JPS62106347A - 粒子分析装置の光源変動補正方法 - Google Patents
粒子分析装置の光源変動補正方法Info
- Publication number
- JPS62106347A JPS62106347A JP24853185A JP24853185A JPS62106347A JP S62106347 A JPS62106347 A JP S62106347A JP 24853185 A JP24853185 A JP 24853185A JP 24853185 A JP24853185 A JP 24853185A JP S62106347 A JPS62106347 A JP S62106347A
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- Japan
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- light
- photomultiplier tube
- lens
- negative high
- flow cell
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/53—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke
- G01N21/532—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke with measurement of scattering and transmission
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、フローセルを流れる試料に光を照射し、試料
粒子による散乱光や蛍光などを光電子増倍管を用いて測
定する粒子分析装置において、光源の光量変動を補正す
る方法に関するものである。
粒子による散乱光や蛍光などを光電子増倍管を用いて測
定する粒子分析装置において、光源の光量変動を補正す
る方法に関するものである。
粒子分析装置は、例えば血球計数装置、セルアナライザ
などとして使用されている。
などとして使用されている。
（従来の技術）
従来の粒子分析装置の一例を第８図に示す。
光源２からの光が波長選択フィルタ４．レンズ６を経て
、スリット８を通り、半透鏡１０で分けられた後、レン
ズ１２によりフローセルとしてのシースフローセル１４
の試料位置に収束させられる。シースフローセル１４の
試料粒子で散乱された光はレンズ１６で集められ、波長
選択フィルタ２０を経て散乱光検出用光電子増倍管２２
に入射する。１８はシースフローセルＩ４を通過した照
射光が光電子増倍管２２に入射するのを防ぐビームスト
ッパである。
、スリット８を通り、半透鏡１０で分けられた後、レン
ズ１２によりフローセルとしてのシースフローセル１４
の試料位置に収束させられる。シースフローセル１４の
試料粒子で散乱された光はレンズ１６で集められ、波長
選択フィルタ２０を経て散乱光検出用光電子増倍管２２
に入射する。１８はシースフローセルＩ４を通過した照
射光が光電子増倍管２２に入射するのを防ぐビームスト
ッパである。
シースフローセル１４に関し、光の照射方向と直交する
方向には蛍光を集めるレンズ２４が設けられており、レ
ンズ２４を経た蛍光は波長選択フィルタ２６を経て蛍光
検出用光電子増倍管２８に入射する。
方向には蛍光を集めるレンズ２４が設けられており、レ
ンズ２４を経た蛍光は波長選択フィルタ２６を経て蛍光
検出用光電子増倍管２８に入射する。
３０は半透鏡１０で分けられた光を受光するモ二タ用光
電子増倍管であり、この光電子増倍管３０の出力信号は
負高圧フィードバック回路３２に入力され、その負高圧
フィードバック回路３２の出力が負高圧発生回路３４に
入力され、この負高圧発生回路３４の出力信号が散乱光
検出用光電子増倍管２２、蛍光検出用光電子増倍管２８
及びモニタ用光電子増倍管３０の負高圧として印加され
る。
電子増倍管であり、この光電子増倍管３０の出力信号は
負高圧フィードバック回路３２に入力され、その負高圧
フィードバック回路３２の出力が負高圧発生回路３４に
入力され、この負高圧発生回路３４の出力信号が散乱光
検出用光電子増倍管２２、蛍光検出用光電子増倍管２８
及びモニタ用光電子増倍管３０の負高圧として印加され
る。
シースフローセル１４では、第９図に示されるように、
試料液体３６に含まれる細胞などの粒子３８がさや液流
