JP2808983B2 - メモリ診断方法 - Google Patents
メモリ診断方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はメモリ及びそれに接続さ
れているデータバスの診断を行なうメモリ診断方法に関
し、特に複数種類のビット幅でデータの読み書きを行な
うことができるメモリ及びそれに接続されているデータ
バスの診断を行なうメモリ診断方法に関する。
れているデータバスの診断を行なうメモリ診断方法に関
し、特に複数種類のビット幅でデータの読み書きを行な
うことができるメモリ及びそれに接続されているデータ
バスの診断を行なうメモリ診断方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】メモリには１種類のビット幅でしかデー
タの読み書きを行なうことができないものと、複数種類
のビット幅でデータの読み書きを行なうことができるも
のがある。
タの読み書きを行なうことができないものと、複数種類
のビット幅でデータの読み書きを行なうことができるも
のがある。
【０００３】１種類のビット幅（例えば、ｎビット幅）
でしかデータの読み書きを行なうことができないメモリ
及びそれに接続されているデータバスの診断を行なう場
合、従来は、図３に示すように、ｎビット幅の試験対象
領域Ａ３１に試験データを書き込み（Ｗ３１）、次いで
試験対象領域Ａ３１の内容を読み出し（Ｒ３１）、読み
出した内容と試験データとを比較することにより、メモ
リ及びデータバスを診断するようにしている。
でしかデータの読み書きを行なうことができないメモリ
及びそれに接続されているデータバスの診断を行なう場
合、従来は、図３に示すように、ｎビット幅の試験対象
領域Ａ３１に試験データを書き込み（Ｗ３１）、次いで
試験対象領域Ａ３１の内容を読み出し（Ｒ３１）、読み
出した内容と試験データとを比較することにより、メモ
リ及びデータバスを診断するようにしている。
【０００４】また、複数種類のビット幅でデータの読み
書きを行なうことができるメモリ、例えばｎビット幅と
その２倍の２ｎビット幅でデータの読み書きを行なうこ
とができるメモリ及びそれに接続されているデータバス
の診断を行なう場合は、従来は上述した図３の方法或い
は図４の方法を用いている。
書きを行なうことができるメモリ、例えばｎビット幅と
その２倍の２ｎビット幅でデータの読み書きを行なうこ
とができるメモリ及びそれに接続されているデータバス
の診断を行なう場合は、従来は上述した図３の方法或い
は図４の方法を用いている。
【０００５】図４の方法はそれぞれがｎビット幅の連続
する２つの試験対象領域Ａ４１，Ａ４２に２ｎビット幅
の試験データを一括して書き込み（Ｗ４１）、次いで試
験対象領域Ａ４１，Ａ４２の内容を一括して読み出し
（Ｒ４１）、読み出した内容と試験データとを比較する
ことにより、メモリ及びデータバスを診断するものであ
る。
する２つの試験対象領域Ａ４１，Ａ４２に２ｎビット幅
の試験データを一括して書き込み（Ｗ４１）、次いで試
験対象領域Ａ４１，Ａ４２の内容を一括して読み出し
（Ｒ４１）、読み出した内容と試験データとを比較する
ことにより、メモリ及びデータバスを診断するものであ
る。
【０００６】尚、複数種類のビット幅でデータの読み書
きを行なうことができるメモリは、読み書きできる最大
のビット幅と同じビット幅のデータバスによってＣＰＵ
と接続されるものであり、例えば、ｎビット幅と２ｎビ
ット幅の２種類のビット幅でデータの読み書きを行なう
ことができるメモリは、２ｎビット幅のデータバスによ
ってＣＰＵと接続される。そして、ｎビット幅でのデー
タの読み書きはデータバスの下位ｎビットを介して行な
われ、２ｎビット幅でのデータの読み書きはデータバス
の全てのビットを介して行なわれるものである。
きを行なうことができるメモリは、読み書きできる最大
のビット幅と同じビット幅のデータバスによってＣＰＵ
と接続されるものであり、例えば、ｎビット幅と２ｎビ
ット幅の２種類のビット幅でデータの読み書きを行なう
