JPS62260384A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JPS62260384A JPS62260384A JP61105316A JP10531686A JPS62260384A JP S62260384 A JPS62260384 A JP S62260384A JP 61105316 A JP61105316 A JP 61105316A JP 10531686 A JP10531686 A JP 10531686A JP S62260384 A JPS62260384 A JP S62260384A
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/42—Coupling light guides with opto-electronic elements
- G02B6/4295—Coupling light guides with opto-electronic elements coupling with semiconductor devices activated by light through the light guide, e.g. thyristors, phototransistors
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- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
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- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
- H01S5/0683—Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、モニタ用受光素子とレーザダイオードとを内
蔵してなる半導体装置に関するものである。
蔵してなる半導体装置に関するものである。
従来よυ、この種の装置として半導体装置ML4402
(三菱電機製)、HL7831G(日立製)、RLD
−78A(ローム製)等が市販嘔れている。第5図は、
これら半導体装置の基本構成を示す一部破断外観斜視図
であシ、第6図(a)は第5図におけるA矢視縦断面図
、第6図Φ)は第5図におけるB矢視縦断面図である。
(三菱電機製)、HL7831G(日立製)、RLD
−78A(ローム製)等が市販嘔れている。第5図は、
これら半導体装置の基本構成を示す一部破断外観斜視図
であシ、第6図(a)は第5図におけるA矢視縦断面図
、第6図Φ)は第5図におけるB矢視縦断面図である。
これらの図において、1はレーザダイオード、2はこの
レーザダイオード1をサブマウント3を介して取着して
なるブロック、4は受光素子、5はこの受光素子4およ
びブロック2をその上面にボンディングしてなるステム
、6a〜6Cはリードピン、7aはレーザダイオード1
とリードピン6aとを接続するリード線、7bは受光素
子4とリードピン6bとを接続するリード線、8はステ
ム5の外周鍔部に嵌合されると共にレーザダイオード1
および受光素子4を収納するキャンプ、9はこのキャッ
プ8の上面部に開設されたレーザビーム出射光8aの下
面側に配設されたガラス版である。
レーザダイオード1をサブマウント3を介して取着して
なるブロック、4は受光素子、5はこの受光素子4およ
びブロック2をその上面にボンディングしてなるステム
、6a〜6Cはリードピン、7aはレーザダイオード1
とリードピン6aとを接続するリード線、7bは受光素
子4とリードピン6bとを接続するリード線、8はステ
ム5の外周鍔部に嵌合されると共にレーザダイオード1
および受光素子4を収納するキャンプ、9はこのキャッ
プ8の上面部に開設されたレーザビーム出射光8aの下
面側に配設されたガラス版である。
レーザダイオード1は、第5図および第6図においてそ
の上下方向にレーザビームを発射するように配置畑れて
おり、上方側に発射されるレーザビームが出力レーザビ
ームとしてキャブ8の出射孔8aを介して外部に出射さ
れるようになっている。そして、下方側に発射されるレ
ーザビームがモニタ用レーザビームとして、このレーザ
ビームの出射方向に対して所定の傾斜角度でステム5上
に載置式れた受光素子4に照射されるようになっており
、この受光素子4におけるモニタ用レーザビームに基づ
いて出射孔aaを介して出射される出力レーザビームの
調整を可能とするように構成されている。レーザダイオ
ード1はその動作時の発熱によシ動作が不安定となるの
で、その放熱性を良くするために熱伝導性の良い一般に
金属材よシなるブロック2に取着しておシ、両者の熱膨
張の差が直接レーザダ・fオード1に作用しないように
、レーザダイオード1とブロック2この間に一般にシリ
コン材よシなるサブマウント3を介装している。
の上下方向にレーザビームを発射するように配置畑れて
おり、上方側に発射されるレーザビームが出力レーザビ
ームとしてキャブ8の出射孔8aを介して外部に出射さ
れるようになっている。そして、下方側に発射されるレ
ーザビームがモニタ用レーザビームとして、このレーザ
ビームの出射方向に対して所定の傾斜角度でステム5上
