JPH10335032A - Ｉｃソケット装置 - Google Patents
Ｉｃソケット装置Info
- Publication number
- JPH10335032A JPH10335032A JP9139603A JP13960397A JPH10335032A JP H10335032 A JPH10335032 A JP H10335032A JP 9139603 A JP9139603 A JP 9139603A JP 13960397 A JP13960397 A JP 13960397A JP H10335032 A JPH10335032 A JP H10335032A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact pin
- main body
- flat
- terminals
- lead terminals
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 フラットＩＣのリード端子の信号を容易に測
定できるＩＣソケット装置を提供。 【解決手段】 フラットＩＣ４のリード端子４１の信号
を接触ピン１で引き出して測定端子２に接続し、この測
定端子２により、直接フラットＩＣ４のリード端子４１
からオシロスコープなどのプローブで容易に測定でき
る。
定できるＩＣソケット装置を提供。 【解決手段】 フラットＩＣ４のリード端子４１の信号
を接触ピン１で引き出して測定端子２に接続し、この測
定端子２により、直接フラットＩＣ４のリード端子４１
からオシロスコープなどのプローブで容易に測定でき
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＩＣソケット装置
に係り、特に、フラットＩＣのリード端子の信号測定を
容易に行なうＩＣソケット装置に関する。
に係り、特に、フラットＩＣのリード端子の信号測定を
容易に行なうＩＣソケット装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来（図示せず）のＩＣソケット装置
は、オシロスコープ等のプローブの先端でフラットＩＣ
のリード端子に直接触れて測定を行なっており、着脱可
能なＩＣソケット装置は、ＤＩＰタイプのＩＣのみであ
った。
は、オシロスコープ等のプローブの先端でフラットＩＣ
のリード端子に直接触れて測定を行なっており、着脱可
能なＩＣソケット装置は、ＤＩＰタイプのＩＣのみであ
った。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従って、従来のＩＣソ
ケット装置は、端子間のピッチが非常に狭いフラットＩ
Ｃに対しては、オシロスコープ等のプローブの先端を目
的の端子に正確に押し当てることが難しく、隣の端子と
ショートさせてＩＣを破壊してしまい、かつ測定の間プ
ローブを片手で固定しておく必要があるため、両手が使
えない課題があった。
ケット装置は、端子間のピッチが非常に狭いフラットＩ
Ｃに対しては、オシロスコープ等のプローブの先端を目
的の端子に正確に押し当てることが難しく、隣の端子と
ショートさせてＩＣを破壊してしまい、かつ測定の間プ
ローブを片手で固定しておく必要があるため、両手が使
えない課題があった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上述の課題を解決するた
めに、本発明のＩＣソケット装置は、リード端子をモー
ルドの周辺に複数設けたフラットＩＣと、このフラット
ＩＣに吸盤を介して上部から固定され、かつ上記リード
端子の上部に穴を有する突起部を上記リード端子の上部
周辺に備えた本体と、この本体の突起部の穴を介して上
記リード端子に接触する接触ピンと、この接触ピンと電
気的接続されて上記本体上部の外側四方に配置された測
定端子とで構成されたことを特徴とする。
めに、本発明のＩＣソケット装置は、リード端子をモー
ルドの周辺に複数設けたフラットＩＣと、このフラット
ＩＣに吸盤を介して上部から固定され、かつ上記リード
端子の上部に穴を有する突起部を上記リード端子の上部
周辺に備えた本体と、この本体の突起部の穴を介して上
記リード端子に接触する接触ピンと、この接触ピンと電
気的接続されて上記本体上部の外側四方に配置された測
定端子とで構成されたことを特徴とする。
【０００５】
【発明の実施の形態】次に、本発明の一実施の形態によ
るＩＣソケット装置を図面を参照して説明する。
るＩＣソケット装置を図面を参照して説明する。
【０００６】図１は、本発明の一実施の形態によるＩＣ
ソケット装置の構成図である。
ソケット装置の構成図である。
【０００７】図２は、本発明の一実施の形態によるＩＣ
ソケット装置の斜視図である。
ソケット装置の斜視図である。
【０００８】本発明の一実施の形態によるＩＣソケット
装置は、図１及び図２に示すように、リード端子４１を
モールドの周辺に複数設けたフラットＩＣ４と、このフ
ラットＩＣ４に吸盤６を介して上部から固定され、かつ
リード端子４１の上部に穴を有する突起部３１をリード
端子４１の上部周辺に備えた本体３と、この本体３の突
起部３１の穴を介してリード端子４１に接触する接触ピ
ン１と、この接触ピン１と電気的接続されて本体３上部
の外側四方に配置された測定端子２とで構成される。
装置は、図１及び図２に示すように、リード端子４１を
モールドの周辺に複数設けたフラットＩＣ４と、このフ
ラットＩＣ４に吸盤６を介して上部から固定され、かつ
リード端子４１の上部に穴を有する突起部３１をリード
端子４１の上部周辺に備えた本体３と、この本体３の突
起部３１の穴を介してリード端子４１に接触する接触ピ
ン１と、この接触ピン１と電気的接続されて本体３上部
の外側四方に配置された測定端子２とで構成される。
【０００９】次に、本発明の一実施の形態によるＩＣソ
ケット装置の構造を図面を参照して説明する。
ケット装置の構造を図面を参照して説明する。
