JPS62271219A - 磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents
磁気記録媒体の製造方法Info
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- JPS62271219A JPS62271219A JP11357886A JP11357886A JPS62271219A JP S62271219 A JPS62271219 A JP S62271219A JP 11357886 A JP11357886 A JP 11357886A JP 11357886 A JP11357886 A JP 11357886A JP S62271219 A JPS62271219 A JP S62271219A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
3、発明の詳細な説明
〔産業上の利用分野〕
本発明は、耐久性、耐環境性に優れた高密度記録用の薄
膜堆積型磁気記録媒体の製造方法に関する。
膜堆積型磁気記録媒体の製造方法に関する。
従来より、ポリエステル等のプラスチックフィルムから
なる非磁性基体の上に、強磁性微粒子を高分子結合剤中
に均一に分散せしめた磁性層を有する塗布型磁気記録媒
体が広く用いられている。
なる非磁性基体の上に、強磁性微粒子を高分子結合剤中
に均一に分散せしめた磁性層を有する塗布型磁気記録媒
体が広く用いられている。
また近年では金属等のc4膜を蒸着、スパッタリング等
の方法で磁性層として非磁性基体上に形成せしめた強磁
性薄膜型磁気記録媒体の開発が進められており、一部実
用化しているものもある。
の方法で磁性層として非磁性基体上に形成せしめた強磁
性薄膜型磁気記録媒体の開発が進められており、一部実
用化しているものもある。
磁性層の磁気特性、耐蝕性、#摩耗性、fl擦係数、形
状(カール、変形)は磁気記録媒体の性能を左右する要
素であり、これらの前記性能要素は磁性層の材料や製法
、基体、保護間滑剤(あるいは層)に依存するものであ
る。磁性層材料については磁束密度が大きく、薄型化可
能な強磁性薄膜型磁気記録媒体が従来の塗布型磁気記録
媒体に勝っている。
状(カール、変形)は磁気記録媒体の性能を左右する要
素であり、これらの前記性能要素は磁性層の材料や製法
、基体、保護間滑剤(あるいは層)に依存するものであ
る。磁性層材料については磁束密度が大きく、薄型化可
能な強磁性薄膜型磁気記録媒体が従来の塗布型磁気記録
媒体に勝っている。
しかしながら磁性層をなす強磁性薄膜型の蒸着テープの
代表であるGo−Ni合金膜は、#触性と耐久性が実用
上十分ではない、すなわち、Go−Ni合金自体が耐蝕
合金でなく、かつ特性向上の目的で斜め蒸着で形成する
ために密度が小さく、酸化しやすい状態となっている。
代表であるGo−Ni合金膜は、#触性と耐久性が実用
上十分ではない、すなわち、Go−Ni合金自体が耐蝕
合金でなく、かつ特性向上の目的で斜め蒸着で形成する
ために密度が小さく、酸化しやすい状態となっている。
そのためGo−Ni合金膜のnり表面を酸化処理する方
法(特開昭53−85403号公報他) 、 Co−旧
合金膜の上に酸化物や窒化物の保護層を設ける方法(特
開昭57−187134号公報他)、Go−Ni合金膜
の上に防錆剤を塗布する方法(特開昭57−15251
8号公報他)等の#蝕方法が検討されているが、Go−
Ni合金膜の膜厚そのものが薄くかつ密度が低いため、
十分な耐蝕性が保証されないという問題点があった。又
、Ca−Ni合金膜の玉に脂肪酸金属塩の単分子膜から
成る保護層をラングミュア・プロジェット法で形成する
方法(特開昭61−48119号公報)が知られており
、係る方法によれば耐候性、耐久性、走行性が改善され
る。然し乍ら高度の電磁変換特性を保つために保護層を
薄くすれば、その耐久性、走行性は十分であるとはいい
難く、また保XI層を厚くすれば、短波長を用いた高密
度磁気記録ができないという問題点があった。
法(特開昭53−85403号公報他) 、 Co−旧
合金膜の上に酸化物や窒化物の保護層を設ける方法(特
開昭57−187134号公報他)、Go−Ni合金膜
の上に防錆剤を塗布する方法(特開昭57−15251
8号公報他)等の#蝕方法が検討されているが、Go−
Ni合金膜の膜厚そのものが薄くかつ密度が低いため、
十分な耐蝕性が保証されないという問題点があった。又
、Ca−Ni合金膜の玉に脂肪酸金属塩の単分子膜から
成る保護層をラングミュア・プロジェット法で形成する
方法(特開昭61−48119号公報)が知られており
、係る方法によれば耐候性、耐久性、走行性が改善され
る。然し乍ら高度の電磁変換特性を保つために保護層を
薄くすれば、その耐久性、走行性は十分であるとはいい
難く、また保XI層を厚くすれば、短波長を用いた高密
度磁気記録ができないという問題点があった。
本発明は上記従来技術の問題点に鑑み成されたものであ
りその目的は、優れた記録再生特性を有するとともに耐
蝕性、耐久性においても実用的に十分な性能を有する磁
気記録媒体を提供することにある。
りその目的は、優れた記録再生特性を有するとともに耐
蝕性、耐久性においても実用的に十分な性能を有する磁
気記録媒体を提供することにある。
本発明の上記目的は、基体上に、磁性体層を積層し、次
いでその上に脂肪m誘導体の金属塩の単分子膜又はその
累積膜を含む有機保護層を形成し、更に得られた積層物
に熱処理及び/又は真空処理を施す磁気記録媒体の製造
方法によって達成される。
いでその上に脂肪m誘導体の金属塩の単分子膜又はその
累積膜を含む有機保護層を形成し、更に得られた積層物
に熱処理及び/又は真空処理を施す磁気記録媒体の製造
方法によって達成される。
第1図は本発明の方法により製造される磁気記録媒体の
