JPS6154713A - ゲ−トアレイ装置 - Google Patents

ゲ−トアレイ装置

Info

Publication number
JPS6154713A
JPS6154713A JP59177721A JP17772184A JPS6154713A JP S6154713 A JPS6154713 A JP S6154713A JP 59177721 A JP59177721 A JP 59177721A JP 17772184 A JP17772184 A JP 17772184A JP S6154713 A JPS6154713 A JP S6154713A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
clock pulse
terminals
terminal
input terminals
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP59177721A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0342813B2 (ja
Inventor
Akira Matsushita
朗 松下
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP59177721A priority Critical patent/JPS6154713A/ja
Publication of JPS6154713A publication Critical patent/JPS6154713A/ja
Publication of JPH0342813B2 publication Critical patent/JPH0342813B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は回路動作試験端子を有するゲートアレイ装置に
関するものである。
従来例の構成とその問題点 第1図は、従来のゲートアレイ装置である。第1図にお
いて、1け信号入力端子、2〜9はカウンタ動作試験端
子、10はカウンタ出力端子。
11〜19は4ビツトカウンタ、20〜27はエクスク
ル−シブオア回路である。
次に、従来のゲートアレイの動作について説明する。ま
ず、4ビツトカウンタ11〜19の動作確認を行なう場
合は、入力端子1.試験端子2〜8を「0」の状態に固
定し、試験端子9にクロックパルスを加え、4ビツトカ
ウンタ19の動作確認を出力端子10の出力信号によっ
て行なう。そして、次に入力端子1.試験端子2〜7,
9を「0」の状態に固定し、試験端子8にクロックパル
スを加え、4ピツトカウンタ18の動作確認を出力端子
10の出力信号によつて行なう。この様にして以下4ビ
ットカウンタ17,16,15,14,13゜12を同
様に動作確認を行ない、最後に試験端子2〜9を「0」
の状態に固定し、入力端子1にクロックパルスを加え、
出力端子10の出力信号により、4ビツトカウンタ11
の動作確認を行なう。
しかしながら、上記従来例においては試験端子2〜9の
8本の端子を動作確認専用に用意しなければならないの
で、半導体チップ内においてわざわざ端子の数だけ入力
用バッファを準備しなければならず、小型化にするとき
の問題になっていた。
発明の目的 本発明は、上記従来の問題点を除去するもので1、ゲー
トアレイ集積回路の入力端子及び入力バッファの有効利
用を目的とするものである。
発明の構成 本発明は、上記目的を達成するために1直列接続された
複数のカウンタ間にエクスクルシブオア回路を挿入し、
このエクスクルシブオア回路の他の入力に、それぞれチ
ップセレクタの出力端子を接続して、チップセレクタの
アドレス入力端子を制御することによって、所望のカウ
ンタの動作確認を行なえるよう構成したものであゃ、入
力端子数を減少でき、入力バッファの有効利用を図れる
という利点を有する。
実施例の説明 以下に本発明の一実施例の構成について図面とともに説
明する。第2図は本発明の一実施例によるゲートアレイ
装置のブロック図である。
第2図において、31は制御回路、32はチップセレク
タ回路、33はカウンタ信号入力端子。
34はリセット端子、35はチップセレクタ回路32の
クロックパルス入力端子、36〜38はチップセレクタ
回路32のアドレス入力端子、39はカウンタ出力端子
、40〜47はチップセレクタ回路32の出力信号線、
48〜56は4ビ、トカウンタ、57〜64はエクスク
ル−シブオア回路である。なお、このテンプセレクタ回
路32はクロックパルス端子35が「0」ま−たは「1
」のとき、アドレス入力端子36〜38で指定された出
力信号線40〜47のひとつに上記rOJまたはrlJ
を出力するものである。
次に、上記実施例の動作を説明する。第2図において、
ゲートアレイ装置65を通常に使用する場合は、制御回
路31をゲートアレイ装置65から取りはずしておく。
チップセレクタ回路32はリセットするので動作せず、
出力信1号線4o〜47のいずれもが「0」になってい
る。従って、入力端子34に入力されたパルスは4ビツ
トカウンタ48〜56全てでカウントされた後、すなわ
ち、1609乗個に1個、出力端子39から出力信号が
出力される。
また、このゲートアレイ装置65を試験するときには、
制御回路31を第2図のようにゲートアレイ装置65に
接続する。このとき、リセットは解除される。4ビツト
カクンタ56を試験したいとき釦は、アドレス入力端子
36をrOJ、37をrOJ、38を「0」にして、ク
ロックパルス入力端子35にクロックパルスを入力して
、出力端子39の出力によシ、4ビツトカウンタ56の
動作確認を行なう。そして、4ビツトカウンタ55を試
験したいときは、アドレス入力端子36を「0」。
37をrOJ、38をrlJ K してクロックパルス
入力端子351Cクロツクパルスを入力して、出力端子
39の出力によシ、4ビツトカウンタ55の動作確認を
行なう。同様に4ビツトカウンタ49を試験したいとき
は、アドレス入力端子36を「1」。
37をrxJ、3sを「1」にして、クロックパルス入
力端子35にクロックパルスを入力して、出力端子39
の出力により、4ビツトカウンタ55の動作確認を行な
う。
なお、4ピツトカウンタ48を試験したいときは、リセ
ット端子34をリセットして、入力端子33からクロッ
クパルスを入力して、出力端子39の出力によシ、4ビ
ツトカウンタ48の動作確認を行なう。
以上のように、制御回路31でアドレス入力端子36〜
38を指定することによって、4ピツトカウンタ48〜
56のいずれもが、ひとつずつ動作確認できる。また、
制御回路31をゲートアレイ装置65から取)はずすこ
とによって、自動的にチップセレクタ回路32をリセッ
トでき、出力信号線40〜47を全てrOJにできるも
のである。
発明の効果 本発明は上記実施例から明らかなよう3.に、直列接続
された複数のカウンタ間にエクスクルシブオア回路を挿
入し、このエクスクルシブオア回路の他の入力に、それ
ぞれチップセレクタの出力端子を接続して、チップセレ
クタのアドレス入力端子を制御することによって、所望
のカウンタの動作確認を行なえるよう構成したので、入
力端子数を減少でき、入力バッファの有効利用を図れる
という効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のゲートアレイ装置のブロック図、第2図
は本発明の一実施例によるゲートアレイ装置のブロック
図である。 入力端子、36〜38・・・アドレス入力端子、3イ。 ・・・出力端子、40〜47・・・出力信号線、48〜
56・・・4ピツトカウンタ、57〜64・・・エクス
クルシブオア回路、65・・・ゲートアレイ装置。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 直列接続された複数のカウンタ間にエクスクルシブオア
    回路を挿入し、このエクスクルシブオア回路の他の入力
    に、それぞれチップセレクタの出力を接続して、上記チ
    ップセレクタのアドレス入力を制御することによって、
    所望のカウンタの動作確認を行なえるよう構成したゲー
    トアレイ装置。
JP59177721A 1984-08-27 1984-08-27 ゲ−トアレイ装置 Granted JPS6154713A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59177721A JPS6154713A (ja) 1984-08-27 1984-08-27 ゲ−トアレイ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59177721A JPS6154713A (ja) 1984-08-27 1984-08-27 ゲ−トアレイ装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6154713A true JPS6154713A (ja) 1986-03-19
JPH0342813B2 JPH0342813B2 (ja) 1991-06-28

