JPS62271222A - 磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents
磁気記録媒体の製造方法Info
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- JPS62271222A JPS62271222A JP11358286A JP11358286A JPS62271222A JP S62271222 A JPS62271222 A JP S62271222A JP 11358286 A JP11358286 A JP 11358286A JP 11358286 A JP11358286 A JP 11358286A JP S62271222 A JPS62271222 A JP S62271222A
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Description
【発明の詳細な説明】
3、発明の詳細な説明
(産業上の利用分野)
本発明は、耐久性、耐環境性に優れた高密度記録用の薄
膜堆積型磁気記録媒体の製造方法に関する。
膜堆積型磁気記録媒体の製造方法に関する。
(従来の技術)
従来より、ポリエステル等のプラスチックフィルムから
なる非磁性基体のFに、強磁性微粒Y−を高分子結合剤
中に均一に分散せしめた磁性層を打する塗Il型磁気記
録媒体が広く用いられている。
なる非磁性基体のFに、強磁性微粒Y−を高分子結合剤
中に均一に分散せしめた磁性層を打する塗Il型磁気記
録媒体が広く用いられている。
また近年では金属等の薄膜を蒸着、スパッタリング等の
方法で磁性層として非磁性基体トに形成せしめた強磁性
薄膜型磁気記録媒体の開発か進められており、 一部実
用化しているものもある。
方法で磁性層として非磁性基体トに形成せしめた強磁性
薄膜型磁気記録媒体の開発か進められており、 一部実
用化しているものもある。
磁性層の磁気特性、耐食性、耐り耗性、玲源係数、形状
(カール、変形)は磁気記録媒体の+L能を左右する要
素であり、こわらの前記付能恕素は磁性層の材料や製法
、基体、保護潤滑剤(あるいは層)に依存するものであ
る。磁性層材料については磁束密度か大きく、薄望化可
能な強磁性薄膜型磁気記録媒体が従来の塗!Ef型磁気
記録媒体に勝っている。
(カール、変形)は磁気記録媒体の+L能を左右する要
素であり、こわらの前記付能恕素は磁性層の材料や製法
、基体、保護潤滑剤(あるいは層)に依存するものであ
る。磁性層材料については磁束密度か大きく、薄望化可
能な強磁性薄膜型磁気記録媒体が従来の塗!Ef型磁気
記録媒体に勝っている。
しかしながら磁性層をなす強磁性薄膜型の蒸着テープの
代表であるGo−Ni合金膜は、耐食性と耐久性が実用
トド分ではない。すなわち、Co−Ni合金自体が耐食
合金でなく、かつ特性向上の目的で斜め蒸着で形成する
ために密度が小さく、酸化しやすい状態となっている。
代表であるGo−Ni合金膜は、耐食性と耐久性が実用
トド分ではない。すなわち、Co−Ni合金自体が耐食
合金でなく、かつ特性向上の目的で斜め蒸着で形成する
ために密度が小さく、酸化しやすい状態となっている。
そのためGo−Ni合金膜の膜表面を酸化処理する方法
(特開昭53−85403号他)、Ga−Ni合金膜の
ヒに酸化物や窒化物の保護層を設ける方法(特開昭57
−167134号他)、GGmN1合金膜のトに防錆剤
を塗布する方法(特開昭57−152518号他)等の
耐食方法が検討されているが、Go−Ni合金11!2
の膜厚そのものが薄くかつ密度が低いため、[−分な耐
食性が保証されないという問題点があった。又、Go−
Ni合金膜の上に脂肪酸金属塩のm分子膜から成る保護
層をラングミュア・プロジェット法で形成する方法(特
開昭61−48119号)が知られており、係る方法に
よれば耐候性、耐久性、走行性が改善される。然し乍ら
高度の電磁変換特性を保つために保護層を薄くすれば、
その耐久性、走行性はト分であるとはいい難く、また保
護層を厚くすれば、短波長を用いた高密度磁気記録がで
きないという問題点があった。
(特開昭53−85403号他)、Ga−Ni合金膜の
ヒに酸化物や窒化物の保護層を設ける方法(特開昭57
−167134号他)、GGmN1合金膜のトに防錆剤
を塗布する方法(特開昭57−152518号他)等の
耐食方法が検討されているが、Go−Ni合金11!2
の膜厚そのものが薄くかつ密度が低いため、[−分な耐
食性が保証されないという問題点があった。又、Go−
Ni合金膜の上に脂肪酸金属塩のm分子膜から成る保護
層をラングミュア・プロジェット法で形成する方法(特
開昭61−48119号)が知られており、係る方法に
よれば耐候性、耐久性、走行性が改善される。然し乍ら
高度の電磁変換特性を保つために保護層を薄くすれば、
その耐久性、走行性はト分であるとはいい難く、また保
護層を厚くすれば、短波長を用いた高密度磁気記録がで
きないという問題点があった。
本発明は上記従来技術の問題点に鑑み成されたものであ
りその目的は、優れた記録再生特性を有するとともに耐
食性、耐久性においても実用的にト分な性能を存する磁
気記録媒体を提供することにある。
りその目的は、優れた記録再生特性を有するとともに耐
食性、耐久性においても実用的にト分な性能を存する磁
気記録媒体を提供することにある。
本発明の上記目的は、基体トに、磁性体層を積層し、次
いで分子内に親水性部位と疎水性部位とを有する脂肪酸
のm分子膜又はその累積膜を含む有機保護層を積層し、
更に得られた積層物に熱処理及び/又は真空処理を施す
磁気記録媒体の製造方法によって達成される。
いで分子内に親水性部位と疎水性部位とを有する脂肪酸
のm分子膜又はその累積膜を含む有機保護層を積層し、
更に得られた積層物に熱処理及び/又は真空処理を施す
磁気記録媒体の製造方法によって達成される。
第1図は本発明の方法により製造される磁気記録媒体の
好ましい構成を示す模式図で、1は基体、2は強磁性体
層、3は丁地処理の役割を果たす中間層、4は有機保護
層である。