ことができるメモリは、２ｎビット幅のデータバスによ
ってＣＰＵと接続される。そして、ｎビット幅でのデー
タの読み書きはデータバスの下位ｎビットを介して行な
われ、２ｎビット幅でのデータの読み書きはデータバス
の全てのビットを介して行なわれるものである。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
は、試験データの書き込みを行なった領域の内容のみを
読み出し、試験データと比較することにより診断を行な
うようにしているため、試験データの書き込みにより周
囲領域（図３，図４の領域Ｃ３１，Ｃ３２，Ｃ４１，Ｃ
４２）の内容が変化してもそれを検出することができな
いという問題がある。
は、試験データの書き込みを行なった領域の内容のみを
読み出し、試験データと比較することにより診断を行な
うようにしているため、試験データの書き込みにより周
囲領域（図３，図４の領域Ｃ３１，Ｃ３２，Ｃ４１，Ｃ
４２）の内容が変化してもそれを検出することができな
いという問題がある。
【０００８】また、複数種類のビット幅でデータの読み
書きを行なうことができるメモリ及びそれに接続されて
いるデータバスに対する従来の診断方法には周辺領域の
内容変化を検出できないという問題があると共に、次の
ような問題点もあった。
書きを行なうことができるメモリ及びそれに接続されて
いるデータバスに対する従来の診断方法には周辺領域の
内容変化を検出できないという問題があると共に、次の
ような問題点もあった。
【０００９】ｎビット幅で試験データの読み書きを行な
った場合は、データバスの下位ｎビットしか使用されな
いので、データバスの上位ｎビットに障害があってもそ
れを全く検出することができないという問題がある。
った場合は、データバスの下位ｎビットしか使用されな
いので、データバスの上位ｎビットに障害があってもそ
れを全く検出することができないという問題がある。
【００１０】また、データバスの下位ｎビット中の或る
ビット（例えば、第ｉビット）に障害がある場合でも、
試験データの第ｉビットの書き込みと読み出しは障害の
あるデータバスの第ｉビットを介して行なわれるため、
書き込み時にデータバスの第ｉビットの影響により試験
データと異なる値がメモリに書き込まれても、読み出し
時にデータバスの第ｉビットの影響により試験データと
同じ値がＣＰＵに読み込まれることがあり、このような
場合、データバスの障害を検出できないという問題があ
る。
ビット（例えば、第ｉビット）に障害がある場合でも、
試験データの第ｉビットの書き込みと読み出しは障害の
あるデータバスの第ｉビットを介して行なわれるため、
書き込み時にデータバスの第ｉビットの影響により試験
データと異なる値がメモリに書き込まれても、読み出し
時にデータバスの第ｉビットの影響により試験データと
同じ値がＣＰＵに読み込まれることがあり、このような
場合、データバスの障害を検出できないという問題があ
る。
【００１１】また、２ｎビット幅で試験データの読み書
きを行なった場合はデータバスの全ビットを使用するの
で、データバスの上位ｎビットの障害を全く検出できな
いということはないが、やはり、試験データの各ビット
の書き込みと読み出しを同じデータバスのビットを介し
て行なうので、上記したような場合、データバスの障害
を検出できないという問題がある。
きを行なった場合はデータバスの全ビットを使用するの
で、データバスの上位ｎビットの障害を全く検出できな
いということはないが、やはり、試験データの各ビット
の書き込みと読み出しを同じデータバスのビットを介し
て行なうので、上記したような場合、データバスの障害
を検出できないという問題がある。
【００１２】本発明の目的は、複数種類のビット幅で読
み書きを行なうことができるメモリ及びそれに接続され
ているデータバスの診断を精度良く行なうことができる
メモリ診断方法を提供することにある。
み書きを行なうことができるメモリ及びそれに接続され
ているデータバスの診断を精度良く行なうことができる
