JPS59176649A - 粒子分析装置 - Google Patents
粒子分析装置Info
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- JPS59176649A JPS59176649A JP58053016A JP5301683A JPS59176649A JP S59176649 A JPS59176649 A JP S59176649A JP 58053016 A JP58053016 A JP 58053016A JP 5301683 A JP5301683 A JP 5301683A JP S59176649 A JPS59176649 A JP S59176649A
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- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 13
- 210000000601 blood cell Anatomy 0.000 claims description 6
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 5
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- 101700004678 SLIT3 Proteins 0.000 abstract 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1456—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry without spatial resolution of the texture or inner structure of the particle, e.g. processing of pulse signals
- G01N15/1459—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry without spatial resolution of the texture or inner structure of the particle, e.g. processing of pulse signals the analysis being performed on a sample stream
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
げ）産業上の利用分野
この発明は、血球分類や血球計数のごとき粒子分析を行
う粒子分析装置に関する。
う粒子分析装置に関する。
←）従来技術
従来の粒子分析装置の一例としてＰ、 ｌ Ｉシ１に血
球分類計数装置（１）を示十。この装置（１）において
、（２）１’ｌ、＠）ｕスリン）、（４）はシースフロ
ーセル。
球分類計数装置（１）を示十。この装置（１）において
、（２）１’ｌ、＠）ｕスリン）、（４）はシースフロ
ーセル。
（５）は吸収光検出器、（６）ｔま散乱光検出器、（７
）はけい光検出器、（８）は前記検出器（５）（６）（
７）の光電子増倍管に負高圧を供給する負高圧発止回路
、（９）は孔あきミラー、ＱＯＱυは光学フィルタでち
る。シース７０−セル（４）では、第２図のように流れ
が細く絞り込まれて粒子（Ｐ）が−列に並んで高速で流
れている。ここで光源Ｃ）で照らされたスリット（３０
投影廉光束し）を粒子田）が横切るときに生じる吸収、
散乱、けい光を検出器（５）（６）（７）が検知し、粒
子便）を分類・分析する。
）はけい光検出器、（８）は前記検出器（５）（６）（
７）の光電子増倍管に負高圧を供給する負高圧発止回路
、（９）は孔あきミラー、ＱＯＱυは光学フィルタでち
る。シース７０−セル（４）では、第２図のように流れ
が細く絞り込まれて粒子（Ｐ）が−列に並んで高速で流
れている。ここで光源Ｃ）で照らされたスリット（３０
投影廉光束し）を粒子田）が横切るときに生じる吸収、
散乱、けい光を検出器（５）（６）（７）が検知し、粒
子便）を分類・分析する。
（１２（１１（１４）は光源（２）の変動を補正するた
めの構成で、０りは半透明ミラー、ａ■はモニター検出
器、０４）は負高圧フィードバック回路である。これら
の構成かの出力は第３図（イ）に示すごとく大きく変動
する。
めの構成で、０りは半透明ミラー、ａ■はモニター検出
器、０４）は負高圧フィードバック回路である。これら
の構成かの出力は第３図（イ）に示すごとく大きく変動
する。
スパイク状の信号（Φが粒子（Ｐ）の検出信号であるが
、ベースラインの変動で見分けにくくなる。こガを防ぐ
ためにフィードバック信号ｆ狗高圧発生回跡（８）に加
えて各検出器（５）（６）（７１の利得を変え、出力を
安定化しているのである。なお、第３図（ロ）は散乱光
