CN102735888A - 探针结构与探针制造方法 - Google Patents

Abstract

一种探针结构与探针制造方法，探针结构包含针轴、绝缘层与针头，针轴为导体材质所构成；绝缘层包覆该针轴；针头为导体材质所构成，并包覆该绝缘层，以凸设于该针轴的一端；此外，上述探针还可以包括电路板与热敏电阻，电路板设置于邻近该针头之处；热敏电阻设置于该电路板，并通过该电路板使该热敏电阻的二电极接点分别电性连结于该针轴与该针头；本发明还揭露此探针的制造方法。

Description

探针结构与探针制造方法

技术领域

本发明涉及一种探针结构与探针制造方法，尤其涉及一种可加设热敏电阻的探针结构与其制造方法。

背景技术

许多电子产品以及电子元件在使用时都会有温升的现象，温度升高除了可能造成使用效能降低，严重时还可能产生安全性的问题，例如锂钴电池就是一个非常典型的例子。

因此，这类电子产品与电子元件在进行电性测试时，通常也必须对待测物的温度同步做测量，如图1所示，图1为现有技术于电性测试时检测温度的系统示意图。要对待测物100做电性测试时，是利用探针21接触待测物100的正电极，一般来说，探针21是通过针套211连结于电路板22，且探针21本身是为单纯的金属探针；同时，为了构成电性测试的回路，还必须以固定于电路板24上的探针23接触待测物100的负电极；除此之外，现有技术是通过设置热敏电阻25于电路板22之上，以测量待测物100周边温度的变化。

然而，热敏电阻25的设置位置距离待测物100太远，所测量到的温度也就与待测物100的实际温度有相当大的差距，请参照图2，图2为待测物温度与热敏电阻所测量的温度的时间-温度示意图。曲线S1是为待测物100的实际温度变化，曲线S2是为热敏电阻25所测量到的环境温度变化，可以清楚发现，当待测物100处于工作状态时，温度会快速升高，并于时间T1时就达到温度H1，然而此时热敏电阻25由于距离待测物100过远，且绝大部分的热度是通过空气传导，因此仅能测量到较低的温度H2，热敏电阻25若要测量到温度H1，则必须等到许久之后的时间T2。

由于热敏电阻25设置电路板25之上，使得热敏电阻25所测量到的温度与待测物100的实际温度有相当大的差距，这样的情况可能会导致待测物100已经脱离安全的工作温度范围，然而测试者却无法得知，并因此产生危险。

发明内容

本发明所欲解决的技术问题与目的：

缘此，本发明的主要目的在于提供可加设热敏电阻的探针结构与其制造方法，以使热敏电阻能够设置于邻近待测物之处，且待测物所产生的热度能够同时通过探针与空气传导至热敏电阻，使热敏电阻能够还迅速且准确的测量到待测物的温度。

本发明解决问题的技术手段：

一种探针结构，包含针轴、绝缘层与针头，针轴为导体材质所构成；绝缘层包覆该针轴；针头为导体材质所构成，并包覆该绝缘层，以凸设于该针轴的一端。

于本发明的一较佳实施例中，探针结构还包括电路板与热敏电阻，电路板设置于邻近该针头之处；热敏电阻设置于该电路板，并通过该电路板使该热敏电阻的二电极接点分别电性连结于该针轴与该针头。

本发明还揭露一种探针的制造方法，该制造方法包括以下步骤：制备一导体材质的针轴；将一绝缘层套设于该针轴；将一针头套设于该绝缘层，藉以使该针头凸设于该针轴的一端。

于本发明的一较佳实施例中，该针轴的侧壁具有一环状凹槽，且该绝缘层与该针头均包覆于该环状凹槽之外，且该制造方法还包括对该针头相对于该环状凹槽的位置进行一滚压工艺。

本发明对照现有技术的功效：

相较于现有于电性测试同时测量待测物温度的方法，本发明的探针结构与制造方法通过改变探针的结构，能够将热敏电阻设置于邻近待测物之处，且待测物所产生的热度能够同时通过探针与空气传导至热敏电阻，使热敏电阻还迅速且准确的测量到待测物的温度，以维护电性测试时的安全性。

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

附图说明

图1为现有技术于电性测试时检测温度的系统示意图；

图2为待测物温度与热敏电阻所测量的温度的时间-温度示意图；

图3为本发明的探针结构剖视示意图；

图4为本发明的探针实际使用示意图；

图5为未经滚压工艺的探针；以及

图6为经过滚压工艺后的探针。

其中，附图标记

待测物100

探针21

针套211

电路板22

探针23

电路板24

热敏电阻25

针轴31

环状凹槽311

绝缘层32

针头33

环状凹槽331

热敏电阻34

焊接点341

焊接点342

电路板35

针套36

弹性元件37

电路板41

探针42

电路板43

曲线S1

曲线S2

时间T1

时间T2

温度H1

温度H2

外力F

具体实施方式

本发明关于一种探针结构与探针制造方法，尤指一种可加设热敏电阻的探针结构与其制造方法。以下兹列举一较佳实施例以说明本发明，然本领域技术人员均知此仅为一举例，而并非用以限定发明本身。有关此较佳实施例的内容详述如下。