典型的構成を示す模式図で、1は基体、2は強磁性体層
、3は酸化コバルト層、4は有機保護層である。
典型的構成を示す模式図で、1は基体、2は強磁性体層
、3は酸化コバルト層、4は有機保護層である。
基体1をなす材料としては、ガラス、アルミニウム、表
面酸化処理アルミニウム等の外に、高分子支持基材とし
てポリエステル、セルロース、アクリル、ポリアミド、
ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリオレフィン、≠→
ポリフロロオレフィン、ポリ塩化ビニル、ポリ酢酸ビニ
ル、塩化ビニル/酢酸ビニルコポリマー、ポリ塩化ビニ
リデン、ポリカーボネート、フェノール樹脂、ポリ工−
テルサルフォン、ポリエーテル番−÷Φケトン、ポリア
セタール、ポリフェニレンオキサイド、ポリフェニレン
サルファイド等が挙げられる。
面酸化処理アルミニウム等の外に、高分子支持基材とし
てポリエステル、セルロース、アクリル、ポリアミド、
ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリオレフィン、≠→
ポリフロロオレフィン、ポリ塩化ビニル、ポリ酢酸ビニ
ル、塩化ビニル/酢酸ビニルコポリマー、ポリ塩化ビニ
リデン、ポリカーボネート、フェノール樹脂、ポリ工−
テルサルフォン、ポリエーテル番−÷Φケトン、ポリア
セタール、ポリフェニレンオキサイド、ポリフェニレン
サルファイド等が挙げられる。
強磁性体層2をなす材料としては、Fe、 Go、 N
iを主体とする合金、あるいはその酸化物、窒化物等が
使用可能であるが、高密度記録特性に優れ、また#触性
にも優れるGo−C:r合金あるいはGo−Cr合金を
主成分とする強磁性膜が好ましい。
iを主体とする合金、あるいはその酸化物、窒化物等が
使用可能であるが、高密度記録特性に優れ、また#触性
にも優れるGo−C:r合金あるいはGo−Cr合金を
主成分とする強磁性膜が好ましい。
電磁変換特性の優れた磁気記録媒体を得るためには、強
磁性体層2の保磁力の大きいことが望ましい。強磁性体
層2がCa−Cr合金膜の場合はその保r6カ向五のた
めにCo−Cr合金膜の形成温度を高くすることが好ま
しく (100°C〜300°C)、その場合、基体1
としては前述の材料のうち耐熱性を有するポリアミド、
ポリイミド樹脂、特に芳香族ポリイミド樹脂を使用する
ことが好ましい。
磁性体層2の保磁力の大きいことが望ましい。強磁性体
層2がCa−Cr合金膜の場合はその保r6カ向五のた
めにCo−Cr合金膜の形成温度を高くすることが好ま
しく (100°C〜300°C)、その場合、基体1
としては前述の材料のうち耐熱性を有するポリアミド、
ポリイミド樹脂、特に芳香族ポリイミド樹脂を使用する
ことが好ましい。
また本発明によって得られる磁気記録媒体であるフロッ
ピーディスク、磁気テープ等はカールが発生しないこと
が走行性、ヘッドタッチの点から重要である。カールの
ない磁気記録媒体を作成するためには、基体1の材料と
してGo−Cr合金膜との熱応力、成膜時に発生する応
力を打ち消す様な熱1彰張の値を有するものを選ぶ必要
がある。
ピーディスク、磁気テープ等はカールが発生しないこと
が走行性、ヘッドタッチの点から重要である。カールの
ない磁気記録媒体を作成するためには、基体1の材料と
してGo−Cr合金膜との熱応力、成膜時に発生する応
力を打ち消す様な熱1彰張の値を有するものを選ぶ必要
がある。
以下、基体1として芳香族ポリイミド膜が用いられた場
合を説明する。
合を説明する。
芳香族ポリイミド膜(フィルム)としてはジアミン成分
としてパラフェニレンジアミン(PPD) 単独で使用
するか、或いはPP[1とジアミノジフェニルエーテル
(DADE)とを共に使用し、また、テトラカルボン酸
成分として、ビフェニルテトラカルボン酸二無水物(B
PDA)とピロメリット酸二無水物(PMDA)とを共
に使用して、共重合で得られた芳香族ポリアミック酸の
溶液から、製膜およびイミド化によって得られた芳香族
ポリイミド膜(フィルム)が好ましくその厚みは4−〜
100μsが記録媒体用として有用である。
としてパラフェニレンジアミン(PPD) 単独で使用
するか、或いはPP[1とジアミノジフェニルエーテル
(DADE)とを共に使用し、また、テトラカルボン酸
成分として、ビフェニルテトラカルボン酸二無水物(B
PDA)とピロメリット酸二無水物(PMDA)とを共
に使用して、共重合で得られた芳香族ポリアミック酸の
溶液から、製膜およびイミド化によって得られた芳香族
ポリイミド膜(フィルム)が好ましくその厚みは4−〜
100μsが記録媒体用として有用である。
この芳香族ポリイミドフィルムは、前述のようにPPD
、BPDAおよびPMOAの3成分あるいはppn
。
、BPDAおよびPMOAの3成分あるいはppn
。
DADE、BPDAおよびPMOAの4成分から共重合
で形成されたものであるので、耐熱性、引張弾性に優れ
ているばかりでなく1画成分を構成する各成分の使用量
比率を色々と2gl整することによって、得られた芳香
族ポリイミド膜の熱膨張係数を強磁性材料の熱膨張係数
に大略一致するような値にすることができ、また、芳香
族ポリイミド膜の引張弾性定数を用途に応じて腰の強さ
等の性能を好適にするように変えることができる。
で形成されたものであるので、耐熱性、引張弾性に優れ
ているばかりでなく1画成分を構成する各成分の使用量
比率を色々と2gl整することによって、得られた芳香
族ポリイミド膜の熱膨張係数を強磁性材料の熱膨張係数
に大略一致するような値にすることができ、また、芳香
族ポリイミド膜の引張弾性定数を用途に応じて腰の強さ
等の性能を好適にするように変えることができる。
この芳香族ポリイミドフィルムは、その熱膨張係数が約
1.OX 10’ 〜3.OX 10’ Cm/c+w
/”Cの範囲であり、引張弾性定数が約300〜120
