JPS63113925A - 磁気記録媒体 - Google Patents
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- JPS63113925A JPS63113925A JP26114186A JP26114186A JPS63113925A JP S63113925 A JPS63113925 A JP S63113925A JP 26114186 A JP26114186 A JP 26114186A JP 26114186 A JP26114186 A JP 26114186A JP S63113925 A JPS63113925 A JP S63113925A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は耐久性、耐環境性に優れた磁気記録媒体、特に
高密度記録用の薄膜堆積型磁気記録媒体に関する。
高密度記録用の薄膜堆積型磁気記録媒体に関する。
従来より、通常はポリエステル等のプラスチックフィル
ムからなる非磁性支持体の上に、強磁性微粒子を高分子
結合剤中に均一に分散せしめた磁性層を有する塗布型磁
気記録媒体が広く用いられ、また近年は金属等の薄膜を
蒸着・スパッタリング等の方法で非磁性支持体上に形成
せしめた、強磁性薄膜型磁気記録媒体の開発が進められ
ており、一部実用化しているものもある。こうした強磁
性薄膜型磁気記録媒体は、塗布型磁気記録媒体に比べ記
録密度を飛躍的に向上することが可能であることから高
密度記録媒体として脚光を浴びている。
ムからなる非磁性支持体の上に、強磁性微粒子を高分子
結合剤中に均一に分散せしめた磁性層を有する塗布型磁
気記録媒体が広く用いられ、また近年は金属等の薄膜を
蒸着・スパッタリング等の方法で非磁性支持体上に形成
せしめた、強磁性薄膜型磁気記録媒体の開発が進められ
ており、一部実用化しているものもある。こうした強磁
性薄膜型磁気記録媒体は、塗布型磁気記録媒体に比べ記
録密度を飛躍的に向上することが可能であることから高
密度記録媒体として脚光を浴びている。
しかしながら、強磁性金属薄膜層がCo −N i合金
やCo−Cr合金等に代表される従来からの強磁性金属
型磁気記録媒体は、耐食性及び耐摩耗性の点で実用上問
題があった。すなわち、Co−Ni等の強磁性金属膜は
それ自体に耐食性がなく、また高密度化の要請から強磁
性金属膜表面を平坦化することに伴い、耐摩耗性が劣化
するという問題があった。こうした問題を解決するため
に、合金膜表面を酸化処理するもの(例えば、特開昭5
3−85403号)、窒化物の保護層を設けるもの(例
えば、特開昭57−167134号)、各種有機材料を
表面被覆するもの(例えば、特開昭57−123536
号)などが検討されている。
やCo−Cr合金等に代表される従来からの強磁性金属
型磁気記録媒体は、耐食性及び耐摩耗性の点で実用上問
題があった。すなわち、Co−Ni等の強磁性金属膜は
それ自体に耐食性がなく、また高密度化の要請から強磁
性金属膜表面を平坦化することに伴い、耐摩耗性が劣化
するという問題があった。こうした問題を解決するため
に、合金膜表面を酸化処理するもの(例えば、特開昭5
3−85403号)、窒化物の保護層を設けるもの(例
えば、特開昭57−167134号)、各種有機材料を
表面被覆するもの(例えば、特開昭57−123536
号)などが検討されている。
しかし、強磁性金属膜上に上記滑剤を被覆したVTRテ
ープは、繰り返し走行の初期の段階で再生画像が短い時
間ちらつく、すなわちヘッド目づまりが起こっており、
耐久性が十分といえない。
ープは、繰り返し走行の初期の段階で再生画像が短い時
間ちらつく、すなわちヘッド目づまりが起こっており、
耐久性が十分といえない。
また耐食性向上についても上記表面被覆などの改善方法
は高湿度中の長時間放置やその他結露しやすい状態にな
った時、十分な耐食性が保証されなかった。
は高湿度中の長時間放置やその他結露しやすい状態にな
った時、十分な耐食性が保証されなかった。
本発明は、上述した従来の磁気記録媒体の欠点を克服し
、優れた記録再生特性を有するとともに、耐食性、繰り
返し走行耐久性、耐環境性についても実用的に十分な性
能を有する磁気記録媒体を提供することを目的とする。
、優れた記録再生特性を有するとともに、耐食性、繰り
返し走行耐久性、耐環境性についても実用的に十分な性
