JPH0662114A - プロセッサ間診断処理方式 - Google Patents

プロセッサ間診断処理方式

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JPH0662114A
JPH0662114A JP21266192A JP21266192A JPH0662114A JP H0662114 A JPH0662114 A JP H0662114A JP 21266192 A JP21266192 A JP 21266192A JP 21266192 A JP21266192 A JP 21266192A JP H0662114 A JPH0662114 A JP H0662114A
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JP
Japan
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processor
diagnosis
self
diagnostic
main control
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP21266192A
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English (en)
Inventor
Kenichi Oguchi
健一 小口
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は電話交換機などにおいて、プロセッ
サを二重化したシステムにおけるプロセッサ間診断処理
方式に関し、従来からあるプロセッサ間通信機能を用い
ることなく、上位プロセッサによる配下のプロセッサの
診断を可能としたプロセッサ間診断処理方式を実現する
ことを目的とする。 【構成】 主制御プロセッサとこの主制御プロセッサの
配下に設けられた少なくとも1つの下位プロセッサとを
それぞれ二重化してなるシステムにおいて、主制御プロ
セッサ1に被診断プロセッサである下位プロセッサ2の
診断手順が格納された診断プログラム部11を設けると
ともに、下位プロセッサ指定手段12を設ける。そし
て、下位プロセッサ2には、自己の診断を行うための自
己診断プログラム部21、上記主制御プロセッサ1から
の診断指定信号を受けて、診断開始など自己に対する動
作情報設定を行う自己動作情報設定手段22、さらに自
己診断結果を、上記主制御プロセッサ1が読み出し可能
に格納する診断結果格納手段23を設けた構成とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電話交換機などにおい
て、例えば主制御プロセッサと複数の回線制御プロセッ
サとを二重化したシステムにおけるプロセッサ間診断処
理方式に関する。
【0002】
【従来の技術】信頼性向上を図る手段の1つとして、プ
ロセッサなどを二重化することが従来より行われてい
る。
【0003】図5は電話交換機において、主制御プロセ
ッサ(以下MCMという)11 と、このMCM11 の配
下に複数台(この図では便宜上1台としている)設けら
れた回線制御プロセッサ(以下、LCMという)2
1 が、二重化されたシステムを示したものである。つま
り、運用系のMCM11 とその下位プロセッサであるL
CM21 、待機系のMCM12 とその下位プロセッサで
あるLCM22 というように、それぞれのプロセッサが
二重化されたものとなっている。なお、同図において、
3、4は回線切り替え装置(LSW)である。
【0004】ところで、このように二重化されたシステ
ムにおけるプロセッサ間診断処理方式として、従来で
は、系間(運用系、待機系間)通信機能を用いて被診断
対象プロセッサの診断を実行していた。また、同一系の
診断の場合は、MCM12 とLCM22 との間のプロセ
ッサ間通信機能を用いて被診断対象プロセッサの診断を
実行していた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記の
ような二重化システムにおいて、LCM21 ,22 の系
間通信ルート、つまり、運用系のLCM21 と待機系の
LCM22 との間の通信ルートがないシステムの場合、
上記したような同一系のプロセッサ間通信機能を用いた
診断しか行えないことになる。このような同一系のプロ
セッサ間通信機能を用いた診断の場合、そのプロセッサ
間通信機能にバス障害などが発生すると、被診断対象プ
ロセッサである各LCMに対する診断が行えず、また、
各プロセッサの通信機能部に障害が発生した場合には、
診断結果を上位プロセッサである主制御プロセッサに通
知できなくなり、上位プロセッサが診断結果をチェック
できず、異常があった場合の対処に支障をきたす問題が
あった。
【0006】本発明は、プロセッサ間に通常存在するプ
ロセッサ間通信機能を用いることなく、主制御プロセッ
サ配下のプロセッサの診断を適確に行うことを可能とし
たプロセッサ間診断処理方式を実現することを目的とし
ている。
【0007】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理を説
明するブロック図である。同図において、1は上位プロ
セッサとして主制御プロセッサ、2はこの主制御プロセ
ッサ1の配下のプロセッサ(ここではこれを下位プロセ
ッサという)であり、これら主制御プロセッサ1と下位
