JPS6222150A - 検査装置 - Google Patents

検査装置

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JPS6222150A
JPS6222150A JP60160379A JP16037985A JPS6222150A JP S6222150 A JPS6222150 A JP S6222150A JP 60160379 A JP60160379 A JP 60160379A JP 16037985 A JP16037985 A JP 16037985A JP S6222150 A JPS6222150 A JP S6222150A
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JP
Japan
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Pending
Application number
JP60160379A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuyasu Nagatomi
永富 和保
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication of JPS6222150A publication Critical patent/JPS6222150A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は製造されたcpu (中央処理ユニット)チッ
プの検査を行なうためのチップの検査装置に関するもの
である。
(従来の技術) 従来の検査装置としては例えば特開昭58−40672
  ・号公報に示されている。
第2図はこの従来の検査装置のブロック構成図を示すも
のであり、11はCPU、 12はCPU検査用のプロ
グラム領域または作業領域となるメモリ、13−14は
通常I10領域として構成される入力インターフェイス
と出力インターフェイス、15はCPUの起動停止制御
信号、ストローブ信号などのコントロールパス(以下、
バスはBUSと記す)BtlS、16はアドレスBUS
やデータBus (以下アドレスデータBuSと略す)
、23は検査を行なうための制御回路、17はコントロ
ール8υ515と制御回路23を接続するコントロール
信号用ゲート、18はアドレスデータBUS16と制御
回路23を接続するアドレスデータ用ゲートである。
以上のように構成された従来の検査装置について動作を
説明する。
第3図は検査概略フローを示す図である。制御回路23
はCPUIIに対し、検査項目1の検査開始を指示する
と、CPUIIは検査項目1の検査プログラム1を実行
して検査結果をメモリ12に格納し検査項目1の終了を
制御回路23に告げる。制御回路23は検査結果をチェ
ックし、不合格(、NG)ならば検査を終了し、合格(
OK)ならば検査項目2の検査開始をCPUIIに指示
する。 CPUIIは検査項目1の検査プログラム2を
実行して検査結果をメモリ12に格納し検査項目2の終
了を制御回路23に告げる。制御回路23は検査結果を
チェックし、NGならば検査を終了し、OKならば検査
項目3の検査開始をCPUIIに指示する。以下検査項
目を全て検査し結果チェックでOKとなったCPUが検
査合格となる。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら上記のような構成では、検査項目1項目毎
の検査結果のチェックを行なうため、その結果判断回路
が複雑であり、−回一回検査開始を指示するため検査時
間も遅いという問題点を有していた。
本発明はかかる点に鑑み、検査時間を短縮し、検査制御
回路の判断を簡単にする検査装置を提供することを目的
とする。
(問題点を解決するための手段) 本発明は、検査されるCPuチップの検査する項目別に
アドレス付された検査項目別回答レジスタと、前記検査
項目別回答レジスタをまとめて1つのレジスタとして反
映する検査結果総合レジスタと、前記検査項目別回答レ
ジスタに設定されるべく内容を記憶する検査合格データ
格納レジスタと、前記検査結果総合レジスタと前記検査
合格データ格納レジスタに内容を比較し検査結果を出力
する検査結果比較器を備えた検査装置である。
(作 用) 本発明は前記した構成により、各検査項目の検査結果を
検査結果総合レジスタに見ることができるので検査結果
の判断が簡単になる。
(実施例) 第1図は本発明の1実施例における検査装置のブロック
構成図を示すものである。第1図において、1は検査さ
れるCPuチップで検査cpu、2A、 2B。
2C,2Dは検査項目別にアドレス付された検査項目別
回答レジスタで検査CPU 1が検査プログラム実行後
得られた検査結果を格納する。3は検査項目別回答レジ
スタ2A、 2B、 2C,2Dに設定された内容を1
つにまとめて反映する検査結果総合レジスタ、4は検査
項目別回答レジスタ2A、 2B、 2C,2Dに設定
されるべく(検査結果総合レジスタ3に反映されるべく
)内容を記憶する検査合格データ格納レジスタで自由に
内容を設定できる。5は検査結果総合レジスタ3と検査
合格データ格納レジスタ4の内容を比較する検査結果比
較器で一致した場合、検査合格信号aを出力する。6は
検査cPυ1が出力するアドレスをデコードするデコー
ダで、検査項目別回答レジスタ2^、 2B、 2C,
2Dを選択するデコード信号A、B、C,Dを出力する
。7は検査合格信号aをもとに検査合格表示や検査CP
U 1への検査開始指示、検査項目別回答レジスタ2A
、 2B。
2G、 2Dの初期化する初期化信号eを発生する検査
制御回路である。
