JPS6310531Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6310531Y2 JPS6310531Y2 JP1981165802U JP16580281U JPS6310531Y2 JP S6310531 Y2 JPS6310531 Y2 JP S6310531Y2 JP 1981165802 U JP1981165802 U JP 1981165802U JP 16580281 U JP16580281 U JP 16580281U JP S6310531 Y2 JPS6310531 Y2 JP S6310531Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- foil
- flexible tube
- angle
- shaped member
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
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Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は積層セラミツクコンデンサの検査に使
用する電極の構造に関する。
用する電極の構造に関する。
静電容量が大きい例えば2000μFの積層セラミ
ツクコンデンサは若し短絡状態にあると他の部分
や回路に及ぼす影響が大きく破壊する惧があるの
で全数について検査し品質を保証する必要があ
る。
ツクコンデンサは若し短絡状態にあると他の部分
や回路に及ぼす影響が大きく破壊する惧があるの
で全数について検査し品質を保証する必要があ
る。
従来、この種コンデンサの検査はリード端子形
の場合、第１図に示すようにリード端子間隔にほ
ぼ等しい幅をもつ絶縁材料からなる角棒材１の上
に跨がるように多数の被検査コンデンサ２，２′
を所定間隔をもたせて配列し、一方のリード端子
２１，２１′のそれぞれをばね性のある電極３
（＋側）により角棒材１の側面へ押圧し、他方の
リード端子（図示せず）は所要の厚さｌをもつ細
長な絶縁性の板材５の上下側面を全長にわたつて
厚み10μm程度のアルミニウムまたは錫箔６で覆
うとともに該アルミ箔を板材５の外方の側面に折
り曲げて所定の間隙を設け該間隙を蔽うように導
電性部材７を当接して組立電極４（箔ヒユーズ電
極と呼ぶ。負側）とする。チツプ形コンデンサの
場合はその外部電極に電極３及び電極４の箔６を
弾接させればよい。
の場合、第１図に示すようにリード端子間隔にほ
ぼ等しい幅をもつ絶縁材料からなる角棒材１の上
に跨がるように多数の被検査コンデンサ２，２′
を所定間隔をもたせて配列し、一方のリード端子
２１，２１′のそれぞれをばね性のある電極３
（＋側）により角棒材１の側面へ押圧し、他方の
リード端子（図示せず）は所要の厚さｌをもつ細
長な絶縁性の板材５の上下側面を全長にわたつて
厚み10μm程度のアルミニウムまたは錫箔６で覆
うとともに該アルミ箔を板材５の外方の側面に折
り曲げて所定の間隙を設け該間隙を蔽うように導
電性部材７を当接して組立電極４（箔ヒユーズ電
極と呼ぶ。負側）とする。チツプ形コンデンサの
場合はその外部電極に電極３及び電極４の箔６を
弾接させればよい。
この状態で通電すると被検査コンデンサ２，
２′…中の短絡状態にあるものが存在する時は静
電容量に比例して大電流が流れリード端子を中心
に箔６が溶けるので不良品の存在することを判別
することができる。箔の溶ける面積は箔６とリー
ド端子との接触長さｌにより異なる。
２′…中の短絡状態にあるものが存在する時は静
電容量に比例して大電流が流れリード端子を中心
に箔６が溶けるので不良品の存在することを判別
することができる。箔の溶ける面積は箔６とリー
ド端子との接触長さｌにより異なる。
第２図は厚さ10μmのアルミニウム箔を用いた
場合の接触長さｌ（横軸）と溶断幅（縦軸）Ｗの
実測例であり、曲線は静電容量820μF、100V
印加の場合、曲線，はそれぞれ静電容量
2200μFで100V印加及び150V印加の場合を示す。
場合の接触長さｌ（横軸）と溶断幅（縦軸）Ｗの
実測例であり、曲線は静電容量820μF、100V
印加の場合、曲線，はそれぞれ静電容量
2200μFで100V印加及び150V印加の場合を示す。
被検査コンデンサ２，２′…を等間隔に配列し
不良品を判別するためには箔６の溶断幅が配列間
隔より狭くなるように接触長さｌを設定する必要
がある。
不良品を判別するためには箔６の溶断幅が配列間
隔より狭くなるように接触長さｌを設定する必要