Family

ID=16035946

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59177721A Granted JPS6154713A (ja) 1984-08-27 1984-08-27 ゲ−トアレイ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6154713A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63503481A (ja) * 1986-06-18 1988-12-15 ヒユーズ・エアクラフト・カンパニー マルチモードカウンタ回路網
JPS63503588A (ja) * 1986-06-18 1988-12-22 ヒユーズ・エアクラフト・カンパニー ルックアヘッドターミナルカウンタ

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63503481A (ja) * 1986-06-18 1988-12-15 ヒユーズ・エアクラフト・カンパニー マルチモードカウンタ回路網
JPS63503588A (ja) * 1986-06-18 1988-12-22 ヒユーズ・エアクラフト・カンパニー ルックアヘッドターミナルカウンタ

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0342813B2 (ja) 1991-06-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0242255A3 (en) Circuit testing system
US4913557A (en) Intergrated logic circuit having testing function circuit formed integrally therewith
US4093993A (en) Bit-slice type large scale integrated circuit with multiple functions on a one-chip semiconductor device
JPS6154713A (ja) ゲ−トアレイ装置
US5754559A (en) Method and apparatus for testing integrated circuits
JP3183244B2 (ja) 集積回路のテスト方法
JP3490273B2 (ja) 半導体集積回路装置
JP3437322B2 (ja) 半導体集積装置
JP2709334B2 (ja) 半導体集積回路
JPH01293650A (ja) 集積回路
JP3278594B2 (ja) 半導体集積回路のテスト方法
US5821850A (en) Method and apparatus for comparing magnitude of data from a plurality of data sources
KR900006412B1 (ko) 카운터를 사용한 테스트 논리회로
JP2786017B2 (ja) 半導体集積回路の製造方法
JPH0339672A (ja) 半導体集積回路
JPS59128464A (ja) 半導体集積回路のテスト入力回路
JPS62269436A (ja) 自己診断モジユ−ル構成方式
JPS59231637A (ja) 入力デ−タ処理システム
JPH04206864A (ja) 半導体検査回路
JPH0417489B2 (ja)
JPS60226000A (ja) 故障検出方式
JPH01205346A (ja) 半導体集積回路
JPH01232420A (ja) データのスタック装置
JPS62174827A (ja) デジタル信号順序化回路
JPS62203361A (ja) チツプ品名表示回路内蔵の集積回路