JPS62139115A - 垂直磁気記録媒体 - Google Patents

垂直磁気記録媒体

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JPS62139115A
JPS62139115A JP27976985A JP27976985A JPS62139115A JP S62139115 A JPS62139115 A JP S62139115A JP 27976985 A JP27976985 A JP 27976985A JP 27976985 A JP27976985 A JP 27976985A JP S62139115 A JPS62139115 A JP S62139115A
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JP
Japan
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film
thin film
magnetic recording
thickness
magnetic
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Pending
Application number
JP27976985A
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English (en)
Inventor
Noboru Sato
昇 佐藤
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、垂直磁気記録媒体、特にco − Cr系垂
直磁化膜による磁気記録媒体に関する。
〔発明の概要〕
本発明は、Cr薄膜と、Co薄膜とを交互に繰返し積層
した垂直磁化膜構成とし、且つそのCo薄膜の厚さの特
定と、全体としてのCr添加量を特定とすることによっ
てすぐれた耐蝕性と、垂直磁化膜としての特性を有する
垂直磁気記録媒体を構成する。
〔従来の技術〕
遷移金属のGoに、Crを添加したCo − Cr系磁
性薄膜は耐蝕性にすぐれた磁性薄膜として知られている
ところである。この場合、耐蝕性に関しては、Co対C
rの混合割合(原子比)は1:1が好ましいと嶌えられ
る。これは、Co原子とCo原子との結合ペアは酸に易
溶性を示すが、これにCr原子が入り込みCo原子とC
r原子との結合ベアを形成するときは、酸に溶けにくく
なって化学的に安定化すると思われることに因る。しか
しながらこのようにCrの添加量を増加するときは、磁
気的特性、特に飽和磁束密度Msの低下を来す。
〔発明が解決しようとする問題点〕
本発明はCo − Cr系磁性膜においてCrの添加量
を大として耐蝕性の向上をはかるにもかかわらず磁気的
特性、例えば飽和磁束密度の低下を回避し、しかも垂直
磁気記録媒体としての特性を有するようにする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、第1図に示すように、基体(1)Lに、Cr
薄膜(2)と、厚さが20Å以下の遷移金属のCo薄膜
(3)とを交h゛に積層し7た垂直磁化膜(4)を形成
する。
そして、この垂直磁化膜(4)の全体に対するCrの割
合を15〜35原了%に選定4−る。
そして、Cr薄膜(2)の厚さは、Co薄膜(3)の相
互を磁気的に分能゛4′るt=で 1.3人口にとする
ことが好まし7い。
〔作用〕
−に連の本発明による垂直磁化膜(4)は、高い飽和磁
束密度Msを示す。
これは、夫々原子1−オーダーの厚さのCr薄膜とCo
薄膜との繰返えし積層構造によって、六方晶系のCoの
C軸が良く揃っ”ζ、磁気異方性が強まることに31、
るものと考えられる。ずなわら、従来一般のco−Cr
系の串一層による磁性膜では、六方晶系のCoにCrが
ついたモデルとして嶌えられるに比し、本発明構成では
、膜面方向に(110)結晶面が優位に配向する体心立
方のCrが、六方晶系のCOに、その一部のCoとCr
とが置換した状態で規則的に積重ねられたモデルとして
考えることができるものであり、これによっ°(Cr1
bを大にしてもCOの結晶の(・軸が揃った状態で垂直
磁化膜(4)を形成することができて、強い磁気界方性
を示すものと考えられる。
しかしながらCoのl置屋が20人を超える古、耳Ga
磁化股としての特性が劣化し、また、Crが磁化膜(4
)の全体の組成に対して15原了%未満の場合、飽和磁
束密度Msが大となり、磁気異方性としての特性が劣化
