JPH0465447B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0465447B2 JPH0465447B2 JP5491285A JP5491285A JPH0465447B2 JP H0465447 B2 JPH0465447 B2 JP H0465447B2 JP 5491285 A JP5491285 A JP 5491285A JP 5491285 A JP5491285 A JP 5491285A JP H0465447 B2 JPH0465447 B2 JP H0465447B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- polyphosphazene
- thin film
- magnetic recording
- metal thin
- ferromagnetic metal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 20
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 claims description 16
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 claims description 16
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 16
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 16
- 229920002627 poly(phosphazenes) Polymers 0.000 claims description 15
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 8
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 claims description 5
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 125000001183 hydrocarbyl group Chemical class 0.000 claims description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 14
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 12
- -1 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 7
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylformamide Chemical compound CN(C)C=O ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N Dimethylsulphoxide Chemical compound CS(C)=O IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910019142 PO4 Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 2
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 2
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000010452 phosphate Substances 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 2
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 1
- 229910000531 Co alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000640 Fe alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Chemical compound CC(C)CC(C)=O NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Natural products CCC(C)C(C)=O UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 1
- 229910052772 Samarium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QMHAHUAQAJVBIW-UHFFFAOYSA-N [methyl(sulfamoyl)amino]methane Chemical compound CN(C)S(N)(=O)=O QMHAHUAQAJVBIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 229910001566 austenite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002301 cellulose acetate Polymers 0.000 description 1
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- UUAGAQFQZIEFAH-UHFFFAOYSA-N chlorotrifluoroethylene Chemical compound FC(F)=C(F)Cl UUAGAQFQZIEFAH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L manganese(2+);methyl n-[[2-(methoxycarbonylcarbamothioylamino)phenyl]carbamothioyl]carbamate;n-[2-(sulfidocarbothioylamino)ethyl]carbamodithioate Chemical compound [Mn+2].[S-]C(=S)NCCNC([S-])=S.COC(=O)NC(=S)NC1=CC=CC=C1NC(=S)NC(=O)OC WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 1
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 1
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 1
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 1
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 1
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 1
- 229910052573 porcelain Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- KZUNJOHGWZRPMI-UHFFFAOYSA-N samarium atom Chemical compound [Sm] KZUNJOHGWZRPMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 1
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Lubricants (AREA)
- Paints Or Removers (AREA)
- Magnetic Record Carriers (AREA)
Description
産業上の利用分野
本発明は、情報産業分野等で利用される高記録
密度の磁気記録媒体に関する。 従来の技術 情報の高密度記録の要求にともない有機バイン
ダーにγ−Fe2O3等強磁性粉末を分散させた塗布
型磁気記録媒体に代つて、プラスチツク等の非磁
性基板に真空蒸着法,スパツタリング法,イオン
プレーテイング法等で直接強磁性金属薄膜を設け
た磁気記録媒体が研究開発され一部実用化に供さ
れている。 発明が解決しようとする問題点 強磁性金属薄膜の媒体は、記録再生時におい
て、ヘツドとの接触走査で薄膜層が容易に剥離,
摩耗,損傷等を起こす。上記欠陥を改善するため
媒体の表面上に保護膜を設けることが提案されて
いる。例えばポリテトラフルオロエチレン,ポリ
トリフルオロクロロエチレン等の弗素樹脂層を設
けたり、弗素系りん酸エステルの単分子層を設け
る試み(特開昭59−154647)が提案されている。
しかし、前者は、媒体表面との結合力が小さいた
め使用中に離脱しやすく、後者は分子内及び分子
間の結合力が小さいため使用中に分解や離脱が生
じやすく、長期の耐久性に対して効果が少ない。 問題点を解決するための手段 非磁性基板上に設けた強磁性金属薄膜上に、ポ
リホスフアゼン含有層を形成して保護膜とする。 作 用 本発明は、上記構成により強磁性金属薄膜表面
との結合力を高めると同時に、保護膜自身の耐熱
性,耐酸化性により離脱及び分解が抑制されるた
め、摩耗等に対する耐久性が向上し、かつ潤滑性
にも優れた高記録密度の磁気記録媒体を得ること
が出来る。 実施例 第1図は、本発明の磁気記録媒体の断面図であ
る。第1図において、1は非磁性基板、2は強磁
性金属薄膜、3はポリホスフアゼン保護膜からな
る。 本発明による磁気記録媒体に使用しうる非磁性
基板1としては、ポリ塩化ビニル,酢酸セルロー
ス,ポリエチレンテレフタレート,ポリエチレ
ン,ポリプロピレン,ポリカーボネート,ポリイ
ミド,ポリアミド等の高分子材料,非磁性金属材
料,ガラス,磁器等のセラミツク材料等周知の材
料からなるフイルム,板状等が挙げられる。 また本発明の磁気記録媒体に使用しうる強磁性