【００１０】本発明の一実施の形態によるＩＣソケット
装置の構造は、図１及び図２に示すように、本体３の内
部側面部をフラットＩＣ４のモールドに合わせて吸盤６
の上方を押し込んだ時、接触ピン１がフラットＩＣ４の
各々のリードの数及び配置に対応して設けられ、かつバ
ネ５によってリード端子４１に均等に力が加わることに
なっている。
装置の構造は、図１及び図２に示すように、本体３の内
部側面部をフラットＩＣ４のモールドに合わせて吸盤６
の上方を押し込んだ時、接触ピン１がフラットＩＣ４の
各々のリードの数及び配置に対応して設けられ、かつバ
ネ５によってリード端子４１に均等に力が加わることに
なっている。
【００１１】従って、測定端子２は、接触ピン１と各々
電気的に接触されており、接触ピン１のピン間距離に比
べて大きく配しているため、オシロスコープ等のプロー
ブの先端を測定端子２にクリップすることで、容易にフ
ラットＩＣ４のリード端子４１の信号測定ができ、かつ
測定の間プローブを手で固定しておく必要がない。
電気的に接触されており、接触ピン１のピン間距離に比
べて大きく配しているため、オシロスコープ等のプロー
ブの先端を測定端子２にクリップすることで、容易にフ
ラットＩＣ４のリード端子４１の信号測定ができ、かつ
測定の間プローブを手で固定しておく必要がない。
【００１２】
【発明の効果】以上説明したとように、本発明のＩＣソ
ケット装置によれば、測定端子が接触ピンを取り囲むよ
うに配置されているため、隣合った接触ピンとショート
せずにＩＣのリード端子の信号測定ができ、接触ピンが
バネによって押さえられているため、ＩＣのリード端子
に均等に力が加わり接触不良などの不具合を防ぐととも
に、吸盤によって本体を固定しているため、着脱を容易
にする効果がある。
ケット装置によれば、測定端子が接触ピンを取り囲むよ
うに配置されているため、隣合った接触ピンとショート
せずにＩＣのリード端子の信号測定ができ、接触ピンが
バネによって押さえられているため、ＩＣのリード端子
に均等に力が加わり接触不良などの不具合を防ぐととも
に、吸盤によって本体を固定しているため、着脱を容易
にする効果がある。
【図１】本発明の一実施の形態によるＩＣソケット装置
の構成図である。
の構成図である。
【図２】本発明の一実施の形態によるＩＣソケット装置
の斜視図である。
の斜視図である。
１ 接触ピン ２ 測定端子 ３ 本体 ４ フラットＩＣ ５ 接触ピン（バネ） ６ 吸盤 ３１ 本体（突起部） ４１ フラットＩＣ（リード端子）
Claims (1)
- 【請求項１】 リード端子をモールドの周辺に複数設け
たフラットＩＣと、このフラットＩＣに吸盤を介して上
部から固定され、かつ上記リード端子の上部に穴を有す
る突起部を上記リード端子の上部周辺に備えた本体と、
この本体の突起部の穴を介して上記リード端子に接触す
る接触ピンと、この接触ピンと電気的接続されて上記本
体上部の外側四方に配置された測定端子とで構成された
ことを特徴とするＩＣソケット装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9139603A JPH10335032A (ja) | 1997-05-29 | 1997-05-29 | Ｉｃソケット装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9139603A JPH10335032A (ja) | 1997-05-29 | 1997-05-29 | Ｉｃソケット装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10335032A true JPH10335032A (ja) | 1998-12-18 |
Family
ID=15249128
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9139603A Pending JPH10335032A (ja) | 1997-05-29 | 1997-05-29 | Ｉｃソケット装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10335032A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2011028585A3 (en) * | 2009-09-04 | 2011-04-28 | Arizona Board Of Regents, For And On Behalf Of Arizona State University | Method and apparatus for making electrical connections |
-
1997
- 1997-05-29 JP JP9139603A patent/JPH10335032A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2011028585A3 (en) * | 2009-09-04 | 2011-04-28 | Arizona Board Of Regents, For And On Behalf Of Arizona State University | Method and apparatus for making electrical connections |
| US8561288B2 (en) | 2009-09-04 | 2013-10-22 | Arizona Board Of Regents, A Body Corporate Of The State Of Arizona, Acting For And On Behalf Of Arizona State University | Electronic display test device and related method |
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