CN106468725A - 探针结构 - Google Patents

探针结构 Download PDF

Info

Publication number
CN106468725A
CN106468725A CN201510500486.XA CN201510500486A CN106468725A CN 106468725 A CN106468725 A CN 106468725A CN 201510500486 A CN201510500486 A CN 201510500486A CN 106468725 A CN106468725 A CN 106468725A
Authority
CN
China
Prior art keywords
electric current
current output
probe structure
sleeve
perforation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201510500486.XA
Other languages
English (en)
Inventor
刘茂盛
郭修玮
陈昭旭
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Chroma ATE Inc
Original Assignee
Chroma ATE Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Chroma ATE Inc filed Critical Chroma ATE Inc
Priority to CN201510500486.XA priority Critical patent/CN106468725A/zh
Priority to US15/195,794 priority patent/US20170045552A1/en
Priority to JP2016133793A priority patent/JP2017037064A/ja
Priority to KR1020160088173A priority patent/KR20170020223A/ko
Publication of CN106468725A publication Critical patent/CN106468725A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06733—Geometry aspects
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06788—Hand-held or hand-manipulated probes, e.g. for oscilloscopes or for portable test instruments
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716—Elastic
    • G01R1/06722—Spring-loaded
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/0084—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof measuring voltage only
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture or maintenance of measuring instruments, e.g. of probe tips
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06733—Geometry aspects
    • G01R1/06738—Geometry aspects related to tip portion
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/364—Battery terminal connectors with integrated measuring arrangements

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

本发明公开一种探针结构，包含一第一电流输出件、一第二电流输出件和一电压检测件。第一电流输出件具有一第一穿孔，且第一穿孔贯通第一电流输出件。第二电流输出件可拆卸地设置于第一电流输出件。第二电流输出件具有一工作面和一第二穿孔。工作面位于第二电流输出件远离第一电流输出件的一侧。第二穿孔的相对二端分别连接于工作面和第一穿孔。工作面用以接触一待测物。电压检测件穿设于第一穿孔和第二穿孔。本发明所公开的探针结构有助于解决必须将已毁损的探针结构的所有组件从电路板拆解才能够组装新的探针结构的问题。