プロセッサ2は、同図では図示されていないが、運用系
と待機系というようにそれぞれのプロセッサが二重化さ
れた構成となっている(ここでは待機系の構成を示して
いる)。また、主制御プロセッサ1の配下には、通常、
複数台の下位プロセッサが設けられるが、ここでは便宜
上、1台の下位プロセッサのみを図示している。
【0008】上記主制御プロセッサ1は、下位プロセッ
サ2の診断を行う手順などが記載された診断プログラム
11およびこの診断プログラム11に基づいて、複数台
の下位プロセッサのうちの1台の下位プロセッサを診断
対象プロセッサとして指定するためのプロセッサ指定手
段12を有している。
【0009】一方、下位プロセッサ2は、自己の診断を
行うための自己診断プログラム21、上記主制御プロセ
ッサ1のプロセッサ指定手段12からのプロセッサ指定
信号を受けて、その信号により、自己の動作情報、例え
ば自己診断要求情報や診断スタート情報などを設定する
自己動作情報設定手段22、さらに自己診断結果を格納
する診断結果格納手段23を有している。
【0010】
【作用】このような構成において、ここでは図に示され
ていない運用系の主制御プロセッサから診断要求起動信
号が出されると、待機系の主制御プロセッサ1は、診断
プログラム11に基づいて、まず、プロセッサ指定手段
12により、診断対象プロセッサとして、この場合、下
位プロセッサ2を指定する。これにより、下位プロセッ
サ2では主制御プロセッサ1からの指定信号により、自
己動作情報設定手段22の自己診断要求情報を設定する
とともに、診断開始設定を行う。これによって、下位プ
ロセッサ2は自己診断プログラム21に基づいて、所定
の試験を実行し、その試験による診断結果を診断結果格
納手段23に格納する。
【0011】そして、下位プロセッサ2の自己診断動作
が終了したあと、主制御プロセッサ1が、被診断プロセ
ッサとして指定した下位プロセッサ2の診断結果格納手
段23の内容を読み出して、診断結果をチェックする。
【0012】このように本発明では主制御プロセッサの
配下に接続された複数の下位プロセッサの何れかを主制
御プロセッサが指定して診断要求を出すことにより、指
定された下位プロセッサでは、自己診断機能により自己
診断を行い、その診断結果を格納手段に格納して、前記
したように診断要求を出した主制御プロセッサが上記格
納手段に格納された診断結果を読み出すことにより診断
結果をチェックすることができる。したがって、プロセ
ッサ間通信機能を用いることなくプロセッサ間診断処理
が行える。
【0013】
【実施例】以下、本発明の一実施例を説明する。図2は
同実施例を説明するための全体的なシステム構成図であ
り、前記従来技術の説明で用いた図5と同一部分には同
一符号を付している。すなわち、図2において、11
運用系のMCM、21 はこのMCM11 の配下に設けら
れたLCMであり、また、12 は待機系のMCM、22
はこのMCM12 の配下に設けられたLCMである。そ
して、上記LCM21 ,22 はこの実施例では運用系と
待機系でそれぞれ#0〜#7の8台ずつ設けられている
ものとするが、図2では図面の煩雑化を防ぐため、それ
ぞれ1台(運用系統では#0のLCM21 ,待機系では
#0のLCM22 )が図示されている。
【0014】また、この実施例では待機系のMCM12
には、図1で示した診断プログラム11と、被診断プロ
セッサを指定するためのプロセッサ指定手段12として
ここでは8ビットのレジスタ(以下このレジスタをLC
M指定レジスタ12という)とが設けられている。この
LCM指定レジスタ12は、MCM12 の配下に設けら
れた8台のLCM22 に対応した#0〜#7のビット
(8ビット)で構成され、例えば図3で示すように、#
0ビット目は#0のLCM22 、#1ビット目は、#1
のLCM22 というように、#0〜#7ビットと#0〜
#7のLCM22とをビット毎に対応させている。つま
り、診断すべきLCMに対応するビットを“1”とする
ことで、対応するLCMに対して診断要求を行うように
なっている。
【0015】一方、図2においてLCM22 は、この実
施例では、図1で示した自己診断プログラム21と、自
己動作情報設定手段22としてのレジスタ(以下このレ
ジスタを自己動作情報設定レジスタ22という)と、診
断結果格納手段23としてのレジスタ(以下このレジス
タを診断結果格納レジスタ23という)を有している。
【0016】上記自己動作情報設定レジスタ22は、図
3で示すように、例えば#0〜#7の8ビットで構成さ
れるレジスタであり、ここでは、#4ビット目が診断要
求設定(DIAG)を行うビット、#3ビット目がリス
タート設定(RST)を行うビットなどというように、
各ビット対応に自己の動作情報設定を行うもので、例え
ば#4ビット目が“1”で、かつ#3ビット目が“1”
となることにより、自己の診断動作が自己診断プログラ
ム21の内容に沿って開始される。
【0017】ところで、MCM12 のLCM指定レジス
タ12からのLCM指定信号は、対応するLCMの自己
動作情報設定レジスタ22に対して図3に示すように与
えられる。尚、図3ではLCM指定レジスタ12が#0
のLCM22 に対して診断要求を行った場合を示してい
る。すなわち#0のLCM22 を診断対象とするため
に、LCM指定レジスタ12の#0ビットに“1”を設
定することにより、その#0ビットの“1”は、ナンド
回路311 ,312 を通って、LCM22 の自己動作情
