JPS62235664A - 記憶装置 - Google Patents
記憶装置Info
- Publication number
- JPS62235664A JPS62235664A JP61078651A JP7865186A JPS62235664A JP S62235664 A JPS62235664 A JP S62235664A JP 61078651 A JP61078651 A JP 61078651A JP 7865186 A JP7865186 A JP 7865186A JP S62235664 A JPS62235664 A JP S62235664A
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- Japan
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- Pending
Links
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 abstract description 6
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は情報処理装置において使用される記憶回路、特
に大容量を必要とする画像記憶回路に関するO 〔従来の技術〕 画像記憶回路においては必要容量の確保およびアクセス
時間短縮のためランダムアクセスメモリーが使用され、
また記憶回路の構造としてはマイクロプロセッサで制御
し易いよう8ビツト又は16ビ、トのデータ幅となって
いるのが一般的である。
に大容量を必要とする画像記憶回路に関するO 〔従来の技術〕 画像記憶回路においては必要容量の確保およびアクセス
時間短縮のためランダムアクセスメモリーが使用され、
また記憶回路の構造としてはマイクロプロセッサで制御
し易いよう8ビツト又は16ビ、トのデータ幅となって
いるのが一般的である。
近年のメモリ素子の高集積化により種々の機器に組込ま
れる画像記憶回路の容量も大幅に増大し高機能化が計ら
れてわる。ところが、機器の動作を保証するため通常、
機器に電源を投入した際自己診断を行なうために必要な
時間が機器に搭載する記憶回路の容量に比例して増加し
てしまうという問題が生じる。この問題に対し、記憶回
路が複数枚のメモリボードから構成される場合等におい
ては、複数枚のボードに同一データを書込む等により自
己診断の高速化が計られているが誉込み時だけの高速化
では自己診断に必要な時間を書込/読出時間の半分以下
に改善することは不可能である。
れる画像記憶回路の容量も大幅に増大し高機能化が計ら
れてわる。ところが、機器の動作を保証するため通常、
機器に電源を投入した際自己診断を行なうために必要な
時間が機器に搭載する記憶回路の容量に比例して増加し
てしまうという問題が生じる。この問題に対し、記憶回
路が複数枚のメモリボードから構成される場合等におい
ては、複数枚のボードに同一データを書込む等により自
己診断の高速化が計られているが誉込み時だけの高速化
では自己診断に必要な時間を書込/読出時間の半分以下
に改善することは不可能である。
上記のように従来の画像記憶回路の増大により自己診断
の書込/読出時間が増大してしまうという欠点があった
。
の書込/読出時間が増大してしまうという欠点があった
。
本発明の目的は上述の問題を解決し、記憶回路の自己診
断の書込/読出時間に必要時間を半分以下にすることが
可能な記憶装置を提供することにある。
断の書込/読出時間に必要時間を半分以下にすることが
可能な記憶装置を提供することにある。
本発明の記憶装置の構成は、書込/読出データを格納す
るl X 2 ?ビットから成り1回のアクセスで!ビ
ットを同時に書込/読出可能な22個の記憶回路モジュ
ールを2等分割した第1および第2の記憶回路モジュー
ル群と、診断モード動作か否かの動作モードを記憶する
動作モードフリップフロ、プと、この動作モード7す、
プフロヴグの動作モード信号およびモジュール選択信号
を入力し前記動作モード信号が診断モードを示してりる
時は前記第1および第2の記憶回路モジュール群を同時
に選択しまた前記動作モード信号が非診断モードの時は
前記21個の記憶回路モジュールを任意に選択する第1
および第2の選択信号を出力するモジュール選択回路と
、前記動作モード信号およびモジュール選択信号を入力
し前記第1および第2の記憶回路モジュール群の書込/
読出データの人出力制御をそれぞれ行なう第1および第
2のデータ入出力制御回路と、前記動作モード信号が診
断モードでかつ前記書込/読出信号が読出を示している
時のみ動作し前記第1および第2の記憶回路モジュール
群の各記憶回路モジュールのそれぞれの等しいアドレス
に対応して読出される読出データの一致を検出する一致
検出回路とから構成されることを特徴とする。
るl X 2 ?ビットから成り1回のアクセスで!ビ
ットを同時に書込/読出可能な22個の記憶回路モジュ
ールを2等分割した第1および第2の記憶回路モジュー
ル群と、診断モード動作か否かの動作モードを記憶する
動作モードフリップフロ、プと、この動作モード7す、
プフロヴグの動作モード信号およびモジュール選択信号
を入力し前記動作モード信号が診断モードを示してりる
時は前記第1および第2の記憶回路モジュール群を同時
に選択しまた前記動作モード信号が非診断モードの時は
前記21個の記憶回路モジュールを任意に選択する第1
および第2の選択信号を出力するモジュール選択回路と