Description

探针结构
技术领域
本发明涉及一种探针结构，特别涉及一种可拆卸的探针结构。
背景技术
在销售电子产品前，业者会利用探针进行电性测试来确认产品的良率和可靠度，例如测量汽车电池的电池活化能力。以测量汽车电池活化能力而言，在测试时，探针必须直接接触汽车电池电极并且给电极通电，同时探针量测通电后电池电极的电压。
一般而言，探针会组装于电路板并且通电以进行电性测试。由于探针的针头在电性测试的过程中会因电流流通而造成毁损，因此需要定期性地进行更换。然而，传统的探针要进行更换时，必须将探针的所有组件从电路板上移除才能够将新的探针组装于电路板，这不仅耗费维修工时，也会浪费探针原料。
发明内容
本发明的目的在于提供一种探针结构，以解决必须将毁损的探针结构的所有组件从电路板拆解才能够组装新的探针结构的问题。
本发明提供一种探针结构，包含一第一电流输出件、一第二电流输出件和一电压检测件。第一电流输出件具有一第一穿孔，且第一穿孔贯通第一电流输出件。第二电流输出件可拆卸地设置于第一电流输出件。第二电流输出件具有一工作面和一第二穿孔。工作面位于第二电流输出件远离第一电流输出件的一侧。第二穿孔的相对二端分别连接于工作面和第一穿孔。工作面用以接触一待测物。电压检测件穿设于第一穿孔和第二穿孔。
本发明所公开的探针结构中，第二电流输出件可拆卸地设置于第一电流输出件。藉此，使用者能方便快速地将已毁损的第二电流输出件自第一电流输出件拆卸下来，同时能方便快速地将新的另一第二电流输出件组装于第一电流输出件，而有助于缩短工时并且节省成本。
以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。
附图说明
图1绘示依照本发明第一实施例的探针结构的立体示意图；
图2绘示图1的探针结构的剖视示意图；
图3A绘示图1的探针结构的分解示意图；
图3B绘示图1的探针结构的第二电流输出件的放大示意图；
图4绘示依照本发明第二实施例的探针结构的剖视示意图；
图5绘示依照本发明第三实施例的探针结构的剖视意图。
其中，附图标记
探针结构：1
第一电流输出件：10
第一穿孔：110
第一凸缘：120
球状套体：130
第二电流输出件：20
组装部：210
工作面：211
第二穿孔：212
锥形体：220
电压检测件：30
散热鳍片组件：40
散热鳍片：410
间隙：411
凹槽：412
温度感测件：50
电性绝缘件：60
套筒：70
第二凸缘：710
弹性件：80
轴向方向：A1
第一电流输出件的外径：D1
第二电流输出件的外径：D2
套筒的外径：D3
第一锁固件：91
第二锁固件：92
具体实施方式
下面结合附图对本发明的结构原理和工作原理作具体的描述，其内容足以使任何熟习相关技艺者了解本发明的技术内容并据以实施，且根据说明书、权利要求书及附图所公开的内容，任何熟习相关技艺者可轻易地理解本发明相关的目的及优点。以下实施例进一步详细说明本发明之观点，但非以任何观点限制本发明的范畴。
请同时参照图1至图3。图1绘示依照本发明第一实施例的探针结构的立体示意图。图2绘示图1的探针结构的剖视示意图。图3A绘示图1的探针结构的分解示意图。图3B绘示图1的探针结构的第二电流输出件的放大示意图。
在本实施例中，探针结构1包含一第一电流输出件10、一第二电流输出件20以及一电压检测件30。第一电流输出件10即为探针结构1的一针身，且第二电流输出件20即为探针结构1的一针头。第一电流输出件10、第二电流输出件20和电压检测件30的材质皆为导电材料。
第一电流输出件10具有一第一穿孔110，且第一穿孔110连通第一电流输出件10的相对二端而贯通第一电流输出件10。
第二电流输出件20可拆卸地设置于第一电流输出件10。详细来说，第二电流输出件20包含一组装部210和多个锥形体220。组装部210具有一工作面211和一第二穿孔212。工作面211位于组装部210远离第一电流输出件10的一侧，并且第二穿孔212的相对二端分别连接于工作面211和第一穿孔110。换句话说，第一穿孔110和第二穿孔212相连通。锥形体220皆固定于工作面211。第二电流输出件20自工作面211输出电流，即电流经过这些锥形体220而进一步自锥形体220远离第一电流输出件10的尖端输出。在本实施例中，第二电流输出件20是以卡合方式组装于第一电流输出件10，但本发明并不以此为限。在其它实施例中，第二电流输出件20和第一电流输出件10间可以使用螺合或紧配方式相组装。此外，在本实施例中，第二电流输出件20包含锥形体220的特征并非用以限制本发明。在其它实施例中，第二电流输出件20可以不包含这些锥形体220而令工作面211呈平坦状。
电压检测件30穿设于第一穿孔110和第二穿孔212。换句话说，一部分电压检测件30位于第一穿孔110，并且另一部分电压检测件30位于第二穿孔212。
