JPS63292719A - カウンタ回路 - Google Patents

カウンタ回路

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JPS63292719A
JPS63292719A JP62125790A JP12579087A JPS63292719A JP S63292719 A JPS63292719 A JP S63292719A JP 62125790 A JP62125790 A JP 62125790A JP 12579087 A JP12579087 A JP 12579087A JP S63292719 A JPS63292719 A JP S63292719A
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JP
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flip
flop
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test
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Tsutomu Hayase
早瀬 力
Minoru Usami
宇佐見 稔
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、n個(nは2以上の整数)のフリップフロッ
プからなるカウンタ回路に関し、特にテスト回路を含ん
だカウンタ回路に関する。
[従来の技術] 一般にカウンタ回路は複数のフリップフロップを直列接
続して構成される。
第6図はn=3の場合の従来のカウンタ回路を示す回路
図であり、また第7図はその動作を示すタイミングチャ
ート図である。3つのフリップ70ツブ31.32.3
3の各出力303,304゜305は、第7図に示すよ
うに、クロック入力302を、夫々、1/2.1/4.
1/8に分周した出力となる。従って、最終段のフリッ
プフロップ33の出力305でカウンタ回路の動作を確
認するには、クロック入力302から少なくとも8個の
クロックパルスを入力する必要がある。
一般的に、n個のフリップフロップからなるカウンタ回
路の動作確認を最終段のフリップフロップの出”力によ
って行うと、クロックパルス2fi個分の待ち時間が必
要になり、特にnが大きくなると、動作確認の時間が非
常に長くなるという問題点があった。
そこで、動作確認の時間を短縮する技術として、第8図
に示すように、テスト回路を内蔵したカウンタ回路が提
案されている。このカウンタ回路は、2段目、3段目の
フリップフロップ42.43の入力にセレクタ44.4
5を接続し、このセレクタ44.45をテスト入力40
3によって切り替えることによって、通常動作時は、前
段のフリップフロップ41.42の出力406,407
をそれぞれ後段のフリップフロップ42.43の入力に
導き、テストモード時は、クロック入力402を直接フ
リップフロップ42.43の入力に導くようにしている
第9図(a)は、このカウンタ回路のテスト入力403
をu Onとした通常の動作を示すタイミングチャート
図であり、第9図(b)はテスト入力403を”1″と
したテストモードの動作を示すタイミングチャート図で
ある。通常の動作の場合は[第9図(a)] 、第7図
と同様の信号パターンを示す。一方、テストモードにお
いては、テスト入力403を°“1″にしてセレクタ4
4゜45を下側に切替え、3個のフリップフロップ41
.42.43に同時にクロックパルス402を加える。
そして、1段目、2段目のフリップフロップ41.42
の出力406,407をテスト出力1.2として取り出
し、これら出力406゜407を最終段の出力408と
ともに観測することにより、2個のクロックパルスによ
りカウンタの動作テストを完了することができる。
[発明が解決しようとする問題点] しかしながら、この動作時間の短縮を図った従来のテス
ト回、路内蔵型のカウンタ回路においては、n個のフリ
ップフロップの出力を同時に観測する必要があり、この
ため(n71)個のテスト出力が必要となるため、出力
の端子数が増加するという問題点があった。
本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであって、テ
スト時間を短縮することができ、しかもテスト出力のた
めの端子を増設する必要がないカウンタ回路を提供する
ことを目的とする。
[問題点を解決するための手段コ 本発明に係るカウンタ回路は、各フリップフロップの間
にゲート回路を設け、このゲート回路の一方の入力に前
段のフリップフロップの出力を与え、他方の入力に初段
のフリップフロップに与えるテスト用クロック信号に対
し遅延回路を用いてパルス幅の範囲内でタイミングを異
ならせた信号を与えるようにしている。そして、ゲート
回路で両人力信号を論理演算して前記前段のフリップフ
ロップの出力の後縁タイミングで後段のパルスの後縁タ
イミングが規定された連続する2つのパルスを生成し、
後続するフリップフロップに出方するようにしている。
[作用] 本発明によれば、ゲート回路の2つの入力のタイミング
差によって、各ゲート回路で連続する2つのパルスを生