好ましい構成を示す模式図で、1は基体、2は強磁性体
層、3は丁地処理の役割を果たす中間層、4は有機保護
層である。
基体1をなす材料としては、ガラス、アルミニウム、表
面酸化処理アルミニウム等の外に、高分子支持基材とし
てポリエステル、セルロース、アクリル、ポリアミド、
ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリオレフィン、ポリ
ポリフロロオレフィン、ポリ塩化ビニル、ポリ酢酸ビニ
ル、塩化ビニル/酢酸ビニルコポリマー、ポリ塩化ビニ
リデン、ポリカーボネート、フェノール樹脂、ポリエー
テルサルフォン、ポリエーテルエーテルケトン、ポリア
セタール、ポリフェニレンオキサイド、ポリフェニレン
サルファイド等か挙げられる。
面酸化処理アルミニウム等の外に、高分子支持基材とし
てポリエステル、セルロース、アクリル、ポリアミド、
ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリオレフィン、ポリ
ポリフロロオレフィン、ポリ塩化ビニル、ポリ酢酸ビニ
ル、塩化ビニル/酢酸ビニルコポリマー、ポリ塩化ビニ
リデン、ポリカーボネート、フェノール樹脂、ポリエー
テルサルフォン、ポリエーテルエーテルケトン、ポリア
セタール、ポリフェニレンオキサイド、ポリフェニレン
サルファイド等か挙げられる。
強磁性体層2をなす材料としては、Fe、 Go、 N
iをJE体とする合金、あるいはその酸化物、窒化物等
が使用可能であるが、高密度記録特性に優れまた耐食性
にも優れるGo−(r合金あるいはGo−にr金合金主
成分とする強磁性膜が好ましい。
iをJE体とする合金、あるいはその酸化物、窒化物等
が使用可能であるが、高密度記録特性に優れまた耐食性
にも優れるGo−(r合金あるいはGo−にr金合金主
成分とする強磁性膜が好ましい。
電磁変換特性の優ねた磁気記録媒体を得るためには、強
磁性体層2の保6に!1.力の大きいことが望ましい。
磁性体層2の保6に!1.力の大きいことが望ましい。
強電性体層2が(:o −Crt合金膜の場合はその保
bd方向りのためにGo−Cr合金膜の形成温度を高く
することが好ましく (100℃〜300℃)、その場
合、基体1としては前述の材料のうち耐熱性を有するポ
リアミド、ポリイミド樹脂、特に芳6族ポリイミド樹脂
を使用することが好ましい。
bd方向りのためにGo−Cr合金膜の形成温度を高く
することが好ましく (100℃〜300℃)、その場
合、基体1としては前述の材料のうち耐熱性を有するポ
リアミド、ポリイミド樹脂、特に芳6族ポリイミド樹脂
を使用することが好ましい。
また本発明によって得られる磁気記録媒体であるフロッ
ピーディスク、磁気テープ等はカールが発生しないこと
が走行性、ヘッドタッチの点から重要である。カールの
ない磁気記録媒体を作成するためには、基体1の材料と
してGo−1:r合金膜との熱応力、成膜時に発生する
応力を打ち消す様な熱膨張の値を有するものを選ぶ必要
かある。
ピーディスク、磁気テープ等はカールが発生しないこと
が走行性、ヘッドタッチの点から重要である。カールの
ない磁気記録媒体を作成するためには、基体1の材料と
してGo−1:r合金膜との熱応力、成膜時に発生する
応力を打ち消す様な熱膨張の値を有するものを選ぶ必要
かある。
以下、基体1として芳香族ポリイミド)模を用いる場合
につき説明する。
につき説明する。
芳香族ポリイミド膜(フィルム)としては、ジアミン成
分としてバラフェニレンシアミン(ppo)をjfL独
で使用するか、或いはPPDとジアミノジフェニルエー
テル(Dへ〇E)とを併用し、また、テトラカルボン酸
成分として、ビフェニルテトラカルホン酸二無水物(B
PD八)とどロメリット酸−無氷物(PMD八)とを併
用して、共重合させて得らiた方香族ポリアミック酸の
溶液を、製膜し、次いでイミド化して得られた芳香族ポ
リイミド膜(フィルム)が好ましく、その厚みが4間〜
+00.のものが記録媒体用として有用である。
分としてバラフェニレンシアミン(ppo)をjfL独
で使用するか、或いはPPDとジアミノジフェニルエー
テル(Dへ〇E)とを併用し、また、テトラカルボン酸
成分として、ビフェニルテトラカルホン酸二無水物(B
PD八)とどロメリット酸−無氷物(PMD八)とを併
用して、共重合させて得らiた方香族ポリアミック酸の
溶液を、製膜し、次いでイミド化して得られた芳香族ポ
リイミド膜(フィルム)が好ましく、その厚みが4間〜
+00.のものが記録媒体用として有用である。
この芳香族ポリイミドフィルムは、前述のようにPII
D、口PDAおよびPMDAの3成分あるいはPPD
。
D、口PDAおよびPMDAの3成分あるいはPPD
。
DADE、BPD^およびPMOAの4成分を共重合さ
せて形成されたものなので、耐熱性、引張弾性に優れて
いるばかりでなく、画成分を構成する各成分の使用量比
率を:J8整することによって、得られる芳香族ポリイ
ミド膜の熱膨張係数を強磁性材料の熱膨・1艮係数に大
略一致するような値にすることができ、また、芳香族ポ
リイミド膜の引張弾性定数を用途に応じて腰の強さ等の
性能を好適にするように変えることができる。
せて形成されたものなので、耐熱性、引張弾性に優れて
いるばかりでなく、画成分を構成する各成分の使用量比
率を:J8整することによって、得られる芳香族ポリイ
ミド膜の熱膨張係数を強磁性材料の熱膨・1艮係数に大
略一致するような値にすることができ、また、芳香族ポ
リイミド膜の引張弾性定数を用途に応じて腰の強さ等の
性能を好適にするように変えることができる。
この芳香族ポリイミドフィルムは、その熱膨張係数が約
1.Ox 10’ 〜3.Ox Io−” cm/cm
/”Cの範囲であり、引張弾性定数が約300〜120
0kg/mm2、特に325〜700kg/mm2の範
囲であって、更に二次転移温度が約300℃以上、特に
310℃以Fであることが好ましく、ざらにト述の性能
に加えて、熱分解開始温度が約400℃以上、特に45
0℃以上であって、約250℃の温度付近での連続使用
に耐えつるものであり、また、引張試験における引張強