能を有する磁気記録媒体を提供することを目的とする。
以下、図面を参照して本発明の磁気記録媒体を説明する
。以下の記載において、量比は特に断らない限り重量基
準とする。
。以下の記載において、量比は特に断らない限り重量基
準とする。
第1図は、本発明の磁気記録媒体の一例を示す模式図で
、非磁性基体1上に強磁性金属薄膜2が形成され、更に
強磁性金属薄膜2上にパーフロロアルキル基を含有する
アクリルエステル化合物重合体によるトップコート3が
形成されている。第2図は本発明の磁気記録媒体の別の
例を示す図で、強磁性金属薄膜2とトップコート3の間
に中間層4が形成されている。
、非磁性基体1上に強磁性金属薄膜2が形成され、更に
強磁性金属薄膜2上にパーフロロアルキル基を含有する
アクリルエステル化合物重合体によるトップコート3が
形成されている。第2図は本発明の磁気記録媒体の別の
例を示す図で、強磁性金属薄膜2とトップコート3の間
に中間層4が形成されている。
本発明の磁気記録媒体の非磁性基体1としては、ガラス
、アルミニウム、表面酸化処理アルミニウム等の外に、
高分子支持基材としてポリエステル、セルロース、アク
リル、ポリアミド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポ
リオレフィン、ポリフロロオレフィン、ピリ塩化ビニル
、ポリ酢酸ビニル、塩化ビニル/酢酸ビニルコポリマー
、ポリ塩化ビニリデン、ポリカーボネート、フェノール
樹脂、ポリエーテルサルフオン、ポリエーテルエーテル
ケトン、ポリアセクール、ポリフェニレンオキサイド、
ポリフェニレンサルファイド等が挙げられる。非磁性基
体1の厚みとしては5〜10071mが好ましい。
、アルミニウム、表面酸化処理アルミニウム等の外に、
高分子支持基材としてポリエステル、セルロース、アク
リル、ポリアミド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポ
リオレフィン、ポリフロロオレフィン、ピリ塩化ビニル
、ポリ酢酸ビニル、塩化ビニル/酢酸ビニルコポリマー
、ポリ塩化ビニリデン、ポリカーボネート、フェノール
樹脂、ポリエーテルサルフオン、ポリエーテルエーテル
ケトン、ポリアセクール、ポリフェニレンオキサイド、
ポリフェニレンサルファイド等が挙げられる。非磁性基
体1の厚みとしては5〜10071mが好ましい。
非磁性基体l上に積層する強磁性金属薄膜2としてはF
e、 Ni、 Co、 Fe−Co、 Co−Ni、
Co−Cr。
e、 Ni、 Co、 Fe−Co、 Co−Ni、
Co−Cr。
Co−P、 Fe−Co−B、 Co−N1−P、
Co−V。
Co−V。
Co−Re、Co−Pt等が挙げられる。さらに強磁性
金属薄膜と非磁性基体との間に特性向上のためのFe−
Ni系や非晶質透磁率材料であるCo −Zr系、Fe
−P−C系、Co −S i −B系等やAjLCr。
金属薄膜と非磁性基体との間に特性向上のためのFe−
Ni系や非晶質透磁率材料であるCo −Zr系、Fe
−P−C系、Co −S i −B系等やAjLCr。
Ti、 Ge等の非磁性金属薄膜等の中間膜を設けて
もよい。強磁性金属薄膜の4さは0.05〜l、0μm
が好ましい。非磁性基体上に強磁性金属薄膜を形成する
には例えばスパッタリング法、電子ビーム蒸着法などの
公知の方法を挙げることができる。
もよい。強磁性金属薄膜の4さは0.05〜l、0μm
が好ましい。非磁性基体上に強磁性金属薄膜を形成する
には例えばスパッタリング法、電子ビーム蒸着法などの
公知の方法を挙げることができる。
高密度記録が可能であるという観点からは、強磁性金属
薄膜層2の材料としてはCo−Cr合金、中でもCrが
15〜23wt%のCo−Cr合金が優れている。この
理由は前記組織のCo−Cr合金は膜面垂直方向に磁化
容易軸を有する垂直磁化膜となり、面内記録方式欠点で
ある反磁界の影響がなく、本質的に高密度記録が可能で
ある点である。
薄膜層2の材料としてはCo−Cr合金、中でもCrが
15〜23wt%のCo−Cr合金が優れている。この
理由は前記組織のCo−Cr合金は膜面垂直方向に磁化
容易軸を有する垂直磁化膜となり、面内記録方式欠点で
ある反磁界の影響がなく、本質的に高密度記録が可能で
ある点である。
Co−Cr合金を強磁性金属薄膜に使用する場合、大き
な保磁力を得るために高温で膜作製をする必要があり、
非磁性基体には耐熱性が要求される。