0kg/mm2、特ニ325〜700kg/mm’の範
囲であって、更に二次転移温度が約300°C以上、特
に310℃以上であることが好ましく、さらに上述の性
能に加えて、熱分解開始温度が約400℃以上、特に4
50°C以上であって、約250°Cの温度付近での連
続使用に酎えうるものであり、また、引張試験における
引張強度が約20kg/ffi@21以上、特に約25
kg/1III12、以上であり、しかも破断点の伸び
率が約30%以上、特に40%以上であるものが、磁気
記録媒体の製造の際に優れた#熱性を示し、高温での磁
性層の形成が可能であると共に、カールの発生を防止で
き、さらに巻きムラ、走行性、およびヘッドタッチの優
れた磁気記録媒体となるので最適である。
1.OX 10’ 〜3.OX 10’ Cm/c+w
/”Cの範囲であり、引張弾性定数が約300〜120
0kg/mm2、特ニ325〜700kg/mm’の範
囲であって、更に二次転移温度が約300°C以上、特
に310℃以上であることが好ましく、さらに上述の性
能に加えて、熱分解開始温度が約400℃以上、特に4
50°C以上であって、約250°Cの温度付近での連
続使用に酎えうるものであり、また、引張試験における
引張強度が約20kg/ffi@21以上、特に約25
kg/1III12、以上であり、しかも破断点の伸び
率が約30%以上、特に40%以上であるものが、磁気
記録媒体の製造の際に優れた#熱性を示し、高温での磁
性層の形成が可能であると共に、カールの発生を防止で
き、さらに巻きムラ、走行性、およびヘッドタッチの優
れた磁気記録媒体となるので最適である。
芳香族ポリイミドを得るための芳香族ポリアミック酸は
、磁気記録媒体の機械的及び熱的性質などを」−述の様
に好適にするために、その生成に使用されるジアミン成
分として、全ジアミン成分に対して約40〜95モル%
、特に45〜80モル%範囲の使用量割合のPPDと、
全ジアミン成分に対して約5〜80モル%、特に10〜
55モル%の使用量割合のDADEとの2成分からなる
ものが好ましい。また、芳香族ポリアミック酸を生成す
るためのテトラカルボン酸成分は、全テトラカルボン酸
成分に対して約10〜90モル%、特に15〜85モル
%の使用量割合のBPDAと、全テトラカルボン酸成分
に対して約10〜90モル%、特に15〜85モル%の
使用量割合のPMDAとからなることが好ましい。
、磁気記録媒体の機械的及び熱的性質などを」−述の様
に好適にするために、その生成に使用されるジアミン成
分として、全ジアミン成分に対して約40〜95モル%
、特に45〜80モル%範囲の使用量割合のPPDと、
全ジアミン成分に対して約5〜80モル%、特に10〜
55モル%の使用量割合のDADEとの2成分からなる
ものが好ましい。また、芳香族ポリアミック酸を生成す
るためのテトラカルボン酸成分は、全テトラカルボン酸
成分に対して約10〜90モル%、特に15〜85モル
%の使用量割合のBPDAと、全テトラカルボン酸成分
に対して約10〜90モル%、特に15〜85モル%の
使用量割合のPMDAとからなることが好ましい。
さらにこの様な構成成分より成るポリイミドフィルムは
、フィルム表面の凹凸を制御するために、必要に応じて
カーボンブラック、グラファイト、シリカ微粉末、マグ
ネシア微粉末、酸化チタン、炭酸カルシウム、その他の
充填剤をR練せしめることも可能である。しかし本発明
によって製造される磁気記録媒体に優れた高密度記録特
性を付与するためには、 JIS B 0801による
基体表面粗さが最大0.05−以下(Rmaxが0.0
5.)であることが望ましい。
、フィルム表面の凹凸を制御するために、必要に応じて
カーボンブラック、グラファイト、シリカ微粉末、マグ
ネシア微粉末、酸化チタン、炭酸カルシウム、その他の
充填剤をR練せしめることも可能である。しかし本発明
によって製造される磁気記録媒体に優れた高密度記録特
性を付与するためには、 JIS B 0801による
基体表面粗さが最大0.05−以下(Rmaxが0.0
5.)であることが望ましい。
以北に述べてきた、芳香族ポリイミド膜の−FにGo−
Cr合金からなる磁性層を形成するには、例えばスパッ
タリング法、電子ビーム連続基若法などの公知の方法を
挙げることができるが、それらの方法で前記芳香族ポリ
イミド膜の表面に磁性層を形成する際、膜の温度(成膜
温度)を約250℃にまですることができるので、優れ
た性能の磁性層が容易に形成されうるのである。
Cr合金からなる磁性層を形成するには、例えばスパッ
タリング法、電子ビーム連続基若法などの公知の方法を
挙げることができるが、それらの方法で前記芳香族ポリ
イミド膜の表面に磁性層を形成する際、膜の温度(成膜
温度)を約250℃にまですることができるので、優れ
た性能の磁性層が容易に形成されうるのである。
Go−Cr合金が磁気記録層として優れる点はまず膜面
に垂直に磁気異方性を有することにより垂直磁化膜とな
り、短波長記録で反磁界の影響を受けないことである。
に垂直に磁気異方性を有することにより垂直磁化膜とな
り、短波長記録で反磁界の影響を受けないことである。
すなわち磁性層を極端に薄くする必要がないため、高出
力を得るために十分な膜厚を持たすことができる。
力を得るために十分な膜厚を持たすことができる。
このCo−Cr合金からなる磁性層2の厚みは0、lu
+〜2.0−の範囲が好ましく、基体lに直接形成させ
る以外にも、磁性層を形成するに先立ち、接着性向上、
磁気特性向上、その他の目的で必要に応してコロナ放電
処理その他の前処理を施したり、 AM 、 Ti、C
r、 Ge、 5i02.Aflp03等の非磁性膜、
あるいはFe−Ni合金膜、またはCo−Zr。
+〜2.0−の範囲が好ましく、基体lに直接形成させ
る以外にも、磁性層を形成するに先立ち、接着性向上、
磁気特性向上、その他の目的で必要に応してコロナ放電