度が約20kg/■2、以上、特に約25kg/mm’
、以上であり、しかも破断点の伸び率が約30%以上、
特に40%以Fであるものが、磁気記録媒体の製造の際
に優れた耐熱性を示し、高温での磁性層の形成が可能で
あると共に、カールの発生を防止でき、さらに巻きムラ
、走行性、およびヘッドタッチの優れた磁気記録媒体と
なるので最適である。
1.Ox 10’ 〜3.Ox Io−” cm/cm
/”Cの範囲であり、引張弾性定数が約300〜120
0kg/mm2、特に325〜700kg/mm2の範
囲であって、更に二次転移温度が約300℃以上、特に
310℃以Fであることが好ましく、ざらにト述の性能
に加えて、熱分解開始温度が約400℃以上、特に45
0℃以上であって、約250℃の温度付近での連続使用
に耐えつるものであり、また、引張試験における引張強
度が約20kg/■2、以上、特に約25kg/mm’
、以上であり、しかも破断点の伸び率が約30%以上、
特に40%以Fであるものが、磁気記録媒体の製造の際
に優れた耐熱性を示し、高温での磁性層の形成が可能で
あると共に、カールの発生を防止でき、さらに巻きムラ
、走行性、およびヘッドタッチの優れた磁気記録媒体と
なるので最適である。
芳香族ポリイミドを得るための芳香族ポリアミック酸は
、磁気記録媒体の機械的及び熱的性質などを上述の様に
好適にするために、その生成に使用されるジアミン成分
として、全ジアミン成分に対して約40〜95モル%、
特に45〜90モル%範囲の使用量割合のPPDと、全
ジアミン成分に対して約5〜60モル%、特に10〜5
5モル%の使用量割合のDADEとの2成分からなるも
のが好ましい。また、芳香族ポリアミック酸を生成する
ためのテトラカルボン酸成分は、全テトラカルボン酸成
分に対して約10〜90モル%、特に15〜85モル%
の使用量割合のBPD^と、全テトラカルボン酸成分に
対して約10〜90モル%、特に15〜85モル%の使
用量割合のPMDAとからなることが好ましい。
、磁気記録媒体の機械的及び熱的性質などを上述の様に
好適にするために、その生成に使用されるジアミン成分
として、全ジアミン成分に対して約40〜95モル%、
特に45〜90モル%範囲の使用量割合のPPDと、全
ジアミン成分に対して約5〜60モル%、特に10〜5
5モル%の使用量割合のDADEとの2成分からなるも
のが好ましい。また、芳香族ポリアミック酸を生成する
ためのテトラカルボン酸成分は、全テトラカルボン酸成
分に対して約10〜90モル%、特に15〜85モル%
の使用量割合のBPD^と、全テトラカルボン酸成分に
対して約10〜90モル%、特に15〜85モル%の使
用量割合のPMDAとからなることが好ましい。
さらにこの様な構成成分より成るポリイミドフィルムは
、フィルム表面の凹凸を制御するために、必要に応して
カーボンブラック、グラファイト、シリカ微粉末、マグ
ネシア微粉末、酸化チタン、炭酸カルシウム、その他の
充填剤を混錬せしめることも可能である。しかし本発明
によって製造される磁気記録媒体に優れた高密度記録特
性を付1丁するためには、JIS B 06旧における
基体の表面粗さの最大高さくRmax)か0.05.以
下であることが望ましい。
、フィルム表面の凹凸を制御するために、必要に応して
カーボンブラック、グラファイト、シリカ微粉末、マグ
ネシア微粉末、酸化チタン、炭酸カルシウム、その他の
充填剤を混錬せしめることも可能である。しかし本発明
によって製造される磁気記録媒体に優れた高密度記録特
性を付1丁するためには、JIS B 06旧における
基体の表面粗さの最大高さくRmax)か0.05.以
下であることが望ましい。
以上に述べてきた、芳香族ポリイミド膜の上にGo−(
、r合金からなる磁性層を形成するには、例えばスパッ
タリング法、電子ビーム連続蒸着法なとの公知の方法か
使用できるが、そわらの方法で前記芳香族ポリイミド膜
の表面に磁性層を形成する際、膜の温度(成膜温度)を
約250°CにまでLげることができるので、優れた性
能の磁性層が容易に形成されつるのである。
、r合金からなる磁性層を形成するには、例えばスパッ
タリング法、電子ビーム連続蒸着法なとの公知の方法か
使用できるが、そわらの方法で前記芳香族ポリイミド膜
の表面に磁性層を形成する際、膜の温度(成膜温度)を
約250°CにまでLげることができるので、優れた性
能の磁性層が容易に形成されつるのである。
Go−Cr合金が磁気記録層として優れる点はまず膜面
に垂直に磁気異方性を有することにより東向磁化膜とな
り、短波長記録で反磁界の影響を受けないことである。
に垂直に磁気異方性を有することにより東向磁化膜とな
り、短波長記録で反磁界の影響を受けないことである。
すなわち磁性層を極端に薄くする必要がないため、高出
力を得るために1分なI漠Jt、lを持たすことができ
る。
力を得るために1分なI漠Jt、lを持たすことができ
る。
このCo−(:r合金からなる磁性層2の厚みは01μ
〜2.0u+の範囲が好ましく、基体1に直接形成させ
る以外にも、磁性層を形成するに先つ。
〜2.0u+の範囲が好ましく、基体1に直接形成させ
る以外にも、磁性層を形成するに先つ。
ち、接着性向ト、磁気特性向ト、その他の目的で必要に
応じてコロナ放電処理その他の前処理をb’exしたり
、 八R、Ti、 (:r、 Ge、 5i02.へR
20j等の非磁性膜、あるいはFe−Ni合金1摸、ま
たはGo−7,r。
応じてコロナ放電処理その他の前処理をb’exしたり
、 八R、Ti、 (:r、 Ge、 5i02.へR
20j等の非磁性膜、あるいはFe−Ni合金1摸、ま
たはGo−7,r。
i’c−P−C,Fe−Go−5i−B等の非晶質膜で
代表される高速@生膜を介して設けてもかまわない。
代表される高速@生膜を介して設けてもかまわない。
これらCo−Cr合金強磁性薄1漠は、必要に応して〕
、(体1の両面に形成1−ることもてきる。
、(体1の両面に形成1−ることもてきる。
1−8記のような強磁性体層2の表面には、後述の有機
保護層4との密着性をよくするために中間層か設けられ
る。