な保磁力を得るために高温で膜作製をする必要があり、
非磁性基体には耐熱性が要求される。
この場合、非磁性基体としては、耐熱性の優れているポ
リイミドが良く、中でもパラフェニレンジアミン(PP
D)あるいはPPDとジアミノジフェニルエーテル(D
ADE)のジアミン成分と、ビフェニルテトラカルボン
酸二無水物(BPDA)およびピロメリット酸二無水物
(PNDA)からなるテトラカルボン酸成分との共重合
ポリイミドが優れている。この共重合ポリイミドフィル
ムは、耐熱性および引張り強度が高(弾性率も300〜
900kg1mrdと磁気記録媒体用ベースフィルムと
して適度な値を有する。さらにこの共重合ポリイミドフ
ィルムは、熱膨張係数が1〜3X 10’cm/cm/
’Cの範囲で調節可能であり、強磁性金属薄膜と、の熱
膨張差や成膜時に発生する内部応力により生ずる媒体カ
ールを防止することができる。
リイミドが良く、中でもパラフェニレンジアミン(PP
D)あるいはPPDとジアミノジフェニルエーテル(D
ADE)のジアミン成分と、ビフェニルテトラカルボン
酸二無水物(BPDA)およびピロメリット酸二無水物
(PNDA)からなるテトラカルボン酸成分との共重合
ポリイミドが優れている。この共重合ポリイミドフィル
ムは、耐熱性および引張り強度が高(弾性率も300〜
900kg1mrdと磁気記録媒体用ベースフィルムと
して適度な値を有する。さらにこの共重合ポリイミドフ
ィルムは、熱膨張係数が1〜3X 10’cm/cm/
’Cの範囲で調節可能であり、強磁性金属薄膜と、の熱
膨張差や成膜時に発生する内部応力により生ずる媒体カ
ールを防止することができる。
ポリイミド製非磁性基体lの機械的及び熱的性質などを
上述の磁気記録媒体にとって好適にするためには、芳香
族ポリアミック酸を生成するために使用されているジア
ミン成分は、全ジアミン成分に対して約40〜95モル
%、特に45〜90モル%範囲の使用量割合のPPDと
、全ジアミン成分に対して約5〜60モル%、特に10
〜55モル%の使用量割合のDADEとの2成分からな
ることが好ましい。また、芳香族ポリアミック酸を生成
するためのテトラカルボン酸成分は、全テトラカルボン
酸成分に対して約10〜90モル%、特に15〜85モ
ル%の使用量割合のBPDAと、全テトラカルボン酸成
分に対して約10〜90モル%、特に、15〜85モル
%の使用量割合のPMDAとからなることが好ましい。
上述の磁気記録媒体にとって好適にするためには、芳香
族ポリアミック酸を生成するために使用されているジア
ミン成分は、全ジアミン成分に対して約40〜95モル
%、特に45〜90モル%範囲の使用量割合のPPDと
、全ジアミン成分に対して約5〜60モル%、特に10
〜55モル%の使用量割合のDADEとの2成分からな
ることが好ましい。また、芳香族ポリアミック酸を生成
するためのテトラカルボン酸成分は、全テトラカルボン
酸成分に対して約10〜90モル%、特に15〜85モ
ル%の使用量割合のBPDAと、全テトラカルボン酸成
分に対して約10〜90モル%、特に、15〜85モル
%の使用量割合のPMDAとからなることが好ましい。
中間層4としては、酸化物、窒化物、ホウ化物、炭化物
、硫化物、リン化物、フッ化物、金属膜、カーボン膜な
ど公知のものが用いられる。その製法としては、スパッ
タリング法、真空蒸着法、もしくはイオンブレーティン
グ法等の物理堆積法やCVDなどの化学的堆積法、プラ
ズマ処理あるいはイオン注入等により強磁性金属薄膜表
面を改質させた層を形成する方法などが挙げられる。中
間層4の厚みとしては30〜1000人が好ましく、更
に好ましくは50〜300人である。厚みを厚くすれば
、保護耐久機能は向上するがスペーシングロスも太き(
なり、再生信号出力が低下し好ましくない。薄すぎると
保護機能が低下し、耐久性も減る場合もあり好ましくな
い。
、硫化物、リン化物、フッ化物、金属膜、カーボン膜な
ど公知のものが用いられる。その製法としては、スパッ
タリング法、真空蒸着法、もしくはイオンブレーティン
グ法等の物理堆積法やCVDなどの化学的堆積法、プラ
ズマ処理あるいはイオン注入等により強磁性金属薄膜表
面を改質させた層を形成する方法などが挙げられる。中
間層4の厚みとしては30〜1000人が好ましく、更
に好ましくは50〜300人である。厚みを厚くすれば
、保護耐久機能は向上するがスペーシングロスも太き(
なり、再生信号出力が低下し好ましくない。薄すぎると