４０により細く絞り込まれた状態で一列に並んで高速に
流れており、光′ｇ２からのビーム状の入射光４２が粒
子３８の通り道に照射されている。入射光４２を横切っ
て粒子３８が通過するとき、散乱光４４と蛍光４６が発
生する。
試料液体３６に含まれる細胞などの粒子３８がさや液流
４０により細く絞り込まれた状態で一列に並んで高速に
流れており、光′ｇ２からのビーム状の入射光４２が粒
子３８の通り道に照射されている。入射光４２を横切っ
て粒子３８が通過するとき、散乱光４４と蛍光４６が発
生する。
その散乱光４４や蛍光４６を測定することにより、粒子
の計数、分類、測定などを行なう。
の計数、分類、測定などを行なう。
散乱光検出用光電子増倍管２２の出力信号は例えば第１
０図に示されるようになる。このとき、光源２がその発
光の特性や供給電源の変動、経時変化などで揺ぐため、
その影響を取り除くために、照射光の一部を半透鏡１０
で分けてモニタ用光電子増倍管３０で検出し、それを負
高圧電圧にフィードバックして光電子増倍管２２，２８
，３０のゲインを変えることをしている。
０図に示されるようになる。このとき、光源２がその発
光の特性や供給電源の変動、経時変化などで揺ぐため、
その影響を取り除くために、照射光の一部を半透鏡１０
で分けてモニタ用光電子増倍管３０で検出し、それを負
高圧電圧にフィードバックして光電子増倍管２２，２８
，３０のゲインを変えることをしている。
（発明が解決しようとする問題点）
このようにモニタ用光電子増倍管３０を用いた負高圧フ
ィードバックの方法で、散乱光や蛍光の出力は安定には
なるが、次のような問題点がある。
ィードバックの方法で、散乱光や蛍光の出力は安定には
なるが、次のような問題点がある。
（１）モニタ用の検出器が必要となる。
（２）モニタ用に光を分けるので、フローセルへ行く光
が少なくなる。
が少なくなる。
（３）測定用の光電子増倍管とモニタ用の光電子増倍管
の特性をそろえる必要がある。
の特性をそろえる必要がある。
（４）フローセルに照射する前の光をモニタするので、
フローセルの汚れなどによる光量の低下は補償できない
。
フローセルの汚れなどによる光量の低下は補償できない
。
本発明は、上記のような問題点を解決するために、モニ
タ用に専用の光電子増倍管を使用しないで負高圧フィー
ドバックを行なう方法を提供することを目的とするもの
である。
タ用に専用の光電子増倍管を使用しないで負高圧フィー
ドバックを行なう方法を提供することを目的とするもの
である。
（問題点を解決するための手段）
本発明方法は、測定用の光電子増倍管にフローセルを通
過した照射光の一部を入射させ、その光電子増倍管の出
力信号のうちの照射光に由来する信号を用いて測定用の
光電子増倍管の負高圧フィードバックを行なうようにし
た方法である。
過した照射光の一部を入射させ、その光電子増倍管の出
力信号のうちの照射光に由来する信号を用いて測定用の
光電子増倍管の負高圧フィードバックを行なうようにし
た方法である。
（実施例）
第１図は一実施例を表わす。
シースフローセル１４に光照射を行なう光源２、波長選
択フィルタ４、レンズ６、スリット８、レンズ１２の構
成は従来のものと同じである。
択フィルタ４、レンズ６、スリット８、レンズ１２の構
成は従来のものと同じである。
また、シースフローセル１４中を流れる粒子からの蛍光
を検出するためのレンズ２４、波長選択フィルタ２６及
び光電子増倍管２８の構成も従来のものと同じである。
を検出するためのレンズ２４、波長選択フィルタ２６及
び光電子増倍管２８の構成も従来のものと同じである。
シースフローセル１４中を流れる粒子による散乱光も従
来と同様にしてレンズ１６で集められ、波長選択フィル
タ２０を経て光電子増倍管２２で検出される。
来と同様にしてレンズ１６で集められ、波長選択フィル
タ２０を経て光電子増倍管２２で検出される。
本実施例においては、照射光の光軸上に設けられるビー
ムストッパ５０として半透明のものが使用される。その
結果、散乱光検出用光電子増倍管２２には散乱光ととも
に照射光も一部入射する。
ムストッパ５０として半透明のものが使用される。その
結果、散乱光検出用光電子増倍管２２には散乱光ととも
に照射光も一部入射する。
５２は光電子増倍管２２の出力信号から照射光成分を取
り出す照射光信号分離回路であり、その取り出された照
射光成分は負高圧フィードバック回路３２に入力され、
その負高圧フィードバック回路３２の出力が負高圧発生
回路３４に入力され、この負高圧発生回路３４から散乱