メモリ診断方法を提供することにある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するため、複数種類のビット幅でデータの読み書きを行
なうことができ、読み書きできる最大ビット幅と同じビ
ット幅のデータバスが接続されたメモリの試験対象領域
の周辺領域に対して第１の読み出しを行ない、次いで前
記試験対象領域に対して試験データの書き込みを行な
い、次いで前記試験対象領域及び前記周辺領域に対して
前記試験データの各ビットの読み出しが書き込み時とは
異なるデータバスのビットを用いて行なわれる第２の読
み出しを行ない、次いで第１の読み出しによって読み出
したデータと前記試験データとに基づいて前記試験対象
領域及び前記試験対象領域の周辺領域に書き込まれてい
ると予想される予想値を求め、次いで前記予想値と第２
の読み出しによって読み出したデータとを比較すること
により前記メモリ及び前記メモリに接続されているデー
タバスの診断を行なうようにしたものである。
するため、複数種類のビット幅でデータの読み書きを行
なうことができ、読み書きできる最大ビット幅と同じビ
ット幅のデータバスが接続されたメモリの試験対象領域
の周辺領域に対して第１の読み出しを行ない、次いで前
記試験対象領域に対して試験データの書き込みを行な
い、次いで前記試験対象領域及び前記周辺領域に対して
前記試験データの各ビットの読み出しが書き込み時とは
異なるデータバスのビットを用いて行なわれる第２の読
み出しを行ない、次いで第１の読み出しによって読み出
したデータと前記試験データとに基づいて前記試験対象
領域及び前記試験対象領域の周辺領域に書き込まれてい
ると予想される予想値を求め、次いで前記予想値と第２
の読み出しによって読み出したデータとを比較すること
により前記メモリ及び前記メモリに接続されているデー
タバスの診断を行なうようにしたものである。
【００１４】
【００１５】
【作用】この構成に於いては、試験データを試験対象領
域に書き込む前に周辺領域に対して第１の読み出しを行
なっておく。その後、試験対象領域に対して試験データ
の書き込みを行ない、更に、試験対象領域及び周辺領域
に対して試験データの各ビットの読み出しが試験データ
の書き込み時とは異なるデータバスのビットを用いて行
なわれる第２の読み出しを行なう。次いで、第１の読み
出しによって読み出したデータと試験データとに基づい
て試験対象領域及び試験対象領域の周辺領域に書き込ま
れていると予想される予想値を求める。そして、最後
に、予想値と第２の読み出しによって読み出したデータ
とを比較することによりメモリ及びメモリに接続されて
いるデータバスの診断を行なう。
域に書き込む前に周辺領域に対して第１の読み出しを行
なっておく。その後、試験対象領域に対して試験データ
の書き込みを行ない、更に、試験対象領域及び周辺領域
に対して試験データの各ビットの読み出しが試験データ
の書き込み時とは異なるデータバスのビットを用いて行
なわれる第２の読み出しを行なう。次いで、第１の読み
出しによって読み出したデータと試験データとに基づい
て試験対象領域及び試験対象領域の周辺領域に書き込ま
れていると予想される予想値を求める。そして、最後
に、予想値と第２の読み出しによって読み出したデータ
とを比較することによりメモリ及びメモリに接続されて
いるデータバスの診断を行なう。
【００１６】
【００１７】
【実施例】次に本発明の実施例について図面を参照して
詳細に説明する。
詳細に説明する。
【００１８】図１は本発明の一実施例を説明するための
図である。尚、メモリＭはｎビット幅（１単位）及び２
ｎビット幅（２単位）でデータの読み書きを行なうこと
ができるものとする。
図である。尚、メモリＭはｎビット幅（１単位）及び２
ｎビット幅（２単位）でデータの読み書きを行なうこと
ができるものとする。
【００１９】先ず、メモリＭの連続する３つの周辺領域
Ｃ１，試験対象領域Ａ１，周辺領域Ｃ２（各領域のビッ
ト幅はｎビット）の内容を読み出し（Ｒ１）、保存して
おく。尚、試験対象領域Ａ１の内容の読み出しは省略し
ても良い。また、この場合の読み出し方法は１単位ずつ
読み出すものであっても、１単位と２単位とを組み合わ