保護機能が低下し、耐久性も減る場合もあり好ましくな
い。
CoCr合金強磁性金属薄膜上に成膜する中間層4の材
料としては、酸化コバルトが中でも好適である。
料としては、酸化コバルトが中でも好適である。
酸化コバルトの中間層4は、所定圧の酸素を含む不活性
ガス中でのスパッタリング法、希薄酸素下での真空蒸着
法、もしくはイオンブレーティング法等の物理蒸着法、
あるいはCo合金強磁性金属薄膜表面のプラズマ酸化処
理によって、強磁性金属薄膜の表面に直接堆積形成ある
いは酸化層形成をしている。酸化コバルト層は磁気記録
層とヘッドとの凝着を防ぎ、耐摩耗性の向上に極めて有
効である。
ガス中でのスパッタリング法、希薄酸素下での真空蒸着
法、もしくはイオンブレーティング法等の物理蒸着法、
あるいはCo合金強磁性金属薄膜表面のプラズマ酸化処
理によって、強磁性金属薄膜の表面に直接堆積形成ある
いは酸化層形成をしている。酸化コバルト層は磁気記録
層とヘッドとの凝着を防ぎ、耐摩耗性の向上に極めて有
効である。
酸化コバルトの中間層4は、磁気記録層2の保護に大き
な役割を果たすものであり、さらに金属ヘッド、フェラ
イトヘッド等とのなじみにも良く、表面の摩擦係数も低
下する。殊に酸化コバルト層の最表部がCo3O4であ
る時、その効果が著しい。
な役割を果たすものであり、さらに金属ヘッド、フェラ
イトヘッド等とのなじみにも良く、表面の摩擦係数も低
下する。殊に酸化コバルト層の最表部がCo3O4であ
る時、その効果が著しい。
本発明でトップコート3に使用するパーフロロアルキル
基を含有するビニル化合物の一般式は、CH2=CI−
IRf(Rfはパーフロロアルキル基)で表される。パ
ーフロロアルキル基Rfの炭素数は2〜15が好ましい
。この一般式中の水素を他の置換基(例えば−CH3基
、−CH2CH3基、−CZ基など)に一部置き変って
もよい。またRf基の一部がフッ素を含まないアルキル
基、例えばCH2=CH(CH2)η%Rf’ のよ
うに含んでいてもよい。ここでnは1〜10が好ましい
。
基を含有するビニル化合物の一般式は、CH2=CI−
IRf(Rfはパーフロロアルキル基)で表される。パ
ーフロロアルキル基Rfの炭素数は2〜15が好ましい
。この一般式中の水素を他の置換基(例えば−CH3基
、−CH2CH3基、−CZ基など)に一部置き変って
もよい。またRf基の一部がフッ素を含まないアルキル
基、例えばCH2=CH(CH2)η%Rf’ のよ
うに含んでいてもよい。ここでnは1〜10が好ましい
。
パーフロロアルキル基を含有するアクリルエステル化合
物とは、パーフロロアルキル基を含有するアクリル酸又
はメタクリル酸のエステル及びその誘導体である。パー
フロロアルキル基を含有するアクリルエステル化合物の
例を挙げると、(i ) CH2= CHCOO(C
H2) n Rf(ii ) CH2= C(CH3
) Coo(CH2)n Rf(iii) CH2=
C(CF3) Coo(CH2) n(iv) CH
2=C(CF3)Coo(CH2)nRf等のモノマー
である。但し、上記(i)〜(iv)のnは1〜10が
好ましい。上記(i)〜(iv)におけるRfの炭素数
は2〜15が好ましい。このうち(CH2)nは、n−
(ノルマル)型の直鎖型あるいは1so−型、tert
−型の分鎖型であってもよい。
物とは、パーフロロアルキル基を含有するアクリル酸又
はメタクリル酸のエステル及びその誘導体である。パー
フロロアルキル基を含有するアクリルエステル化合物の
例を挙げると、(i ) CH2= CHCOO(C
H2) n Rf(ii ) CH2= C(CH3
) Coo(CH2)n Rf(iii) CH2=
C(CF3) Coo(CH2) n(iv) CH
2=C(CF3)Coo(CH2)nRf等のモノマー
である。但し、上記(i)〜(iv)のnは1〜10が
好ましい。上記(i)〜(iv)におけるRfの炭素数
は2〜15が好ましい。このうち(CH2)nは、n−
(ノルマル)型の直鎖型あるいは1so−型、tert
−型の分鎖型であってもよい。
また、(CH2)nの一部にヒドロキシ基、カルボキシ
ル基、アミノ基、アミド基、スルホン酸基、すン酸基な
どを有していてもよい。
ル基、アミノ基、アミド基、スルホン酸基、すン酸基な
どを有していてもよい。
パーフロロアルキル基を含有するビニル化合物とパーフ
ロロアルキル基を含有するアクリルエステル化合物との
