JPH03191543A - プローブ・カード - Google Patents

プローブ・カード

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Publication number
JPH03191543A
JPH03191543A JP1332056A JP33205689A JPH03191543A JP H03191543 A JPH03191543 A JP H03191543A JP 1332056 A JP1332056 A JP 1332056A JP 33205689 A JP33205689 A JP 33205689A JP H03191543 A JPH03191543 A JP H03191543A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrical characteristics
probes
opening
probe card
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1332056A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Nakao
浩士 中尾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP1332056A priority Critical patent/JPH03191543A/ja
Publication of JPH03191543A publication Critical patent/JPH03191543A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はプローブ・カードに関し、特にプローブ・カー
ドのプロービング針に関する。
〔従来の技術〕
従来、半導体ウェーハに複数個の半導体素子を形成した
後、半導体素子を個々に分離する半導体装置の製造工程
において、半導体素子の電気的特性は半導体ウェーハの
状態のままで測定するのが一般的である。このとき、半
導体素子の電気的特性の測定にプローブ・カードを接続
したテスターが用いられている。
このプローブ・カードは第6図に示すように、プリント
基板1のほぼ中央部に形成された開口部2と、この開口
部の周辺部に一端が固定され、多端が中央部に向う複数
本のプロービング針3と、このプロービング針に接続し
プリント基板に形成された導線等から構成されている。
そして、上記のプローブ・カードをその片面が半導体ウ
ェーハの表面に対応している状態で半導体ウェーハに近
接させ、半導体ウェーハ内の一個の半導体素子上に形成
された各電極に複数本のプロービング針を適当な圧力を
もって接触させ、半導体装置の電気的特性の測定を行っ
ていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のプローブ・カードでは、ブローピング針
3が1本ずつ独立して開口部2に存在するために、半導
体装置6の上に形成された各電極5とプロービング針3
との接触による、半導体装置の電気的特性の測定を繰り
返し行うことにより、プロービング針3の相対位置が上
下方向及び左右方向に不揃いとなり、半導体装置の電気
的特性の測定が不安定になるという欠点があった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明のプローブ・カードは、プリント基板に設けられ
た開口部と二の開口部の周辺部に一端が固定され他端が
開口部中央の下方向に延在する複数のプロービング針と
を有するプローブ・カードにおいて、前記プロービング
針の複数を1まとめに固定している絶縁物からなるプロ
ービング針整列板を有している。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の第1の実施例の平面図である。
プリント基板1には開口部2が設けられており、この開
口部2の周辺には開口部の周辺(ニ一端がはんだ等によ
り固定され、他端が開口部2の中央下方に延在し、絶縁
性のプロービンゲタ+整夕11板4によって1辺毎に固
定されたタングステン等力)らなる複数のプロービング
針3が゛設番すられて1)る。
第2図は第1図のプローブ・カードによる半導体装置の
電気的特性の測定の時の断面図である。
本実施例においては、半導体装置6の上の電極5とプロ
ービング針3の先端部3aとの接触(こよる電気的特性
の測定を繰り返すこと番こよるプロービング針3の相対
位置の不揃し)はなく、電気的特性の測定が安定して行
うことができる。
第3図は、本発明の第2の実施例の平面図である。
プロービング針整列板4aはプロービンゲタ十3の全て
を固定して設けられている。
第4図は、第3図のプローブ・カードでの半導体装置の
電気的特性の測定の時の断面図て゛ある。
この実施例では、プロービング針整列板4が、1つで全
てのプロービング針3を固定しているため、全てのプロ
ービング針3の相対位置が揃うという利点がある。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、プロービング針を絶縁物
で出来たプロービング針整列板で1まとめに固定するこ
とにより、プロービング針の相対位置を揃え、電気的特
性の測定において、安定した測定が行え、製造上の歩留
りを向上することが出来る効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例の平面図、第2図は第1
図のプローブ・カードによる半導体装置の電気的特性の
測定の際の断面図、第3図は本発明の第2の実施例の平
面図、第4図は第3図のプローブ・カードによる半導体
装置の電気特性の測定の際の断面図、第5図は従来のプ
ローブ・カードの一例の平面図、第6図は第5図のプロ
ーブ・カードによる半導体装置の電気的特性の測定の際
の断面図である。 1・・・プリント基板、2・・・開口部、3・・・プロ
ービング針、3a・・・先端部、4・・・プロービング
針整列板、5・・・電極、6・・・半導体装置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. プリント基板に設けられた開口部と、該開口部の周辺部
    に一端が固定され他端が開口部中央の下方向に延在する
    複数のプロービング針とを有するプローブ・カードにお
    いて、前記プロービング針の複数が絶縁物で出来たプロ
    ービング針整列板によって固定されていることを特徴と
    するプローブ・カード。
JP1332056A 1989-12-20 1989-12-20 プローブ・カード Pending JPH03191543A (ja)

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JP1332056A JPH03191543A (ja) 1989-12-20 1989-12-20 プローブ・カード

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021085717A (ja) * 2019-11-26 2021-06-03 ダイトロン株式会社 プローブカード、プローブシート、プローブカードの製造方法及び検査装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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