JPS62117507U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS62117507U JPS62117507U JP479186U JP479186U JPS62117507U JP S62117507 U JPS62117507 U JP S62117507U JP 479186 U JP479186 U JP 479186U JP 479186 U JP479186 U JP 479186U JP S62117507 U JPS62117507 U JP S62117507U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electron beam
- microscope
- deflector
- electron
- points
- Prior art date
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- Granted
Links
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
第1図は本考案の一実施例を示す構成ブロツク
図、第2図は測長原理の説明図、第3図は偏向器
に与える矩形波電流パルス波形を示す図、第4図
は平面上の2点の測長原理の説明図である。 1…電子銃、2…電子レンズ、3…試料、4…
中間レンズ系、5…最終レンズ、6,6x,6y
…偏向器、7…螢光板、8…発振器、9x,9y
…増幅器、10x,10y…A/D変換器、11
…演算器、12…倍率設定器、13…表示器、1
4…レンズ電源。
図、第2図は測長原理の説明図、第3図は偏向器
に与える矩形波電流パルス波形を示す図、第4図
は平面上の2点の測長原理の説明図である。 1…電子銃、2…電子レンズ、3…試料、4…
中間レンズ系、5…最終レンズ、6,6x,6y
…偏向器、7…螢光板、8…発振器、9x,9y
…増幅器、10x,10y…A/D変換器、11
…演算器、12…倍率設定器、13…表示器、1
4…レンズ電源。
Claims (1)
- 加速電源により加速された電子ビームを2次元
方向に偏向させる偏向器を最終レンズの上方又は
下方に設け、目的とする2点の位置が表示装置上
に重なつて見えるように前記偏光器に矩形状の偏
向信号を送り、その時の電子ビームの加速電圧、
偏向信号の振幅及び顕微鏡倍率より2点間の距離
を算出するようにした電子顕微鏡の測長器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP479186U JPH0516491Y2 (ja) | 1986-01-16 | 1986-01-16 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP479186U JPH0516491Y2 (ja) | 1986-01-16 | 1986-01-16 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62117507U true JPS62117507U (ja) | 1987-07-25 |
JPH0516491Y2 JPH0516491Y2 (ja) | 1993-04-30 |
Family
ID=30785780
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP479186U Expired - Lifetime JPH0516491Y2 (ja) | 1986-01-16 | 1986-01-16 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0516491Y2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6414854A (en) * | 1987-07-08 | 1989-01-19 | Nikon Corp | Electron microscope for length measurement |
-
1986
- 1986-01-16 JP JP479186U patent/JPH0516491Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6414854A (en) * | 1987-07-08 | 1989-01-19 | Nikon Corp | Electron microscope for length measurement |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0516491Y2 (ja) | 1993-04-30 |
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