共重合体は、溶液重合、乳化重合、懸濁重合など常法で
重合される。
ロロアルキル基を含有するアクリルエステル化合物との
共重合体は、溶液重合、乳化重合、懸濁重合など常法で
重合される。
トップコートとして使用する上記の共重合体は、分%f
i4000以上のものが50%以上含有することが好ま
しく、更には分子量 8000以上のものが50%以上
含有することが好ましい。すなわち、分子量 4000
以上の分子を50%以上の共重合体とは、分子曾分布が
4000以上である場合、あるいは4000以上の高分
子量成分と、40001u下の低分子】成分の混合物で
4000以上の成分比率の大きい場合のものがある。な
お、分子量の測定法としては、常法で測定される超遠心
法、光散乱法、浸透圧測定法などがある。
i4000以上のものが50%以上含有することが好ま
しく、更には分子量 8000以上のものが50%以上
含有することが好ましい。すなわち、分子量 4000
以上の分子を50%以上の共重合体とは、分子曾分布が
4000以上である場合、あるいは4000以上の高分
子量成分と、40001u下の低分子】成分の混合物で
4000以上の成分比率の大きい場合のものがある。な
お、分子量の測定法としては、常法で測定される超遠心
法、光散乱法、浸透圧測定法などがある。
またパーフロロアルキル基の含有率は、分子全体に対す
る分子量比率で、25%以上の範囲が好適である。25
%以下では、耐久性が劣化し、撥水性の低下から耐食性
も悪(なる。強磁性金属薄膜上への被着量としては、0
.1〜100mg/riが好ましく、さらには1.0〜
50mg/rr?が好ましい。100mg/rriより
も多いと、トップコートの厚みが厚(なると共に、トッ
プコートがヘッド摺動によりヘッド上へ移着するために
スペーシングロスが発生し、高域出力に低下が認められ
る。
る分子量比率で、25%以上の範囲が好適である。25
%以下では、耐久性が劣化し、撥水性の低下から耐食性
も悪(なる。強磁性金属薄膜上への被着量としては、0
.1〜100mg/riが好ましく、さらには1.0〜
50mg/rr?が好ましい。100mg/rriより
も多いと、トップコートの厚みが厚(なると共に、トッ
プコートがヘッド摺動によりヘッド上へ移着するために
スペーシングロスが発生し、高域出力に低下が認められ
る。
強磁性金属薄膜2上にトップコート3を被着する方法と
しては、リバースロール法やバーコーティング法等に代
表される常法で倹布する方法や、抵抗加熱法などで真空
蒸着により形成する方法、あるいはモノマーを被着させ
た状態で電子線や紫外線重合をする方法が適用しうる。
しては、リバースロール法やバーコーティング法等に代
表される常法で倹布する方法や、抵抗加熱法などで真空
蒸着により形成する方法、あるいはモノマーを被着させ
た状態で電子線や紫外線重合をする方法が適用しうる。
パーフロロアルキル基含有ビニル化合物とパーフロロア
ルキル基含有アクリルエステル化合物との共重合で得ら
れる含フッ素化合物重合体よりなるトップコートの被着
状態としては、必ずしも均一な連続膜である必要はなく
、斑点状等の様に不連続であっても良い。
ルキル基含有アクリルエステル化合物との共重合で得ら
れる含フッ素化合物重合体よりなるトップコートの被着
状態としては、必ずしも均一な連続膜である必要はなく
、斑点状等の様に不連続であっても良い。
また、本発明磁気記録媒体において基体1が非磁性基体
フィルムの場合、保護、滑性、補強、その他の目的で各
種のバックコート層が付加された構成も有効である。
フィルムの場合、保護、滑性、補強、その他の目的で各
種のバックコート層が付加された構成も有効である。
以下実施例により本発明を説明する。分子量は、超遠心
法により測定した。分子量を超遠心法により測定した場
合、求められる分子量は景平均分子量となる。
法により測定した。分子量を超遠心法により測定した場
合、求められる分子量は景平均分子量となる。
なお、以下の実施例における評価方法を次に示す。
くテープの評価方法〉
出力の周波数特性。
4 、5M Hz 、 7 、5 M )−1zの単一
信号を記録し、再生出力を測定。基準は市販のメタル塾
布型テープでこれをOdBとする。
信号を記録し、再生出力を測定。基準は市販のメタル塾
布型テープでこれをOdBとする。
パス耐久テスト
繰り返し走行耐久テストに於いて初期の出力レベルから
3dB以上の出力低下が発生するまでの走行回数。
