード１では、電極A1,A2が極
めて小さく、リードを有する電子部品に較べ、電気的特
性測定装置の測定端子を、電子部品の電極A1,A2に接触
させる方法は限られていた。すなわち、第５図に示すよ
うに、電極A1,A2に、一対の測定端子2a,2bを、軸方法よ
り接触させ、バネ３で加圧、接触状態を良くして測定し
ていた。尚、同図で、４はダイオード１を保持するガイ
ドである。
考案が解決しようとする問題点 しかし、上記方法であると、軸方向に応力が加わるた
め、内部の素子Ｂや、素子Ｂと電極A1,A2の接合部、電
極A1,A2とガラス管Ｃとの封止部に応力が加わり、素子
Ｂと電極A1,A2との接触不十分なものが、完全に接触し
て、不良品を良品と判定したり、反対に、素子Ｂあるい
は封止部を破壊して、良品を不良品にしてしまうという
欠点があった。
め、内部の素子Ｂや、素子Ｂと電極A1,A2の接合部、電
極A1,A2とガラス管Ｃとの封止部に応力が加わり、素子
Ｂと電極A1,A2との接触不十分なものが、完全に接触し
て、不良品を良品と判定したり、反対に、素子Ｂあるい
は封止部を破壊して、良品を不良品にしてしまうという
欠点があった。
問題点を解決するための手段 本考案は、上記欠点を改良除去するために提案されたも
ので、外周縁に電子部品保持孔を設けた回転板とこの回
転板の外周に設けこの回転板の厚みより薄いリング体と
から構成されたターンテーブルと、このターンテーブル
外周に近接し保持孔内の電子部品の電極にその軸方向と
直交する方向より接触する円弧形状の複数の測定端子と
を具備したことを特徴とする。
ので、外周縁に電子部品保持孔を設けた回転板とこの回
転板の外周に設けこの回転板の厚みより薄いリング体と
から構成されたターンテーブルと、このターンテーブル
外周に近接し保持孔内の電子部品の電極にその軸方向と
直交する方向より接触する円弧形状の複数の測定端子と
を具備したことを特徴とする。
実施例 以下、本考案の一実施例を図面により説明すると、第１
図において、５はターンテーブルで、図示矢印方向に回
転する。６は電子部品供給パーツフィーダ、７は、ター
ンテーブル外周縁に設けた電子部品保持孔,8は測定端
子、９は電子部品排出ビンである。第２図、第３図は、
第１図の測定部を拡大、詳細図示したもので、8a,8b,8
c,8dは測定端子、10は、電子部品１の下端を保持する保
持板,11は、測定端子を加圧するバネである。
図において、５はターンテーブルで、図示矢印方向に回
転する。６は電子部品供給パーツフィーダ、７は、ター
ンテーブル外周縁に設けた電子部品保持孔,8は測定端
子、９は電子部品排出ビンである。第２図、第３図は、
第１図の測定部を拡大、詳細図示したもので、8a,8b,8
c,8dは測定端子、10は、電子部品１の下端を保持する保
持板,11は、測定端子を加圧するバネである。
而して、ターンテーブルは５は、保持板10上を回転し、
且つ、その外周に電子部品保持孔７を設けた回転板5a
と、回転板5aの外周に設けたリング体5bとから構成さ
れ、リング体5bを、回転板5aの厚みよりも薄くして、測
定端子8a,8b,8c,8dが、電極A1,A2に接触し得るようにし
てある。
且つ、その外周に電子部品保持孔７を設けた回転板5a
と、回転板5aの外周に設けたリング体5bとから構成さ
れ、リング体5bを、回転板5aの厚みよりも薄くして、測
定端子8a,8b,8c,8dが、電極A1,A2に接触し得るようにし
てある。
上記構成において、パーツフィーダ６より、ターンテー
ブル５の電子部品保持孔７に供給された電子部品１は、
ターンテーブル５の矢印方向の回転により、測定部に、
送られ、測定端子8a,8b,8c,8dと、ターンテーブル上の
電子部品保持孔７の間で、バネ11の加圧により、電子部
品の電極A1,A2と、測定端子8a,8b,8c,8dが接触保持さ
れ、電子部品１の諸特性が測定される。
ブル５の電子部品保持孔７に供給された電子部品１は、
ターンテーブル５の矢印方向の回転により、測定部に、
送られ、測定端子8a,8b,8c,8dと、ターンテーブル上の
電子部品保持孔７の間で、バネ11の加圧により、電子部
品の電極A1,A2と、測定端子8a,8b,8c,8dが接触保持さ
れ、電子部品１の諸特性が測定される。
こうして、測定された電子部品１は、排出ビン部９へ送
られ、ターンテーブル５の電子部品保持孔７から排出し
て、測定が完了する。電子部品１を保持孔７から排出す