金属薄膜2としては、鉄,コバルト,ニツケルの
1種以上の合金またはこれらと、マンガン,クロ
ム,チタン,リン,イツトリウム,サマリウム,
ビスマス等とを組合せた合金があり、その他上記
金属の酸化物等も利用しうる。 非磁性基板1上に強磁性金属薄膜2を形成させ
るに当つては、真空蒸着法,スパツタリング法,
イオンプレーテイング法,メツキ法等任意の周知
の方法で形成させることが出来る。本発明によれ
ば、上述したような強磁性金属薄膜2の上にポリ
ホスフアゼン含有層を設けるものである。本発明
で使用しうるポリホスフアゼンは、つぎの一般
式; (式中R,R′は弗素化炭化水素基、nは整数
である。) で表わされる弗素系ポリホスフアゼンが、望まし
く弗素化炭化水素として弗素化アルキル基,弗素
化フエニル基等が挙げられる。 さらに弗素系ポリホスフアゼンにおいても、つ
ぎの一般式; で表わされるもので、m,m′が0〜7の範囲、
nが4〜30の範囲の時、良好な結果が得られた。
側鎖分子のm,m′が7以上の場合は、潤滑性と
耐久性が低下をきたした。主鎖のnが4未満の場
合は、分子の耐久性の低下をきたし耐久性の低下
をきたし、31以上の場合は、媒体表面での均一な
薄膜形成が困難となり保護膜の機能を発揮できな
かつた。ポリホスフアゼン含有保護膜の形成法
は、エタノール,メチルイソブチルケトン,テト
ラヒドロフラン,メチルエチルケトン,アセト
ン,ジメチルホルムアミド,ジメチルスルフオオ
キシドの溶媒に一般式(1),(2)のポリホスフアゼン
を溶解し塗布工程で薄膜を形成した。その厚み
は、50〜500Åが好適であつた。501Å以上になる
と信号再生時にスペーシングロスにより出力低下
が生じ、50Å未満の時は、島状の薄膜になり耐摩
耗性,潤滑性のある保護膜としての機能を発揮で
きなかつた。 以下に実施例をもつて説明する。 実施例 1 厚さ12μmのポリイミドフイルム基板上に、真
空蒸着法によりコバルト(90wt%)−クロム
(10wt%)からなる膜厚1500Åの強磁性金属薄膜
を作つた。この媒体の表面にポリジトリフロロエ
トキシホスフアゼン(一般式(2)m=0,n=4)
が0.10重量%のエタノール溶液を塗布し、厚みが
295Åの保護薄膜を形成した。膜厚測定は、エリ
プソメーターで測定した。試料はテープ状のもの
を作製した。 実施例 2 実施例1と同構成の強磁性金属薄膜表面に一般
式(2)のm=4、n=10の弗素化ポリホスフアゼン
0.05重量%のテトラヒドロフラン溶液を塗布乾燥
し、310Åの保護膜を形成し、さらに切断してテ
ープ状の試料を作製した。 実施例 3 実施例1と同構成の強磁性金属薄膜表面に一般
式(2)のm=7、n=30の弗素化ポリホスフアゼン
の0.01重量%のジメチルスルホアミド溶液を塗布
乾燥し、280Åの保護膜を形成し、さらに切断し
てテープ状の試料を作製した。 比較例 1 実施例1と同構成の強磁性金属薄膜表面にポリ
フロロエーテル(クライトシクス143、デイユポ
ン製)の0.01重量%弗素系炭化水素物(商品名ダ
イフロン,ダイキン製)溶液を塗布乾燥し、320
Åの保護膜を形成し、実施例と同様にテープ状の
試料を作製した。 比較例 2 実施例1と同構成の強磁性金属薄膜表面にパー
フルオロアルキルリン酸エステル(サーフロンS
−112 旭硝子製)の0.1重量%イソプロパノール
溶液を塗布乾燥し、335Åの保護膜を形成し、テ
ープ状試料を作製した。 上記実施例および比較例で得られた各磁気テー
プについて媒体表面の摩擦係数,耐久性を調べた
結果は、後記の表に示されるとおりであつた。 (摩擦試験条件) 測定機…動摩擦係数自動測定機(協和科学製) ヘツド材料,形状…鋼球(SUJ)直径3〓 ヘツド荷重…20gr ヘツド走行速度…10mm/S 測定雰囲気…25℃ 60%RH (耐久試験条件) 測定機…磁気記録測定機 ヘツド荷重…10g ヘツド走行速度…0.1m/S 測定雰囲気…25℃ 60%RH 出力が初期値より3dB低下するまでの走行回数
を測定
密度の磁気記録媒体に関する。 従来の技術 情報の高密度記録の要求にともない有機バイン
ダーにγ−Fe2O3等強磁性粉末を分散させた塗布
型磁気記録媒体に代つて、プラスチツク等の非磁
性基板に真空蒸着法,スパツタリング法,イオン
プレーテイング法等で直接強磁性金属薄膜を設け
た磁気記録媒体が研究開発され一部実用化に供さ
れている。 発明が解決しようとする問題点 強磁性金属薄膜の媒体は、記録再生時におい
て、ヘツドとの接触走査で薄膜層が容易に剥離,
摩耗,損傷等を起こす。上記欠陥を改善するため
媒体の表面上に保護膜を設けることが提案されて
いる。例えばポリテトラフルオロエチレン,ポリ
トリフルオロクロロエチレン等の弗素樹脂層を設
けたり、弗素系りん酸エステルの単分子層を設け
る試み(特開昭59−154647)が提案されている。
しかし、前者は、媒体表面との結合力が小さいた
め使用中に離脱しやすく、後者は分子内及び分子
間の結合力が小さいため使用中に分解や離脱が生
じやすく、長期の耐久性に対して効果が少ない。 問題点を解決するための手段 非磁性基板上に設けた強磁性金属薄膜上に、ポ
リホスフアゼン含有層を形成して保護膜とする。 作 用 本発明は、上記構成により強磁性金属薄膜表面