3dB以上の出力低下が発生するまでの走行回数。
耐食テスト:
50°C280%RH放置試験後の媒体表面の錆の有無
。
。
くディスクの評価方法〉
出力の周波数特性:
1 、3 M Hz 、 7 、0 M Hzの単一信
号を記録し、再生出力を測定。
号を記録し、再生出力を測定。
耐久性:
20°C985%RHの環境下でスチル再生出力の時間
変化を測定。50時間経過後出力低下が3dB以内を○
とする。
変化を測定。50時間経過後出力低下が3dB以内を○
とする。
実施例1
ジアミン成分としてPPDを70モルとDADEを30
モル及びテトラカルボン酸成分としてBPDAを20モ
ル及びPMDAを80モルを共重合して製造した厚み1
0μmのポリイミドフィルムを非磁性基体として用い、
この非磁性基体上に電子ビームが加熱装置を有した磁気
テープの連続成膜装置によりCo78wt%−Cr 2
2 W t%の垂直磁化膜を、前記ポリイミドフィルム
を23000に加熱しつつ、0.1μm/secの成膜
速度て約0.4μm厚形成して強磁性金属薄膜とした。
モル及びテトラカルボン酸成分としてBPDAを20モ
ル及びPMDAを80モルを共重合して製造した厚み1
0μmのポリイミドフィルムを非磁性基体として用い、
この非磁性基体上に電子ビームが加熱装置を有した磁気
テープの連続成膜装置によりCo78wt%−Cr 2
2 W t%の垂直磁化膜を、前記ポリイミドフィルム
を23000に加熱しつつ、0.1μm/secの成膜
速度て約0.4μm厚形成して強磁性金属薄膜とした。
使用したポリイミドフィルムの熱膨張係数は1 、6
X 10= c m / c m / ℃、引張り弾性
定数は490 k g / m m2であった。
X 10= c m / c m / ℃、引張り弾性
定数は490 k g / m m2であった。
Co−Cr垂直磁化膜上に酸素10%を含むアルゴンガ
ス中でCOをスパッタし、酸化コバルト薄膜を100人
厚形成した。
ス中でCOをスパッタし、酸化コバルト薄膜を100人
厚形成した。
さらに下記の化合物を1.1,1.−)リクロルエタン
の溶媒に溶かし、リバースロール法により酸化コバルト
層上に4mg/rr?塗布乾燥した。
の溶媒に溶かし、リバースロール法により酸化コバルト
層上に4mg/rr?塗布乾燥した。
R3
このようにして得られた磁気シートを8.0mm幅にス
リットした。このテープのカールは、−<0.lmm−
’と小さく、実用上問題のない量であった。このテープ
を8ミリVTRテープ用カセツトに装着し、8ミリビデ
オデツキにて出力の周波数特性、パス耐久テスト、耐食
性テスト等を行った。評価結果を第1表に示した。
リットした。このテープのカールは、−<0.lmm−
’と小さく、実用上問題のない量であった。このテープ
を8ミリVTRテープ用カセツトに装着し、8ミリビデ
オデツキにて出力の周波数特性、パス耐久テスト、耐食
性テスト等を行った。評価結果を第1表に示した。
尚、第1表にはトップコートとして使用した含フッ素化
合物重合体で、分子fi4000以上のものがどの(ら
いの割合で含有されているかについても示した〈実施例
2〜4についても同様)。
合物重合体で、分子fi4000以上のものがどの(ら
いの割合で含有されているかについても示した〈実施例
2〜4についても同様)。
実施例2
実施例1における含フッ素重合体を下記のものに変え、
トルエンとメチルイソブチルケトン(=1=1)の溶媒
でリバースロール法で12mg/rr?塗布乾燥した以
外は、実施例1と同条件で磁気テープを作製し評価した
。評価結果を第1表に示す。
トルエンとメチルイソブチルケトン(=1=1)の溶媒
でリバースロール法で12mg/rr?塗布乾燥した以
外は、実施例1と同条件で磁気テープを作製し評価した
。評価結果を第1表に示す。
実施例3
12.5μm厚のポリエステルフィルム上に、Co80
wt%−Ni20wt%合金を微量酸素雰囲気中で連続
斜め蒸着し、0.15μm厚の共磁性金属膜を得た。こ
の上に実施例1で用いた重合体と同じ重合体で、分子量
4000のものと10000のものをl二1に混合した
ものを用いて、実施例1と同様にして磁気テ゛−プを作
成し、評価した。評価結果を第1表に示す。
wt%−Ni20wt%合金を微量酸素雰囲気中で連続
斜め蒸着し、0.15μm厚の共磁性金属膜を得た。こ
の上に実施例1で用いた重合体と同じ重合体で、分子量
4000のものと10000のものをl二1に混合した