せで読み出すものであっても構わず、その読み出し方法
は限定されない。
Ｃ１，試験対象領域Ａ１，周辺領域Ｃ２（各領域のビッ
ト幅はｎビット）の内容を読み出し（Ｒ１）、保存して
おく。尚、試験対象領域Ａ１の内容の読み出しは省略し
ても良い。また、この場合の読み出し方法は１単位ずつ
読み出すものであっても、１単位と２単位とを組み合わ
せで読み出すものであっても構わず、その読み出し方法
は限定されない。
【００２０】次にデータバスの下位ｎビットを用いてメ
モリＭの試験対象領域Ａ１にｎビット幅の試験データを
書き込む（Ｗ１）。
モリＭの試験対象領域Ａ１にｎビット幅の試験データを
書き込む（Ｗ１）。
【００２１】その後、データバスの下位ｎビットを用い
てメモリＭの試験対象領域Ａ１の内容を読み出し（Ｒ
２）、書き込んだ試験データと比較する。そして、比較
不一致の場合はメモリＭ或いはそれに接続されているデ
ータバスに障害があると判定する。
てメモリＭの試験対象領域Ａ１の内容を読み出し（Ｒ
２）、書き込んだ試験データと比較する。そして、比較
不一致の場合はメモリＭ或いはそれに接続されているデ
ータバスに障害があると判定する。
【００２２】続いて、データバスの下位ｎビット，上位
ｎビットを用いて領域Ｃ１，Ａ１の内容を一括して、即
ち２単位まとめて読み出し（Ｒ３）、更に、データバス
の下位ｎビット，上位ｎビットを用いて領域Ａ１，Ｃ２
の内容を２単位まとめて読み出す（Ｒ４）。
ｎビットを用いて領域Ｃ１，Ａ１の内容を一括して、即
ち２単位まとめて読み出し（Ｒ３）、更に、データバス
の下位ｎビット，上位ｎビットを用いて領域Ａ１，Ｃ２
の内容を２単位まとめて読み出す（Ｒ４）。
【００２３】次にＲ１で読み出し保存してある領域Ｃ
１，Ａ１，Ｃ２の値と試験データとを合成することによ
り、領域Ｃ１，Ａ１に書き込まれていると予想される値
及び領域Ａ１，Ｃ２に書き込まれていると予想される値
を求める。
１，Ａ１，Ｃ２の値と試験データとを合成することによ
り、領域Ｃ１，Ａ１に書き込まれていると予想される値
及び領域Ａ１，Ｃ２に書き込まれていると予想される値
を求める。
【００２４】その後、領域Ｃ１，Ａ１に対する予想値と
Ｒ３で読み出した領域Ｃ１，Ａ１の値とを比較すると共
に、領域Ａ１，Ｃ２に対する予想値とＲ４で読み出した
領域Ａ１，Ｃ２の値とを比較する。そして、比較不一致
の場合はメモリＭ或いはそれに接続されているデータバ
スに障害があると判定する。
Ｒ３で読み出した領域Ｃ１，Ａ１の値とを比較すると共
に、領域Ａ１，Ｃ２に対する予想値とＲ４で読み出した
領域Ａ１，Ｃ２の値とを比較する。そして、比較不一致
の場合はメモリＭ或いはそれに接続されているデータバ
スに障害があると判定する。
【００２５】このように、本実施例は試験データを書き
込んだ試験対象領域Ａ１の周辺領域Ｃ１，Ｃ２に対して
も、試験データの書き込み前，書き込み後の値を比較す
るので、データの書き込みが周辺領域Ｃ１，Ｃ２に影響
を及ぼすような障害がメモリＭにあった場合、それを検
出することが可能になる。
込んだ試験対象領域Ａ１の周辺領域Ｃ１，Ｃ２に対して
も、試験データの書き込み前，書き込み後の値を比較す
るので、データの書き込みが周辺領域Ｃ１，Ｃ２に影響
を及ぼすような障害がメモリＭにあった場合、それを検
出することが可能になる。
【００２６】また、本実施例はＷ１に於いてデータバス
の下位ｎビットを用いて書き込んだ試験データを、Ｒ３
に於いてデータバスの上位ｎビットを用いて読み出して
いるので、データバスの上位ｎビットの障害を検出する
ことも可能になる。
の下位ｎビットを用いて書き込んだ試験データを、Ｒ３
に於いてデータバスの上位ｎビットを用いて読み出して
いるので、データバスの上位ｎビットの障害を検出する
ことも可能になる。
【００２７】また、データバスの下位ｎビット中の或る
ビット（例えば、第ｉビット）に障害がある場合でも、
前述した従来の技術では試験データの第ｉビットの書き
込みと読み出しは障害のあるデータバスの第ｉビットを
介して行なうため、書き込み時にデータバスの第ｉビッ