保護層4との密着性をよくするために中間層か設けられ
る。
中間層3としては、特に酸化コバルトよりなる層か摺動
特性」二からも好ましい。酸化コバルト層は、所定圧の
酸素を含む不活性ガス中でのスパッタリング法、希薄酸
素ドでの真空蒸着法、もしくはイオンブレーティング法
等の物理蒸着法、あるいはプラズマ酸化処理によって、
Go−Cr合金強磁性体層2の表面に直接堆積形成ある
いはF地として酸化層形成をしたトに形成している。中
間層3の厚みは、Go−Cr系合金磁性層の持つ高密度
記録特性を有効に利用するためにはスペーシングロス減
少のため薄い!1tか望ましく中間層3の厚みは30〜
300人が好ましく、50〜150人が特に好ましい。
特性」二からも好ましい。酸化コバルト層は、所定圧の
酸素を含む不活性ガス中でのスパッタリング法、希薄酸
素ドでの真空蒸着法、もしくはイオンブレーティング法
等の物理蒸着法、あるいはプラズマ酸化処理によって、
Go−Cr合金強磁性体層2の表面に直接堆積形成ある
いはF地として酸化層形成をしたトに形成している。中
間層3の厚みは、Go−Cr系合金磁性層の持つ高密度
記録特性を有効に利用するためにはスペーシングロス減
少のため薄い!1tか望ましく中間層3の厚みは30〜
300人が好ましく、50〜150人が特に好ましい。
ただし中間層3と有機保護層4を合わせた厚みを好まし
くは250Å以下以上り好ましくは120Å以下以上さ
えることが適当である。
くは250Å以下以上り好ましくは120Å以下以上さ
えることが適当である。
有機保護層4は、分子−内に親水性部位と疎水性部位と
を併行する脂肪酸く以1、両親媒性脂肪酸)の単分子膜
又はその累積膜からなる層てあり、その形成にあたって
はそのような単分子膜又はその累積膜を50〜90℃で
熱処理、或いは室温〜70℃下で真空処理を施したもの
が用いられる。
を併行する脂肪酸く以1、両親媒性脂肪酸)の単分子膜
又はその累積膜からなる層てあり、その形成にあたって
はそのような単分子膜又はその累積膜を50〜90℃で
熱処理、或いは室温〜70℃下で真空処理を施したもの
が用いられる。
有機保護層4を構成する両親媒性脂肪酸の一例としては
以下に示す構造を有する化合物を挙げることができる。
以下に示す構造を有する化合物を挙げることができる。
■ (:113(C1l、)k−GOON■ II
(CH2)TIl −CEC−CEIIニー(CH2)
、−C0OH■ CH2= (、H(CH2) k
C0OH上記化合物に関してkは8〜28の整数であり
、好ましくは16〜20である。又、m、nは各々 0
〜28の整数であり、かつ、mとnの和が12〜35の
整数である。
(CH2)TIl −CEC−CEIIニー(CH2)
、−C0OH■ CH2= (、H(CH2) k
C0OH上記化合物に関してkは8〜28の整数であり
、好ましくは16〜20である。又、m、nは各々 0
〜28の整数であり、かつ、mとnの和が12〜35の
整数である。
上記の両親媒性脂肪酸の単分子膜又は単分子累積膜を作
成する方法としては、例えば以下に説明するようなI
、 Langmu i rらの開発したラングミュア・
プロジェット法く以下LB法)か使用できる。
成する方法としては、例えば以下に説明するようなI
、 Langmu i rらの開発したラングミュア・
プロジェット法く以下LB法)か使用できる。
すなわち、まず目的とする両親媒性脂肪酸をクロロホル
ム等の溶剤に溶解させる。次に、第2図(a) 、 (
b)に示す装置を用いて、両親媒性脂肪酸の溶液を水相
14上に展開させて両親媒性脂肪酸を膜状に形成させる
。
ム等の溶剤に溶解させる。次に、第2図(a) 、 (
b)に示す装置を用いて、両親媒性脂肪酸の溶液を水相
14上に展開させて両親媒性脂肪酸を膜状に形成させる
。
次にこの展開層が水相りを自由に拡散して広かりすきな
いように仕切板(または浮J′)7を設けて展開面積を
制限して膜物質の集合状、聾を一制御しその集合状態に
比例した表面圧を得る。この仕切板7を動かし展開面積
を縮小して膜物質の集合状態をM制御し、表面圧を徐々
にF昇させ、累積膜の製造に適する表面圧を設定するこ
とか出来る。この表面圧を維持しなから静かに清浄な担
体15を屯直にトドさせることにより両親媒性脂肪酸の
9分を膜か担体I5Fに移しとられる。ここでいう担体
とは、既述の磁性体薄膜を示す。この様にして両親媒性
脂肪酸の中1分子膜を中間層3[に形成することができ
る。
いように仕切板(または浮J′)7を設けて展開面積を
制限して膜物質の集合状、聾を一制御しその集合状態に
比例した表面圧を得る。この仕切板7を動かし展開面積
を縮小して膜物質の集合状態をM制御し、表面圧を徐々
にF昇させ、累積膜の製造に適する表面圧を設定するこ
とか出来る。この表面圧を維持しなから静かに清浄な担
体15を屯直にトドさせることにより両親媒性脂肪酸の
9分を膜か担体I5Fに移しとられる。ここでいう担体
とは、既述の磁性体薄膜を示す。この様にして両親媒性
脂肪酸の中1分子膜を中間層3[に形成することができ
る。
両親媒性脂肪酸の中−分′i−膜はこのようにして製造
されるか首記の操作を繰り返す′1′Sにより所望の累
!+’!数の両親媒性脂肪酸の甲1分子累積膜を形成す
ることかできる。
されるか首記の操作を繰り返す′1′Sにより所望の累
!+’!数の両親媒性脂肪酸の甲1分子累積膜を形成す
ることかできる。
両親媒性脂肪酸の重分FrFAを担体上に移すには上述
した取直浸漬法の他、水平付着法、回転円筒法などの方
法も使用できる。
した取直浸漬法の他、水平付着法、回転円筒法などの方
法も使用できる。
水モ付着法は担体を水面に水平に接触させて移しとる方
法で、回転円筒法は円筒形の担体を水面計を回転させて
担体表面に移しとる一方法である。
法で、回転円筒法は円筒形の担体を水面計を回転させて
担体表面に移しとる一方法である。
面述した垂直浸漬法では、表面が親水性である担体を水
面を横切る方向に水中から引きl二げると両親媒性脂肪
酸の親木基が担体側に向いたlit分F +1桑か担体
Fに形成される。面述のように担体をトドさせると、各
工程ごとに一枚ずつ両親媒性脂肪酸のm分子−1151