、前記動作モード信号およびモジュール選択信号を入力
し前記第1および第2の記憶回路モジュール群の書込/
読出データの人出力制御をそれぞれ行なう第1および第
2のデータ入出力制御回路と、前記動作モード信号が診
断モードでかつ前記書込/読出信号が読出を示している
時のみ動作し前記第1および第2の記憶回路モジュール
群の各記憶回路モジュールのそれぞれの等しいアドレス
に対応して読出される読出データの一致を検出する一致
検出回路とから構成されることを特徴とする。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例のブロック図である。
この図で、lは動作モードフリップフロップ、2riモ
ジ工−ル選択回路、3および4rt第1および第2の記
憶回路モジュール群(以下記憶回路モジュール3および
4と称す)、5および6ri第1および第2のデータ人
出力制御回路(以下データ入出力回路5および6と称す
)、7ri一致検出回路、10は記憶装置である。
ジ工−ル選択回路、3および4rt第1および第2の記
憶回路モジュール群(以下記憶回路モジュール3および
4と称す)、5および6ri第1および第2のデータ人
出力制御回路(以下データ入出力回路5および6と称す
)、7ri一致検出回路、10は記憶装置である。
ここでは説明を簡単にするためにJ=3.m=8、n=
1とすると第1および第2の記憶回路モジュール群はそ
れぞれ1個の記憶回路モジュール3と4から構成される
。
1とすると第1および第2の記憶回路モジュール群はそ
れぞれ1個の記憶回路モジュール3と4から構成される
。
動作モードフリ、プフロ−y71は、外部処理部モード
フリ、プフロップの出力である動作モード信号りが論理
「0」の時、非診断モードを示し記憶回路モジ、−ル3
および4を任意にアクセス可能なモードであシ、論理「
l」の時、診断モードを示し記憶回路モジュール3と4
を同時に同一アドレスでアクセスを行なうモードである
。
フリ、プフロップの出力である動作モード信号りが論理
「0」の時、非診断モードを示し記憶回路モジ、−ル3
および4を任意にアクセス可能なモードであシ、論理「
l」の時、診断モードを示し記憶回路モジュール3と4
を同時に同一アドレスでアクセスを行なうモードである
。
動作モード信号りが「0」の時は、書込時においては書
込/読出信号fが書込を示し書込時そジ、−ル選択回路
2からモジ、−ル選択信号Cに対応する記憶回路モジ、
−ル3またri4に対し選択信号jまたtikが出力さ
れると同時に双方向性パスライン上の書込/読出データ
aが書込データを示しデータ人出力制御回路5または6
の制御によシモジ、−ルアドレスデータbのアドレス対
応に記憶回路モジュール3または4に書込まれる。
込/読出信号fが書込を示し書込時そジ、−ル選択回路
2からモジ、−ル選択信号Cに対応する記憶回路モジ、
−ル3またri4に対し選択信号jまたtikが出力さ
れると同時に双方向性パスライン上の書込/読出データ
aが書込データを示しデータ人出力制御回路5または6
の制御によシモジ、−ルアドレスデータbのアドレス対
応に記憶回路モジュール3または4に書込まれる。
また読出時においては、書込/読出信号fが読出を示し
同様にモジュール選択信号jtたはkが出力され書込/
読出データaの双方向パスラインに記憶回路モジュール
3または4の読出データを出力する。
同様にモジュール選択信号jtたはkが出力され書込/
読出データaの双方向パスラインに記憶回路モジュール
3または4の読出データを出力する。
この時一致検出回路にも記憶回路モジュール3または4
の読出データが供給されるが動作モード信号が「0」で
あるから動作しない。
の読出データが供給されるが動作モード信号が「0」で
あるから動作しない。
次に、動作モード信号が「l」の時は、モジュール選択
回路2は書込/読出データaを同時に記憶回路モジュー
ル3および4に書込/読出を行なうように同時に選択信
号jおよびkを出力し、データ入出力制御回路5または
6は書込時は同時に書込/読出データaを書込データと
して入力しまた続出時は記憶回路モジュール3または4
の読出データのいずれか一方を書込/読出データaの双
方向性パスライン上に出力する。
回路2は書込/読出データaを同時に記憶回路モジュー
ル3および4に書込/読出を行なうように同時に選択信
号jおよびkを出力し、データ入出力制御回路5または
6は書込時は同時に書込/読出データaを書込データと
して入力しまた続出時は記憶回路モジュール3または4
の読出データのいずれか一方を書込/読出データaの双
方向性パスライン上に出力する。
この時両方の記憶回路モジュール3および4の読出デー
タは一致検出回路7によシ同一アドレスの読出データ毎
に一致を検出し、不一致が検出されなければ、診断デー
タが書込時に正しく記憶回路モジー−ル3および4に書
かれていたとして記憶回路3または4いずれか一方のみ
のデータ診断を行なえば良いので診断時の時間が半分に
なる。
タは一致検出回路7によシ同一アドレスの読出データ毎
に一致を検出し、不一致が検出されなければ、診断デー
タが書込時に正しく記憶回路モジー−ル3および4に書
かれていたとして記憶回路3または4いずれか一方のみ
のデータ診断を行なえば良いので診断時の時間が半分に
なる。
尚、2−分割した記憶回路モジュールが各々独立にアク
セスできるかどうかの診断は非診断モードで容易にチェ
ックを行なうことが可能であり診断時間への影響は無視
できる。
セスできるかどうかの診断は非診断モードで容易にチェ
ックを行なうことが可能であり診断時間への影響は無視