在本实施例中，第一电流输出件10电性连接于一电缆(未绘示)，第二电流输出件20的组装部210组装于第一电流输出件10，第二电流输出件20的锥形体220和电压检测件30皆扺靠一待测物(未绘示)，并且电压检测件30电性连接于一电压量测模块(未绘示)，所述待测物例如但不限于是汽车电池电极或是半导体晶圆的金属线。电缆将电流输出至第一电流输出件10，并进一步自第一电流输出件10输出至第二电流输出件20的组装部210，并且自组装部210的工作面211输出至锥形体220。最后，电流自锥形体220的尖端输出至待测物，并且电压检测件30通过电压量测模块而测得待测物的电压。另一方面，根据输出至待测物的电流值以及电压检测件30测得的电压值而能计算出待测物的电阻值。
综上所述，探针结构1的第二电流输出件20可拆卸地设置于第一电流输出件10。藉此，使用者能方便快速地将已毁损的第二电流输出件20自第一电流输出件10拆卸下来，同时能方便快速地将新的另一第二电流输出件20组装于第一电流输出件10，而有助于缩短工时并且节省成本。
在本实施例中，为了进一步提升探针结构1的实用性，探针结构1可以有下列所述的改良。
在本实施例中，探针结构1可以进一步包含一散热鳍片组件40和一温度感测件50。散热鳍片组件40设置于第二电流输出件20，并且温度感测件50设置于散热鳍片组件40。详细来说，散热鳍片组件40套设于第二电流输出件20，并且散热鳍片组件40包含多个散热鳍片410。这些散热鳍片410沿着第二电流输出件20的一轴向方向A1排列，并且相邻的二散热鳍片410间具有一间隙411。这些散热鳍片410的其一的一外缘朝第二电流输出件20凹陷而形成一凹槽412。至少部分温度感测件50位于凹槽412内，并且自凹槽412伸入间隙411。藉此，散热鳍片组件40有助于对第二电流输出件20进行散热，以避免第二电流输出件20于进行电性测试时温度过高。温度感测件50则有助于实时监控测量散热鳍片组件40的温度，以进一步避免第二电流输出件20温度过高。温度感测件50设置于凹槽412内而有助于避免探针结构1的体积过大。
另外，探针结构1可以进一步包含一电性绝缘件60。如图2所示，电性绝缘件60介于电压检测件30和第一电流输出件10间。同时，电性绝缘件60也介于电压检测件30和第二电流输出件20间。电性绝缘件60令电压检测件30电性绝缘于第一电流输出件10与第二电流输出件20。藉此，电性绝缘件60有助于避免第一电流输出件10以及第二电流输出件20和电压检测件30间形成短路，而能使探针结构1的电性测试结果较为精确，并且可进一步提升使用安全性。
此外，探针结构1可以进一步包含一套筒70和一弹性件80、一第一锁固件91和二第二锁固件92。弹性件80例如但不限于是一压缩弹簧。第一电流输出件10可以更具有一第一凸缘120，并且套筒70可以具有一第二凸缘710。套筒70和弹性件80皆套设于第一电流输出件10，并且弹性件80介于第一凸缘120和第二凸缘710间。弹性件80的相对二端分别抵靠第一凸缘120和第二凸缘710。弹性件80可推抵第一凸缘120和第二凸缘710，而使第一电流输出件10相对套筒70移动。第一锁固件91和第二锁固件92例如但不限于是多个螺帽。第一锁固件91套设于套筒70，并且第二锁固件92套设于第一电流输出件10。第一锁固件91具有一螺纹，并且套筒70更具有匹配此螺纹的一螺牙。第一锁固件91和第二锁固件92将套筒70固定于一电路板(未绘示)，并且电路板固定于一基座(例如为测试机台的机壳)。藉此，当套筒70固定于电路板时，弹性件80常态推抵第一电流输出件10和套筒70，而有助于确保第二电流输出件20的锥形体220于电性量测过程中保持扺靠待测物，进而使探针结构1的电性测试结果较为精确。在本实施例中，套筒70通过第一锁固件91和第二锁固件92而固定于电路板，但本发明并不以此为限。在其它实施例中，套筒70可以通过卡合结构或胶黏方式固定于电路板。
再者，如图2所示，第二电流输出件20的一外径D2可以大于套筒70的一外径D3，且套筒70的外径D3可以大于第一电流输出件10的一外径D1。详细来说，第一电流输出件10的外径D1可以大于等于6毫米(millimeters，mm)并且小于等于10毫米，第二电流输出件20的外径D2可以大于等于8毫米并且小于等于12毫米。藉此，有助于避免探针结构1于进行大电流测试的过程中产生毁损，而使探针结构1更适合用于大型电子产品的电性测试。前述大电流测试系指于进行电性测试的过程中，传输至探针结构1的电流值大于等于100安培(ampere，A)。
第一实施例中的第二电流输出件是以卡合方式设置于第一电流输出件，但本发明并不以此为限。请参照图4。图4绘示依照本发明第二实施例的探针结构的剖视示意图。由于第二实施例和第一实施例相似，故以下仅就相异处进行说明。
