JPS62269436A - 自己診断モジユ−ル構成方式 - Google Patents

自己診断モジユ−ル構成方式

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JPS62269436A
JPS62269436A JP11286886A JP11286886A JPS62269436A JP S62269436 A JPS62269436 A JP S62269436A JP 11286886 A JP11286886 A JP 11286886A JP 11286886 A JP11286886 A JP 11286886A JP S62269436 A JPS62269436 A JP S62269436A
Authority
JP
Japan
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self
diagnosis
module
modules
output
Prior art date
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Pending
Application number
JP11286886A
Other languages
English (en)
Inventor
Tetsuro Hirayama
平山 哲朗
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPS62269436A publication Critical patent/JPS62269436A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は自己診断モジュール構成方式に関し、特に複数
のモジュールの中の不良モジュールを識別できる自己詮
所モジュール構成方式に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種の複数の自己診断機能内蔵モジュールの中
から不良モジュールを識別することができるモジュール
構成方式では、各モジュールにあらかじめデバイス番号
を付与し、このデバイス番号を順次スキャンすることに
より特定の不良モジュールを識別していた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述した従来の自己診断モジュール構成方式で不良モジ
ュールを識別するには、各モジュールを順次スキャンす
るので時間がかかるという欠点があり、また各モジュー
ルにデバイス番号を付与するのでそのための配線や端子
が余分に必要となるという欠点がある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の自己診断モジュール構成方式は、それぞれ自己
診断機能を有する複数のモジュールを縦属接続してなる
システムにおいて、前記各モジュールに異なる自己診断
時間を設定する診断時間設定手段と、前記モジュールの
自己診断結果信号と外部信号とを論理和する論理和手段
とを備えている。
[実施例〕 次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
第1図にJ3ける動作を説明するためのタイムチャーl
〜である。
第1図において、システムはそれぞれ自己診断機能を有
する2つのモジュール1.2が縦続接続されてなる。モ
ジュール1.2はそれぞれ自己診断機能部(以下5D)
11,2]と、遅延素子(以下D>1.2.22と、2
人カオア回路(以下OR>1.3.23とを備え、各モ
ジュール1.2のSDl、1..2]には診断スターI
・信号aが入力され、SDl、1..21の出力はそれ
ぞれDl、2.22により遅延されて0RI−3,23
の一方の入力となる。01”(13,23の他方の入力
は縦続接続されたモジュールのORの出力と接続される
。つまり、OR,1,3の他方の入力はOR,23の出
力と接続され、011.23の他方の入力は縦続接続の
モジュールがないので論理゛′0“′が印加しである。
なお、Dl2.22の遅延時間はそれぞれTI。
T2(但しTI <T2 )に設定しておく。
続いて第2図を併用して本実施例の動作について説明す
る。
診断スターI・信号aをモジュール1.2に印加すると
、5DII、21はそれぞれモジュール1゜2の自己診
断を行い、Dl、2.D22の介して診断結果1)、c
を出力する。ここで前述したように遅延時間T2は遅延
時間T、より充分大きくしであるので、診断結果1)、
cは第2図に示ずJ:うになる。
これとモジュール1の出力から観察すると、OR1,3
が診断結果す、cの論理和演算を行なって第2図に示す
出力dとなる。これを診断スタート信号aを基準にした
時間T1+α、T2+α(αけパルス幅の約1/2)で
サンプルすることによりモジュール1,2の診断結果を
知ることができる。例えば出力dの波形に示すように時
間TI十α、T2+αとも論理“′1°′が得られた場
合は、モジュール1.2はともに診断結果は良である。
また、出力e波形のように時間′「1+αで論理゛0“
、時間T2+αで論理” ] ”が得られた場合は、モ
ジュール1の診断結果は不良で、モジュール2の診断結
果は良であることが分かる。
このように本実施例では、モジュール1の出力の波形を
観察することにより、不良モジュールを診断できる。仮
に複数モジュールが同時に不良であっても直ちにそれを
知ることができる。
なお、本実施例では2つのモジュールについて示したが
、3つ以−にのモジュールを縦続接続すれば、同様に容
易に3以」−のモジュールの診断結果が得られることは
明らかである。但し、この場合各モジュールの応答時間
はすべて異なるように設定しておく必要があるが、縦続
接続の順序は任意のものでよい。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、複数のモジュールの自己
診断結果の出力に時間差を設けることにより、モジュー
ル間の配線本数が少なくしかも拡張性が高くなる効果が
あり、複数モジュールの診断結果が同時に得られるので
診断時間が著しく短縮される効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
第1図における動作を説明するためのタイムチャートで
ある。 1.2・・・モジュール、11,2]・・・自己診断機
能部(SD)、12.22・・・遅延素子(D)、13
.23・・・2人カオア回路(OR)。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. それぞれ自己診断機能を有する複数のモジュールを縦続
    接続してなるシステムにおいて、前記各モジュールに異
    なる自己診断時間を設定する診断時間設定手段と、前記
    モジュールの自己診断結果信号と外部信号とを論理和す
    る論理和手段とを備えることを特徴とする自己診断モジ
    ュール構成方式。
JP11286886A 1986-05-16 1986-05-16 自己診断モジユ−ル構成方式 Pending JPS62269436A (ja)

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JPS62269436A true JPS62269436A (ja) 1987-11-21

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Cited By (1)

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EP2122632A1 (en) * 2006-12-22 2009-11-25 Sidense Corp. Dual function data register

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