光検出用光電子増倍管２２及び蛍光検出用光電子増倍管
２８へ負高圧が供給される。
り出す照射光信号分離回路であり、その取り出された照
射光成分は負高圧フィードバック回路３２に入力され、
その負高圧フィードバック回路３２の出力が負高圧発生
回路３４に入力され、この負高圧発生回路３４から散乱
光検出用光電子増倍管２２及び蛍光検出用光電子増倍管
２８へ負高圧が供給される。
照射光信号分離回路５２としてはローパスフィルタを用
いることができる。
いることができる。
本実施例において、光電子増倍管２２の出力信号は負高
圧フィードバックがない場合は第２図に示されるように
、粒子による散乱光のパルス信号５４に、照射光の強度
に比例した信号５６が加わったものとなる。この光電子
増倍管２２の出力信号は、周波数帯域で見ると第４図に
示されるように、照射光からの信号５６は記号５６ａで
示されるように非常に低周波であり、粒子によるパルス
信号５４は記号５４ａで示されるように周波数が高い。
圧フィードバックがない場合は第２図に示されるように
、粒子による散乱光のパルス信号５４に、照射光の強度
に比例した信号５６が加わったものとなる。この光電子
増倍管２２の出力信号は、周波数帯域で見ると第４図に
示されるように、照射光からの信号５６は記号５６ａで
示されるように非常に低周波であり、粒子によるパルス
信号５４は記号５４ａで示されるように周波数が高い。
そこで、この出力信号を照射光信号分離回路５２のロー
パスフィルタ（第４図で５７はローパスフィルタの透過
周波数帯を表わしている）に通せば照射光の信号が得ら
れるので、それをモニタ信号として負高圧フィードバッ
クをかければ第３図に示されるように照射光の変動を補
償できる。第３図で５６ｂは補償された照射光による信
号、５４ｂは補償された粒子によるパルス信号である。
パスフィルタ（第４図で５７はローパスフィルタの透過
周波数帯を表わしている）に通せば照射光の信号が得ら
れるので、それをモニタ信号として負高圧フィードバッ
クをかければ第３図に示されるように照射光の変動を補
償できる。第３図で５６ｂは補償された照射光による信
号、５４ｂは補償された粒子によるパルス信号である。
第５図は照射光信号分離回路５２の他の例を表わすもの
である。この例では、照射光信号と粒子によるパルス信
号の分離にパルス検出回路５８とトラックホールド回路
６０を使用する。パルス検出回路５８により光電子増倍
管２２の出力信号（第６図）から粒子パルス信号を検出
し、その出力でトラックホールド回路６０を制御して、
パルスの存在する間はパルス直前の値をホールドさせる
（第７図参照）。
である。この例では、照射光信号と粒子によるパルス信
号の分離にパルス検出回路５８とトラックホールド回路
６０を使用する。パルス検出回路５８により光電子増倍
管２２の出力信号（第６図）から粒子パルス信号を検出
し、その出力でトラックホールド回路６０を制御して、
パルスの存在する間はパルス直前の値をホールドさせる
（第７図参照）。
粒子分析装置には、はとんどの場合パルス検出、測定を
する回路が入っているので、その信号を流用することが
できて好都合である。
する回路が入っているので、その信号を流用することが
できて好都合である。
上記の実施例では散乱光検出用光電子増倍管２２に照射
光の一部を入射させているが、ビームストッパ５０を従
来のものと同じ遮光性のものとし、そのビームストッパ
５０の前の位置から第１図の鎖線で示されるように光フ
ァイバ６２を設け、照射光の一部を蛍光検出用光電子増
倍管２８に入射させてモニタするようにしてもよい。そ
の場合、照射光信号分離回路５２、負高圧フィードバッ
ク回路３２及び負高圧発生回路３４は光電子増倍管２８
側に接続されることは言うまでもない。
光の一部を入射させているが、ビームストッパ５０を従
来のものと同じ遮光性のものとし、そのビームストッパ
５０の前の位置から第１図の鎖線で示されるように光フ
ァイバ６２を設け、照射光の一部を蛍光検出用光電子増
倍管２８に入射させてモニタするようにしてもよい。そ
の場合、照射光信号分離回路５２、負高圧フィードバッ
ク回路３２及び負高圧発生回路３４は光電子増倍管２８
側に接続されることは言うまでもない。
（発明の効果）
本発明の方法では、光源の光量変動をモニタするために
、フローセルを通過した照射光の一部を測定用の光電子
増倍管に入射させるようにしたので、次のような効果を
達成させようとしたので、次のような効果を達成するこ
とができる。
、フローセルを通過した照射光の一部を測定用の光電子