在本实施例中，第二电流输出件20和第一电流输出件10间是以螺合方式相组装。也就是说，第一电流输出件10和第二电流输出件20的组装部210为互相对应的螺纹与螺牙，而令使用者可利用旋转方式快速拆卸或组装第二电流输出件20。
请参照图5。图5绘示依照本发明第三实施例的探针结构的剖视示意图。由于第三实施例和第一实施例相似，故以下仅就相异处进行说明。
在本实施例中，第一电流输出件10的一端具有一球状套体130，第一电流输出件10通过此球状套体130而以紧配方式组装于第二电流输出件20的组装部210。藉此，除了能快速拆卸或组装第二电流输出件20外，第一电流输出件10更能通过球状套体130转动第二电流输出件20，使锥形体220紧密贴合于待测物的表面。
综上所述，本发明所公开的探针结构中，第二电流输出件可拆卸地设置于第一电流输出件。藉此，使用者能方便快速地将已毁损的第二电流输出件自第一电流输出件拆卸下来，同时能方便快速地将新的另一第二电流输出件组装于第一电流输出件，而有助于缩短工时并且节省成本。
此外，散热鳍片组件有助于对第二电流输出件进行散热，以避免第二电流输出件于进行电性测试时温度过高。温度感测件则有助于实时监控测量散热鳍片组件的温度，以进一步避免第二电流输出件温度过高。温度感测件设置于凹槽内而有助于避免探针结构的体积过大。
另外，电性绝缘件有助于避免第一电流输出件和电压检测件间形成短路，而能使电性测试结果较为精确，并且进一步提升使用安全性。
再者，弹性件、套筒和锁固件有助于确保第二电流输出件的锥形体于电性量测过程中保持扺靠待测物，而使探针结构的电性测试结果更为精确。
当然，本发明还可有其他多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种探针结构，其特征在于，包含：
一第一电流输出件，具有一第一穿孔，且该第一穿孔贯通该第一电流输出件；
一第二电流输出件，能够拆卸地设置于该第一电流输出件，该第二电流输出件具有一工作面和一第二穿孔，该工作面位于该第二电流输出件远离该第一电流输出件的一侧，该第二穿孔的相对二端分别连接于该工作面和该第一穿孔；以及
一电压检测件，穿设于该第一穿孔和该第二穿孔。
2.根据权利要求1所述的探针结构，其特征在于，更包含设置于该第二电流输出件的一散热鳍片组件。
3.根据权利要求2所述的探针结构，其特征在于，更包含设置于该散热鳍片组件的一温度感测件。
4.根据权利要求3所述的探针结构，其特征在于，该散热鳍片组件套设于该第二电流输出件，该散热鳍片组件包含多个散热鳍片，该些散热鳍片沿着该第二电流输出件的一轴向方向排列，相邻的二该散热鳍片间保有一间隙，该些散热鳍片的其一的一外缘朝该第二电流输出件凹陷而形成一凹槽，且至少部分该温度感测件位于该凹槽内。
5.根据权利要求1所述的探针结构，其特征在于，更包含介于该电压检测件和该第一电流输出件间的一电性绝缘件，且该电性绝缘件令该电压检测件和该第一电流输出件彼此间电性绝缘。
6.根据权利要求1所述的探针结构，其特征在于，该第二电流输出件包含一组装部和多个锥形体，该工作面位于该组装部，该些锥形体皆固定于该工作面，且该第二电流输出件自每一该些锥形件远离该第一电流输出件的一尖端。
7.根据权利要求1所述的探针结构，其特征在于，更包含一套筒和一弹性件，该第一电流输出件具有一第一凸缘，该套筒具有一第二凸缘，该弹性件套设于该第一电流输出件，该套筒套设于该第一电流输出件，该弹性件的相对二端分别抵靠该第一凸缘和该第二凸缘，且该弹性件可推抵该第一电流输出件相对该套筒移动。
8.根据权利要求7所述的探针结构，其特征在于，该弹性件为一压缩弹簧。
9.根据权利要求7所述的探针结构，其特征在于，更包含套设于该套筒的一锁固件，该锁固件具有一螺纹，该套筒更具有匹配该螺纹的一螺牙，且该锁固件将该套筒固定于一电路板。
10.根据权利要求7所述的探针结构，其特征在于，该第二电流输出件的外径大于该套筒的外径，且该套筒的外径的该外径大于该第一电流输出件的外径。
CN201510500486.XA 2015-08-14 2015-08-14 探针结构 Pending CN106468725A (zh)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510500486.XA CN106468725A (zh) 2015-08-14 2015-08-14 探针结构
US15/195,794 US20170045552A1 (en) 2015-08-14 2016-06-28 Probe
JP2016133793A JP2017037064A (ja) 2015-08-14 2016-07-06 プローブ
KR1020160088173A KR20170020223A (ko) 2015-08-14 2016-07-12 탐침

