JPH0346462Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0346462Y2 JPH0346462Y2 JP1984193152U JP19315284U JPH0346462Y2 JP H0346462 Y2 JPH0346462 Y2 JP H0346462Y2 JP 1984193152 U JP1984193152 U JP 1984193152U JP 19315284 U JP19315284 U JP 19315284U JP H0346462 Y2 JPH0346462 Y2 JP H0346462Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- spring
- head
- tip
- pin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 13
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
[考案の技術分野]
この考案は導電接触ピンに係り、さらに詳しく
言えば、スイツチングレギユレータ等の製品検査
や調整検査に好適な導電接触ピンに関するもので
ある。
言えば、スイツチングレギユレータ等の製品検査
や調整検査に好適な導電接触ピンに関するもので
ある。
[考案の技術的背景]
例えばスイツチングレギユレータの製品検査や
調整検査を行なうには、その出力端子間より一定
の電流を供給し、その時に所定の端子間電圧が出
力されているか否かを見るようにしている。した
がつて、この種の検査には、電流供給用の接触ピ
ンと電圧検出用の接触ピンとが必要であり、従来
においては、1つの出力端子部に対して2本の接
触ピンを同時に接触させるようにしている。すな
わち、この種の検査は1対の端子間で行なわれる
ため、少なくとも2本の電流供給用ピンと2本の
電圧検出用ピンの計4本のピンを必要とする。し
たがつて、検査機基板の構造が複雑になるととも
にコスト的にも好ましくない。また、比較的小さ
な出力端子、とりわけそれが有頭ネジを有するも
のである場合、その有頭ネジの頭部に2本のピン
を同時に接触させるには、それらのピンを傾けた
りしてその配置を工夫しなければならないという
面倒な問題点があつた。
調整検査を行なうには、その出力端子間より一定
の電流を供給し、その時に所定の端子間電圧が出
力されているか否かを見るようにしている。した
がつて、この種の検査には、電流供給用の接触ピ
ンと電圧検出用の接触ピンとが必要であり、従来
においては、1つの出力端子部に対して2本の接
触ピンを同時に接触させるようにしている。すな
わち、この種の検査は1対の端子間で行なわれる
ため、少なくとも2本の電流供給用ピンと2本の
電圧検出用ピンの計4本のピンを必要とする。し
たがつて、検査機基板の構造が複雑になるととも
にコスト的にも好ましくない。また、比較的小さ
な出力端子、とりわけそれが有頭ネジを有するも
のである場合、その有頭ネジの頭部に2本のピン
を同時に接触させるには、それらのピンを傾けた
りしてその配置を工夫しなければならないという
面倒な問題点があつた。
[考案の目的]
この考案は上記した従来の欠点に鑑みなされた
もので、その目的は、外観上は1本のピンであり
ながら、互いに電気的に絶縁された2つのコンタ
クトを同一の被測定部材に同時に電気的に接触す
ることができるようにした同軸形導電接触ピンを
提供することにある。
もので、その目的は、外観上は1本のピンであり
ながら、互いに電気的に絶縁された2つのコンタ
クトを同一の被測定部材に同時に電気的に接触す
ることができるようにした同軸形導電接触ピンを
提供することにある。
[実施例]
以下、この考案を添付図面に示されている一実
施例を参照しながら詳細に説明する。
施例を参照しながら詳細に説明する。
第1図に示されているように、この導電接触ピ
ン1は、図示しない検査機基板等に嵌合固定され
る円筒状の保持スリーブ2を有し、このスリーブ
2内には被測定部材に電気的に接触し得る円筒状
の外側コンタクト3が摺動自在に挿通保持されて
いる。この場合、外側コンタクト3の先端は拡径
された頭部4となつており、この頭部4には、例
えば被測定端子に螺合されている有頭ネジの頭部
5(第2図参照)に対して広い面積で電気的に接
触し得るような椀状の凹部6が形成されている。
また、外側コンタクト3の頭部4と保持スリーブ
2との間にはスプリング7が介装されていて、こ
のスプリング7により外側コンタクト3はその先