成でき、これを後続する各フリップフロップに与えてい
るため、各段のフリップフロップの出力を2つのパルス
によって直ちに確認することができる。ゲート回路は、
一方においては、各段のフリップフロップ間でタイミン
グが異なる信号を入力し、他方においては前段のフリッ
プフロップの出力を入力し、上記2つのパルスの最後縁
のタイミング差 出力で規定している。このため、もし、故障により前段
のフリップフロップから正しい出力が得られない場合に
は、前記2つのパルスのi後縁パルスを規定できなくな
り、最終段のフリップフロップからは全く出力が得られ
なくなるか、又はその出力タイミングがずれたりする。
これを観測すればフリップフロップの故障を発見するこ
とができる。
[実施例] 次に1本発明の実施例について添付の図面を参照して説
明する。第1図は、本発明の実施例に係るカウンタ回路
を示す回路図である。このカウンタ回路は、直列に接続
された3個のフリップフロップ11,12.13と、こ
れらフリップフロップ11〜13の各前段に設けられた
3個のアンドゲート14〜16と、このアンドゲート1
4〜16の各一方の入力端間に接続された遅延回路17
.18とで構成されている。
遅延回路17.18はテスト入力103として与えられ
るテスト用クロック信号を夫々to  (秒)だけ遅延
させる。アンドゲート14はクロック入力102とテス
ト入力103との論理積をとり、初段のフリップフロッ
プ11に出力する。また、アンドゲート15,16は、
夫々前段のフリップフロップ11.12の出力と遅延回
路17.18の出力との論理積をとり、後続するフリッ
プフロップ12.13に出力する。
次に、以上のように構成された本実施例に係るカウンタ
回路の動作について、そのタイミングチャート図である
第2図(a)、(b)に基いて説明する。第2図(a)
は、第1図のテスト入力103を“1°°とすることに
より、通常のカウンタとして動作させた場合である。ク
ロック人力102からクロックパルスを入力すると、フ
リップフロップ11〜13はこれを各1/2.1/4゜
1/8分周するので、フリップフロップ13の出力11
1には、入力クロックパルスの8倍の周期の信号が出力
される。
一方、第2図(b)は、テストモード蒔であり、この場
合には、クロック人力102を“1′°とじ、テスト入
力103に2個の連続したクロックパルスを入力する。
このクロックパルスは、遅延回路17でto (秒)、
遅延回路18で2to(秒)だけ、テスト入力103に
入力されたテスト用クロックパルスに対して遅延する。
アンドゲート14からのテスト用クロック信号106を
入力したフリップフロップ11の出力107の立上りタ
イミングは、遅延回路17からの前段パルスの降下タイ
ミングよりもtoだけ早いので、アンドゲート15は、
そのタイミング差toに起因したパルスを前段パルスと
して出力する(フリップフロップ12の入力108参照
)。
また、アンドゲート15の出力(フリップフロップ12
の入力108)における後段パルスは、遅延回路17か
らの後段のパルスの立上り時に立上ると共に、その降下
タイミングが前段のフリップフロップ11の出力107
によって規定される。
同様にアンドゲート16の出力(フリップフロップ13
の入力110)は、前段のフリップフロップ12の出力
109と遅延回路18の出力105とのタイミング差t
oに起因した前段パルスと、降下タイミングが前段のフ
リップフロップ12の出力109によって規定される後
段パルスとからなる。
このように、テスト入力103より2個のクロックパル
スを入力することにより、すべてのフリップフロップ1
1〜13にタイミングがずれた2個のパルスを入力する
ことができ、その結果を最後のフリップフロップの出力
で観測することができる。
カウンタ回路に故障がある場合には、正常なフリップフ
ロップ出力が得られず、ゲート回路15゜16の出力の
後段パルスの降下タイミングを本来のタイミングに規定
できなくなる。このため、第3図(b)〜(d)のタイ
ムチャートに示すように、フリップフロップ13の出力
111を観測し、入力クロックパルスとの相対関係を比
鮫することにより、カウンタ回路の故障を検出すること
が可能である。
一第3図(a)は正常な場合、第3図(b)〜(d)は
フリップフロップ11が故障した場合のタイミングチャ
ート図である。
第3図(b)は、フリップフロップ11の出力が0′°
のまま、第3図(C)はフリップフロップ11の出力が
“1°′のまま、第3図(d)は、フリップフロップ1
1のリセットが不良の場合の例である。第3図(a)と
第3図(b)〜(d)とを、出力111で比較すると、
フリップフロップ11が故障していると、出力111が
“0”のままか、降下時間がtoだけ遅れることがわか
る。
なお、他のフリップフロップ、アンドゲート及び遅延回
路の故障も同様に検出することができるので、その説明
は省略する0以上、n=3の場合について説明したが、
nが2及び4以上の場合も同様である。
なお、遅延回路の遅延時間t、o  (秒)は、ゲート
回路の遅延時間をtG (秒)、フリップフロップの遅
延時間をt pp (秒)、フリップフロップの動作可
能な最小パルス幅をta  <秒)、入力クロックパル
ス幅をtw  (秒)とすれば、下記不等式(1)にて
規定する範囲に選ぶ必要がある。