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510500486.XA CN106468725A (zh) 2015-08-14 2015-08-14 探针结构

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN106468725A true CN106468725A (zh) 2017-03-01

Family

ID=57995673

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510500486.XA Pending CN106468725A (zh) 2015-08-14 2015-08-14 探针结构

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20170045552A1 (zh)
JP (1) JP2017037064A (zh)
KR (1) KR20170020223A (zh)
CN (1) CN106468725A (zh)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107741514A (zh) * 2017-11-27 2018-02-27 昆山康信达光电有限公司 一种齿中齿大功率电池探针主体
TWI621854B (zh) * 2017-07-13 2018-04-21 致茂電子股份有限公司 電流探針以及適用於此電流探針的治具
CN108931674A (zh) * 2018-10-15 2018-12-04 东莞市盈之宝电子科技有限公司 一种散热型探针
CN109596677A (zh) * 2018-11-02 2019-04-09 大族激光科技产业集团股份有限公司 一种质量检测装置、方法、系统及一体式探针组件
CN109713389A (zh) * 2018-12-28 2019-05-03 蜂巢能源科技有限公司 充电探针
CN109932535A (zh) * 2017-12-15 2019-06-25 致茂电子(苏州)有限公司 电流探针结构
CN112684223A (zh) * 2021-01-08 2021-04-20 东莞中探探针有限公司 同轴探针
CN112798823A (zh) * 2020-12-17 2021-05-14 中国电子科技集团公司第十三研究所 用于老化加电的cos夹具

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109254180A (zh) * 2017-07-13 2019-01-22 致茂电子(苏州)有限公司 电流探针以及适用于此电流探针的治具
TWI627411B (zh) * 2017-12-15 2018-06-21 致茂電子股份有限公司 電流探針結構
TWI627412B (zh) * 2017-12-27 2018-06-21 致茂電子股份有限公司 電流探針

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09204939A (ja) * 1996-01-26 1997-08-05 Asuka Denshi Kk 導電接触ピン
JP2001159641A (ja) * 1999-12-02 2001-06-12 Hitachi Cable Ltd 半導体プロセス評価装置
CN2924537Y (zh) * 2006-07-19 2007-07-18 连捷科技股份有限公司 压接式探针
US7372285B1 (en) * 2005-05-25 2008-05-13 National Semiconductor Corporation Socket-less test board and clamp for electrical testing of integrated circuits
JP2008111719A (ja) * 2006-10-30 2008-05-15 Sumitomo Electric Ind Ltd コンタクトプローブ
US20080272795A1 (en) * 2007-05-04 2008-11-06 Peter Janusch Prober Apparatus and Operating Method Therefor
CN201181302Y (zh) * 2008-03-18 2009-01-14 东莞中探探针有限公司 同轴隔离式大电流探针
CN102735888A (zh) * 2011-04-13 2012-10-17 致茂电子(苏州)有限公司 探针结构与探针制造方法
TW201250255A (en) * 2011-06-14 2012-12-16 Chroma Ate Inc Intense current probe structure
KR101468034B1 (ko) * 2014-09-26 2014-12-11 (주)갑진 전지 충방전용 핀
CN204287257U (zh) * 2014-12-11 2015-04-22 深圳市精实机电科技有限公司 一种多点接触式弹片型探针组件

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6079740U (ja) * 1983-11-08 1985-06-03 日本電気株式会社 集積回路装置用コンタクトピン
JPH0346462Y2 (zh) * 1984-12-20 1991-10-01
US5305250A (en) * 1989-05-05 1994-04-19 Board Of Trustees Operating Michigan State University Analog continuous-time MOS vector multiplier circuit and a programmable MOS realization for feedback neural networks
US7133726B1 (en) * 1997-03-28 2006-11-07 Applera Corporation Thermal cycler for PCR
JPH11174085A (ja) * 1997-12-12 1999-07-02 Sony Corp プローブ、部品検査装置及び部品検査方法
JP2001004659A (ja) * 1999-06-17 2001-01-12 Yokowo Co Ltd 測定用同軸型プローブ
US20030062914A1 (en) * 2001-09-28 2003-04-03 Cosmin Iorga Surface mating compliant contact assembly with fixed signal path length
JP5095204B2 (ja) * 2006-12-28 2012-12-12 東洋電子技研株式会社 プローブ収納ボードと、コンタクト機
JP2009002960A (ja) * 2008-08-08 2009-01-08 Advantest Corp 電子部品試験装置