処理その他の前処理を施したり、 AM 、 Ti、C
r、 Ge、 5i02.Aflp03等の非磁性膜、
あるいはFe−Ni合金膜、またはCo−Zr。
Fe−P−C,Fe−Go−Si−B等の非晶質膜で代
表される高透磁率膜を介して設けてもかまわない。
表される高透磁率膜を介して設けてもかまわない。
これらGo−Cr合金強磁性薄膜は 必要に応じて基体
1の両面に形成することもできる。
1の両面に形成することもできる。
上記のような強磁性体層2の表面には、後述の有機保護
層4との密η性をよくするために中間層が設けられる。
層4との密η性をよくするために中間層が設けられる。
中間層3としては、特に酸化コバルトよりなる層が摺動
特性上からも好ましい、酸化コノヘルド層は、所定圧の
酸素を含む不活性ガス中でのスパッタリング法、希薄酸
素下での真空蒸着法、もしくはイオンブレーティング法
等の物理蒸着法、あるいはプラズマ酸化処理によって、
Co−Cr合金強磁性体層2の表面に直接堆積形成ある
いは下地として酸化層形成をした上に形成している。中
間層3の厚みは、Co−Cr系合金磁性層の持つ高密度
記録特性を有効に利用するためにはスペーシングロス減
少のため薄い聾が望ましく、中間層3の厚みは30〜3
00人が望ましく、50〜150八が特に好ましい、た
だし中間層3と有機保護層4を合わせた厚みを好ましく
は250Å以下、より好ましくは120 へ以下におさ
える必要がある。
特性上からも好ましい、酸化コノヘルド層は、所定圧の
酸素を含む不活性ガス中でのスパッタリング法、希薄酸
素下での真空蒸着法、もしくはイオンブレーティング法
等の物理蒸着法、あるいはプラズマ酸化処理によって、
Co−Cr合金強磁性体層2の表面に直接堆積形成ある
いは下地として酸化層形成をした上に形成している。中
間層3の厚みは、Co−Cr系合金磁性層の持つ高密度
記録特性を有効に利用するためにはスペーシングロス減
少のため薄い聾が望ましく、中間層3の厚みは30〜3
00人が望ましく、50〜150八が特に好ましい、た
だし中間層3と有機保護層4を合わせた厚みを好ましく
は250Å以下、より好ましくは120 へ以下におさ
える必要がある。
有機保護層4は、分子内に親木性部位と疎水性部位とを
併有する脂肪酸誘導体のCd、 Xi、 Go。
併有する脂肪酸誘導体のCd、 Xi、 Go。
Mn、 Cr、 Pb等の二価金属塩の単分子膜又はそ
の累積膜からなる層であり、その形成にあたってはその
ような単分子膜又はその累積膜を50〜90°Cで熱処
理、或いは20〜70℃下で真空処理を施したものが用
いられる。
の累積膜からなる層であり、その形成にあたってはその
ような単分子膜又はその累積膜を50〜90°Cで熱処
理、或いは20〜70℃下で真空処理を施したものが用
いられる。
有機保護層4の厚さとしては、15〜100八が好適で
ある。
ある。
有機保護層4を構成する両親媒性脂肪酸誘導体の一例と
しては以下に示す構造を有する化合物を挙げることがで
きる。
しては以下に示す構造を有する化合物を挙げることがで
きる。
■ C)+3(C)12)k−C:0OH(■ 0F3
(0F2) t −COOH〈■ H(CH2)、 −
C=CニーC=C−(C)12)。−C:00)11?
) CH2−CH(CH2)k−COOH上記化合物
の内■、■についてkは8〜28の整数であり好ましく
は16〜20である。又、炭化木素釦を構成する水素原
子の一部をフッ素原子にご換してもよくその一例を■、
■に示す。
(0F2) t −COOH〈■ H(CH2)、 −
C=CニーC=C−(C)12)。−C:00)11?
) CH2−CH(CH2)k−COOH上記化合物
の内■、■についてkは8〜28の整数であり好ましく
は16〜20である。又、炭化木素釦を構成する水素原
子の一部をフッ素原子にご換してもよくその一例を■、
■に示す。
−類 CF2(CH2) 1b C0OH■ CF2(
CF2) (C)+2) l、C0OH又、■の化合物
に関して文は4〜20の整数である。又、■の化合物に
関してm、nは各々 0〜28の整数であり、かつ、m
とnの和が12〜35の整数である。
CF2) (C)+2) l、C0OH又、■の化合物
に関して文は4〜20の整数である。又、■の化合物に
関してm、nは各々 0〜28の整数であり、かつ、m
とnの和が12〜35の整数である。
L記の脂肪酸誘導体金属塩の単分子膜又は単分子累積膜
を作成する方法としては、例えば以下に説明するような
1.Langlluirらの開発したラングミュア・プ
ロジェット法(以下LB法)が使用できる。
を作成する方法としては、例えば以下に説明するような
1.Langlluirらの開発したラングミュア・プ
ロジェット法(以下LB法)が使用できる。
すなわち、まず目的とする脂肪#誘導体をクロロホルム
等の溶剤に溶解させる0次に、第2図(a) 、 (b
)に示す装置を用いて、脂肪酸誘導体の溶液を予め所望
の金属イオンを溶解せしめた水相14」−に展開させ末
端カルボキシル基の水素原子を係る金属イオンと置換さ
せた上で脂肪酸誘導体の金属塩(以下脂肪酸金属塩)を
膜状に形成させる。
等の溶剤に溶解させる0次に、第2図(a) 、 (b
)に示す装置を用いて、脂肪酸誘導体の溶液を予め所望
の金属イオンを溶解せしめた水相14」−に展開させ末
端カルボキシル基の水素原子を係る金属イオンと置換さ
せた上で脂肪酸誘導体の金属塩(以下脂肪酸金属塩)を
膜状に形成させる。
次にこの展開層が水相上を自由髪こ拡散して広がりすぎ
ないように仕9J板(または浮子)7を設けて展開面積
を制限して膜物質の集合状態を制御しその集合状態に比
例した表面圧を得る。この仕切板7を動かし展開面積を
縮小して膜物質の集合状態を制御し、表面圧を徐々に上
昇させ、累積膜の製造に適する表面圧を設定することが
出来る。この表面圧を維持しながら静かに清浄な担体1
