JP2526212Y2 - Ｉｃソケット - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本考案は、ＩＣ（集積回路）の検
査を行うためのＩＣソケットに関する。

【０００２】

【従来の技術】ＩＣの検査を行うための従来のＩＣソケ
ットは、図３に示すように、ソケット本体１１上にＩＣ
１３を載置してパッケージ１３ａを位置決めし、ソケッ
ト蓋部１２で上方から押圧することによりソケット本体
１１に設けられた接触子１４の先端をこのＩＣ１３の各
リード１３ｂに下方から圧接させるようになっていた。
そして、例えば図示の接触子１４の基部側に電源１５を
接続し、この電源１５に直列に接続した電流計１６によ
ってリード１３ｂに流れる電流を測定したり、接触子１
４の基部側に並列に接続した電圧計１７によってリード
１３ｂの電圧を測定することにより、ＩＣ１３が良品か
不良品であるかの検査を行っていた。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】ところが、上記従来の
ＩＣソケットは、ソケット本体１１に設けられた接触子
１４がリード１３ｂに接触する先端側と、電圧計１７等
の測定機器を接続する基部側との間にある程度の長さの
導体金属が介在することになる。従って、図３に示した
検査回路のように、接触子１４を介して電源５から大き
な電流を供給する場合には、この接触子１４の導体金属
の抵抗によって僅かではあるが電圧降下が生じる。ま
た、ここに高周波の電流が流れる場合には、接触子１４
の自己インダクタンスによる電圧降下もある程度大きく
なる。すると、電圧計１７は、実際のリード１３ｂの電
圧ではなく、これに接触子１４での電圧降下を加えた電
圧を測定することになり、場合によってはこの測定誤差
が無視できないことがある。

【０００４】このため、従来のＩＣソケットは、接触子
に流れる電流によってこの接触子に比較的大きな電圧降
下が生じる場合に、その接触子が接するＩＣのリードの
電圧を正確に測定することができなくなるという問題が
あった。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本考案は、ソケット本体内に収容したＩＣをソケッ
ト蓋部にて保持するＩＣソケットにおいて、ソケット本
体にＩＣの各リードに下方から接触する第１接触子と、
リードから離れた部分に配置された第２接触子とを対に
して植設し、ソケット蓋部に、ソケット本体の第１接触
子と対向する位置でＩＣの各リードに上方から接触する
第３接触子と、この第３接触子と接続されかつソケット
本体の各第２接触子に上方から接触する第４接触子とを
配置したことを特徴としている。

【０００６】

【作用】上記構成のソケット本体における第１接触子
は、従来からのＩＣソケットにおける接触子と同様の構
成である。従って、所定の第１接触子に電源を接続すれ
ば、この第１接触子が接するリードを通じてＩＣに電源
を供給することができる。そして、この電源に直列に電
流計を接続すれば、当該リードに流れる電流を測定する
ことができる。

【０００７】しかし、上記リードの電圧を測定する場合
は、当該第１接触子と対になる第２接触子に電圧計を接
続する。すると、このリードからソケット蓋部の第３接
触子及び第４接触子並びにソケット本体の第２接触子を
介して電圧計に電流が流れ、当該リードの電圧を測定す
ることができるようになる。ただし、電源がＩＣに供給
する電流はソケット本体の第１接触子を介してリードに
流れるので、電圧計に至る電流の経路は、このリードか
ら分岐した全くの別回路となる。また、電圧計は高い内
部抵抗を有するため、この電圧計に至る経路の電流は極
めて僅かなものとなる。従って、第３接触子及び第４接
触子並びに第２接触子の抵抗が多少大きくなったとして
も、ここでの電圧降下はほとんど生じず、電圧計は、リ
ードの電圧を正確に測定することができる。

【０００８】この結果、本考案のＩＣソケットによれ
ば、比較的大きな電流が流れるリードであっても、電圧
降下の影響を受けることなく、このリードの電圧を正確
に測定することができるようになり、ＩＣソケットでの
ケルビン接続を可能とする。

【０００９】

【実施例】以下、図面を参照しながら、本考案の実施例
を詳述する。

【００１０】図１及び図２は本考案の一実施例を示すも
のであって、図１はＩＣを装填したＩＣソケットの縦断
面正面図、図２はＩＣソケットのソケット本体にＩＣを
載置した状態の斜視図である。