トの影響により試験データと異なる値がメモリに書き込
まれても、読み出し時にデータバスの第ｉビットの影響
により試験データと同じ値がＣＰＵに読み込まれ、デー
タバスの障害を検出できない場合がある。しかし、本実
施例では試験データの読み出しと書き込みとをデータバ
スの異なる部分を用いて行なっており、メモリに書き込
まれている誤った値が正しい値に変化してＣＰＵに読み
込まれるという可能性は少ないので、データバスの障害
をより確実に検出することが可能になる。
ビット（例えば、第ｉビット）に障害がある場合でも、
前述した従来の技術では試験データの第ｉビットの書き
込みと読み出しは障害のあるデータバスの第ｉビットを
介して行なうため、書き込み時にデータバスの第ｉビッ
トの影響により試験データと異なる値がメモリに書き込
まれても、読み出し時にデータバスの第ｉビットの影響
により試験データと同じ値がＣＰＵに読み込まれ、デー
タバスの障害を検出できない場合がある。しかし、本実
施例では試験データの読み出しと書き込みとをデータバ
スの異なる部分を用いて行なっており、メモリに書き込
まれている誤った値が正しい値に変化してＣＰＵに読み
込まれるという可能性は少ないので、データバスの障害
をより確実に検出することが可能になる。
【００２８】図２は本発明の他の実施例を説明するため
の図である。
の図である。
【００２９】先ず、メモリＭの連続する４つの周辺領域
Ｃ２１，試験対象領域Ａ２１，試験対象領域Ａ２２，周
辺領域Ｃ２２（各領域のビット幅はｎビット）の内容を
読み出し（Ｒ２１）、保存しておく。尚、この場合の読
み出し方法は１単位ずつ読み出すものであっても、２単
位ずつ読み出すものであっても、或いは１単位と２単位
とを組み合わせて読み出すものであっても構わず、その
読み出し方法は限定されない。
Ｃ２１，試験対象領域Ａ２１，試験対象領域Ａ２２，周
辺領域Ｃ２２（各領域のビット幅はｎビット）の内容を
読み出し（Ｒ２１）、保存しておく。尚、この場合の読
み出し方法は１単位ずつ読み出すものであっても、２単
位ずつ読み出すものであっても、或いは１単位と２単位
とを組み合わせて読み出すものであっても構わず、その
読み出し方法は限定されない。
【００３０】次にデータバスの下位ｎビット，上位ｎビ
ットを用いてメモリＭの試験対象領域Ａ２１，Ａ２１に
２ｎビット幅の試験データを一括して書き込む（Ｗ２
１）。
ットを用いてメモリＭの試験対象領域Ａ２１，Ａ２１に
２ｎビット幅の試験データを一括して書き込む（Ｗ２
１）。
【００３１】その後、データバスの下位ｎビットを用い
てメモリＭの試験対象領域Ａ２１の内容を読み出し（Ｒ
２２）、試験データの前半部分と比較する。そして、比
較不一致の場合はメモリＭ或いはそれに接続されている
データバスに障害があると判定する。
てメモリＭの試験対象領域Ａ２１の内容を読み出し（Ｒ
２２）、試験データの前半部分と比較する。そして、比
較不一致の場合はメモリＭ或いはそれに接続されている
データバスに障害があると判定する。
【００３２】更に、データバスの下位ｎビットを用いて
メモリＭの試験対象領域Ａ２２の内容を読み出し（Ｒ２
３）、試験データの後半部分と比較する。そして、比較
不一致の場合はメモリＭ或いはそれに接続されているデ
ータバスに障害があると判定する。
メモリＭの試験対象領域Ａ２２の内容を読み出し（Ｒ２
３）、試験データの後半部分と比較する。そして、比較
不一致の場合はメモリＭ或いはそれに接続されているデ
ータバスに障害があると判定する。
【００３３】その後、メモリＭの領域Ｃ２１，Ａ２１の
内容、領域Ａ２１，Ａ２２の内容、領域Ａ２２，Ｃ２２
の内容を順次データバスの下位ｎビット，上位ｎビット
を用いて２単位ずつ読み出す（Ｒ２４，Ｒ２５，Ｒ２
６）。
内容、領域Ａ２１，Ａ２２の内容、領域Ａ２２，Ｃ２２
の内容を順次データバスの下位ｎビット，上位ｎビット
を用いて２単位ずつ読み出す（Ｒ２４，Ｒ２５，Ｒ２
６）。
【００３４】次にＲ２１で読み出し保存してある領域Ｃ
２１，Ａ２１，Ａ２２，Ｃ２２の内容と試験データとを
合成することにより、領域Ｃ２１，Ａ２１に書き込まれ