t、、、/n≧tD≧tG+tFF+tc・・・・・・
(1)第4図は、本発明の他の実施例を示す回路図であ
る。21〜23はフリップフロップ、27.28は遅延
回路、24〜26は、オアゲートである。
この実施例ではゲート回路にオアゲートを用いている。
また、この実施例では出力側のフリップフロップ23か
ら入力側のフリップフロップ21へと、前述の実施例と
は逆方向に遅延回路27゜28を接続することにより、
各フリップフロップの入カバルスを前段のフリップフロ
ップに比べて相対的に進ませるようにしている。
第5図(a)、(b)は、この回路のタイミングチャー
ト図を示す。この回路では、テスト入力203、遅延回
路27の出力204及び遅延回路28の出力205(テ
スト用クロック信号)のタイミング差によって、オアゲ
ート25.26の出力(夫々フリップフロップ22.2
3の入力208.210)に0レベル期間を挿入し、前
段パルスと後段パルスとの分離を図っている。
そして、この場合にも、後段パルスの後縁タイミングは
、前段のフリップフロップの出力の後縁タイミングによ
って規定されているので、前述した第1図の実施例と同
様に、フリップフロップ23の出力211と、クロック
パルスとの相対関係とを比較することによって、カウン
タ回路の故障を発見することができる。
[発明の効果] 以上、説明したように本発明によれば、各フリップフロ
ップ間にゲート回路を接続し、遅延回路によるタイミン
グがずれたパルスと前段のフリップフロップ出力との論
理演算結果を各フリップフロップに入力することにより
、フリップフロップの数nに拘らず、2個のクロックパ
ルスを入力して得られる最終段のフリップフロップの出
力タイミングを観測するのみで、カウンタ回路の動作テ
ストを行うことができる。
このため、本発明によれば、各フリップフロップ出力の
観測用端子を必要とせず、単に1個のテスト入力端子を
追加するだけでよい。即ち、従来の方法では、テスト回
路がないカウンタ回路の動作テストには、2″個のクロ
ックパルスの入力が必要であるため、動作テストに長時
間を要している。一方、2個のクロックパルスで動作テ
ストをするには、テスト出力を(n−1)個追加しなけ
ればならない、しかしながら、本発明によれば、2個の
クロックパルスで動作テストをすることができ、しかも
、テスト入力用に1個の入力端子を追加するのみでよい
。これはnが大きくなるにつれて極めて実益が高くなる
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示す回路図、第2図(a)、
(b)及び第3図(a)乃至(d)は同回路の動作を示
すタイミングチャート図、第4図は本発明の他の実施例
を示す回路図、第5図(a)、(b、)は同回路の動作
を示すタイミングチャート図、第6図はテスト回路を有
しない従来例の回路図、第7図は同回路の動作を示すタ
イミングチャート図、第8図はテスト回路を備えた従来
例の回路図、第9図(a)、(b)は同回路の動作を示
すタイミングチャート図である。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)直列接続されたn(nは2以上の整数)個のフリ
    ップフロップと、 所定のクロック信号を遅延処理し、初段の前記フリップ
    フロップに与えるテスト用クロック信号に対して該クロ
    ック信号のパルス幅の範囲内でタイミングを異ならせた
    信号を生成する遅延回路と、前記各フリップフロップ間
    に介挿され、前段のフリップフロップの出力と前記タイ
    ミングを異ならせた信号とを論理演算して前記前段のフ
    リップフロップの出力の後縁タイミングで後段のパルス
    の後縁タイミングが規定された連続する2つのパルスを
    生成し、このパルスを後続する前記フリップフロップに
    出力するゲート回路と、 を有することを特徴とするカウンタ回路。
  2. (2)前記遅延回路は、前記初段のフリップフロップ回
    路に与えるテスト用クロック信号を該クロック信号のパ
    ルス幅の1/nずつ遅延させるものであり、前記ゲート
    回路はアンド回路であることを特徴とする特許請求の範
    囲第1項に記載のカウンタ回路。
  3. (3)前記遅延回路は、前記初段のフリップフロップ回
    路に与えるテスト用クロック信号を該クロック信号のパ
    ルス幅の1/nずつ進めた信号を生成するものであり、
    前記ゲート回路はオア回路であることを特徴とする特許
    請求の範囲第1項に記載のカウンタ回路。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19522839A1 (de) * 1995-06-23 1997-01-02 Telefunken Microelectron Verfahren zum Testen von Impulszählern

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JPS61126821A (ja) * 1984-11-22 1986-06-14 Nec Corp ロジツクlsi回路

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