【００１１】本実施例は、パッケージの四方の側面から
多数のリードが突出したクワットタイプのＩＣを検査す
るためのＩＣソケットについて説明する。このＩＣソケ
ットは、図１に示すように、ソケット本体１とソケット
蓋部２とによって構成されている。そして、検査対象と
なるＩＣ３は、このソケット本体１上に載置され、上方
からソケット蓋部２によって押圧されることによりＩＣ
ソケットに装填される。

【００１２】ソケット本体１は、図２に示すように、絶
縁体によって構成された方形の台座であって、対角線方
向に２本のポスト１ａが突設されている。ＩＣ３は、こ
のソケット本体１上に載置され、ポスト１ａに前後左右
の移動を規制されることによりパッケージ３ａの位置決
めが行われるようになっている。

【００１３】上記ソケット本体１の台座には、上面から
多数の接触子４ａ，４ｂが上方に向けて突設されてい
る。なお、図では、分かりやすくするために、ＩＣ３の
リード３ｂの本数及び接触子４ａ，４ｂの数を実際より
も少なく示している。これらの接触子４ａ，４ｂは、載
置されるＩＣ３のパッケージ３ａの周囲に２列にわたっ
て配置され、内周側の第１接触子４ａと外周側の第２接
触子４ｂとからなる。内周側の各第１接触子４ａは、ソ
ケット本体１にＩＣ３が載置されたときに、先端が各リ
ード３ｂに下方からそれぞれ接触するような位置に配置
されている。また、外周側の第２接触子４ｂは、載置さ
れたＩＣ３の各リード３ｂよりもさらに外側に位置し、
これらのリード３ｂには接触しないように配置されてい
る。これらの各接触子４ａ，４ｂの基部は、図１に示す
ように、それぞれソケット本体１の台座の下面からさら
に下方に引き出され、測定機器に接続されるようになっ
ている。なお、これらの第１接触子４ａと第２接触子４
ｂは、内外に並んだもの同士が対となって１本のリード
３ｂに対応することになる。

【００１４】図１に示すソケット蓋部２は、ソケット本
体１と同様に絶縁体によって構成された方形の板材であ
り、この板材には、下面から多数の接触子４ｃ，４ｄが
下方に向けて突設されている。これらの接触子４ｃ，４
ｄは、上記ソケット本体１の接触子４ａ，４ｂにそれぞ
れ対応して配置され、内周側の第３接触子４ｃと外周側
の第４接触子４ｄとからなる。また、これら第３接触子
４ｃと第４接触子４ｄは、内外に並んだもの同士が対と
なり、対となったもの同士の基部側がソケット蓋部２の
内部でそれぞれ接続子４ｅを介して接続されている。

【００１５】上記ソケット本体１及びソケット蓋部２の
接触子４ａ〜４ｄは、いずれも導電性が高く、かつ、弾
性を有する金属材料からなり、中央部が湾曲されて先端
部がばね性を有するように形成されている。また、この
先端部は、接触抵抗が小さくなるように接点材料が使用
されている。なお、本実施例では、ソケット蓋部２にお
ける一対の第３接触子４ｃ，第４接触子４ｄ及び接続子
４ｅは、１片の導電金属によって一体形成されている。

【００１６】上記構成のＩＣソケットにＩＣ３を装填す
ると、ソケット本体１における第１接触子４ａの先端が
リード３ｂに下方より接触すると共に、ソケット蓋部２
における第３接触子４ｃの先端も、このリード３ｂのほ
ぼ同じ位置に上方より接触する。また、この際、同じリ
ード３ｂに接触する第１接触子４ａ及び第３接触子４ｃ
と対になるソケット本体１の第２接触子４ｂとソケット
蓋部２の第４接触子４ｄも先端同士が接触する。そし
て、これら接触子４ａ〜４ｄ同士及びリード３ｂとの接
触は、ソケット蓋部２による押圧と各接触子４ａ〜４ｄ
の先端部のばね性によって圧接となり電気的に確実に接
続される。従って、１本のリード３ｂに測定機器を接続
する場合、第１接触子４ａを介した経路と、第３接触子
４ｃ，接続子４ｅ及び第４接触子４ｄ並びに第２接触子
４ｂを介した経路の２系統が利用できるようになる。