端側、すなわち図において上方に付勢されるよう
になつている。なお、外側コンタクト3には、保
持スリーブ2の下端縁に当接して上記スプリング
7の付勢力によりこの外側コンタクト3が保持ス
リーブ2内から抜け出すのを防止する鍔8が設け
られている。
ン1は、図示しない検査機基板等に嵌合固定され
る円筒状の保持スリーブ2を有し、このスリーブ
2内には被測定部材に電気的に接触し得る円筒状
の外側コンタクト3が摺動自在に挿通保持されて
いる。この場合、外側コンタクト3の先端は拡径
された頭部4となつており、この頭部4には、例
えば被測定端子に螺合されている有頭ネジの頭部
5(第2図参照)に対して広い面積で電気的に接
触し得るような椀状の凹部6が形成されている。
また、外側コンタクト3の頭部4と保持スリーブ
2との間にはスプリング7が介装されていて、こ
のスプリング7により外側コンタクト3はその先
端側、すなわち図において上方に付勢されるよう
になつている。なお、外側コンタクト3には、保
持スリーブ2の下端縁に当接して上記スプリング
7の付勢力によりこの外側コンタクト3が保持ス
リーブ2内から抜け出すのを防止する鍔8が設け
られている。
外側コンタクト3内には電気絶縁性のカラー9
を介して例えば先端が針状に形成されている内側
コンタクト10が摺動可能に同軸的に挿嵌されて
いる。この実施例においては、カラー9内には、
外側コンタクト3の下端側から同軸的に挿通され
る導電性の中継ロツド11の先端部が突入されて
いて、その先端部と内側コンタクト10との間に
は、両者を電気的に導通するとともに常態におい
て内側コンタクト10を突出位置に付勢保持する
スプリング12が設けられている。この場合、内
側コンタクト10は、カラー9から飛出さないよ
うにその下端部がカラー9の上方開口部よりも拡
径されている。また、中継ロツド11の下端部
は、電気絶縁性のカラー13を介して外側コンタ
クト3の下部開口内に挿通されている。
を介して例えば先端が針状に形成されている内側
コンタクト10が摺動可能に同軸的に挿嵌されて
いる。この実施例においては、カラー9内には、
外側コンタクト3の下端側から同軸的に挿通され
る導電性の中継ロツド11の先端部が突入されて
いて、その先端部と内側コンタクト10との間に
は、両者を電気的に導通するとともに常態におい
て内側コンタクト10を突出位置に付勢保持する
スプリング12が設けられている。この場合、内
側コンタクト10は、カラー9から飛出さないよ
うにその下端部がカラー9の上方開口部よりも拡
径されている。また、中継ロツド11の下端部
は、電気絶縁性のカラー13を介して外側コンタ
クト3の下部開口内に挿通されている。
なお、参照符号14,15はリード線であつ
て、この実施例では、外側コンタクト3はリード
線14を介して図示しない検査機の電流計および
負荷に接続され、他方、内側コンタクト10はス
プリング12、中継ロツド11およびリード線1
5を介して図示しない電圧計またはオシロスコー
プに接続される。
て、この実施例では、外側コンタクト3はリード
線14を介して図示しない検査機の電流計および
負荷に接続され、他方、内側コンタクト10はス
プリング12、中継ロツド11およびリード線1
5を介して図示しない電圧計またはオシロスコー
プに接続される。
スイツチングレギユレータ等の電気機器の製品
検査や調整検査を行なうにあたつては、この導電
接触ピン1を1対用意し、その各々を被測定機器
の出力端子部に押付けるようにすればよい。すな
わち、第2図に例示されているように、この導電
接触ピン1を出力端子部に設けられている有頭ネ
ジの頭部5に押当てると、内側コンタクト10は
その頭部に対して点状に電気的に接触するととも
にスプリング12に抗して下方に引込められ、こ
れに伴なつて、外側コンタクト3の頭部4が有頭
ネジの頭部5に対して比較的広い接触面で電気的
に接触することになる。この時、スプリング7の
バネ圧にて凹部6と頭部5とは良好な接触状態に
保たれる。これにより、出力端子部の有頭ネジか
ら外側コンタクト3を介して検査機器内に所定の
定電流が供給されるとともに、内側コンタクト1
0にてその出力端子部間の電圧が検出されること
になる。
検査や調整検査を行なうにあたつては、この導電
接触ピン1を1対用意し、その各々を被測定機器
の出力端子部に押付けるようにすればよい。すな
わち、第2図に例示されているように、この導電
接触ピン1を出力端子部に設けられている有頭ネ
ジの頭部5に押当てると、内側コンタクト10は
その頭部に対して点状に電気的に接触するととも
にスプリング12に抗して下方に引込められ、こ