5を垂直に上下させることにより脂肪酸金属塩の単分子
膜が担体15上に移しとられる。ここでいう担体とは、
既述の磁性体薄膜を示す、この様にして脂肪酸金属塩の
単分子膜を酸化コバルト層3上に形成することができる
。
ないように仕9J板(または浮子)7を設けて展開面積
を制限して膜物質の集合状態を制御しその集合状態に比
例した表面圧を得る。この仕切板7を動かし展開面積を
縮小して膜物質の集合状態を制御し、表面圧を徐々に上
昇させ、累積膜の製造に適する表面圧を設定することが
出来る。この表面圧を維持しながら静かに清浄な担体1
5を垂直に上下させることにより脂肪酸金属塩の単分子
膜が担体15上に移しとられる。ここでいう担体とは、
既述の磁性体薄膜を示す、この様にして脂肪酸金属塩の
単分子膜を酸化コバルト層3上に形成することができる
。
脂肪酸金属塩の単分子膜は以上で製造されるが前記の操
作を縁り返す事により所望の累桔数の脂肪酸金属塩の単
分子累積膜を形成することができる。
作を縁り返す事により所望の累桔数の脂肪酸金属塩の単
分子累積膜を形成することができる。
なお脂肪Mu導体化合物の末端カルボキシル基の水素原
子が水相14中の金属イオンとご換される割合は水相1
4のpH及び金属イオンの濃度に因って決まり、係るp
Hやイオン濃度を:g!節する事に因って任意の割合の
ものを得ることができる。
子が水相14中の金属イオンとご換される割合は水相1
4のpH及び金属イオンの濃度に因って決まり、係るp
Hやイオン濃度を:g!節する事に因って任意の割合の
ものを得ることができる。
脂肪酸金属塩の単分子膜を担体上に移すのには上述した
垂直浸漬法の他、水平付着法、回転円筒法などの方法に
よる。
垂直浸漬法の他、水平付着法、回転円筒法などの方法に
よる。
水平付着法は担体を水面に水平に接触させて移しとる方
法で、回転円筒法は円筒形の担体を水面上を回転させて
相体表面に移しとる方法である。
法で、回転円筒法は円筒形の担体を水面上を回転させて
相体表面に移しとる方法である。
前述した垂直浸漬法では、表面が親木性である相体を水
面を横切る方向に水中から引き上げると脂肪酸金属塩の
親木基が担体側に向いた単分子膜が相体上に形成される
。前述のように担体を上下させると、各工程ごとに一枚
ずつ脂肪酸金属塩の短分子膜が積み重なっていく、製膜
分子の向きが引上工程と浸漬工程で逆になるので、この
方法によると各層間は脂肪酸金属塩の親木基と疎水基が
向かいあうY型膜が形成される。それに対し水平付着法
は、脂肪酸金属塩の疎水基が担体側に向いた単分子膜が
担体上に形成される。この方法では、累積しても、製膜
分子の向きの交代はなく全ての層において、疎水基が担
体側に向いたX膜が形成される0反対に全ての層におい
て親木基が担体側に向いた累積膜はZ型膜と呼ばれる。
面を横切る方向に水中から引き上げると脂肪酸金属塩の
親木基が担体側に向いた単分子膜が相体上に形成される
。前述のように担体を上下させると、各工程ごとに一枚
ずつ脂肪酸金属塩の短分子膜が積み重なっていく、製膜
分子の向きが引上工程と浸漬工程で逆になるので、この
方法によると各層間は脂肪酸金属塩の親木基と疎水基が
向かいあうY型膜が形成される。それに対し水平付着法
は、脂肪酸金属塩の疎水基が担体側に向いた単分子膜が
担体上に形成される。この方法では、累積しても、製膜
分子の向きの交代はなく全ての層において、疎水基が担
体側に向いたX膜が形成される0反対に全ての層におい
て親木基が担体側に向いた累積膜はZ型膜と呼ばれる。
単分子層を担体上に移す方法は、これらに限定されるわ
けではなく、大面積相体を用いるときには担体ロールか
ら水相中に担体を押し出していく方法などもとり得る。
けではなく、大面積相体を用いるときには担体ロールか
ら水相中に担体を押し出していく方法などもとり得る。
また、前述した親木基、疎水基の担体への向きは原則で
あり、担体の表面処理等によって変えることもできる。
あり、担体の表面処理等によって変えることもできる。
上述の方法に因って中間層3J:に形成される脂肪酸金
属塩の単分子膜及び単分子累積膜は高度の秩序性を有す
る超薄膜(単分子層当りの厚み120〜35人)であり
、これらの膜で保護層を形成した場合には、電磁変換特
性に手える影響を著しく小さなものにすることが可能と
なる。
属塩の単分子膜及び単分子累積膜は高度の秩序性を有す
る超薄膜(単分子層当りの厚み120〜35人)であり
、これらの膜で保護層を形成した場合には、電磁変換特
性に手える影響を著しく小さなものにすることが可能と
なる。
有機保護層の厚さは15〜100人の範囲が好適である
。
。
この際、係る有機保護層の下地たる酸化コ/<ルト層3
はGo−Cr磁性層2に比べて親水性が高く、従って、
有機保護層をC:o−Cr磁性層上に直接形成する場合
と比較してより強固な密着性を保つことができる。
はGo−Cr磁性層2に比べて親水性が高く、従って、
有機保護層をC:o−Cr磁性層上に直接形成する場合
と比較してより強固な密着性を保つことができる。
係る保護層形成を行なった磁性薄膜は、熱処理及び/又
は真空処理することにより、中間層3と保護層4との′
IF:着性が向上すると共に保護層4そのものが安定化
し、電磁変換特性を木質的に低下させることなく、特に
耐久性、並びに走行性の優れた1llIll型磁気記録
媒体が得られる。
は真空処理することにより、中間層3と保護層4との′
IF:着性が向上すると共に保護層4そのものが安定化
し、電磁変換特性を木質的に低下させることなく、特に
耐久性、並びに走行性の優れた1llIll型磁気記録
媒体が得られる。
本発明における熱処理とは、基体や有機保護層の材質に
もよるが、40℃〜90°Cの環境温度にて1分間〜3
0分間加熱することをいう、また、真空処理とは、1O
−2torr〜10−’ torn)減圧状態に5分間
〜lO分間さらすことをいう。