ていると予想される値，領域Ａ２１，Ａ２２に書き込ま
れていると予想される値及び領域Ａ２２，Ｃ２２に書き
込まれているとと予想される値を求める。
２１，Ａ２１，Ａ２２，Ｃ２２の内容と試験データとを
合成することにより、領域Ｃ２１，Ａ２１に書き込まれ
ていると予想される値，領域Ａ２１，Ａ２２に書き込ま
れていると予想される値及び領域Ａ２２，Ｃ２２に書き
込まれているとと予想される値を求める。
【００３５】その後、領域Ｃ２１，Ａ２１に対する予想
値とＲ２４で読み出した領域Ｃ２１，Ａ２１の値との比
較、領域Ａ２１，Ａ２２に対する予想値とＲ２５で読み
出した領域Ａ２１，Ａ２２の値との比較、領域Ａ２２，
Ｃ２２に対する予想値とＲ２６で読み出した領域Ａ２
２，Ｃ２２の値との比較を順次行なう。そして、比較不
一致の場合はメモリＭ或いはそれに接続されているデー
タバスに障害が存在すると判定する。
値とＲ２４で読み出した領域Ｃ２１，Ａ２１の値との比
較、領域Ａ２１，Ａ２２に対する予想値とＲ２５で読み
出した領域Ａ２１，Ａ２２の値との比較、領域Ａ２２，
Ｃ２２に対する予想値とＲ２６で読み出した領域Ａ２
２，Ｃ２２の値との比較を順次行なう。そして、比較不
一致の場合はメモリＭ或いはそれに接続されているデー
タバスに障害が存在すると判定する。
【００３６】このように、本実施例は試験データを書き
込んだ試験対象領域Ａ２１，Ａ２２の周辺領域Ｃ２１，
Ｃ２２に対しても、試験データの書き込み前，書き込み
後の値を比較するので、データの書き込みが周辺領域Ｃ
２１，Ｃ２２に影響を及ぼすような障害がメモリにあっ
た場合、それを検出することが可能になる。
込んだ試験対象領域Ａ２１，Ａ２２の周辺領域Ｃ２１，
Ｃ２２に対しても、試験データの書き込み前，書き込み
後の値を比較するので、データの書き込みが周辺領域Ｃ
２１，Ｃ２２に影響を及ぼすような障害がメモリにあっ
た場合、それを検出することが可能になる。
【００３７】また、本実施例はＷ２１に於いてデータバ
スの下位ｎビットを用いて試験対象領域Ａ２１に書き込
んだ試験データを、Ｒ２４に於いてデータバスの上位ｎ
ビットを用いて読み出し、また、Ｗ２１に於いてデータ
バスの上位ｎビットを用いて試験対象領域Ａ２２に書き
込んだ試験データを、Ｒ２３に於いてデータバスの下位
ｎビットを用いて読み出すというように、試験データの
書き込みと読み出しをデータバスの異なる部分を用いて
行なっているので、従来の技術では検出することができ
ないことがあったデータバスの障害をより確実に検出す
ることが可能になる。
スの下位ｎビットを用いて試験対象領域Ａ２１に書き込
んだ試験データを、Ｒ２４に於いてデータバスの上位ｎ
ビットを用いて読み出し、また、Ｗ２１に於いてデータ
バスの上位ｎビットを用いて試験対象領域Ａ２２に書き
込んだ試験データを、Ｒ２３に於いてデータバスの下位
ｎビットを用いて読み出すというように、試験データの
書き込みと読み出しをデータバスの異なる部分を用いて
行なっているので、従来の技術では検出することができ
ないことがあったデータバスの障害をより確実に検出す
ることが可能になる。
【００３８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、複数種
類のビット幅でデータの読み書きを行なうことができる
メモリ及びそれに接続されているデータバスの診断を行
なう場合、試験対象領域の周辺領域も考慮して診断を行
なうので、データの書き込みによって周辺領域の内容が
変化する障害も検出することが可能になる効果がある。
類のビット幅でデータの読み書きを行なうことができる
メモリ及びそれに接続されているデータバスの診断を行
なう場合、試験対象領域の周辺領域も考慮して診断を行
なうので、データの書き込みによって周辺領域の内容が
変化する障害も検出することが可能になる効果がある。
【００３９】また、本発明は複数種類のビット幅でデー
タの読み書きを行なうことができるメモリ及びそれに接
続されているデータバスの診断を行なう場合、試験デー
タの書き込みと試験データの読み出しとをデータバスの