との結合力を高めると同時に、保護膜自身の耐熱
性,耐酸化性により離脱及び分解が抑制されるた
め、摩耗等に対する耐久性が向上し、かつ潤滑性
にも優れた高記録密度の磁気記録媒体を得ること
が出来る。 実施例 第1図は、本発明の磁気記録媒体の断面図であ
る。第1図において、1は非磁性基板、2は強磁
性金属薄膜、3はポリホスフアゼン保護膜からな
る。 本発明による磁気記録媒体に使用しうる非磁性
基板1としては、ポリ塩化ビニル,酢酸セルロー
ス,ポリエチレンテレフタレート,ポリエチレ
ン,ポリプロピレン,ポリカーボネート,ポリイ
ミド,ポリアミド等の高分子材料,非磁性金属材
料,ガラス,磁器等のセラミツク材料等周知の材
料からなるフイルム,板状等が挙げられる。 また本発明の磁気記録媒体に使用しうる強磁性
金属薄膜2としては、鉄,コバルト,ニツケルの
1種以上の合金またはこれらと、マンガン,クロ
ム,チタン,リン,イツトリウム,サマリウム,
ビスマス等とを組合せた合金があり、その他上記
金属の酸化物等も利用しうる。 非磁性基板1上に強磁性金属薄膜2を形成させ
るに当つては、真空蒸着法,スパツタリング法,
イオンプレーテイング法,メツキ法等任意の周知
の方法で形成させることが出来る。本発明によれ
ば、上述したような強磁性金属薄膜2の上にポリ
ホスフアゼン含有層を設けるものである。本発明
で使用しうるポリホスフアゼンは、つぎの一般
式; (式中R,R′は弗素化炭化水素基、nは整数
である。) で表わされる弗素系ポリホスフアゼンが、望まし
く弗素化炭化水素として弗素化アルキル基,弗素
化フエニル基等が挙げられる。 さらに弗素系ポリホスフアゼンにおいても、つ
ぎの一般式; で表わされるもので、m,m′が0〜7の範囲、
nが4〜30の範囲の時、良好な結果が得られた。
側鎖分子のm,m′が7以上の場合は、潤滑性と
耐久性が低下をきたした。主鎖のnが4未満の場
合は、分子の耐久性の低下をきたし耐久性の低下
をきたし、31以上の場合は、媒体表面での均一な
薄膜形成が困難となり保護膜の機能を発揮できな
かつた。ポリホスフアゼン含有保護膜の形成法
は、エタノール,メチルイソブチルケトン,テト
ラヒドロフラン,メチルエチルケトン,アセト
ン,ジメチルホルムアミド,ジメチルスルフオオ
キシドの溶媒に一般式(1),(2)のポリホスフアゼン
を溶解し塗布工程で薄膜を形成した。その厚み
は、50〜500Åが好適であつた。501Å以上になる
と信号再生時にスペーシングロスにより出力低下
が生じ、50Å未満の時は、島状の薄膜になり耐摩
耗性,潤滑性のある保護膜としての機能を発揮で
きなかつた。 以下に実施例をもつて説明する。 実施例 1 厚さ12μmのポリイミドフイルム基板上に、真
空蒸着法によりコバルト(90wt%)−クロム
(10wt%)からなる膜厚1500Åの強磁性金属薄膜
を作つた。この媒体の表面にポリジトリフロロエ
トキシホスフアゼン(一般式(2)m=0,n=4)
が0.10重量%のエタノール溶液を塗布し、厚みが
295Åの保護薄膜を形成した。膜厚測定は、エリ
プソメーターで測定した。試料はテープ状のもの
を作製した。 実施例 2 実施例1と同構成の強磁性金属薄膜表面に一般
式(2)のm=4、n=10の弗素化ポリホスフアゼン
0.05重量%のテトラヒドロフラン溶液を塗布乾燥
し、310Åの保護膜を形成し、さらに切断してテ
ープ状の試料を作製した。 実施例 3 実施例1と同構成の強磁性金属薄膜表面に一般
式(2)のm=7、n=30の弗素化ポリホスフアゼン
の0.01重量%のジメチルスルホアミド溶液を塗布
乾燥し、280Åの保護膜を形成し、さらに切断し
てテープ状の試料を作製した。 比較例 1 実施例1と同構成の強磁性金属薄膜表面にポリ
フロロエーテル(クライトシクス143、デイユポ
ン製)の0.01重量%弗素系炭化水素物(商品名ダ
イフロン,ダイキン製)溶液を塗布乾燥し、320
Åの保護膜を形成し、実施例と同様にテープ状の
試料を作製した。 比較例 2 実施例1と同構成の強磁性金属薄膜表面にパー
フルオロアルキルリン酸エステル(サーフロンS
−112 旭硝子製)の0.1重量%イソプロパノール
溶液を塗布乾燥し、335Åの保護膜を形成し、テ
ープ状試料を作製した。 上記実施例および比較例で得られた各磁気テー
プについて媒体表面の摩擦係数,耐久性を調べた
結果は、後記の表に示されるとおりであつた。 (摩擦試験条件) 測定機…動摩擦係数自動測定機(協和科学製) ヘツド材料,形状…鋼球(SUJ)直径3〓 ヘツド荷重…20gr ヘツド走行速度…10mm/S 測定雰囲気…25℃ 60%RH (耐久試験条件) 測定機…磁気記録測定機 ヘツド荷重…10g ヘツド走行速度…0.1m/S 測定雰囲気…25℃ 60%RH 出力が初期値より3dB低下するまでの走行回数
を測定
【表】
上表の結果から明らかなように、本発明品は、
潤滑性に優れ、かつ耐久性に共に優れているもの
であることがわかる。 発明の効果 本発明の磁気記録媒体は、潤滑性,耐久性に優
れ、実用上きわめて有益なものである。
潤滑性に優れ、かつ耐久性に共に優れているもの
であることがわかる。 発明の効果 本発明の磁気記録媒体は、潤滑性,耐久性に優