请参阅图3与图4，图3为本发明的探针结构剖视示意图，图4为本发明的探针实际使用示意图。本发明的探针包含针轴31、绝缘层32与针头33，针轴31为导体材质所构成；绝缘层32包覆该针轴31；针头33为导体材质所构成，并包覆该绝缘层32，以凸设于该针轴31的一端；其中，该绝缘层32可以是由铁弗龙与塑料等绝缘材质所组成。

在使用时，探针可以连结热敏电阻34，热敏电阻34具有二电极接点，且该二电极接点分别电性连结于该针轴31与该针头33，而为了让所制造的探针能够具有统一的标准，于本发明的一较佳实施例中，探针还可以包括电路板35，其中电路板35设置于邻近该针头33之处，热敏电阻34则设置于该电路板35，并通过该电路板35使该热敏电阻34的二电极接点分别电性连结于该针轴31与该针头33；由于电路板35在制造过程中能够精准的利用焊接点341与焊接点342焊接于针轴31与针头33之上，因此能够使热敏电阻34与针头33的距离保持在一定的范围内。

此外，探针还可以包括针套36与弹性元件37，针套36为一中空套管，以套设于该针轴31相对于该针头33的一端；弹性元件37设置于该针套36内部，以分别抵接于该针套36与该针轴31。

在使用时，针套36固定于电路板41，针头33电性接触待测物100的正电极，并且利用固定于电路板43的一般的探针42接触待测物100的负电极，如此一来热敏电阻34即可形成回路，且即使待测物100的形状有所改变，弹性元件37均可供针轴31做伸缩的活动，热敏电阻34则是与针轴31连带运动，因此与待测物100的距离并不会有所改变。

综合以上所述，相较于现有于电性测试同时测量待测物100温度的方法，本发明的探针结构与制造方法通过改变探针的结构，能够将热敏电阻34设置于邻近待测物100之处，且待测物100所产生的热度能够同时通过探针与空气传导至热敏电阻34，使热敏电阻34还迅速且准确的测量到待测物100的温度，以维护电性测试时的安全性。

本发明还揭露一种探针的制造方法，此制造方法包括以下步骤：制备一导体材质的针轴31；将一绝缘层32套设于该针轴31；以及将一针头33套设于该绝缘层32，藉以使该针头33凸设于该针轴31的一端。

请参照图5与图6，图5为未经滚压工艺的探针，图6为经过滚压工艺后的探针。在本发明的较佳实施例中，该针轴31的侧壁还可以具有一环状凹槽311，且该绝缘层32与该针头33均包覆于该环状凹槽311之外，且该制造方法还可以包括对该针头33相对于该环状凹槽311的位置施加外力F以进行一滚压工艺，经过滚压工艺的探针，针头33的外观即可观察到环状凹槽331。

当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (9)

1.一种探针结构，其特征在于，包含：

一针轴，为导体材质所构成；

一绝缘层，包覆该针轴；以及

一针头，为导体材质所构成，并包覆该绝缘层，以凸设于该针轴的一端。

2.根据权利要求1所述的探针结构，其特征在于，该绝缘层由一铁弗龙与一塑料中的至少之一所组成。

3.根据权利要求1所述的探针结构，其特征在于，还包括一热敏电阻，该热敏电阻具有二电极接点，且该二电极接点分别电性连结于该针轴与该针头。

4.根据权利要求1所述的探针结构，其特征在于，还包括：

一电路板，设置于邻近该针头之处；以及

一热敏电阻，设置于该电路板，并通过该电路板使该热敏电阻的二电极接点分别电性连结于该针轴与该针头。

5.根据权利要求1所述的探针结构，其特征在于，还包括：

一针套，为一中空套管，以套设于该针轴相对于该针头的一端；以及

一弹性元件，设置于该针套内部，以分别抵接于该针套与该针轴。

6.根据权利要求1所述的探针结构，其特征在于，该弹性元件为一弹簧。

7.一种探针的制造方法，其特征在于，包括以下步骤：

制备一导体材质的针轴；

将一绝缘层套设于该针轴；以及

将一针头套设于该绝缘层，藉以使该针头凸设于该针轴的一端。

8.根据权利要求7所述的探针的制造方法，其特征在于，该针轴的侧壁具有一环状凹槽，且该绝缘层与该针头均包覆于该环状凹槽之外。

9.根据权利要求8所述的探针的制造方法，其特征在于，还包括对该针头相对于该环状凹槽的位置进行一滚压工艺。

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