に載置式れた受光素子4に照射されるようになっており
、この受光素子4におけるモニタ用レーザビームに基づ
いて出射孔aaを介して出射される出力レーザビームの
調整を可能とするように構成されている。レーザダイオ
ード1はその動作時の発熱によシ動作が不安定となるの
で、その放熱性を良くするために熱伝導性の良い一般に
金属材よシなるブロック2に取着しておシ、両者の熱膨
張の差が直接レーザダ・fオード1に作用しないように
、レーザダイオード1とブロック2この間に一般にシリ
コン材よシなるサブマウント3を介装している。
そして、このような構成の半導体装置を製造する場合、
キャップ8を取着する前までの工程で、ステム5上に受
光素子4をダイボンドしてリード線7bをワイヤボンド
する工程と、ブロック2上にサブマウント3およびレー
ザダイオード1をダイボンドした後、このブロック2を
ステム5上にボンディングしてリード線1aをワイヤボ
ンドする工程とがあシ、画素子でダイボンドおよびワイ
ヤボンド工程を別々に行っている。
キャップ8を取着する前までの工程で、ステム5上に受
光素子4をダイボンドしてリード線7bをワイヤボンド
する工程と、ブロック2上にサブマウント3およびレー
ザダイオード1をダイボンドした後、このブロック2を
ステム5上にボンディングしてリード線1aをワイヤボ
ンドする工程とがあシ、画素子でダイボンドおよびワイ
ヤボンド工程を別々に行っている。
しかしながら、このような半導体装置によると、その製
造過程において、レーザダイオード1側と受光素子4側
とでそのダイボンドおよびワイヤボンド工程を別々に行
っているので、生産性が悪く、コストアップの要因とな
っていた。
造過程において、レーザダイオード1側と受光素子4側
とでそのダイボンドおよびワイヤボンド工程を別々に行
っているので、生産性が悪く、コストアップの要因とな
っていた。
本発明はこのような問題点に鑑みてなされたもので、そ
の目的とするところは、その生産性を向上てせると共に
安価な半導体装置を提供することにある。
の目的とするところは、その生産性を向上てせると共に
安価な半導体装置を提供することにある。
このような目的を達成するために、本発明は、レーザダ
イオードのモニタ用レーザビームを反射面を用いて受光
素子に導くようにしたものである。
イオードのモニタ用レーザビームを反射面を用いて受光
素子に導くようにしたものである。
したがってこの発明によれば、レーザダイオードと受光
素子とを同一方向側から基板に配置し同一工程でボンデ
ィングを行うことが可能となる。
素子とを同一方向側から基板に配置し同一工程でボンデ
ィングを行うことが可能となる。
以下、本発明に係る半導体装置を詳細に説明する。第2
図はこの半導体装置の一実施例を示す縦断面図でおる。
図はこの半導体装置の一実施例を示す縦断面図でおる。
同図において、第5図および第6図と同一符号は同一構
成部材および素子を示しその説明は詳細する。図におい
て、10は熱伝導率の高い例えばSiC,AIN等より
形成されてなる基板、11はこの基板10上に取着され
た断面路「<」字状の反射板でメジ、キャップ8の下端
開口部は樹脂等の封止材12によシ密閉されている。
成部材および素子を示しその説明は詳細する。図におい
て、10は熱伝導率の高い例えばSiC,AIN等より
形成されてなる基板、11はこの基板10上に取着され
た断面路「<」字状の反射板でメジ、キャップ8の下端
開口部は樹脂等の封止材12によシ密閉されている。
第3図(a)およびΦ)は基板10へのレーザダイオー
ド1.受光素子4および反射板11の取着状態を示す正
面図および側面図であシ、レーザダイオード1および受
光素子4は基板10の同一平面上に固着されている。レ
ーザダイオード1は図示上下方向にレーザビームを発射
するように配置されておシ、受光素子4はレーザダイオ
ード1のモニタ用レーザビームの出射方向側に配置され
、その受光面4aに反射面11aを所定傾斜角度で面対
向させて反射板11が基板10上に固着されている。
ド1.受光素子4および反射板11の取着状態を示す正
面図および側面図であシ、レーザダイオード1および受
光素子4は基板10の同一平面上に固着されている。レ
ーザダイオード1は図示上下方向にレーザビームを発射
するように配置されておシ、受光素子4はレーザダイオ
ード1のモニタ用レーザビームの出射方向側に配置され
、その受光面4aに反射面11aを所定傾斜角度で面対
向させて反射板11が基板10上に固着されている。
基板10には配線パターン13a〜13Cが描かれてお
シ、レーザダイオード1がリードfJ 7 aを介して
配線パターン13aに、受光素子4がリード急7bを介
して配線パターン13bに接続されている。
シ、レーザダイオード1がリードfJ 7 aを介して
配線パターン13aに、受光素子4がリード急7bを介
して配線パターン13bに接続されている。
第1図に、このように構成された半z、り体装ばにおけ
る出射レーザビームの光路を示す。すなわち、レーザダ
イオード1の発射するレーザビームは略20〜45゜広
がυ角で出射され、そのモニタ用レーザビーム20が反
射板110反射面11aにおいて反射し、受光素子4の
受光面4aに導かれる。
る出射レーザビームの光路を示す。すなわち、レーザダ
イオード1の発射するレーザビームは略20〜45゜広