!が積み重なっていく。製膜分子−の向きか引上工程と
浸漬工程で逆になるのて、この方法によると各層間は両
親媒性脂肪酸の親水基と疎水シ1(が向かいあうY型膜
が形成される。それに対し水下付着法は、両親媒性脂肪
酸の疎水基が担体側に向いたri′I、分子」qが担体
ヒに形成される。この方法では、累積しても、製1漠分
子の向きの交代はなく全ての層において、疎水基が担体
側に向いた×11Qか形成される。反対に全ての層にお
いて親水J、t:が担体側に向いた累積+1QはZ型膜
と呼ばれる。
面を横切る方向に水中から引きl二げると両親媒性脂肪
酸の親木基が担体側に向いたlit分F +1桑か担体
Fに形成される。面述のように担体をトドさせると、各
工程ごとに一枚ずつ両親媒性脂肪酸のm分子−1151
!が積み重なっていく。製膜分子−の向きか引上工程と
浸漬工程で逆になるのて、この方法によると各層間は両
親媒性脂肪酸の親水基と疎水シ1(が向かいあうY型膜
が形成される。それに対し水下付着法は、両親媒性脂肪
酸の疎水基が担体側に向いたri′I、分子」qが担体
ヒに形成される。この方法では、累積しても、製1漠分
子の向きの交代はなく全ての層において、疎水基が担体
側に向いた×11Qか形成される。反対に全ての層にお
いて親水J、t:が担体側に向いた累積+1QはZ型膜
と呼ばれる。
単分子層を担体トに移す方法は、これらに限定されるわ
けではなく、大面禎担体を用いるときには担体ロールか
ら水相中に担体を押し出していく方法などもとり得る。
けではなく、大面禎担体を用いるときには担体ロールか
ら水相中に担体を押し出していく方法などもとり得る。
また、萌述した親木基、疎水基の担体への向きは原則で
あり、担体の表面処理等によって変えることもできる。
あり、担体の表面処理等によって変えることもできる。
ト述の方法に囚って中間層3上に形成される脂肪酸のm
分そ膜及び帖分子累禎膜は高度の秩序性を有する超薄膜
(m分子一層当りの厚み:15〜35人)であり、これ
らのl1fiで保護層を形成した場合には、電磁変換特
性に与える影ツを著しく小さなものにすることが可能と
なる。
分そ膜及び帖分子累禎膜は高度の秩序性を有する超薄膜
(m分子一層当りの厚み:15〜35人)であり、これ
らのl1fiで保護層を形成した場合には、電磁変換特
性に与える影ツを著しく小さなものにすることが可能と
なる。
保護層のJ7ざは15〜100人の範囲が好適である。
この際、係る有機保護層の下地たる中間層(特にコバル
ト層)3は(:o−Cr 磁性層2に比べて親水性が高
く、従って、有機保護層を(:、o−Cr &fi性層
Fに直接形成する場合と比較してより強固な密着性を保
つことができる。
ト層)3は(:o−Cr 磁性層2に比べて親水性が高
く、従って、有機保護層を(:、o−Cr &fi性層
Fに直接形成する場合と比較してより強固な密着性を保
つことができる。
係る保護層形成を行なった磁性薄膜は、熱処理及び又は
真空処理に付すことにより、中間層3と保護層4との密
着性か向」二すると共に保護層4そのものが安定化し、
電磁変換特性を本質的に低ドさせることなく、特に耐久
性、並びに走行性の優れた薄膜堆積型磁気記録媒体が得
られる。
真空処理に付すことにより、中間層3と保護層4との密
着性か向」二すると共に保護層4そのものが安定化し、
電磁変換特性を本質的に低ドさせることなく、特に耐久
性、並びに走行性の優れた薄膜堆積型磁気記録媒体が得
られる。
一般にLB法においては成膜分7−iの末端カルボキシ
ル基の水素v、r−をカドミウム、鉛等の金属イオンを
水相ヒにて置換させ、膜の強固化を図ることが多い。本
発明に用いた両親媒性脂肪酸を金属塩として磁性層の保
護層を構成しても同様に電磁変換特性を本質的に低下さ
せることなく特に耐久性並びに走行性の優れた薄膜堆積
型磁気記録媒体を得ることかできる。しかしながら係る
金属塩のm分?Il!2を担体く磁性薄膜)上に移しと
る速度は(担体−ヒ下速度)最大でも5cm/min
、好ましくは0.3〜2cm/minでありこれ以[の
製膜速度でもって製膜した場合、担体上に移し取られた
昨分子膜又はm分F累積膜においては、もはや高度の秩
序を保っているとはいい難くE述の保護作用とじての特
性も失われてくる。しかるに末端カルボキシル基を金属
塩にすることなく遊離酸のまま製膜した場合1m/mi
nの速度で製膜したとしても担体トに移し取られたm分
7′膜又は単分子″A禎膜は高度の秩序構造を保ってお
り、−E述の保護層としての特性が確保されていること
が確認された。
ル基の水素v、r−をカドミウム、鉛等の金属イオンを
水相ヒにて置換させ、膜の強固化を図ることが多い。本
発明に用いた両親媒性脂肪酸を金属塩として磁性層の保
護層を構成しても同様に電磁変換特性を本質的に低下さ
せることなく特に耐久性並びに走行性の優れた薄膜堆積
型磁気記録媒体を得ることかできる。しかしながら係る
金属塩のm分?Il!2を担体く磁性薄膜)上に移しと
る速度は(担体−ヒ下速度)最大でも5cm/min
、好ましくは0.3〜2cm/minでありこれ以[の
製膜速度でもって製膜した場合、担体上に移し取られた
昨分子膜又はm分F累積膜においては、もはや高度の秩
序を保っているとはいい難くE述の保護作用とじての特
性も失われてくる。しかるに末端カルボキシル基を金属
塩にすることなく遊離酸のまま製膜した場合1m/mi
nの速度で製膜したとしても担体トに移し取られたm分
7′膜又は単分子″A禎膜は高度の秩序構造を保ってお
り、−E述の保護層としての特性が確保されていること
が確認された。
更に製膜分子として■もしくは■のごとき重合性分子を
用いた場合には係る重合性分tを水面F中分子膜もしく
は担体に移し取った後、光、熱等のエネルギー照射を行
なって重合せしめるとこにより特に耐久性に優れる保護
層を形成することが6丁能になる。
用いた場合には係る重合性分tを水面F中分子膜もしく
は担体に移し取った後、光、熱等のエネルギー照射を行
なって重合せしめるとこにより特に耐久性に優れる保護
層を形成することが6丁能になる。
本発明において熱処理としては、基体や有機保護層の材