ものを用いて、実施例1と同様にして磁気テ゛−プを作
成し、評価した。評価結果を第1表に示す。
比較例1
含フッ素重合体のトップコートを施さない点以外は、実
施例3と同様にして作成した磁気テープを、実施例1と
同様にして評価した。評価結果を第1表に示した。
施例3と同様にして作成した磁気テープを、実施例1と
同様にして評価した。評価結果を第1表に示した。
実施例5
ジアミン西部としてPPDを50モル及びDADEを5
0モルと、テトラカルボン酸成分としてBPDAを40
モル及びPMDAを60モルを共重合して製造した厚み
40μmのポリイミドフィル上に、スパッタリング装置
にてCo80wt%−Cr20wt%の垂直磁化膜をポ
リイミドフィルム150℃に上昇し、0.5μm形成し
た。使用したポリイミドフィルムの熱膨張係数は2.6
X 10−6cm / cm / ℃、引張弾性定数
は400Kg/m+trであった。
0モルと、テトラカルボン酸成分としてBPDAを40
モル及びPMDAを60モルを共重合して製造した厚み
40μmのポリイミドフィル上に、スパッタリング装置
にてCo80wt%−Cr20wt%の垂直磁化膜をポ
リイミドフィルム150℃に上昇し、0.5μm形成し
た。使用したポリイミドフィルムの熱膨張係数は2.6
X 10−6cm / cm / ℃、引張弾性定数
は400Kg/m+trであった。
前記Co−Cr膜上部に酸素12%を含むアルゴンガス
中でCoをスパッタし、酸化コバルト薄膜を100オン
グストローム厚形成した。次いで、下記に示す含フッ素
重合体をトルエンに溶かし、バーコーター法で酸化コバ
ルト層上に20mg/r+f塗布した。
中でCoをスパッタし、酸化コバルト薄膜を100オン
グストローム厚形成した。次いで、下記に示す含フッ素
重合体をトルエンに溶かし、バーコーター法で酸化コバ
ルト層上に20mg/r+f塗布した。
(?H3
こうして得られたサンプルを直径47 m mのディス
クに打ち抜き加工し、スチルビデオデツキ(試験機)を
用いて評価した。評価結果は第2表に示す。
クに打ち抜き加工し、スチルビデオデツキ(試験機)を
用いて評価した。評価結果は第2表に示す。
尚、第2表はトップコートとして使用した含フッ素化合
物重合体で、分子量が4000以上のものがどの(らい
の割合で含有されているかについても示した(実施例6
についても同様)。
物重合体で、分子量が4000以上のものがどの(らい
の割合で含有されているかについても示した(実施例6
についても同様)。
実施例6
実施例5に於ける含フッ素重合体を下記のものに変えて
、下記の含フッ素重合体をトルエン:メチルエチルケト
ン(=1 : 1)に溶かし、バーコーター法で15m
g/rrr塗布乾燥した他は、実施例5と同様にしてデ
ィスクを作成し、評価した。評価結果は第2表に示した
。
、下記の含フッ素重合体をトルエン:メチルエチルケト
ン(=1 : 1)に溶かし、バーコーター法で15m
g/rrr塗布乾燥した他は、実施例5と同様にしてデ
ィスクを作成し、評価した。評価結果は第2表に示した
。
比較例2
実施例5に於ける含フッ素重合体の代りに、n−CB
F17 CH2CH25i(OCH3)3 (7)式で
示されるフロロシリコーン化合物を用い、このフロロシ
リコーン化合物をトルエンに溶かし、バーコーター法で
20mg/rr?塗布乾燥した他は、実施例5と同様に
して磁気ディスクを作成し、評価した。
F17 CH2CH25i(OCH3)3 (7)式で
示されるフロロシリコーン化合物を用い、このフロロシ
リコーン化合物をトルエンに溶かし、バーコーター法で
20mg/rr?塗布乾燥した他は、実施例5と同様に
して磁気ディスクを作成し、評価した。
以上説明したように本発明による磁気記録媒体は非磁性
基体に積層された強磁性金属膜層上にパーフロロアルキ
ル基を含有するとともに50%以上が分子量4000以
上のアクリルエステル化合物重合体を被着せしめたこと
により優れた記録再生特性であるとともにの耐食性、繰
り返し走行耐久性に於いても実用的に十分な性能を優す
る磁気記録媒体の実現をならしめるものである。
基体に積層された強磁性金属膜層上にパーフロロアルキ
ル基を含有するとともに50%以上が分子量4000以
上のアクリルエステル化合物重合体を被着せしめたこと
により優れた記録再生特性であるとともにの耐食性、繰
り返し走行耐久性に於いても実用的に十分な性能を優す
る磁気記録媒体の実現をならしめるものである。