増倍管に入射させるようにしたので、次のような効果を
達成させようとしたので、次のような効果を達成するこ
とができる。
（１）モニタ用に専用の検出器を必要としない。
（２）モニタ用に光を分ける必要がないので試料に照射
される光量が増える。
される光量が増える。
（３）フローセルを通った光で補償するので、フローセ
ルの汚れなどによる光量低下も補償できる
ルの汚れなどによる光量低下も補償できる
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の一実施例を示す概略図、第２図は同実
施例における散乱光検出用光電子増倍管の出力信号を示
す波形図（負高圧フィードバックがない場合）、第３図
は負高圧フィードバックにより補償された散乱光検出用
光電子増倍管の出力信号を示す波形図、第４図は粒子に
よるパルス信号、照射光信号及びローパスフィルタの周
波数帯を表わす図、第５図は照射光信号分離回路の他の
例を示すブロック図、第６図は第２図と同じく光電子増
倍管の出力信号を表わす波形図で負高圧フィードバック
のない場合、第７図はトラックホールド回路の出力信号
を表わす波形図、第８図は従来の粒子分析装置を示す概
略図、第９図はシースフローセルを示す平面図、第１０
図は従来の粒子分析装置における散乱光検出用光電子増
倍管の出力信号を示す波形図である。 ２・・・・・・光源、 １４・・・・・・シースフローセル、 ２２・・・・・・散乱光検出用光電子増倍管、２８・・
・・・・蛍光検出用光電子増倍管、３２・・・・・・負
高圧フィードバック回路、３４・・・・・・負高圧発生
回路、 ５０・・・・・半透明のビームストッパ、５２・・・・
・・照射光信号分離回路、６２・・・・・・光ファイバ
。
施例における散乱光検出用光電子増倍管の出力信号を示
す波形図（負高圧フィードバックがない場合）、第３図
は負高圧フィードバックにより補償された散乱光検出用
光電子増倍管の出力信号を示す波形図、第４図は粒子に
よるパルス信号、照射光信号及びローパスフィルタの周
波数帯を表わす図、第５図は照射光信号分離回路の他の
例を示すブロック図、第６図は第２図と同じく光電子増
倍管の出力信号を表わす波形図で負高圧フィードバック
のない場合、第７図はトラックホールド回路の出力信号
を表わす波形図、第８図は従来の粒子分析装置を示す概
略図、第９図はシースフローセルを示す平面図、第１０
図は従来の粒子分析装置における散乱光検出用光電子増
倍管の出力信号を示す波形図である。 ２・・・・・・光源、 １４・・・・・・シースフローセル、 ２２・・・・・・散乱光検出用光電子増倍管、２８・・
・・・・蛍光検出用光電子増倍管、３２・・・・・・負
高圧フィードバック回路、３４・・・・・・負高圧発生
回路、 ５０・・・・・半透明のビームストッパ、５２・・・・
・・照射光信号分離回路、６２・・・・・・光ファイバ
。
Claims (1)
- （１）フローセルを流れる試料に光を照射し、試料粒子
による散乱光や蛍光などを光電子増倍管を用いて測定す
る粒子分析装置で光源の光量変動を補正する方法におい
て、 前記フローセルを通過した照射光の一部をも前記測定用
の光電子増倍管に入射させ、その光電子増倍管の出力信
号のうちの照射光に由来する信号を用いて測定用の光電
子増倍管の負高圧フィードバックを行なうことを特徴と
する粒子分析装置の光源変動補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24853185A JPS62106347A (ja) | 1985-11-05 | 1985-11-05 | 粒子分析装置の光源変動補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24853185A JPS62106347A (ja) | 1985-11-05 | 1985-11-05 | 粒子分析装置の光源変動補正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62106347A true JPS62106347A (ja) | 1987-05-16 |
Family
ID=17179570