異なるビットを用いて行なうので、従来検出することが
できないことがあったデータバスの障害をより確実に検
出することが可能になる効果がある。
タの読み書きを行なうことができるメモリ及びそれに接
続されているデータバスの診断を行なう場合、試験デー
タの書き込みと試験データの読み出しとをデータバスの
異なるビットを用いて行なうので、従来検出することが
できないことがあったデータバスの障害をより確実に検
出することが可能になる効果がある。
【図１】本発明の一実施例の説明するための図である。
【図２】本発明の他の実施例を説明するための図であ
る。
る。
【図３】従来の技術を説明するための図である。
【図４】他の従来の技術を説明するための図である。
Ａ１，Ａ２１，Ａ２２，Ａ３１，Ａ４１，Ａ４２…試験
対象領域 Ｃ１，Ｃ２，Ｃ２１，Ｃ２２，Ｃ３１，Ｃ３２，Ｃ４
１，Ｃ４２…周辺領域
対象領域 Ｃ１，Ｃ２，Ｃ２１，Ｃ２２，Ｃ３１，Ｃ３２，Ｃ４
１，Ｃ４２…周辺領域
Claims (1)
- 【請求項１】 複数種類のビット幅でデータの読み書き
を行なうことができ、読み書きできる最大ビット幅と同
じビット幅のデータバスが接続されたメモリの試験対象
領域の周辺領域に対して第１の読み出しを行ない、次い
で前記試験対象領域に対して試験データの書き込みを行
ない、次いで前記試験対象領域及び前記周辺領域に対し
て前記試験データの各ビットの読み出しが書き込み時と
は異なるデータバスのビットを用いて行なわれる第２の
読み出しを行ない、次いで第１の読み出しによって読み
出したデータと前記試験データとに基づいて前記試験対
象領域及び前記試験対象領域の周辺領域に書き込まれて
いると予想される予想値を求め、次いで前記予想値と第
２の読み出しによって読み出したデータとを比較するこ
とにより前記メモリ及び前記メモリに接続されているデ
ータバスの診断を行なうことを特徴とするメモリ診断方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4152762A JP2808983B2 (ja) | 1992-05-20 | 1992-05-20 | メモリ診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4152762A JP2808983B2 (ja) | 1992-05-20 | 1992-05-20 | メモリ診断方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05324493A JPH05324493A (ja) | 1993-12-07 |
| JP2808983B2 true JP2808983B2 (ja) | 1998-10-08 |
Family
ID=15547598
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4152762A Expired - Fee Related JP2808983B2 (ja) | 1992-05-20 | 1992-05-20 | メモリ診断方法 |
Country Status (1)
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|---|---|
| JP (1) | JP2808983B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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Family Cites Families (3)
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-
1992
- 1992-05-20 JP JP4152762A patent/JP2808983B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
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