【００１７】上記ＩＣ３に電源を供給する場合、所定の
第１接触子４ａにおけるソケット本体１の下面に引き出
された基部に電源５を接続する。すると、この第１接触
子４ａを介してリード３ｂからＩＣ３に電源５が供給さ
れることになり、この電源５に直列に電流計６を接続し
ておけば、当該リード３ｂに流れる電流を測定すること
ができる。

【００１８】また、上記電源５を供給するリード３ｂの
電圧を測定する場合には、電源５を接続した第１接触子
４ａと対になる第２接触子４ｂにおけるソケット本体１
の下面に引き出された基部に電圧計７を接続する。する
と、このリード３ｂからソケット蓋部２の第３接触子４
ｃ，接続子４ｅ及び第４接触子４ｄ並びにソケット本体
１の第２接触子４ｂを介して電圧計７に電流が流れ、こ
のリード３ｂの電圧を測定することができる。しかも、
電圧計７は内部抵抗が極めて高いため、この第３接触子
４ｃ，接続子４ｅ及び第４接触子４ｄ並びに第２接触子
４ｂを流れる電流も微小なものとなる。従って、電圧計
７は、これらの接触子４ｂ〜４ｄ及び接続子４ｅの抵抗
がある程度高くても、ほとんど電圧降下の影響を受ける
ことがなくなり、リード３ｂの電圧を正確に測定するこ
とができる。

【００１９】この結果、本実施例のＩＣソケットは、ソ
ケット本体１の第１接触子４ａを電源供給側とし、第２
接触子４ｂを電圧測定側の端子とすることにより、ケル
ビン接続が可能となり、大きな電流が流れるリード３ｂ
であって、その電圧を正確に測定することができるよう
になる。

【００２０】なお、ソケット本体１の第２接触子４ｂを
第１接触子４ａよりも先端側で直接リード３ｂに接触さ
せるようにすれば、ソケット蓋部２の接触子４ｃ，４ｄ
を用いることなくケルビン接続を実現することができ
る。しかしながら、近年のＩＣ３は、高密度実装化のた
めに、パッケージ３ａを小型化すると共にリード本数も
増加する傾向にあるため、リード３ｂが極めて微細化し
ている。従って、このリード３ｂに僅かな曲がりがある
だけで先端部が大きく位置ずれするので、リード３ｂの
基部に第１接触子４ａを接触させるだけでなく、この先
端部にも対となる第２接触子４ｂを確実に接触させるの
は容易でなく、このようなＩＣソケットは実施が困難で
ある。また、ソケット蓋部２の第３接触子４ｃに直接測
定機器を接続することができれば、第４接触子４ｄ及び
第２接触子４ｂは不要となる。しかし、ソケット蓋部２
は、装填するＩＣ３を取り替える際に移動する必要があ
り、ここに測定機器を接続するのは現実的ではない。

【００２１】

【考案の効果】以上の説明から明らかなように、本考案
のＩＣソケットは、装填したＩＣのリードにケルビン接
続を可能とすることにより、比較的大きな電流が流れる
リードであっても、接触子での電圧降下の影響を受ける
ことなく、このリードの実際の電圧を正確に測定できる
ようにするという効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例を示すものであって、ＩＣを
装填したＩＣソケットの縦断面正面図である。

【図２】本考案の一実施例を示すものであって、ＩＣソ
ケットのソケット本体にＩＣを載置した状態の斜視図で
ある。

【図３】従来例を示すものであって、ＩＣを装填したＩ
Ｃソケットの縦断面正面図である。

【符号の説明】

１ ソケット本体 ２ ソケット蓋部 ３ ＩＣ ３ｂ リード ４ａ 第１接触子 ４ｂ 第２接触子 ４ｃ 第３接触子 ４ｄ 第４接触子

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】ソケット本体内に収容したＩＣをソケット
   蓋部にて保持するＩＣソケットにおいて、 ソケット本体にＩＣの各リードに下方から接触する第１
   接触子と、リードから離れた部分に配置された第２接触
   子とを対にして植設し、ソケット蓋部に、ソケット本体
   の第１接触子と対向する位置でＩＣの各リードに上方か
   ら接触する第３接触子と、この第３接触子と接続されか
   つソケット本体の各第２接触子に上方から接触する第４
   接触子とを配置したことを特徴とするＩＣソケット。