もよるが、40℃〜90°Cの環境温度にて1分間〜3
0分間加熱することをいう、また、真空処理とは、1O
−2torr〜10−’ torn)減圧状態に5分間
〜lO分間さらすことをいう。
本発明によって得られるGo−Cr合金強磁性体薄膜堆
積型磁気記録媒体において、当該磁気記録媒体の基体の
少なくとも片側表面には磁気記録層を形成し、これと反
対側の一方の面には、必要に応じて表面と対称型の薄膜
を積層形成しても良く、あるいは当該基体の保護、滑性
、補強、その他の有効な効果を補足する目的で各種のバ
ックコート層を形成しても良い、バックコート層として
は、AI、 Ti、 V、 Zr、 Go、 Nb、
Ta、凱Cr、 Sr、 Ge等の金属、半金属あるい
はその酸化物、窒化物、炭化物の薄膜、あるいは酸化物
微粒+炭酸カルシウム等の易滑性微粒子と、カーボン、
金属粉末等の導電性粒子と、脂肪酸、脂肪酸エステル等
の潤滑剤を少なくとも一種類含む熱可塑性または熱硬化
性樹脂等の高分子バインダーに混練して塗布したものが
挙げられる。
積型磁気記録媒体において、当該磁気記録媒体の基体の
少なくとも片側表面には磁気記録層を形成し、これと反
対側の一方の面には、必要に応じて表面と対称型の薄膜
を積層形成しても良く、あるいは当該基体の保護、滑性
、補強、その他の有効な効果を補足する目的で各種のバ
ックコート層を形成しても良い、バックコート層として
は、AI、 Ti、 V、 Zr、 Go、 Nb、
Ta、凱Cr、 Sr、 Ge等の金属、半金属あるい
はその酸化物、窒化物、炭化物の薄膜、あるいは酸化物
微粒+炭酸カルシウム等の易滑性微粒子と、カーボン、
金属粉末等の導電性粒子と、脂肪酸、脂肪酸エステル等
の潤滑剤を少なくとも一種類含む熱可塑性または熱硬化
性樹脂等の高分子バインダーに混練して塗布したものが
挙げられる。
以下、本発明の具体的実施例を挙げることにより本発明
を更に詳細に説明する。
を更に詳細に説明する。
[I]磁気テープの製造
くテープの評価方法〉
出力の周波数特性:
0.75MHz、 4.5MHz、 7.5MHzの単
一信号を記録し、再生出力をJlll定。
一信号を記録し、再生出力をJlll定。
スチル耐久性テスト:
20°C165%および0℃の環境下でスチル再生出力
の時間変化を測定、20分経過後出力低下が3dB以内
をOとする。
の時間変化を測定、20分経過後出力低下が3dB以内
をOとする。
耐蝕テスト:
50°C980%で1000時間放置後飽和磁束省度の
低下が105以内をOとする。
低下が105以内をOとする。
実施例1
内容積300文の重合釜に3.3’ 、4.4°−ビフ
ェニルテトラカルボン酸二無水物:20モル、ピロメリ
ット酸二無水物;80モル、パラフェニレンジアミン;
70モル及び4.4″−ジアミンジフェニルエーテル:
30モルを原料として厚さ10u+の芳香族ポリイミド
膜のベースフィルムを製造した。
ェニルテトラカルボン酸二無水物:20モル、ピロメリ
ット酸二無水物;80モル、パラフェニレンジアミン;
70モル及び4.4″−ジアミンジフェニルエーテル:
30モルを原料として厚さ10u+の芳香族ポリイミド
膜のベースフィルムを製造した。
この芳香族ポリイミドフィルムについて種々の物性を測
定したが、その結果、引張りi性定数が490kg/1
m2.熱膨張係数αは 100〜300℃で1、EiX
110−5a/cm/’C1Rz (JIS B
0801による平均粗さ)は80八であった。
定したが、その結果、引張りi性定数が490kg/1
m2.熱膨張係数αは 100〜300℃で1、EiX
110−5a/cm/’C1Rz (JIS B
0801による平均粗さ)は80八であった。
この芳香族ポリイミドフィルムをベースフィルムとして
使用し、電子ビーム加熱装置を有した磁気テープの連続
成膜装置により、当該ベースフィルムの表面にGo 7
8wt$ −Cr 22wt$の垂直磁化蒸着膜をベー
スフィルムの温度を200℃として、0.1μs/se
cの成膜速度で約0.4−厚形成した後、その上部に酸
素lO%を含むアルゴンガス中でCaをスパッタし、酸
化コバルトaI膜を8OA厚形成した。
使用し、電子ビーム加熱装置を有した磁気テープの連続
成膜装置により、当該ベースフィルムの表面にGo 7
8wt$ −Cr 22wt$の垂直磁化蒸着膜をベー
スフィルムの温度を200℃として、0.1μs/se
cの成膜速度で約0.4−厚形成した後、その上部に酸
素lO%を含むアルゴンガス中でCaをスパッタし、酸
化コバルトaI膜を8OA厚形成した。
次に、(+)式に示した長鎖アルキル脂肪酸、アラキシ
ン酸 CH2(CH2) u+ C0OH(1)をクロロホル
ムに溶解せしめ(c度5X 10−3 M )だ後、塩
化カドミウム5×10″Kを含むp)16.8、水温2
0℃の水相10 (図1)上に展開し、アラキシン酸カ
ドミウム塩を形成させた。溶媒蒸発除去後、表面圧を3
0a+N/mに迄高めた。この表面圧を一定に保ち乍も
上述磁性体薄膜を担体とし、20+++m/winの速
度で係る担体を水面を横切る方向に水中より引き上げ、
アラキシン酸カドミウム塩の単分子膜を係る担体上に形
成した。こうして得た磁気シートを80℃の恒温炉にて
、15分間熱処理を行なった後、 8.0+am幅に
スリットした。このテープのカールは、 < 0.l
mm−’と小さく、実円上問題のない量であった。この
テープを8ミリVTRテープ用カセツトに装着し、 8
ミリビデオデツキにて出力の周波数特性、スチル耐久性
、50℃ψ80$RHでの#触性テスト等を行なった。
ン酸 CH2(CH2) u+ C0OH(1)をクロロホル
ムに溶解せしめ(c度5X 10−3 M )だ後、塩
化カドミウム5×10″Kを含むp)16.8、水温2
0℃の水相10 (図1)上に展開し、アラキシン酸カ
ドミウム塩を形成させた。溶媒蒸発除去後、表面圧を3