がある。
第２図において溶断幅をW1とするには曲線
の820μFの場合接触長さl1、曲線（2200μF）の
場合接触長さl2となり、個別の箔ヒユーズ電極４
を用いる必要がある。若し曲線の場合に曲線
に用いたと同じ電極４を用いたとすると溶断幅
W2はW1の2.5倍になるので配列間隔がW1の1.25
倍未満であると良品の両隣りが不良である場合、
両隣りの溶断部が連続してしまい中央の良品の判
別ができないこととなる。また溶断幅が広い場合
一箇所溶断しただけで電極４の箔６を交換しなけ
ればならない。
の820μFの場合接触長さl1、曲線（2200μF）の
場合接触長さl2となり、個別の箔ヒユーズ電極４
を用いる必要がある。若し曲線の場合に曲線
に用いたと同じ電極４を用いたとすると溶断幅
W2はW1の2.5倍になるので配列間隔がW1の1.25
倍未満であると良品の両隣りが不良である場合、
両隣りの溶断部が連続してしまい中央の良品の判
別ができないこととなる。また溶断幅が広い場合
一箇所溶断しただけで電極４の箔６を交換しなけ
ればならない。
本考案はこのような被検査コンデンサの仕様が
異なれば電極４をその都度選別する必要があり、
異なる仕様のコンデンサを同時に検査することが
できないという問題を解決しようとするもので、
コンデンサ検査においてリード端子との接触長さ
を自在に容易に調整できるコンデンサ検査用電極
を提供することを目的とする。
異なれば電極４をその都度選別する必要があり、
異なる仕様のコンデンサを同時に検査することが
できないという問題を解決しようとするもので、
コンデンサ検査においてリード端子との接触長さ
を自在に容易に調整できるコンデンサ検査用電極
を提供することを目的とする。
以下、本考案の実施例について説明する。
即ち本考案は断面コ状の山形材８の内部に該山
形材の内寸法合計面積より十分に広い周面積をも
つ非導電性可撓管９を圧入し、前記山形材からは
み出した前記可撓管の外周にアルミニウム箔又は
錫箔を貼着し、その端縁を前記山形材の外側に固
着して電極端子としたコンデンサ検査電極であ
る。なお、山形材８は銅又はアルミニウム箔が望
ましくこの場合は山形材が電極端子となる。
形材の内寸法合計面積より十分に広い周面積をも
つ非導電性可撓管９を圧入し、前記山形材からは
み出した前記可撓管の外周にアルミニウム箔又は
錫箔を貼着し、その端縁を前記山形材の外側に固
着して電極端子としたコンデンサ検査電極であ
る。なお、山形材８は銅又はアルミニウム箔が望
ましくこの場合は山形材が電極端子となる。
第３図は第１図における組立電極即ち箔ヒユー
ズ電極４の本考案による一実施例の断面図を示
す。
ズ電極４の本考案による一実施例の断面図を示
す。
図において８は断面コ状のアルミニウム製の山
形材、９は山形材８の内寸合計長さより十分に長
い円周をもつシリコンゴム製の可撓管であり、こ
の可撓管９を扁平に押圧して山形材８の内部に圧
入し、山形材８からはみ出た可撓管９と山形材８
の外面（図では上下面）上に弛みのないようにア
ルミニウムまたは錫箔１０を貼接して山形材８の
閉端部近傍に適当な手段により固着する。
形材、９は山形材８の内寸合計長さより十分に長
い円周をもつシリコンゴム製の可撓管であり、こ
の可撓管９を扁平に押圧して山形材８の内部に圧
入し、山形材８からはみ出た可撓管９と山形材８
の外面（図では上下面）上に弛みのないようにア
ルミニウムまたは錫箔１０を貼接して山形材８の
閉端部近傍に適当な手段により固着する。
山形材８からはみ出た可撓管９により支持され
た部分の錫箔１０が自在に変形できる。被検査コ
ンデンサ２，２′…のリード端子と錫箔１０の接
触長さが小さい場合第４図に示すように可撓管９
で支持された錫箔１０をリード端子（鎖線で示
す）に軽く押圧して所要の小さな接触長さl1を得
ることができる。大きな接触長さの場合は第５図
のようにチツプ形コンデンサ（鎖線）の電極に強
く押圧して可撓管９を圧し潰すことにより所要の
接触長さl2を得ることができる。
た部分の錫箔１０が自在に変形できる。被検査コ
ンデンサ２，２′…のリード端子と錫箔１０の接
触長さが小さい場合第４図に示すように可撓管９
で支持された錫箔１０をリード端子（鎖線で示
す）に軽く押圧して所要の小さな接触長さl1を得
ることができる。大きな接触長さの場合は第５図
のようにチツプ形コンデンサ（鎖線）の電極に強
く押圧して可撓管９を圧し潰すことにより所要の
接触長さl2を得ることができる。
本考案によれば同じ仕様の多数のコンデンサを
同時に検査できるだけでなくリード端子形の場合
は第１図における角棒材１と電極３をコンデンサ