し、小さくなり同様に垂直磁化膜とならな(なり、逆に
Crが3!;Iff子%を超えると、Msが低くなり過
ぎることを確認した。
〔実施例〕
本発明による垂直磁気記録媒体の磁化膜は、スパックリ
ングによって形成することができる。
このスパッタリング装置としては、マグネトロン型構成
をとり得る。この場合、ヘルジャ(図示セず)内に、軸
心0−0′を中心として回転する基台(6)を設け、こ
れの例えば下面に目的とする光磁気記録媒体を構成する
ガラス板、金属板、樹脂板等より成る基体0)が配置さ
れる。そして、この基体+11に対向して軸心0−0′
を中心に等角間隔、すなわち180°の角間隔を保持し
て2個のスパッタ源(7)及び(8)を配置する。これ
らスパッタ源(7)及び(8)と基台(6)、ずなわら
基体(11との間には、スパッタ源(7)及び(8)よ
り夫々スパッタされる金属のスパッタ位置を規制するマ
スク(9)を配置する。スパッタ源(7)はCrの板状
体より成るターゲットOmを有し、スパッタ源(8)は
、Co板状体より成るターゲラ)(II)を有して成る
。(12)及び(13)は、夫々マグネットを示す。
マスク(9)は、例えば第3図に示すように、ターゲラ
)Ol及び(11)に対向する部分にこれらターゲット
OI及び(11)の中心を通る直線X方向に外側に向っ
て広がるいちょう形の窓(14)及び(15)が穿設さ
れて成り、基台(6)が停止した状態では基体(1)の
例えは主として一半部に一方のターゲットOIからのC
oがスパッタリングされ、主として他半部に他方のター
ゲット(11)からのCOがスバ・7タリングされるよ
うにする。
そして基台(6)を回転させながらターゲットOI及び
(11)を負極側として直流スパッタリングを行う。
このようにして基台(6)を回転させながら全体として
 200〜50000人の厚さ、例えば1000人の厚
さの磁化膜(4)を形成する。
実施例1 ガラス板より成る基体111上に、第2図及び第3図で
説明したスパッタリング装置において、各ターゲット0
01及び(11)を、Cr及びCoの各車体によるター
ゲットとし、Crのターゲット電流を0.8A 。
Coのターゲット電流を2.6Aとして基体illにお
けるCrの成長速度を1.3人/秒、Coの成長速度を
2.6人/秒とする条件下で、基台(6)を3Or、p
、m、をもって回転することによって、基体(1)上に
CrとCOの各薄膜を交互に積層生成して磁性膜を作製
した。
この磁性膜がCr薄膜とCo薄膜との繰返えし積層によ
る周期構造を有することは、小角X線回折によって確認
した。第4図はこの小角X線回折の膜面とのなす角をθ
としたときの角度2θに対する回折強度の測定曲線図の
一部を示すものである。この場合、Co  Ka  (
波長λ−1.79人)のX線を用いた。第4図によれば
2θ−13,6°のところで第1番目のピークを示して
いる。今Gr薄膜(2)とC0vI膜(3)との繰返え
し積層の周期ピンチ(肉薄膜(2)及び(3)の厚さの
和に相当する)をPとすると2Psin(2θ/2)=
nλで与えられるので、この場合、ピッチPは7.6人
であることがわかり、Cr薄−(2)の厚さが2.6人
、Co薄膜(3)の厚さが5.0人として繰返えし積層
されている。
また、第5図は実施例1による磁性膜の磁化曲線で実線
曲線は、膜に対し垂直方向に関する磁化曲線を示し、破
線曲線は膜面に沿う方向に関する磁化曲線を示す。これ
によれば、この実施例1による磁性膜は、垂直磁化膜と
しての特性を有することがわかり、垂直磁気記録媒体の
磁化膜として用い(qることかわかる。
更に、第6図及び第7図は夫々実施例1によって得た磁
性膜を400℃で5時間のアニール処理を行って後に、
測定した小角X線回折強度及び磁化曲線を示し、第7図
中実線曲線及び破線曲線は夫々膜面に垂直方向及び膜面
に沿う方向の各磁化曲線を示す。このようにアニール処
理を行って後も、Co膜とCr膜との繰返えし構造が保
持され、また垂直磁化膜を構成していることが確認され
た。
また実施例1において得た磁性膜について、耐蝕性を測
定したところ王水を10倍希釈した水溶液に10分間浸
漬して溶解する程度の優れた耐蝕性を示した。
実施例2 実施例1と同様の方法によって基体(1)上にCr薄膜
(2)とCo膜膜(3)とを繰返えし積層して磁性膜を
作製したが、この場合、基台(6)の回転速度を変えて
、15r、p、i、、 30r、p、m、、 45r、
p、m、、 60r、p、m、とじて磁性膜を作製した
。これら各磁性膜を試料S+s+S 301 S 46
1 S 6oとし、試料316についての前述したと同