できる。
尚、データネ一致が検出された時は、全記憶回路モジュ
ールの診断が必要となるが、信頼性の高い記憶回路モジ
ュールによシ構成されていればそのような必要性は殆ん
どない。
ールの診断が必要となるが、信頼性の高い記憶回路モジ
ュールによシ構成されていればそのような必要性は殆ん
どない。
以上説明したように、記憶回路モジュールのアクセス制
御を動作子7ドによって任意にあるいは同時にモジュー
ル選択信号を切換えることを可能としたので記憶回路モ
ジュールの1/2の容量分のデータ診断時間に短縮する
ことができるという効果がある。
御を動作子7ドによって任意にあるいは同時にモジュー
ル選択信号を切換えることを可能としたので記憶回路モ
ジュールの1/2の容量分のデータ診断時間に短縮する
ことができるという効果がある。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
1・・・・・・動作モードフリップフロップ、2・・・
・・・モジュール選択回路、3,4・・・・・・記憶回
路モジュール、5.6・・・・・・データ入出力制御回
路、7・・・・・・一致検出回路、a・・・・・・書込
/読出データ、b・・・・・・モジ、−ルアドレスデー
タ、C・・・・・・モジュール選択信号、d・・・・・
・診断モードセット信号、C・・・・・・診断モードリ
セット信号、f・・・・・・書込/読出信号、g・・・
・・・CLK信号、h・・・・・・動作モード信号、i
・・・・・・一致検出信号、j、k・・・・・・選択信
号。 7″ 櫨
・・・モジュール選択回路、3,4・・・・・・記憶回
路モジュール、5.6・・・・・・データ入出力制御回
路、7・・・・・・一致検出回路、a・・・・・・書込
/読出データ、b・・・・・・モジ、−ルアドレスデー
タ、C・・・・・・モジュール選択信号、d・・・・・
・診断モードセット信号、C・・・・・・診断モードリ
セット信号、f・・・・・・書込/読出信号、g・・・
・・・CLK信号、h・・・・・・動作モード信号、i
・・・・・・一致検出信号、j、k・・・・・・選択信
号。 7″ 櫨
Claims (1)
- 書込/読出データを格納するl×2^mビットから成り
1回のアクセスでlビットを同時に書込/読出可能な2
^n個の記憶回路モジュールを2等分割した第1および
第2の記憶回路モジュール群と、診断モード動作か否か
の動作モードを記憶する動作モードフリップフロップと
、この動作モードフリップフロップの動作モード信号お
よびモジュール選択信号を入力し前記動作モード信号が
診断モードを示している時は前記第1および第2の記憶
回路モジュール群を同時に選択しまた前記動作モード信
号が非診断モードの時は前記2^n個の記憶回路モジュ
ールを任意に選択する第1および第2の選択信号を出力
するモジュール選択回路と、前記動作モード信号および
モジュール選択信号を入力し前記第1および第2の記憶
回路モジュール群の書込/読出データの入出力制御をそ
れぞれ行なう第1および第2のデータ入出力制御回路と
、前記動作モード信号が診断モードでかつ前記書込/読
出信号が読出を示している時のみ動作し前記第1および
第2の記憶回路モジュール群の各記憶回路モジュールの
それぞれの等しいアドレスに対応して読出される読出デ
ータの一致を検出する一致検出回路とから構成されるこ
とを特徴とする記憶装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61078651A JPS62235664A (ja) | 1986-04-04 | 1986-04-04 | 記憶装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61078651A JPS62235664A (ja) | 1986-04-04 | 1986-04-04 | 記憶装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62235664A true JPS62235664A (ja) | 1987-10-15 |
Family
ID=13667763
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61078651A Pending JPS62235664A (ja) | 1986-04-04 | 1986-04-04 | 記憶装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62235664A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02253453A (ja) * | 1989-03-28 | 1990-10-12 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | メモリテスト回路 |
-
1986
- 1986-04-04 JP JP61078651A patent/JPS62235664A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02253453A (ja) * | 1989-03-28 | 1990-10-12 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | メモリテスト回路 |
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