報設定レジスタ22の#4ビットに与えられ、診断要求
設定(DIAG)ビットを“1”とする。また、上記L
CM指定レジスタ12の#0ビットの“1”はオア回路
32を通過したのち、ナンド回路331 ,332 を通っ
て、LCM22 の自己動作情報設定レジスタ22の#3
ビットに与えられ、リスタート設定(RST)ビットを
“1”とする。なお、上記オア回路32のもう一方の入
力としては、該当のLCM22 をリセットするためのリ
セット信号が与えられる。
【0018】このような構成において、次に動作を説明
する。まず、運用系のMCM11 からの診断起動要求が
出されると、待機系のMCM12 の診断プログラム11
が動作し始め、これにより、ここでは被診断対象とし
て、#0のLCM22 が指定され、#0のLCM22
対して自己診断を要求する。
【0019】この具体的な動作は次のようにして行われ
る。すなわち、前記したようにLCM指定レジスタ12
の#0ビットに“1”を設定することにより、この
“1”信号は#0のLCM22 の自己動作情報設定レジ
スタ22に対してナンド回路31 1 ,312 を介して与
えられる。これにより、#4ビットの診断要求設定(D
IAG)ビットが“1”となり、自己診断要求状態とな
る。これと同時に、上記自己動作情報設定レジスタ22
の#3ビットのリスタート設定(RST)ビットが
“1”となり、これにより#0のLCM22 の自己診断
がその診断プログラム21に基づいて実行される。
【0020】以下、この自己診断動作を図4のフローチ
ャートを参照しながら説明する。まず、第1番目の試験
として、例えばメモリのライト・リード試験などを行い
(ステップS1)、その試験が異常なしか否か判定し
(ステップS2)、異常有りの場合は、自己動作情報設
定レジスタ22の#4ビット(DIAG設定)が“1”
であるか否かを判定する(ステップS3)。このDIA
G設定が“1”か否かの判定は、MCM12 からの診断
要求であるか否かを判断するためのもので、MCM12
からの診断要求であることを条件に、上記第1番目の試
験による異常診断結果(エラーコードなど)を診断結果
格納レジスタ23に格納する(ステップS4)。これに
より第1番目の試験終了(ステップS5)となるが、異
常が検出されたことから、そのLCM22 の動作を、異
常に対する処理が終わるまで一時的に停止させる(これ
を同図のフローチャートではループで示している)。
【0021】なお、LCM22 の診断結果格納レジスタ
23の内容は、この診断を起動したMCM12 によって
読み出される。つまり、LCM22 においては、自己の
診断結果は診断結果格納レジスタ23に設定するだけの
操作であり、MCM12 がその診断プログラム11によ
って、LCM22 の診断結果格納レジスタ23の内容を
読み出すことにより、下位装置から上位装置(この場
合、LCM22 からMCM12 )に対して、自己診断の
結果の通知が行われる。MCM12 はその結果からLC
M22 の診断結果のチェックを行う。
【0022】ところで、上記第1番目の試験の結果、異
常なしの判定(ステップS2)の場合は、次の(第2番
目の)試験を行い(ステップS6)、上記同様の動作を
繰り返す。
【0023】なお、上記実施例では、被診断プロセッサ
として、#0のLCM22 を指定した例にとって説明し
たが、これはMCM12 の診断プログラム11の内容に
したがって例えば、#0のLCM22 の診断終了後は次
に#1のLCM22 、さらに#2のLCM22 というよ
うに被診断プロセッサを指定し、これにより、指定され
たプロセッサは、自己の診断プログラムに基づいて自己
診断を行い、前記同様、異常があれば、その異常診断結
果を自己の診断結果格納レジスタに格納し、その診断を
起動した上位のプロセッサが、その診断結果格納レジス
タの内容を読み出して、診断結果のチェックを行うとい
う動作がなされる。
【0024】
【発明の効果】本発明によれば、上位プロセッサとこの
上位プロセッサの配下にある複数の下位プロセッサをそ
れぞれ二重化したシステムにおいて、上位プロセッサが
下位プロセッサに対してプロセッサ診断を行う際、上位
プロセッサには、診断を行うべく下位プロセッサを指定
する手段を設け、各下位プロセッサには、自己の診断プ
ログラムおよび上位上記プロセッサからの指定信号によ
り、自己診断要求、診断開始などの動作情報設定手段、
さらに診断結果を上記上位プロセッサが読み出し可能に
格納する手段を設けることにより、従来の如くプロセッ
サ間通信機能を使用することなく、簡単な手段で診断お
よびその診断結果のチェックを適確に行うことができ、
確実な障害検出と障害箇所の迅速な処理が可能となるも
のである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明原理を説明するブロック図である。
【図2】本発明の一実施例に係わる二重化システムの概
略的な構成図である。
【図3】同実施例における被診断プロセッサに対する起
動要求手段を説明する図である。
【図4】同実施例における自己診断動作を示すフローチ
ャートである。
【図5】従来の二重化システムにおけるプロセッサ間診
断処理方式を説明する図である。
【符号の説明】
1 主制御プロセッサ 2 下位プロセッサ 11 診断プログラム 12 プロセッサ指定手段(LCM指定レジスタ) 21 自己診断プログラム 22 自己動作情報設定手段(自己動作設定レジス
タ) 23 診断結果格納手段(診断結果格納レジスタ)