１個毎に分割し、チツプ形の場合は電極３を切離
すことにより異なる仕様のコンデンサを１個毎に
電極３側からの押圧力を調整し溶断幅が同じ値と
なるよう接触長さを変えて同時に検査することが
できる。
同時に検査できるだけでなくリード端子形の場合
は第１図における角棒材１と電極３をコンデンサ
１個毎に分割し、チツプ形の場合は電極３を切離
すことにより異なる仕様のコンデンサを１個毎に
電極３側からの押圧力を調整し溶断幅が同じ値と
なるよう接触長さを変えて同時に検査することが
できる。
以上可撓管としてシリコンゴムを用いる場合を
述べたが管体でなく板体またはスポンジ状の円柱
体でもよく非導電性の可撓部材により蒲鉾形また
は電球状の曲面を形成してもよい。
述べたが管体でなく板体またはスポンジ状の円柱
体でもよく非導電性の可撓部材により蒲鉾形また
は電球状の曲面を形成してもよい。
以上説明してきたように本考案によるコンデン
サ検査用電極は簡単な構造で調整範囲が広く、調
整も容易にできしたがつてコンデンサの検査作業
の能率向上に寄するところが大きい。
サ検査用電極は簡単な構造で調整範囲が広く、調
整も容易にできしたがつてコンデンサの検査作業
の能率向上に寄するところが大きい。
第１図はリード端子形コンデンサを従来の検査
用電極を用いて検査する状態を示し、第２図は静
電容量及び印加電圧をパラメータとする電極を構
成する箔の接触長さと溶断幅の関係を示す特性
図、第３図は本考案による電極の一実施例の断面
図、第４図、第５図は同じくその使用状態の断面
図である。 １：絶縁性角棒材、２：被検査コンデンサ、
３：電極、４：組立電極（箔ヒユーズ電極）、
５：絶縁性板材、６：箔、７：導電性部材、８：
アルミニウム製山形材、９：非導電性可撓管、１
０：錫箔。
用電極を用いて検査する状態を示し、第２図は静
電容量及び印加電圧をパラメータとする電極を構
成する箔の接触長さと溶断幅の関係を示す特性
図、第３図は本考案による電極の一実施例の断面
図、第４図、第５図は同じくその使用状態の断面
図である。 １：絶縁性角棒材、２：被検査コンデンサ、
３：電極、４：組立電極（箔ヒユーズ電極）、
５：絶縁性板材、６：箔、７：導電性部材、８：
アルミニウム製山形材、９：非導電性可撓管、１
０：錫箔。
Claims (1)
- 断面コ状の山形材８の内部に該山形材の内寸法
合計面積より十分に広い周面積をもつ非導電性可
撓管９を圧入し、前記山形材からはみ出した前記
可撓管の外周にアルミニウム箔又は錫箔を貼着
し、その端縁を前記山形材の外側に固着して電極
端子としたコンデンサ検査電極。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16580281U JPS5871169U (ja) | 1981-11-09 | 1981-11-09 | コンデンサ検査用電極 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16580281U JPS5871169U (ja) | 1981-11-09 | 1981-11-09 | コンデンサ検査用電極 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5871169U JPS5871169U (ja) | 1983-05-14 |
| JPS6310531Y2 true JPS6310531Y2 (ja) | 1988-03-29 |
Family
ID=29957989
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16580281U Granted JPS5871169U (ja) | 1981-11-09 | 1981-11-09 | コンデンサ検査用電極 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5871169U (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4875675U (ja) * | 1971-12-22 | 1973-09-19 |
-
1981
- 1981-11-09 JP JP16580281U patent/JPS5871169U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5871169U (ja) | 1983-05-14 |
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