様の小角X線回折強度及び磁化曲線は第8図及び第9図
に示し、試料S 30 、 S 46 、  S so
の夫々の磁化曲線を第10図〜第12図に示す。第9図
〜第12図において夫々実線曲線は、膜に対し垂直方向
に関する磁化曲線を示し、破線曲線は膜面に沿う方向に
関する磁化曲線を示す。これによれば、この実施例2に
よる各磁性膜も、垂直磁化膜としての特性を有すること
がわかり、垂直磁気記録媒体の磁化膜として用い得るこ
とがわかる。
実施例3 実施例1及び2と同様にしてCr薄膜(2)と、Co薄
膜(3)との繰返えし積層によって磁性膜を作製するが
、各作製条件、具体的にはCrとCoのターゲット電流
を夫々変えることによって、CrとCoの膜厚の比を変
えて、磁性膜全体としてのCrの量を異ならしめ、夫々
飽和磁束密度Msを測定した。その測定結果を第13図
の表図に示す。この測定結果からもわかるようにCrの
添加量が大になるにつれ飽和磁束密度Msが低下してく
ることがわかるが、Crの添加量は35原子%以下であ
れば、基台(6)の回転速度の選定によって所要のMs
が得られることが確認された。このように本発明によれ
ば、C「添加量を35原子%にまで増加させることがで
きるので耐蝕性にすぐれた垂直磁化膜が得られる。
〔発明の効果〕
上述したように本発明によれば、高い飽和磁束密度を保
持して実質的にCrの組成比を高めることができるので
、耐蝕性にすぐれた磁性層を得ることができて垂直磁気
記録媒体として各種磁気記録媒体に通用して環境による
影響や経時変化の少い安定した媒体を構成でき、実用に
供してその利益は大である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による垂直磁気記録媒体の一例の路線的
拡大断面図、第2図はスパッタリング装置の一例の構成
図、第3図はそのマスクの平面図、第4図、第6図、第
8図は小角X線回折強度図、第5図、第7図、第9図〜
第12図は夫々磁化曲線図、第13図は飽和磁束密度の
測定結果を示す表図である。 +11は基体、(2)はCr薄膜、(3)はCo薄膜、
(4)は磁性膜である。 本19月によ″b垂1i磁気1d令妹体が曙線が丹広舊
鉾面図第1図 第2図 讐区 酢鴨ぐつ 卒 ゛ト減 シ よ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 厚さが20Å以下のCo薄膜と、Cr薄膜とが交互に積
    層され、これらの全体の組成に対しCrが15〜35原
    子%に選定されたことを特徴とする垂直磁気記録媒体。
JP27976985A 1985-12-12 1985-12-12 垂直磁気記録媒体 Pending JPS62139115A (ja)

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JP27976985A JPS62139115A (ja) 1985-12-12 1985-12-12 垂直磁気記録媒体

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JP27976985A JPS62139115A (ja) 1985-12-12 1985-12-12 垂直磁気記録媒体

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JPS62139115A true JPS62139115A (ja) 1987-06-22

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ID=17615653

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JP27976985A Pending JPS62139115A (ja) 1985-12-12 1985-12-12 垂直磁気記録媒体

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01298519A (ja) * 1988-05-25 1989-12-01 Nec Corp 垂直磁気記録膜

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01298519A (ja) * 1988-05-25 1989-12-01 Nec Corp 垂直磁気記録膜

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