質にもよるが、40℃〜90℃の環境温度にて1分間〜
30分間加熱するのが適当である。また、真空処理とし
ては、IQ−2Lorr”−□ 10−’ t、orr
の餞圧状態に5分間〜10分間さらすのが′i!i当で
ある。
質にもよるが、40℃〜90℃の環境温度にて1分間〜
30分間加熱するのが適当である。また、真空処理とし
ては、IQ−2Lorr”−□ 10−’ t、orr
の餞圧状態に5分間〜10分間さらすのが′i!i当で
ある。
もちろん、熱処理と真空処理の両方を実施してもよい。
本発明によって得られる[1:o−Cr合金強磁性体薄
膜堆積型磁気記録媒体において、当該磁気記録媒体の基
体の少なくとも片側表面には磁気記録層を形成し、これ
と反対側の=一方の面には、必認に応じて表面と対称型
の薄膜を積層形成しても良く、あるいは当該基体の保護
、滑性、補強、その他の有効な効果を補足する目的で各
種のバックコート層を形成しても良い。バンクコート層
としては、AI、 Ti、 V、7.r、 Co、 N
b、 Ta、 W、 Cr、 Si、 Ge等の金属、
゛i金金属るいはその酸化物、窒化物、炭化物の薄膜、
あるいは酸化物微粒り炭酸カルシウム等の桔滑性微粒子
−と、カーボン、金属粉末等の4電性粒子と、脂肪酸、
脂肪酸エステル等の潤滑剤を少なくとも一種類含む熱可
塑性または熱硬化性樹脂等の高分子バインダーに混練し
て塗布したものが挙げられる。
膜堆積型磁気記録媒体において、当該磁気記録媒体の基
体の少なくとも片側表面には磁気記録層を形成し、これ
と反対側の=一方の面には、必認に応じて表面と対称型
の薄膜を積層形成しても良く、あるいは当該基体の保護
、滑性、補強、その他の有効な効果を補足する目的で各
種のバックコート層を形成しても良い。バンクコート層
としては、AI、 Ti、 V、7.r、 Co、 N
b、 Ta、 W、 Cr、 Si、 Ge等の金属、
゛i金金属るいはその酸化物、窒化物、炭化物の薄膜、
あるいは酸化物微粒り炭酸カルシウム等の桔滑性微粒子
−と、カーボン、金属粉末等の4電性粒子と、脂肪酸、
脂肪酸エステル等の潤滑剤を少なくとも一種類含む熱可
塑性または熱硬化性樹脂等の高分子バインダーに混練し
て塗布したものが挙げられる。
以下、本発明の具体的実施例を挙げることにより本発明
を更に詳!11に説明する。
を更に詳!11に説明する。
[I]磁気テープの製造
くデーゾの3’P価方法〉
出力の周波数特性:
0.75MHz、 4.5MHz、 7.5MHzの東
−信号を記録し、再生出力を測定。
−信号を記録し、再生出力を測定。
スチル耐久性テスト:
20℃、65%および0℃の環境下でスチル再生出力の
時間変化を測定。20分経過後出力低下が3dB以内を
Oとする。
時間変化を測定。20分経過後出力低下が3dB以内を
Oとする。
耐蝕テスト:
50℃、80%で1000時間放置後飽和磁束密度の低
下が10%以内を○とする。
下が10%以内を○とする。
実施例1
内容積3002の重合釜に3,3°、1,4°−ビフェ
ニルテトラカルボン酸二無水物:20モル、ピロメリッ
ト酸−無水物;80モル、パラフェニレンジアミンニア
0モル及び4,4−ジアミンジフェニルエーテル、30
モルを原料として厚さ10μの芳香族ポリイミド膜のベ
ースフィルムを製造した。
ニルテトラカルボン酸二無水物:20モル、ピロメリッ
ト酸−無水物;80モル、パラフェニレンジアミンニア
0モル及び4,4−ジアミンジフェニルエーテル、30
モルを原料として厚さ10μの芳香族ポリイミド膜のベ
ースフィルムを製造した。
この芳香族ポリイミドフィルムについて種々の物性を測
定したが、その結果、引張弾性定数が490kg/mm
2.熱膨張係数αは 100〜300℃で!、8X I
Q’ ctn/cm/l:、Rz (JIS B 0
601による10点平均粗さ)は80人であった。
定したが、その結果、引張弾性定数が490kg/mm
2.熱膨張係数αは 100〜300℃で!、8X I
Q’ ctn/cm/l:、Rz (JIS B 0
601による10点平均粗さ)は80人であった。
この)i香族ポリイミドフィルムをベースフィルムとし
て使用し、電fビーム加熱装置を有した磁気テープの連
続成膜装置により、当該ベースフィルムの表面にCo
78wt’Ji −Cr 22wt%iの垂直磁化蒸着
膜をベースフィルムの温度を200℃として、0、Ip
/secの成膜速度で約0.1μ厚形成した後、その上
部に酸素lO%を含むアルゴンガス中でGoをスパッタ
し、酸化コバルト薄膜を80人厚形成した。
て使用し、電fビーム加熱装置を有した磁気テープの連
続成膜装置により、当該ベースフィルムの表面にCo
78wt’Ji −Cr 22wt%iの垂直磁化蒸着
膜をベースフィルムの温度を200℃として、0、Ip
/secの成膜速度で約0.1μ厚形成した後、その上
部に酸素lO%を含むアルゴンガス中でGoをスパッタ
し、酸化コバルト薄膜を80人厚形成した。
次に、(1)式に示す両親媒性脂肪酸;ステアリン酸
CJ(Gl12)+b GOOH(1)をクロロホルム
に溶解せしめ(濃度5xlO−j)た後、pH:l 、
水温20℃の水相14(第2図)上に展開し、膜状に析
出させた。溶媒蒸発除去後、表面圧を30mN/mに迄
高めた。この表面圧を一定に保ち乍ら上述磁性体T4膜
を担体とし、1m/minの速度で係る担体を水面を横
切る方向に水中より引きトげ、ステアリン酸単分子膜を
係る担体上に形成した。
に溶解せしめ(濃度5xlO−j)た後、pH:l 、
水温20℃の水相14(第2図)上に展開し、膜状に析
出させた。溶媒蒸発除去後、表面圧を30mN/mに迄
高めた。この表面圧を一定に保ち乍ら上述磁性体T4膜
を担体とし、1m/minの速度で係る担体を水面を横
切る方向に水中より引きトげ、ステアリン酸単分子膜を
係る担体上に形成した。
こうして得た磁気シートを70”Cの恒温炉にて、15
分間熱処理を行なった後、 8 、 OmIB幅にスリ
ットした。この テープのカールは、−< 0.1+n+n−’と小さ
く、実用ヒ問題のない量であった。このテープを8ミリ