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 主制御プロセッサとこの主制御プロセッ
    サの配下に設けられた少なくとも1つの下位プロセッサ
    とをそれぞれ二重化してなる二重化システムのプロセッ
    サ間診断処理方式において、 上記二重化された少なくとも一方の主制御プロセッサ
    (1)には、下位プロセッサ(2)の診断手順が格納さ
    れた診断プログラム部(11)と、上記下位プロセッサ
    (2)を指定するプロセッサ指定手段(12)とを設
    け、 上記下位プロセッサ(2)には、自己診断プログラム部
    (21)と、上記主制御プロセッサ(1)からの診断に
    関する情報を受けてその情報に対する自己動作情報を設
    定する自己動作情報設定手段(22)と、自己診断結果
    を上記主制御プロセッサ(1)が読み出し可能に格納す
    る診断結果格納手段(23)とを設けたことを特徴とす
    るプロセッサ間診断処理方式。
  2. 【請求項2】 上記主制御プロセッサ(1)における下
    位プロセッサ指定手段(12)は、下位プロセッサのそ
    れぞれに対応したビットを有するレジスタで構成され、
    このレジスタの所定ビットに診断要求情報を設定するこ
    とにより、診断すべき下位プロセッサの指定を行うこと
    を特徴とする請求項1記載のプロセッサ間診断処理方
    式。
  3. 【請求項3】 上記下位プロセッサ(2)における自己
    動作情報設定手段(22)は、自己診断要求設定、自己
    診断開始設定などの自己の各動作情報を各ビット対応に
    設定可能なレジスタで構成され、上記下位プロセッサ指
    定手段(12)からの下位プロセッサ指定信号を受け
    て、上記自己の各動作情報を対応するビットに設定する
    ことを特徴とする請求項1記載のプロセッサ間診断処理
    方式。
JP21266192A 1992-08-10 1992-08-10 プロセッサ間診断処理方式 Withdrawn JPH0662114A (ja)

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JPH0662114A true JPH0662114A (ja) 1994-03-04

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JP (1) JPH0662114A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100396031B1 (ko) * 2000-12-30 2003-08-27 주식회사 하이닉스반도체 교환기 자동 진단방법
KR100398727B1 (ko) * 2001-05-23 2003-09-19 엘지전자 주식회사 교환기의 엠엠씨 로딩 방법
KR100464490B1 (ko) * 2000-12-22 2004-12-31 엘지전자 주식회사 이중화 장치의 탈/실장 관리장치

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100464490B1 (ko) * 2000-12-22 2004-12-31 엘지전자 주식회사 이중화 장치의 탈/실장 관리장치
KR100396031B1 (ko) * 2000-12-30 2003-08-27 주식회사 하이닉스반도체 교환기 자동 진단방법
KR100398727B1 (ko) * 2001-05-23 2003-09-19 엘지전자 주식회사 교환기의 엠엠씨 로딩 방법

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Effective date: 19991102