検出器（６）又けけい光検出器（７）の出力信号を示し
ている。
、ベースラインの変動で見分けにくくなる。こガを防ぐ
ためにフィードバック信号ｆ狗高圧発生回跡（８）に加
えて各検出器（５）（６）（７１の利得を変え、出力を
安定化しているのである。なお、第３図（ロ）は散乱光
検出器（６）又けけい光検出器（７）の出力信号を示し
ている。
しかし、上記従来の光源の変動を補正するための構成で
は、モニター検出器０：１ヲ別個に必要とするので構成
が複雑になることや半透明ミラー（ロ）で光を分けるた
めに測定のための光量が滅って光学系が暗くなること等
の問題がある。
は、モニター検出器０：１ヲ別個に必要とするので構成
が複雑になることや半透明ミラー（ロ）で光を分けるた
めに測定のための光量が滅って光学系が暗くなること等
の問題がある。
（ハ）発明の一的
この発明け、測定のための検出器以外の検出器を必要と
せずかつ測定のための光量を減らさずに、光源の変動に
対して検出器出力を補正できる粒子分析装置を提供する
ことを目的とする。
せずかつ測定のための光量を減らさずに、光源の変動に
対して検出器出力を補正できる粒子分析装置を提供する
ことを目的とする。
に）発明の構成
この発明は、血球分類などの粒子分析を光検出器を用い
て行う装置において、光検出器として少なくとも吸収光
検出器を具備し、その吸収光検出器の出力側にその出力
信号から粒子による信号成分の周波数帯域の信号を取り
出すフィルタ手段を設け、かつそのフィルタ手段の出力
側にその出力信号の変動に基いて光検出器の出力信号の
補正を行う補正手段を設け、これにより光源の変動によ
る光検出器の出力変動を補正可能と・した粒子分析装置
を提供する。
て行う装置において、光検出器として少なくとも吸収光
検出器を具備し、その吸収光検出器の出力側にその出力
信号から粒子による信号成分の周波数帯域の信号を取り
出すフィルタ手段を設け、かつそのフィルタ手段の出力
側にその出力信号の変動に基いて光検出器の出力信号の
補正を行う補正手段を設け、これにより光源の変動によ
る光検出器の出力変動を補正可能と・した粒子分析装置
を提供する。
上記フィルタ手段は、たとえば粒子による信号成分の周
波数帯域より低い周波数帯域の信号成分を通過させるロ
ーパスフィルタ回路や粒子による信号成分の周波数帯域
のみを阻止し他を通過させるフィルタ回路を用いること
ができる。
波数帯域より低い周波数帯域の信号成分を通過させるロ
ーパスフィルタ回路や粒子による信号成分の周波数帯域
のみを阻止し他を通過させるフィルタ回路を用いること
ができる。
上記補正手段は、たとえばフィルタ手段の出力信号を一
定レベルに保つべくフィードバック信号を出力する帰還
回路やフィルタ手段の出力信号に応じて光検出器の出力
信号に補正演算を施す演算回路を用いることができる。
定レベルに保つべくフィードバック信号を出力する帰還
回路やフィルタ手段の出力信号に応じて光検出器の出力
信号に補正演算を施す演算回路を用いることができる。
（ホ）実施例
第４図に示すＱカは、この発明の粒子分析装置の一実施
例である血球分類計数装置である。光源（２）。
例である血球分類計数装置である。光源（２）。
スリット（８） 、シースフローセル（４） 、 ［１
Ｍ収光検出器（５）、散乱光検出器（６）、けい光検出
器（７）、負高圧発生装置＠）、孔あきミラー（９）、
光学フィルタαＱｔＪυは従来公知のものと同じ構成で
ある。
Ｍ収光検出器（５）、散乱光検出器（６）、けい光検出
器（７）、負高圧発生装置＠）、孔あきミラー（９）、
光学フィルタαＱｔＪυは従来公知のものと同じ構成で
ある。
（ハ）はローパスフィルタ回路であって、第５図に（ａ
）で示す周波数特性を有している。
）で示す周波数特性を有している。
Ｑは従来の負高圧フィードバック回路と同様のものであ
る。
る。
吸収光検出器（５）の出力信号（５＆）のうち、粒子に
起因する信号成分の周波数スペクトルは、粒子が高速で
流れているためにかなり高く、第５図に（ｂ）で示すよ
うになる。一方、雑音のような粒子に起因しない信号成
分の周波数スペクトルは、比較的に低く、第５図に（Ｑ
）で示すようになる。
起因する信号成分の周波数スペクトルは、粒子が高速で
流れているためにかなり高く、第５図に（ｂ）で示すよ
うになる。一方、雑音のような粒子に起因しない信号成
分の周波数スペクトルは、比較的に低く、第５図に（Ｑ
）で示すようになる。
そこでローパスフィルタ回路（イ）の出力信号（２２ａ
）は、粒子に起因しない信号成分の変動すなわち主とし
て光源（２）の出力変動をあられすこととなる。
）は、粒子に起因しない信号成分の変動すなわち主とし
て光源（２）の出力変動をあられすこととなる。
負高圧フィードバック回路−は、Ｕ−バスフィルタ回路
（ホ）の出力信号（２２ａ）を一定に保つべくフィード
バック信号を出力するので、これにより光源（２）の出
力変動が補償されることになる。