0a+N/mに迄高めた。この表面圧を一定に保ち乍も
上述磁性体薄膜を担体とし、20+++m/winの速
度で係る担体を水面を横切る方向に水中より引き上げ、
アラキシン酸カドミウム塩の単分子膜を係る担体上に形
成した。こうして得た磁気シートを80℃の恒温炉にて
、15分間熱処理を行なった後、 8.0+am幅に
スリットした。このテープのカールは、 < 0.l
mm−’と小さく、実円上問題のない量であった。この
テープを8ミリVTRテープ用カセツトに装着し、 8
ミリビデオデツキにて出力の周波数特性、スチル耐久性
、50℃ψ80$RHでの#触性テスト等を行なった。
結果は、第1表に示すごとく、大変良好であった。
実施例2
実施例1におけるアラキシン酸カドミウム塩(CH2(
CH2) +nCOO)2cdの単分子膜を3層に累積
した以外は、実施例1と全く同様にして、テープを作製
し、性能評価を行った結果を第1表に示す。
CH2) +nCOO)2cdの単分子膜を3層に累積
した以外は、実施例1と全く同様にして、テープを作製
し、性能評価を行った結果を第1表に示す。
その結果は、単分子膜のものと同等に良好であった。
実施例3
アラキシン酸をクロロホルムに溶解せしめ(C度5X
10−3M )だ後、132化コバルト(II) l
X10−3Mを含む、pH9,5〜10、水温20℃の
水相14(図2) J−に展開し、アラキシン酸二バル
トkuノ単分子膜を形成させた。溶媒蒸発除去後、表面
圧を30mN/mに迄高めた。この表面圧を一定に保ち
乍ら、実施例1と同様にして作成した。膜1’!;(8
0への酸化コバルト膜を表面に有するGo−Or m性
薄膜を担体とし、 20mm/+inの速度で係る担体
を木Wjを横切る方向に水中より引き上げ、アラキシン
酸二/へルト塩の単分子膜を係る担体上に形成した。こ
うして得た磁気シートを60℃の真空恒温槽(真空度I
O〜2torr)にて5分間真空熱処理を行なった後、
8.0層幅にスリットした。このテープを実施例1と同
様にして性能評価を行なった。結果を第1表に示す。
10−3M )だ後、132化コバルト(II) l
X10−3Mを含む、pH9,5〜10、水温20℃の
水相14(図2) J−に展開し、アラキシン酸二バル
トkuノ単分子膜を形成させた。溶媒蒸発除去後、表面
圧を30mN/mに迄高めた。この表面圧を一定に保ち
乍ら、実施例1と同様にして作成した。膜1’!;(8
0への酸化コバルト膜を表面に有するGo−Or m性
薄膜を担体とし、 20mm/+inの速度で係る担体
を木Wjを横切る方向に水中より引き上げ、アラキシン
酸二/へルト塩の単分子膜を係る担体上に形成した。こ
うして得た磁気シートを60℃の真空恒温槽(真空度I
O〜2torr)にて5分間真空熱処理を行なった後、
8.0層幅にスリットした。このテープを実施例1と同
様にして性能評価を行なった。結果を第1表に示す。
実施例4
実施例1における有機保護層をアラキシン酸マンガン塩
の単分子膜に変えた他は、実施例1と全く同様にしてテ
ープを作成した。単分子膜の作成条件として、水相14
は塩化マンガン8XlO’M。
の単分子膜に変えた他は、実施例1と全く同様にしてテ
ープを作成した。単分子膜の作成条件として、水相14
は塩化マンガン8XlO’M。
pH7、水温20°Cに調製した。又、製膜は表面圧’
l1mN/mの元、引き上げ速度20mm/ff1in
Lこて行った。かかるテープの性能評価結果を第1
表に示す。
l1mN/mの元、引き上げ速度20mm/ff1in
Lこて行った。かかるテープの性能評価結果を第1
表に示す。
実施例5
11.5u厚ポリエステルフイルム七に80%GO−2
0九N+の磁気記録層をO,L2u+形成し、更にその
トにアラキシン酸カドミウムInの中分子膜を形成した
後、80°Cの恒温炉にて15分間熱処理を行った。
0九N+の磁気記録層をO,L2u+形成し、更にその
トにアラキシン酸カドミウムInの中分子膜を形成した
後、80°Cの恒温炉にて15分間熱処理を行った。
この後、係る磁気シートを8.0mmにスリットしてテ
ープを作成し性能評価を行った。結果を第1表に示す。
ープを作成し性能評価を行った。結果を第1表に示す。
比較例1,2.3
実施例1及び3,4に於いて各々熱処理乃至真空処理工
程を省略した他は全く同等にして得られたテープの性能
評価を行なった。結果を第1表に示す。
程を省略した他は全く同等にして得られたテープの性能
評価を行なった。結果を第1表に示す。
[+T ]磁気ディスクの製造
くディスクの評価法〉
スチルビデオデツキ(試作fi)で再生出力、耐久性、
円周方向の出力変動(出力ムラ)を測定、耐久性は連続
50時間再生し、出力の低下が6dB以下のものをOと
する。出力ムラは1トラツク中での出力の最大値と最小
値の差を示す。
円周方向の出力変動(出力ムラ)を測定、耐久性は連続
50時間再生し、出力の低下が6dB以下のものをOと
する。出力ムラは1トラツク中での出力の最大値と最小
値の差を示す。
実施例6
3.3’ 、4.4’−ビフェニルテトラカルボン酸二
無水物;40モル、ピロメリット酸二無水物;60モル
、パラフェニレンジアミン、50モル及び4,4°−ジ
アミンジフェニルエーテル;50モルより成るモノマー
成分及び成分比で実施例1と同一方法にて芳香族ボリア
ミンク酸の溶液組成物を製造した。そのようにして厚さ
40.の芳香族ポリイミドフィルムを製造した。
無水物;40モル、ピロメリット酸二無水物;60モル
、パラフェニレンジアミン、50モル及び4,4°−ジ
アミンジフェニルエーテル;50モルより成るモノマー
成分及び成分比で実施例1と同一方法にて芳香族ボリア
ミンク酸の溶液組成物を製造した。そのようにして厚さ
40.の芳香族ポリイミドフィルムを製造した。
この芳香族ポリイミドフィルムは引張りI性定数が40
0kg/mm2.熱膨張係数a100〜300℃が2.