がυ角で出射され、そのモニタ用レーザビーム20が反
射板110反射面11aにおいて反射し、受光素子4の
受光面4aに導かれる。
したがって、この受光素子4において検出でれるモニタ
用レーザビーム20に基づいて出力レーザビーム21の
調整が可能となる。レーザダイオ−ド1はその動作時に
発熱するが、基&10が熱伝導性の良いSiC等より形
成されているので、速やかに外部に放熱され、また線膨
張係数もレーザダイオード1に近いため、レーザダイオ
ード1へ作用する熱応力も小さくなる。
用レーザビーム20に基づいて出力レーザビーム21の
調整が可能となる。レーザダイオ−ド1はその動作時に
発熱するが、基&10が熱伝導性の良いSiC等より形
成されているので、速やかに外部に放熱され、また線膨
張係数もレーザダイオード1に近いため、レーザダイオ
ード1へ作用する熱応力も小さくなる。
ところで、このように構成された半導体装置においては
、その製造過程において、レーザダイオード1と受光素
子4とを同一方向側から基板10に配置し、同一工程で
そのダイボンドおよびワイヤボンドを行っている。すな
わち、反射板11を用いてモニタ用レーザビーム20の
光路を変えることによシ、レーザダイオード1と受光素
子4とを基板10の同一平面上に配置することが可能と
なシ、各素子におけるダイボンドおよびワイヤボンド工
程を同時に行うことができており、その製造工程数の減
少によ)生産性の向上およびコストダウン化が図られて
いる。
、その製造過程において、レーザダイオード1と受光素
子4とを同一方向側から基板10に配置し、同一工程で
そのダイボンドおよびワイヤボンドを行っている。すな
わち、反射板11を用いてモニタ用レーザビーム20の
光路を変えることによシ、レーザダイオード1と受光素
子4とを基板10の同一平面上に配置することが可能と
なシ、各素子におけるダイボンドおよびワイヤボンド工
程を同時に行うことができており、その製造工程数の減
少によ)生産性の向上およびコストダウン化が図られて
いる。
同、本実施例においては、レーザダイオード1と受光素
子4とを基板10の同一平面上に配置した例について説
明したが、第4図に示すよりに、レーザダイオード1と
基板10この間にサブマウント3を介装してもよく、こ
のようにすることによって基板10とレーザダイオード
1この熱膨張係数の違いによシ生ずる熱応力を緩和する
ことができ、また受光素子4におけるモニタ効率を高め
ることができる。つ[ハレーザダイオード1と受光素子
4とを同一方向側からダイボンドおよびワイヤボンドす
ることができれば、基板1oに対して平行な面上にレー
ザダイオード1および受光素子4を配置してもよい。
子4とを基板10の同一平面上に配置した例について説
明したが、第4図に示すよりに、レーザダイオード1と
基板10この間にサブマウント3を介装してもよく、こ
のようにすることによって基板10とレーザダイオード
1この熱膨張係数の違いによシ生ずる熱応力を緩和する
ことができ、また受光素子4におけるモニタ効率を高め
ることができる。つ[ハレーザダイオード1と受光素子
4とを同一方向側からダイボンドおよびワイヤボンドす
ることができれば、基板1oに対して平行な面上にレー
ザダイオード1および受光素子4を配置してもよい。
以上説明したように本発明による半導体装置によると、
レーザダイオードのモニタ用レーザビームを反射面を用
いて受光素子に導くようにしたので、レーザダイオード
と受光素子とを同一方向側から基板に配置し同一工程で
ボンディングを容易に行うことが可能となシ、その生産
性が向上すると共にコストダウン化が図られる。
レーザダイオードのモニタ用レーザビームを反射面を用
いて受光素子に導くようにしたので、レーザダイオード
と受光素子とを同一方向側から基板に配置し同一工程で
ボンディングを容易に行うことが可能となシ、その生産
性が向上すると共にコストダウン化が図られる。
第1図は第2図に示した半導体装置におけるレーザダイ
オードの出射レーザビームの光路を示す側面図、第2図
は本発明に係る半導体装置の一実施例を示す縦断面図、
第3図(a)および(b)はこの半導体装置の基板への
各部品の取着状態を示す正面図および側面図、第4図サ
ブマウントを介装してレーザダイオードを基板に取着し
た例を示す側面図、第5図は従来の半導体装置の基本構
成を示す一部破断外観斜視図、第6図(a)およびΦ)
は第5図におけるA矢視およびB矢視縦断面図である。 1・・・・レーザダイオード、4・・・・受光素子、1
0・・ms基板、11・・・・反射板、11a・・・・
反射面、2o・・・・モニタ用レーザビーム、21・・
@拳出力レーザビーム。
オードの出射レーザビームの光路を示す側面図、第2図
は本発明に係る半導体装置の一実施例を示す縦断面図、
第3図(a)および(b)はこの半導体装置の基板への
各部品の取着状態を示す正面図および側面図、第4図サ
ブマウントを介装してレーザダイオードを基板に取着し
た例を示す側面図、第5図は従来の半導体装置の基本構
成を示す一部破断外観斜視図、第6図(a)およびΦ)
は第5図におけるA矢視およびB矢視縦断面図である。 1・・・・レーザダイオード、4・・・・受光素子、1
0・・ms基板、11・・・・反射板、11a・・・・
反射面、2o・・・・モニタ用レーザビーム、21・・
@拳出力レーザビーム。