れに伴なつて、外側コンタクト3の頭部4が有頭
ネジの頭部5に対して比較的広い接触面で電気的
に接触することになる。この時、スプリング7の
バネ圧にて凹部6と頭部5とは良好な接触状態に
保たれる。これにより、出力端子部の有頭ネジか
ら外側コンタクト3を介して検査機器内に所定の
定電流が供給されるとともに、内側コンタクト1
0にてその出力端子部間の電圧が検出されること
になる。
その場合、外側コンタクト3の頭部4には、出
力端子部の頭部5を雄としてそれにほぼ合致する
雌状の凹部6が形成されていて、両者は比較的広
い面積で接触し得るようになされているため、そ
の部分における電圧降下を極力小さく抑えること
ができ、製品や調整の検査精度の向上を図ること
ができる。一方、内側コンタクト10は上記有頭
ネジの頭部5に対して点状に接触することになる
が、外側コンタクト3がその有頭ネジの頭部5に
合致して面接触するため、内側コンタクト10が
ずれたりせず、またスプリング12のバネ圧が内
側コンタクト10を頭部5の方向に付勢すること
から、その内側コンタクト10と頭部5とは良好
な接触状態に保たれる。これにより、その部分に
おける接触抵抗は少なくない値となるが、これに
接触される測定機器はハイインピーダンス形の電
圧計であるため、支障は生じない。
力端子部の頭部5を雄としてそれにほぼ合致する
雌状の凹部6が形成されていて、両者は比較的広
い面積で接触し得るようになされているため、そ
の部分における電圧降下を極力小さく抑えること
ができ、製品や調整の検査精度の向上を図ること
ができる。一方、内側コンタクト10は上記有頭
ネジの頭部5に対して点状に接触することになる
が、外側コンタクト3がその有頭ネジの頭部5に
合致して面接触するため、内側コンタクト10が
ずれたりせず、またスプリング12のバネ圧が内
側コンタクト10を頭部5の方向に付勢すること
から、その内側コンタクト10と頭部5とは良好
な接触状態に保たれる。これにより、その部分に
おける接触抵抗は少なくない値となるが、これに
接触される測定機器はハイインピーダンス形の電
圧計であるため、支障は生じない。
なお、上記実施例では、外側コンタクト3の頭
部4に椀状の凹部6を形成するようにしている
が、これは相手方の出力端子部の形状に合せるた
めであつて、相手方の出力端子部の形状が例えば
平面的なものであればそれに応じて外側コンタク
ト3の頭部4は平面状に仕上げられることにな
る。また、この導電接触ピン1は上記のような四
端子計測法のみならず、通常の信号検出ピンとし
ても使用し得ることは言うまでもない。
部4に椀状の凹部6を形成するようにしている
が、これは相手方の出力端子部の形状に合せるた
めであつて、相手方の出力端子部の形状が例えば
平面的なものであればそれに応じて外側コンタク
ト3の頭部4は平面状に仕上げられることにな
る。また、この導電接触ピン1は上記のような四
端子計測法のみならず、通常の信号検出ピンとし
ても使用し得ることは言うまでもない。
[効果]
上記した実施例の説明から明らかなように、こ
の考案によれば、同一の被測定部材に同時に電気
的に接触し、かつ、それぞれ異なる作用をする2
つのコンタクトを単一のピン形式にまとめた同軸
形の導電接触ピンが得られる。したがつて、例え
ば一方のコンタクトから被測定機器より電流を供
給し、他方のコンタクトにより電圧を測定して被
測定機器を検査するような場合、従来では4本の
接触ピンを用いていたのに対し、この考案による
と2本で済むというようなメリツトがある。ま
た、外側コンタクトおよび内側コンタクトともに
スプリングのバネ圧にて被測定端子部に当接する
ようにしているため、接触条件がほぼ均一にな
り、高精度の測定もしくは検査を行なうことがで
きる。
の考案によれば、同一の被測定部材に同時に電気
的に接触し、かつ、それぞれ異なる作用をする2
つのコンタクトを単一のピン形式にまとめた同軸
形の導電接触ピンが得られる。したがつて、例え
ば一方のコンタクトから被測定機器より電流を供
給し、他方のコンタクトにより電圧を測定して被
測定機器を検査するような場合、従来では4本の
接触ピンを用いていたのに対し、この考案による
と2本で済むというようなメリツトがある。ま
た、外側コンタクトおよび内側コンタクトともに
スプリングのバネ圧にて被測定端子部に当接する
ようにしているため、接触条件がほぼ均一にな
り、高精度の測定もしくは検査を行なうことがで
きる。
第1図はこの考案による導電接触ピンの一実施
例にかかる縦断面図、第2図はこの導電接触ピン
の出力端子部への接触状態を示した要部縦断面図