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24853185A Pending JPS62106347A (ja) | 1985-11-05 | 1985-11-05 | 粒子分析装置の光源変動補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62106347A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0221228A (ja) * | 1988-07-09 | 1990-01-24 | Hitachi Nakaseiki Ltd | 蛍光色測定装置 |
| JPH04335135A (ja) * | 1991-05-11 | 1992-11-24 | Horiba Ltd | 微粒子カウンター |
| US5247409A (en) * | 1990-10-26 | 1993-09-21 | Teac Corporation | Disk drive pin support mechanism in a rotating disk data storage apparatus |
| US5264976A (en) * | 1990-11-22 | 1993-11-23 | Teac Corporation | Resilient support for a disk drive pin in a rotating disk data storage apparatus |
| WO2007036010A1 (en) * | 2005-09-30 | 2007-04-05 | Institut National D'optique | Short range lidar apparatus having a flat spatial response |
| US7274448B2 (en) | 2005-09-30 | 2007-09-25 | Institut National D'optique | Short range LIDAR apparatus having a flat spatial response |
| JP2008197088A (ja) * | 2007-01-19 | 2008-08-28 | Shimadzu Corp | 蛍光検出器 |
| WO2014014016A1 (ja) * | 2012-07-17 | 2014-01-23 | ユニバーサル・バイオ・リサーチ株式会社 | 反応容器用光測定装置およびその方法 |
-
1985
- 1985-11-05 JP JP24853185A patent/JPS62106347A/ja active Pending
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0221228A (ja) * | 1988-07-09 | 1990-01-24 | Hitachi Nakaseiki Ltd | 蛍光色測定装置 |
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| JP2008197088A (ja) * | 2007-01-19 | 2008-08-28 | Shimadzu Corp | 蛍光検出器 |
| WO2014014016A1 (ja) * | 2012-07-17 | 2014-01-23 | ユニバーサル・バイオ・リサーチ株式会社 | 反応容器用光測定装置およびその方法 |
| JPWO2014014016A1 (ja) * | 2012-07-17 | 2016-07-07 | ユニバーサル・バイオ・リサーチ株式会社 | 反応容器用光測定装置およびその方法 |
| US9556477B2 (en) | 2012-07-17 | 2017-01-31 | Universal Bio Research Co., Ltd. | Light measurement apparatus for reaction vessel and light measurement method |
| TWI628283B (zh) * | 2012-07-17 | 2018-07-01 | 環球生物研究股份有限公司 | 反應容器用光測定裝置及該方法 |
| US10088419B2 (en) | 2012-07-17 | 2018-10-02 | Universal Bio Research Co., Ltd. | Light measurement apparatus for reaction vessel and light measurement method |
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