また、−5°Cにおけるパス耐久テストでもわかるよう
に、本発明の磁気記録媒体は、低温での耐久性について
も優れている。
に、本発明の磁気記録媒体は、低温での耐久性について
も優れている。
第1図は本発明の磁気記録媒体の一例を示す側面図、第
2図は本発明の磁気記録媒体の他の例を示す側面図であ
る。 l・・・・・・非磁性基体 2・・・・・・ 強磁性金属薄膜層 3・・・・・・ パーフロロアルキル基含有ビニル化合
物とパーフロロアルキル基含有アクリルエステル化合物
との共重合により得られる含 フッ素化合物重合体 4・・・・・・ 中間層
2図は本発明の磁気記録媒体の他の例を示す側面図であ
る。 l・・・・・・非磁性基体 2・・・・・・ 強磁性金属薄膜層 3・・・・・・ パーフロロアルキル基含有ビニル化合
物とパーフロロアルキル基含有アクリルエステル化合物
との共重合により得られる含 フッ素化合物重合体 4・・・・・・ 中間層
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)非磁性基体上に強磁性金属薄膜が積層された磁気記
録媒体において、前記強磁性金属薄膜の上にパーフロロ
アルキル基を含有するビニル化合物と、パーフロロアル
キル基を含有するアクリルエステル化合物との共重合に
より得られる含フッ素化合物重合体を有することを特徴
とする磁気記録媒体。 2)前記強磁性金属薄膜と前記含フッ素化合物重合体の
間に中間層が形成されている特許請求の範囲第1項記載
の磁気記録媒体。 3)前記非磁性基体がポリイミドフィルムであり、前記
強磁性金属薄膜がCo−Cr合金であり、更に前記中間
層がCoを主成分とする酸化物からなる特許請求の範囲
第2項記載の磁気記録媒体。 4)上記含フッ素化合物重合体のうち、分子量4000
以上のものが50%以上を占める特許請求の範囲第1項
記載の磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26114186A JPS63113925A (ja) | 1986-10-31 | 1986-10-31 | 磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26114186A JPS63113925A (ja) | 1986-10-31 | 1986-10-31 | 磁気記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63113925A true JPS63113925A (ja) | 1988-05-18 |
Family
ID=17357663
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26114186A Pending JPS63113925A (ja) | 1986-10-31 | 1986-10-31 | 磁気記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63113925A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009082599A1 (en) * | 2007-12-21 | 2009-07-02 | 3M Innovative Properties Company | Coatings and methods for particle reduction |
-
1986
- 1986-10-31 JP JP26114186A patent/JPS63113925A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009082599A1 (en) * | 2007-12-21 | 2009-07-02 | 3M Innovative Properties Company | Coatings and methods for particle reduction |
US7923133B2 (en) | 2007-12-21 | 2011-04-12 | 3M Innovative Properties Company | Coatings and methods for particle reduction |
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