Claims (3)
- (1)少なくともその2方向にレーザビームを発射しそ
の一方をモニタ用レーザビームとするレーザダイオード
と、このレーザダイオードのモニタ用レーザビームを反
射し受光素子に導く反射面とを備えてなる半導体装置。 - (2)レーザダイオードおよび受光素子は、基板に同一
方向側から配置されていることを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載の半導体装置。 - (3)基板は、熱伝導性の良い材料で構成されているこ
とを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の半導体装置
。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61105316A JPS62260384A (ja) | 1986-05-06 | 1986-05-06 | 半導体装置 |
US07/323,660 US4945391A (en) | 1986-05-06 | 1989-03-15 | Semiconductor device housing with laser diode and light receiving element |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61105316A JPS62260384A (ja) | 1986-05-06 | 1986-05-06 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62260384A true JPS62260384A (ja) | 1987-11-12 |
Family
ID=14404302
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61105316A Pending JPS62260384A (ja) | 1986-05-06 | 1986-05-06 | 半導体装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4945391A (ja) |
JP (1) | JPS62260384A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02500235A (ja) * | 1987-06-01 | 1990-01-25 | ビー・テイ・アンド デイー テクノロジイーズ・リミテッド | 光デバイス |
US4953006A (en) * | 1989-07-27 | 1990-08-28 | Northern Telecom Limited | Packaging method and package for edge-coupled optoelectronic device |
JP2001345507A (ja) * | 2000-06-01 | 2001-12-14 | Rohm Co Ltd | 半導体レーザおよび光ピックアップ |
JP2008091745A (ja) * | 2006-10-04 | 2008-04-17 | Shinko Electric Ind Co Ltd | 半導体ステムと光半導体装置 |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0783082B2 (ja) * | 1989-05-18 | 1995-09-06 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
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US5140384A (en) * | 1990-06-14 | 1992-08-18 | Rohm Co., Ltd. | Semiconductor laser device mounted on a stem |
US5130761A (en) * | 1990-07-17 | 1992-07-14 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Led array with reflector and printed circuit board |
GB2288231B (en) * | 1991-10-22 | 1996-02-21 | Marconi Gec Ltd | Light emitting diode assembly |
JPH06224406A (ja) * | 1993-01-27 | 1994-08-12 | Mitsubishi Electric Corp | 光集積回路 |
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US6459710B1 (en) | 2000-11-07 | 2002-10-01 | Axsun Technologies, Inc. | Reflector for directing front facet light to monitor diode |
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