である。 図中、1は導電接触ピン、2は保持スリーブ、
3は外側コンタクト、4は頭部、6は凹部、7は
スプリング、9,13は電気絶縁性カラー、10
は内側コンタクト、11は導電性中継ロツド、1
2は導電性スプリングである。
例にかかる縦断面図、第2図はこの導電接触ピン
の出力端子部への接触状態を示した要部縦断面図
である。 図中、1は導電接触ピン、2は保持スリーブ、
3は外側コンタクト、4は頭部、6は凹部、7は
スプリング、9,13は電気絶縁性カラー、10
は内側コンタクト、11は導電性中継ロツド、1
2は導電性スプリングである。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 互いに電気的に絶縁された状態で同一の被測定
部材に同時に電気的に接触し得る2つの接触部材
を備えた同軸形導電接触ピンであつて、 前記一方の接触部材は、先端が前記被測定端子
部に対して面接触し得る形状であり、かつ、円筒
状の保持スリーブ内に摺動自在に挿通保持される
とともに、スプリングにより先端方向に付勢され
る円筒状の外側コンタクトであり、 前記他方の接触部材は、電気絶縁性のカラーを
介して前記外側コンタクト内に出没自在に保持さ
れるとともに、スプリングにより前記外側コンタ
クトの先端から突出するように付勢させたことを
特徴とする同軸形導電接触ピン。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1984193152U JPH0346462Y2 (ja) | 1984-12-20 | 1984-12-20 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1984193152U JPH0346462Y2 (ja) | 1984-12-20 | 1984-12-20 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61107166U JPS61107166U (ja) | 1986-07-07 |
JPH0346462Y2 true JPH0346462Y2 (ja) | 1991-10-01 |
Family
ID=30750571
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1984193152U Expired JPH0346462Y2 (ja) | 1984-12-20 | 1984-12-20 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0346462Y2 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002228682A (ja) * | 2001-02-02 | 2002-08-14 | Tokyo Electron Ltd | プローブ |
JP2007309798A (ja) * | 2006-05-18 | 2007-11-29 | Espec Corp | 電流・電圧プローブ |
JP2008191080A (ja) * | 2007-02-07 | 2008-08-21 | Hioki Ee Corp | コンタクトプローブ |
JP4993187B2 (ja) * | 2007-02-07 | 2012-08-08 | 日置電機株式会社 | コンタクトプローブ |
JP6380549B2 (ja) * | 2014-11-07 | 2018-08-29 | 株式会社村田製作所 | プローブ |
CN106468725A (zh) * | 2015-08-14 | 2017-03-01 | 致茂电子股份有限公司 | 探针结构 |
JP6909672B2 (ja) * | 2017-08-09 | 2021-07-28 | ヒロセ電機株式会社 | 同軸プローブ |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5150617Y2 (ja) * | 1971-12-07 | 1976-12-04 |
-
1984
- 1984-12-20 JP JP1984193152U patent/JPH0346462Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS61107166U (ja) | 1986-07-07 |
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