以上のように構成された本実施例の検査装置について以
下その動作を説明する。例として検査項目別回答レジス
タ2A、 2B、 2C,2Dは1ビツト構成、検査結
果総合レジスタ3と検査合格データ格納レジスタ4は4
ビツト構成(検査項目別回答レジスタ数4ビット分)、
検査項目数は4である場合について説明する。
まず検査合格データ格納レジスタ4に検査合格データ、
例えば”0110“(左端から検査項目別回答レジスタ
2A、 28.2C,2Dのビットに対応する)を設定
しておき、検査結果総合レジスタ3には検査合格データ
とは全く逆のX00110 ”となる様に検査制御回路
7は初期化信号eを出力して検査項目別回答レジスタ2
A、 2B、 2C,2Dを初期化する。
検査CPU1は検査プログラム(検査項目1〜4)の実
行開始を指示する。検査CPU 1は検査項目を順に実
行する。
検査項目1の検査が正常終了すると検査CPU 1は検
査項目別回答レジスタ2人に検査結果“0゜(異常終了
の場合は”1”)を設定する0次に検査CPU 1は検
査項目2の検査を行なう正常終了すると、検査項目別回
答レジスタ2Bに検査結果”1゛。
(異常終了の場合は”0“)を設定する6次に検査項目
3に移り、検査が正常終了すると検査項目別回答レジス
タ2Cに111(異常終了の場合は”O”)を設定す゛
る。同様に検査CPU lは検査項目4に移り、検査が
正常終了すると検査項目別回答レジスタ2Dに10″(
異常終了の場合は@11)を設定する。検査項目が全て
正常終了した場合、検査結果総合レジスタ3には検査項
目別回答レジスタにはX”0110“が反映される。検
査結果比較器5は検査結果総合レジスタ3の内容″01
10 ”と検査合格データ格納レジスタ4の内容” 0
110”が一致しているので検査合格信号aを出力する
。検査制御回路5は検査合格信号aを受けて検査合格の
通知を行なうなどの処理をする。
また1項目でも異常終了した場合1例えば検査項目2が
異常終了だった場合(検査項目別回答レジスタ2Bには
“0“が設定される。)、検査結果総合レジスタ3の内
容は0010“となり、検査合格データ格納レジスタ4
の内容” 011G ”と一致がとれないので検査結果
比較器5は検査合格信号aを出力しない。検査制御回路
7は検査合格信号aを受けないので検査不合格の通知を
行なうなどの処理をする。
検査合格データとして” 0110″を例としたがデー
タは何であっても検査合格データに対応して、検査項目
別回答レジスタ3への設定値を変えれば良いので問題は
ない。
以上のように本実施例によれば、検査項目別にアドレス
付される検査項目別回答レジスタと、検査合格データを
格納する検査合格データ格納レジスタを設け、検査項目
毎に検査が正常終了したとき検査合格データに対応した
検査回路を検査項目別回答レジスタに設定し、検査結果
総合レジスタの内容と、検査合格データ格納レジスタの
内容とを比較することにより検査CPUを検査すること
ができる。
(発明の効果) 以上説明したように本発明によれば、検査結果の判定を
簡略化でき検査時間のスピードアップを図ることができ
、その実用的効果は大きし1゜
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明における一実施例の検査装置のブロック
構成図、第2図は従来の検査装置のブロック構成図、第
3図は従来の検査装置の検査概略フローである。 2A、2B、2G、2D・・・検査項目別回答レジスタ
、3 ・・・検査結果総合レジスタ、 4・・・検査合
格データ格納レジスタ、 5・・・検査結果比較器、 
7・・・検査制御回路。 特許出願人 松下電器産業株式会社 第1図 箪2図 第3図 IAfsw]卦

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 検査されるCPUチップの検査する項目別にアドレス付
    される検査項目別回答レジスタと、前記検査項目別回答
    レジスタをまとめて1つのレジスタとして反映する検査
    結果総合レジスタと、前記検査項目別回答レジスタに設
    定されるべく内容を記憶する検査合格データ格納レジス
    タと、前記検査結果総合レジスタと前記検査合格データ
    格納レジスタの内容を比較して検査結果を出力する検査
    結果比較器と、検査されるCPUが出力するアドレスを
    デコードするデコーダと、検査されるCPUに対する検
    査開始制御や、検査結果を判断する検査制御装置とを備
    えたことを特徴とする検査装置。
JP60160379A 1985-07-22 1985-07-22 検査装置 Pending JPS6222150A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60160379A JPS6222150A (ja) 1985-07-22 1985-07-22 検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60160379A JPS6222150A (ja) 1985-07-22 1985-07-22 検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6222150A true JPS6222150A (ja) 1987-01-30

Family

ID=15713687

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60160379A Pending JPS6222150A (ja) 1985-07-22 1985-07-22 検査装置

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