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09204939A (ja) * 1996-01-26 1997-08-05 Asuka Denshi Kk 導電接触ピン
JP2001159641A (ja) * 1999-12-02 2001-06-12 Hitachi Cable Ltd 半導体プロセス評価装置
US7372285B1 (en) * 2005-05-25 2008-05-13 National Semiconductor Corporation Socket-less test board and clamp for electrical testing of integrated circuits
CN2924537Y (zh) * 2006-07-19 2007-07-18 连捷科技股份有限公司 压接式探针
JP2008111719A (ja) * 2006-10-30 2008-05-15 Sumitomo Electric Ind Ltd コンタクトプローブ
US20080272795A1 (en) * 2007-05-04 2008-11-06 Peter Janusch Prober Apparatus and Operating Method Therefor
CN201181302Y (zh) * 2008-03-18 2009-01-14 东莞中探探针有限公司 同轴隔离式大电流探针
CN102735888A (zh) * 2011-04-13 2012-10-17 致茂电子(苏州)有限公司 探针结构与探针制造方法
TW201250255A (en) * 2011-06-14 2012-12-16 Chroma Ate Inc Intense current probe structure
KR101468034B1 (ko) * 2014-09-26 2014-12-11 (주)갑진 전지 충방전용 핀
CN204287257U (zh) * 2014-12-11 2015-04-22 深圳市精实机电科技有限公司 一种多点接触式弹片型探针组件

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI621854B (zh) * 2017-07-13 2018-04-21 致茂電子股份有限公司 電流探針以及適用於此電流探針的治具
CN107741514A (zh) * 2017-11-27 2018-02-27 昆山康信达光电有限公司 一种齿中齿大功率电池探针主体
CN109932535A (zh) * 2017-12-15 2019-06-25 致茂电子(苏州)有限公司 电流探针结构
CN109932535B (zh) * 2017-12-15 2021-03-02 致茂电子(苏州)有限公司 电流探针结构
CN108931674A (zh) * 2018-10-15 2018-12-04 东莞市盈之宝电子科技有限公司 一种散热型探针
CN108931674B (zh) * 2018-10-15 2024-01-26 东莞市盈之宝电子科技有限公司 一种散热型探针
CN109596677A (zh) * 2018-11-02 2019-04-09 大族激光科技产业集团股份有限公司 一种质量检测装置、方法、系统及一体式探针组件
CN109713389A (zh) * 2018-12-28 2019-05-03 蜂巢能源科技有限公司 充电探针
CN112798823A (zh) * 2020-12-17 2021-05-14 中国电子科技集团公司第十三研究所 用于老化加电的cos夹具
CN112684223A (zh) * 2021-01-08 2021-04-20 东莞中探探针有限公司 同轴探针

Also Published As

Publication number Publication date
JP2017037064A (ja) 2017-02-16
KR20170020223A (ko) 2017-02-22
US20170045552A1 (en) 2017-02-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106468725A (zh) 探针结构
US9966676B2 (en) Kelvin connector adapter for storage battery
CN104166050B (zh) 电池接触点的监控装置和方法
US20090311919A1 (en) Clamp for Electrically Coupling to a Battery Contact
KR101681968B1 (ko) 이차 전지 평가 장치
KR101624130B1 (ko) 이차전지 충방전테스트프로브
CN105743160B (zh) 充电方法和充电装置
CN104124919A (zh) 棒状探针和太阳能电池单元用测量装置
US9028994B2 (en) Battery module including sensing member pressed by terminal connecting member
CN204287245U (zh) 一种电源纹波测试连接器
CN103134956A (zh) 一种用于测试软包电池电性能的夹具
JP2977189B2 (ja) 導電接触ピン
CN105990701A (zh) 大电流极柱型电池夹具
CN209280758U (zh) 一种用于电池测量的测试架
CN214427506U (zh) 一种pcb级电流传感器
CN204422580U (zh) 静电放电防护元件测试夹具
CN109932535A (zh) 电流探针结构
US20110151710A1 (en) Apparatus and method of zeroing a test instrument
CN102590567B (zh) 电压取样器
KR101389023B1 (ko) 배터리 팩의 셀 전압 측정장치 및 이를 위한 접속커넥터
CN204705677U (zh) 晶圆承载台
CN109164341A (zh) 漆包线漏电检测装置
CN105866693B (zh) 电池极耳焊点位置的选取方法
CN209690391U (zh) 车辆的充电转接装置及充电电量测试装置
CN202794418U (zh) 射频线测试器

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20170301