る方法は、例えば、ターンテーブル５の下にある電子部
品保持板10に排出孔を設け、電子部品を上方より、下方
に空気流を吹きつけることによって排出するか、あるい
は、排出ビン部９上に、電磁石を設けて、吸引は排出す
るようにしてもよい。
られ、ターンテーブル５の電子部品保持孔７から排出し
て、測定が完了する。電子部品１を保持孔７から排出す
る方法は、例えば、ターンテーブル５の下にある電子部
品保持板10に排出孔を設け、電子部品を上方より、下方
に空気流を吹きつけることによって排出するか、あるい
は、排出ビン部９上に、電磁石を設けて、吸引は排出す
るようにしてもよい。
考案の効果 本考案は、以上のような装置であるから、電子部品に軸
方向に応力を加えることなく、電子部品の電気的特性を
正確に測定でき、不良品を良品と判定したり、良品を不
良品にしてしまうことを防止でき、測定にかかる品質上
の問題を撲滅できると共に、安定した生産ラインとな
る。
方向に応力を加えることなく、電子部品の電気的特性を
正確に測定でき、不良品を良品と判定したり、良品を不
良品にしてしまうことを防止でき、測定にかかる品質上
の問題を撲滅できると共に、安定した生産ラインとな
る。
第１図は、本考案に係る、電子部品の測定装置の概略上
図面、第２図は、第１図の要部の上面図、第３図は、第
１図の要部の断面図、第４図は、電子部品断面図、第５
図は、従来の測定装置を説明するための要部断面図であ
る。 １……電子部品、A1,A2……電子部品の電極、５……タ
ーンテーブル、７……電子部品保持孔、8a,8b,8c,8d…
…測定端子、
図面、第２図は、第１図の要部の上面図、第３図は、第
１図の要部の断面図、第４図は、電子部品断面図、第５
図は、従来の測定装置を説明するための要部断面図であ
る。 １……電子部品、A1,A2……電子部品の電極、５……タ
ーンテーブル、７……電子部品保持孔、8a,8b,8c,8d…
…測定端子、
Claims (1)
- 【請求項１】外周縁に電子部品保持孔を設けた回転板と
この回転板の外周に設けこの回転板の厚みより薄いリン
グ体とから構成されたターンテーブルと、このターンテ
ーブル外周に近接し保持孔内の電子部品の電極にその軸
方向と直交する方向より接触する円弧形状の複数の測定
端子とを具備したことを特徴とする電子部品の測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987146577U JPH074611Y2 (ja) | 1987-09-25 | 1987-09-25 | 電子部品の測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987146577U JPH074611Y2 (ja) | 1987-09-25 | 1987-09-25 | 電子部品の測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6450379U JPS6450379U (ja) | 1989-03-28 |
| JPH074611Y2 true JPH074611Y2 (ja) | 1995-02-01 |
Family
ID=31416195
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1987146577U Expired - Lifetime JPH074611Y2 (ja) | 1987-09-25 | 1987-09-25 | 電子部品の測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH074611Y2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61116673A (ja) * | 1984-11-12 | 1986-06-04 | Rohm Co Ltd | リ−ドレス形ダイオ−ドの測定装置 |
-
1987
- 1987-09-25 JP JP1987146577U patent/JPH074611Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6450379U (ja) | 1989-03-28 |
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