れ、実用上きわめて有益なものである。
図は本発明の実施例における磁気記録媒体の断
面図である。 1……非磁性基板、2……強磁性金属薄膜、3
……保護膜。
面図である。 1……非磁性基板、2……強磁性金属薄膜、3
……保護膜。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 非磁性基板上に設けた強磁性金属薄膜面上に
ポリホスフアゼン含有層を形成して成る磁気記録
媒体。 2 ポリホスフアゼンがつぎの一般式; (式中R,R′は弗素化炭化水素基、nは整数
である) で表わされる弗素系ポリホスフアゼンから成る特
許請求の範囲第1項記載の磁気記録媒体。 3 ポリホスフアゼンがつぎの一般式; (式中m,m′は0〜7の整数、nは4〜30で
ある) で表わされる弗素系ポリホスフアゼンから成る特
許請求の範囲第1項記載の磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5491285A JPS61214119A (ja) | 1985-03-19 | 1985-03-19 | 磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5491285A JPS61214119A (ja) | 1985-03-19 | 1985-03-19 | 磁気記録媒体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61214119A JPS61214119A (ja) | 1986-09-24 |
JPH0465447B2 true JPH0465447B2 (ja) | 1992-10-20 |
Family
ID=12983810
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5491285A Granted JPS61214119A (ja) | 1985-03-19 | 1985-03-19 | 磁気記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61214119A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5273830A (en) * | 1988-12-16 | 1993-12-28 | Idemitsu Petrochemical Co., Ltd. | Magnetic recording medium comprising a syndiotactic styrene-based polymer substrate, a magnetic layer and a backcoat lubricating layer each layer containing a curable phosphazine compound |
-
1985
- 1985-03-19 JP JP5491285A patent/JPS61214119A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS61214119A (ja) | 1986-09-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0465447B2 (ja) | ||
JPH0130225B2 (ja) | ||
JPH0194519A (ja) | 磁気記録媒体 | |
JPS5930231A (ja) | 磁気記録媒体 | |
JPH03252921A (ja) | 磁気記録媒体 | |
JPH0130224B2 (ja) | ||
JPS6050728A (ja) | 磁気記録媒体 | |
JPS6085427A (ja) | 磁気記録媒体 | |
JP2747695B2 (ja) | 金属薄膜型磁気記録媒体の表面潤滑膜構造 | |
JPS61248218A (ja) | 垂直磁気記録媒体 | |
JP2748454B2 (ja) | 磁気記録媒体 | |
JPS5888828A (ja) | 磁気記録媒体およびその製造方法 | |
JPS63102038A (ja) | 磁気記録媒体およびその製造方法 | |
JP3627298B2 (ja) | 磁気記録媒体 | |
JPS61236017A (ja) | 金属薄膜型磁気記録媒体 | |
JPS628325A (ja) | 磁気記録媒体 | |
JPH0610854B2 (ja) | 磁気記録媒体 | |
JPS63113925A (ja) | 磁気記録媒体 | |
JPH0833991B2 (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
JPH0465448B2 (ja) | ||
JPS61160826A (ja) | 磁気記録媒体 | |
JPS62271222A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
JPS63113926A (ja) | 磁気記録媒体 | |
JPH0465446B2 (ja) | ||
JPH0465449B2 (ja) |