（ホ）の出力信号（２２ａ）を一定に保つべくフィード
バック信号を出力するので、これにより光源（２）の出
力変動が補償されることになる。
第・６１図（イ）は吸収光検出器（５）の出力信号（５
ａ）をあられしたものであり、ベースラインの変動が補
正され安定化されている。なお第６図（ロ）は散乱光検
出器（６）又はけい光検出器（７）の出力信号を示して
いる。
ａ）をあられしたものであり、ベースラインの変動が補
正され安定化されている。なお第６図（ロ）は散乱光検
出器（６）又はけい光検出器（７）の出力信号を示して
いる。
（へ）発明の効果
この発明の粒子分析装置では、比較的に簡単な構成で出
力を安定化できる。また光源の光をすべて測定のために
使用できるので光学系が明るい。
力を安定化できる。また光源の光をすべて測定のために
使用できるので光学系が明るい。
第１図は従来の粒子分析装置の一例を示す構成説明図、
第２図はシースフローセル内の粒子の流九の模式的説明
図、第３図は吸収光検出器の安定化されていない出力信
号図、第４図はこの発明の粒子分析装置の一実施例の構
成説明図、第５図はＰ４図に示十装置におけるローパス
フィルタ回路の周波数特性と吸収光検出器の出力信号の
信号成分のスペクトルを示す説明図、第６図は吸収光検
出器の安定化された出力信号図である。 Ｑυ・・・・・・血球分類計数装置、 （５）・・・・
・・吸収光検出器、 に）・・・・・・ローパスフィ
ルタ回路、 （ホ）・・・・・・負高圧フィードバッ
ク回路。 第１図 第２図 第３図 第４図 ＼ １′ 第５図 一一ンｌＴｌ渫数 第６図 口）ＧＮＤ−Ｖ−」−−＝Ｌ１−ユー
第２図はシースフローセル内の粒子の流九の模式的説明
図、第３図は吸収光検出器の安定化されていない出力信
号図、第４図はこの発明の粒子分析装置の一実施例の構
成説明図、第５図はＰ４図に示十装置におけるローパス
フィルタ回路の周波数特性と吸収光検出器の出力信号の
信号成分のスペクトルを示す説明図、第６図は吸収光検
出器の安定化された出力信号図である。 Ｑυ・・・・・・血球分類計数装置、 （５）・・・・
・・吸収光検出器、 に）・・・・・・ローパスフィ
ルタ回路、 （ホ）・・・・・・負高圧フィードバッ
ク回路。 第１図 第２図 第３図 第４図 ＼ １′ 第５図 一一ンｌＴｌ渫数 第６図 口）ＧＮＤ−Ｖ−」−−＝Ｌ１−ユー
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、血球分類などの粒子分析を光検出器を用いて行う装
置において、 光検出器として少なくとも吸収光検出器を具備し、その
吸収光検出器の出力側にその出力信号から粒子による信
号成分の周波数帯域外の周波数帯域の信号を取り出すフ
ィルタ手段を設け、かつそのフィルタ手段の出力側にそ
の出力信号の変動に基いて光検出器の出力信号の補正を
行う補正手段を設け、こｎにより光源の変動による光検
出器の出力変肱１を補正可能としたことを特徴とする粒
子分析装置。 ２、フィルタ手段が、粒子による信号成分の周波数帯域
に工９低い周波数帯域の信号成分を通過させるローパス
フィルタ回路である請求の範囲第１項記載の装置。 ３、補正手段が、フィルタ手段の出力信号を一定レベル
に保つべく光検出器にフィードバック信号を出力する帰
還回路である請求の範囲第１項または第２項に記・成の
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58053016A JPS59176649A (ja) | 1983-03-28 | 1983-03-28 | 粒子分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58053016A JPS59176649A (ja) | 1983-03-28 | 1983-03-28 | 粒子分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59176649A true JPS59176649A (ja) | 1984-10-06 |
Family
ID=12931099
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58053016A Pending JPS59176649A (ja) | 1983-03-28 | 1983-03-28 | 粒子分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59176649A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61260144A (ja) * | 1985-05-10 | 1986-11-18 | ベクトン・デイツキンソン・アンド・カンパニ− | 流動細胞測定装置 |
| JPS6291836A (ja) * | 1985-10-18 | 1987-04-27 | Canon Inc | 粒子解析装置 |