VTRテープ用カセツトに装着し、 8ミリビデオデツ
キにて出力の周波数特性、スチル耐久性、50℃・80
!l1R11での耐食性テスト等を行なった。
分間熱処理を行なった後、 8 、 OmIB幅にスリ
ットした。この テープのカールは、−< 0.1+n+n−’と小さ
く、実用ヒ問題のない量であった。このテープを8ミリ
VTRテープ用カセツトに装着し、 8ミリビデオデツ
キにて出力の周波数特性、スチル耐久性、50℃・80
!l1R11での耐食性テスト等を行なった。
結果は第1表に示す如く、大変良好であった。
実施例2
実施例1におけるステアリン酸の弔分子膜を3層累禎し
た以外は、実施例1と全く同様にして、テープを作製し
、性能評価を行った結果を第1表に示す。その結果は、
単分子膜のものと同等に良好であった。
た以外は、実施例1と全く同様にして、テープを作製し
、性能評価を行った結果を第1表に示す。その結果は、
単分子膜のものと同等に良好であった。
実施例3
′F記式(2)に示すω−トリコセン酸OH2・CH(
(:)I2)2゜00011 (2)を1.1.
l−トリクロロエタンに溶解せしめ(濃度lX10〜3
M)だ後、pH3、水温20℃の水相14(第2図)F
に展開し、膜状に析出させた。溶媒蒸発除去後、表面圧
を30mN/mに迄高めた。表面圧を一定に保ち乍ら実
施例1と同様にして作成した、膜厚80人の酸化コバル
ト膜を含むCro−Cr磁性薄膜を担体とし、1m /
minの速度で係る担体を水面を横切る方向に水中より
引きトげ、ω−トリコセン酸の111分7′−膜を係る
担体トに形成した。こうして得た磁気シートを50℃の
真空恒温炉(真空度10’ Lorr)にて5分間真空
熱処理を行なった後、 8 、0mm幅スリットした。
(:)I2)2゜00011 (2)を1.1.
l−トリクロロエタンに溶解せしめ(濃度lX10〜3
M)だ後、pH3、水温20℃の水相14(第2図)F
に展開し、膜状に析出させた。溶媒蒸発除去後、表面圧
を30mN/mに迄高めた。表面圧を一定に保ち乍ら実
施例1と同様にして作成した、膜厚80人の酸化コバル
ト膜を含むCro−Cr磁性薄膜を担体とし、1m /
minの速度で係る担体を水面を横切る方向に水中より
引きトげ、ω−トリコセン酸の111分7′−膜を係る
担体トに形成した。こうして得た磁気シートを50℃の
真空恒温炉(真空度10’ Lorr)にて5分間真空
熱処理を行なった後、 8 、0mm幅スリットした。
このテープを実施例1と同様にして性能評価を行なった
。結果を第1表に示す。
。結果を第1表に示す。
比較例1
実施例1におけるステアリン酸の重分1膜をステアリン
酸カドミウム塩のm分7−1漠に変更した以外は全〈実
施例1と同様にしてディスクを作製した。この時の製膜
条件として水相14は塩化カドミウム5 x 10−
M 、 pH6,8、水温20℃に調製した。
酸カドミウム塩のm分7−1漠に変更した以外は全〈実
施例1と同様にしてディスクを作製した。この時の製膜
条件として水相14は塩化カドミウム5 x 10−
M 、 pH6,8、水温20℃に調製した。
又、製膜は表面圧30+uN/mのもと、引きFげ速度
lm/minにて行った。係るテープの性能評価結果を
第1表に示す。
lm/minにて行った。係るテープの性能評価結果を
第1表に示す。
比較例2.3
実施例1及び3に於いて各々熱処理乃至真空処理工程を
省略した他は全く同等にして得られたテープの性能評価
を行なった。結果を第1表に示す。
省略した他は全く同等にして得られたテープの性能評価
を行なった。結果を第1表に示す。
[n]磁気ディスクの製造
〈ディスクの評価法〉
スチルビデオデツキ(試作機)で再生出力、耐久性、円
周方向の出力変動(出力ムラ)を測定、耐久性は連続5
0時間釘生し、出力の低Fが6dB以ドのものをOとす
る。出力ムラは1トラツク中での出力の最大値と最小値
の差を示す。
周方向の出力変動(出力ムラ)を測定、耐久性は連続5
0時間釘生し、出力の低Fが6dB以ドのものをOとす
る。出力ムラは1トラツク中での出力の最大値と最小値
の差を示す。
実施例4
3、:]]’、4,4°−ビフェニルテトラカルボン酸
二無水物40モル、ピロメリット酸二無水物:60モル
、バラフェニレンジアミン:50モル及び4,4°−ジ
アミンジフェニルエーテル:50モルより成るモノマー
成分及び成分比で実施例1と同一方法にて芳香族ポリア
ミック酸の溶液組成物を製造した。そのようにして得ら
れた溶液組成物を使用し実施例1と同一方法にて厚さ4
0IiJIの芳香族ポリイミドフィルムを製造した。
二無水物40モル、ピロメリット酸二無水物:60モル
、バラフェニレンジアミン:50モル及び4,4°−ジ
アミンジフェニルエーテル:50モルより成るモノマー
成分及び成分比で実施例1と同一方法にて芳香族ポリア
ミック酸の溶液組成物を製造した。そのようにして得ら
れた溶液組成物を使用し実施例1と同一方法にて厚さ4
0IiJIの芳香族ポリイミドフィルムを製造した。
この芳香族ポリイミドフィルムは引張弾性定数が400
kg/+nm2、100〜300℃における熱膨張係数
αが2.6x 10’ cm/cm/”C1Rzは30
人であった。
kg/+nm2、100〜300℃における熱膨張係数
αが2.6x 10’ cm/cm/”C1Rzは30
人であった。
この芳香族ポリイミドフィルムをベースフィルムとして
使用し、スパッタリング装置にて+44 課ヘースフィ
ルムトにCo 80wL% −Cr 20w1Jの用直
電化膜をベースフィルムの温度を150℃として、約0
.5鱗形成した後、そのF部に酸素12%を含む媒ジア
セチレン化合物; IQ、+2−ウントリアコンタジイ
ノイン酸 C113(C112)+tCF(ニーC=C−(GH2
)acOOII (:])をクロロホルムに溶解せし
め(濃度fII1g/ml)た後、pH5水温20℃の
水相14(第2図)上に展開しto、+2−ウンドリア
コンタジイノイン酸を膜状に析出させた。溶媒蒸発除去
後、表面圧を30mN/mにまで高めた。表面圧を一定
に保ちながら、−ト述磁性薄膜を担体とし、1m/1I
lin の速度で係る担体を水面を横切る方向に水中