8X 10’ cm/cm/’C、Rzは30八であっ
た。
0kg/mm2.熱膨張係数a100〜300℃が2.
8X 10’ cm/cm/’C、Rzは30八であっ
た。
この芳香族ポリイミドフィルムをベースフィルムとして
使用し、スパッタリング装置にて当該ベースフィルム上
にCo 80vtl −Or 20wt%の垂直磁化膜
をベースフィルムの温度を150°Cとして、約0.5
岬形成した後、その上部に醜素12%を含むアルゴンガ
ス中でGoをスパッタし、酸化コバルト薄膜を 100
人厚形成した。次に係る磁性薄膜上に実施例1と同様の
方法に依り、アラキシン酸カドミウム塩の単分子膜を作
成した後80°Cの恒温炉で15分間熱処理を行なった
。
使用し、スパッタリング装置にて当該ベースフィルム上
にCo 80vtl −Or 20wt%の垂直磁化膜
をベースフィルムの温度を150°Cとして、約0.5
岬形成した後、その上部に醜素12%を含むアルゴンガ
ス中でGoをスパッタし、酸化コバルト薄膜を 100
人厚形成した。次に係る磁性薄膜上に実施例1と同様の
方法に依り、アラキシン酸カドミウム塩の単分子膜を作
成した後80°Cの恒温炉で15分間熱処理を行なった
。
こうして得られたサンプルを直径47mmφのディスク
に打ち抜き加工し、ビデオディスク再生機を用いて評価
した。
に打ち抜き加工し、ビデオディスク再生機を用いて評価
した。
その結果は第2表に示した様に大変良好であった。
実施例7
実施例6に於ける有機保護層をアラキシン酸マンカン塩
の単分子膜に変更した他は実施例6と全く同様にしてデ
ィスクを作成した。この際、単分子膜の作成条件として
、水相14は塩化マンガン5x+o=x 、PH7、水
温20℃に:A製シタ。又、製膜は表面圧30mN/m
の元、引き上げ速度20mm/minにて行なった。か
かるディスクの性能評価の結果を第2表に示す。
の単分子膜に変更した他は実施例6と全く同様にしてデ
ィスクを作成した。この際、単分子膜の作成条件として
、水相14は塩化マンガン5x+o=x 、PH7、水
温20℃に:A製シタ。又、製膜は表面圧30mN/m
の元、引き上げ速度20mm/minにて行なった。か
かるディスクの性能評価の結果を第2表に示す。
比較例4.5
実施例6及び7に於いて、各々熱処理工程を省略した他
は全く同等にして得られたディスクの性能評価を行なっ
た。その結果を第2表に示す。
は全く同等にして得られたディスクの性能評価を行なっ
た。その結果を第2表に示す。
比較例6
実施例1において酸化コバルト層と7ラキンン酸力ドミ
ウム用層の代わりに純鉄系磁性体を塗hfした市販のメ
タル塗4j型の磁気シートを直径47mmφのディスク
に打ち抜き加工し、ビデオディスク再生機を用いて評価
した。結果を第2表に示す。
ウム用層の代わりに純鉄系磁性体を塗hfした市販のメ
タル塗4j型の磁気シートを直径47mmφのディスク
に打ち抜き加工し、ビデオディスク再生機を用いて評価
した。結果を第2表に示す。
以上説明したように、本発明による磁気記録媒体の製造
方法によれば、走行性、耐久性、1ilF環境性の優れ
た高密度磁気記録媒体の実現をならしめることができる
。
方法によれば、走行性、耐久性、1ilF環境性の優れ
た高密度磁気記録媒体の実現をならしめることができる
。
第1図は本発明によって製造される磁気記録媒体の構成
図であり、第2図(a)、(b)は本発明の製造方法に
使用される単分子又は単分子累積膜形成装置である。 1・・・基体、 2・・・強磁性体層。 3・・・中間層、 4・・・有機保護層、5
・・・水槽、 6・・・枠、7・・・仕切板
、 8・・・おもり、9・・・滑車、10・
・・磁石、 II・・・対磁石、 12・・・吸引パイプ、
13・・・吸引ノズル、 14・・・水相、15・
・・担体(基板)、16・・・相体上下腕。
図であり、第2図(a)、(b)は本発明の製造方法に
使用される単分子又は単分子累積膜形成装置である。 1・・・基体、 2・・・強磁性体層。 3・・・中間層、 4・・・有機保護層、5
・・・水槽、 6・・・枠、7・・・仕切板
、 8・・・おもり、9・・・滑車、10・
・・磁石、 II・・・対磁石、 12・・・吸引パイプ、
13・・・吸引ノズル、 14・・・水相、15・
・・担体(基板)、16・・・相体上下腕。
Claims (5)
- (1)基体上に、磁性体層を積層し、次いでその上に脂
肪酸誘導体の金属塩の単分子膜又はその累積膜を含む有
機保護層を形成し、更に得られた積層物に熱処理及び/
又は真空処理を施すことを特徴とする磁気記録媒体の製
造方法。 - (2)前記有機保護層と前記磁性体層の間に中間層を設
けた特許請求の範囲第1項記載の製造方法。 - (3)前記有機保護層の厚みが15Å以上100Å以下
である特許請求の範囲第1項記載の製造方法。 - (4)前記中間層が酸化コバルトの薄膜である特許請求
の範囲第2項記載の製造方法。 - (5)前記基体が芳香族ポリイミドフィルムである特許
請求の範囲第1項記載の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11357886A JPS62271219A (ja) | 1986-05-20 | 1986-05-20 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11357886A JPS62271219A (ja) | 1986-05-20 | 1986-05-20 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62271219A true JPS62271219A (ja) | 1987-11-25 |
Family
ID=14615785
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11357886A Pending JPS62271219A (ja) | 1986-05-20 | 1986-05-20 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62271219A (ja) |
-
1986
- 1986-05-20 JP JP11357886A patent/JPS62271219A/ja active Pending
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