| JPS62112034A (ja) * | 1985-11-11 | 1987-05-23 | Canon Inc | 粒子解析装置 |
| JPS6387548U (ja) * | 1986-11-26 | 1988-06-07 | ||
| JPS63309838A (ja) * | 1987-06-12 | 1988-12-16 | Canon Inc | 粒子解析装置 |
| JPH02162240A (ja) * | 1988-12-15 | 1990-06-21 | Ikeda Denki Kk | 微粒子検出装置における光源の光出力制御装置 |
| JPH0295838U (ja) * | 1989-01-18 | 1990-07-31 | ||
| KR101031647B1 (ko) | 2008-12-30 | 2011-04-29 | (주)비앤피테크 | 흡광/형광 측정장치 |
| JP2011525981A (ja) * | 2008-06-25 | 2011-09-29 | ホリバ アベイクス エスアーエス | 微細成分を分類および計数する電気光学的測定装置および電気光学的測定法 |
| JP2015512029A (ja) * | 2011-12-29 | 2015-04-23 | アボット・ラボラトリーズＡｂｂｏｔｔ Ｌａｂｏｒａｔｏｒｉｅｓ | 回折パターンを遮断するためのフローサイトメトリーシステムおよび方法 |
-
1983
- 1983-03-28 JP JP58053016A patent/JPS59176649A/ja active Pending
Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0544621B2 (ja) * | 1985-05-10 | 1993-07-06 | Becton Dickinson Co | |
| JPS61260144A (ja) * | 1985-05-10 | 1986-11-18 | ベクトン・デイツキンソン・アンド・カンパニ− | 流動細胞測定装置 |
| JPS6291836A (ja) * | 1985-10-18 | 1987-04-27 | Canon Inc | 粒子解析装置 |
| JPH0566980B2 (ja) * | 1985-10-18 | 1993-09-22 | Canon Kk | |
| JPS62112034A (ja) * | 1985-11-11 | 1987-05-23 | Canon Inc | 粒子解析装置 |
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| JPH0528515Y2 (ja) * | 1986-11-26 | 1993-07-22 | ||
| JPS63309838A (ja) * | 1987-06-12 | 1988-12-16 | Canon Inc | 粒子解析装置 |
| JPH0577258B2 (ja) * | 1987-06-12 | 1993-10-26 | Canon Kk | |
| JPH02162240A (ja) * | 1988-12-15 | 1990-06-21 | Ikeda Denki Kk | 微粒子検出装置における光源の光出力制御装置 |
| JPH0295838U (ja) * | 1989-01-18 | 1990-07-31 | ||
| JP2011525981A (ja) * | 2008-06-25 | 2011-09-29 | ホリバ アベイクス エスアーエス | 微細成分を分類および計数する電気光学的測定装置および電気光学的測定法 |
| KR101031647B1 (ko) | 2008-12-30 | 2011-04-29 | (주)비앤피테크 | 흡광/형광 측정장치 |
| JP2015512029A (ja) * | 2011-12-29 | 2015-04-23 | アボット・ラボラトリーズＡｂｂｏｔｔ Ｌａｂｏｒａｔｏｒｉｅｓ | 回折パターンを遮断するためのフローサイトメトリーシステムおよび方法 |
| US10190962B2 (en) | 2011-12-29 | 2019-01-29 | Abbott Laboratories | Flow cytometry systems and methods for blocking diffraction patterns |
| US10648898B2 (en) | 2011-12-29 | 2020-05-12 | Abbott Laboratories | Flow cytometry systems and methods for blocking diffraction patterns |
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