より引き−[げ、10.12−ウントリアコンタジrツ
イン酸の単分子膜を係る担体トに形成した。このように
して得た磁気シートを真空恒温炉にて5分間真空処理を
行った後、直径47+nmφのディスクに打ち抜き加り
し、ビデオディスク再生機を用いて評価した。
使用し、スパッタリング装置にて+44 課ヘースフィ
ルムトにCo 80wL% −Cr 20w1Jの用直
電化膜をベースフィルムの温度を150℃として、約0
.5鱗形成した後、そのF部に酸素12%を含む媒ジア
セチレン化合物; IQ、+2−ウントリアコンタジイ
ノイン酸 C113(C112)+tCF(ニーC=C−(GH2
)acOOII (:])をクロロホルムに溶解せし
め(濃度fII1g/ml)た後、pH5水温20℃の
水相14(第2図)上に展開しto、+2−ウンドリア
コンタジイノイン酸を膜状に析出させた。溶媒蒸発除去
後、表面圧を30mN/mにまで高めた。表面圧を一定
に保ちながら、−ト述磁性薄膜を担体とし、1m/1I
lin の速度で係る担体を水面を横切る方向に水中
より引き−[げ、10.12−ウントリアコンタジrツ
イン酸の単分子膜を係る担体トに形成した。このように
して得た磁気シートを真空恒温炉にて5分間真空処理を
行った後、直径47+nmφのディスクに打ち抜き加り
し、ビデオディスク再生機を用いて評価した。
その結果は第2表に示した様に大変良好であった。
実施例5
実施例4に於ける有機保護層をステアリン酸のm分子膜
に変更した他は実施例4と全く同様にしてディスクを作
成した。この際、学分子−膜の作成条件は実施例1と全
く同等であった。かかるディスクの性能評価の結果を第
2表に示す。
に変更した他は実施例4と全く同様にしてディスクを作
成した。この際、学分子−膜の作成条件は実施例1と全
く同等であった。かかるディスクの性能評価の結果を第
2表に示す。
比較例4,5
実施例4及び5に於いて、各々熱処理り程を省略した他
は全く同等にして得られたディスクの性能評価を行なっ
た。その結果を第2表に示す。
は全く同等にして得られたディスクの性能評価を行なっ
た。その結果を第2表に示す。
比較例6
実施例1において酸化コバルト層とパーフルオロデカン
酸アルミニウム塩層の代わりに純鉄系磁性体を塗布した
市販のメタル塗布型の磁気シートを直径470mφのデ
ィスクに打ち抜き加下し、ビデオディスク再生機を用い
て評価した。結果を第2表に示す。
酸アルミニウム塩層の代わりに純鉄系磁性体を塗布した
市販のメタル塗布型の磁気シートを直径470mφのデ
ィスクに打ち抜き加下し、ビデオディスク再生機を用い
て評価した。結果を第2表に示す。
以上説明したように、本発明による磁気記録媒体の製造
方法によれば、走行性、耐久性、耐環境性の優れた高密
度磁気記録媒体の実現をならしめることができる。
方法によれば、走行性、耐久性、耐環境性の優れた高密
度磁気記録媒体の実現をならしめることができる。
第1図は本発明によって製造される磁気記録媒体の構成
図であり、第2図(a) 、 (b)は本発明の製造方
法に使用される中1分子−又は四分子累積膜形成装置で
ある。
図であり、第2図(a) 、 (b)は本発明の製造方
法に使用される中1分子−又は四分子累積膜形成装置で
ある。
Claims (5)
- (1)基体上に、磁性体層を積層し、次いで分子内に親
水性部位と疎水性部位とを有する脂肪酸の単分子膜又は
その累積膜を含む有機保護層を積層し、更に得られた積
層物に熱処理及び/又は真空処理を施すことを特徴とす
る磁気記録媒体の製造方法。 - (2)前記有機保護層と前記磁性体層の間に中間層を設
けた特許請求の範囲第1項記載の製造方法。 - (3)前記有機保護層の厚みが15Å以上100Å以下
である特許請求の範囲第1項記載の製造方法。 - (4)前記中間層が酸化コバルトの薄膜である特許請求
の範囲第2項記載の製造方法。 - (5)前記基体が芳香族ポリイミドフィルムである特許
請求の範囲第1項記載の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11358286A JPS62271222A (ja) | 1986-05-20 | 1986-05-20 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11358286A JPS62271222A (ja) | 1986-05-20 | 1986-05-20 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62271222A true JPS62271222A (ja) | 1987-11-25 |
Family
ID=14615879
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11358286A Pending JPS62271222A (ja) | 1986-05-20 | 1986-05-20 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62271222A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01298521A (ja) * | 1988-05-26 | 1989-12-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気記録媒体の製造方法 |
-
1986
- 1986-05-20 JP JP11358286A patent/JPS62271222A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01298521A (ja) * | 1988-05-26 | 1989-12-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気記録媒体の製造方法 |
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