JPH08145889A - 蛍光測定装置 - Google Patents
蛍光測定装置Info
- Publication number
- JPH08145889A JPH08145889A JP28573994A JP28573994A JPH08145889A JP H08145889 A JPH08145889 A JP H08145889A JP 28573994 A JP28573994 A JP 28573994A JP 28573994 A JP28573994 A JP 28573994A JP H08145889 A JPH08145889 A JP H08145889A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fluorescence
- light source
- sample
- detector
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 パルス点灯光源の時間的不安定性、回路のオ
フセットの影響を排除し、蛍光量を正確に測定できる蛍
光測定装置を提供する。 【構成】 キセノンフラッシュランプ１から放出された
パルス光のうち、ＳＯ2 の励起に最適な波長域を光学フ
ィルタ２により選択的に透過させて、蛍光室３内の試料
ガスに照射すると、試料ガス中のＳＯ2 から放出された
蛍光が蛍光の波長域のみを選択して通過させる光学フィ
ルタ４を介して光電子増倍管５に入射する。一方、蛍光
室３を通過したパルス光は光分散素子６を通過してフォ
トダイオード７に入射し、プリアンプ回路９の出力がし
きい値レベルＶS を越えてから一定時間後にタイミング
信号をＡ／Ｄ変換回路１０、１１にそれぞれ供給し、こ
の時点でのプリアンプ８、９の出力がＣＰＵ１２に入力
されてＳＯ2 濃度測定値が演算される。
フセットの影響を排除し、蛍光量を正確に測定できる蛍
光測定装置を提供する。 【構成】 キセノンフラッシュランプ１から放出された
パルス光のうち、ＳＯ2 の励起に最適な波長域を光学フ
ィルタ２により選択的に透過させて、蛍光室３内の試料
ガスに照射すると、試料ガス中のＳＯ2 から放出された
蛍光が蛍光の波長域のみを選択して通過させる光学フィ
ルタ４を介して光電子増倍管５に入射する。一方、蛍光
室３を通過したパルス光は光分散素子６を通過してフォ
トダイオード７に入射し、プリアンプ回路９の出力がし
きい値レベルＶS を越えてから一定時間後にタイミング
信号をＡ／Ｄ変換回路１０、１１にそれぞれ供給し、こ
の時点でのプリアンプ８、９の出力がＣＰＵ１２に入力
されてＳＯ2 濃度測定値が演算される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、試料ガスに励起光を照
射し、試料ガスに含まれる目的成分から放出される蛍光
の量を測定することにより試料ガス中の目的成分ガスの
濃度を定量する蛍光測定装置に関する。
射し、試料ガスに含まれる目的成分から放出される蛍光
の量を測定することにより試料ガス中の目的成分ガスの
濃度を定量する蛍光測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、大気中の汚染物質であるＳＯ2 の
濃度を測定するためのＳＯ2 濃度測定装置では、試料ガ
スに紫外線をパルス照射し、励起されたＳＯ2 分子が放
出する蛍光を検出して試料ガス中のＳＯ2 濃度を検出し
ている。
濃度を測定するためのＳＯ2 濃度測定装置では、試料ガ
スに紫外線をパルス照射し、励起されたＳＯ2 分子が放
出する蛍光を検出して試料ガス中のＳＯ2 濃度を検出し
ている。
【０００３】このようなパルス点灯光源を用いた従来の
蛍光測定装置を図３により説明する。図３において、１
はキセノンフラッシュランプ、２は光学フィルタ、３は
蛍光室、４は光学フィルタ、５は光電子増倍管、６は光
分散素子（ディフューザ）、７はフォトダイオード、
８、９はプリアンプ回路、１０、１１はＡ／Ｄ変換回
路、１２はデータ処理装置としてのＣＰＵ、１３はキセ
ノンフラッシュランプ１のトリガ回路である。光分散素
子６は金網や金属板・ガラス板に数十〜数百μｍの孔を
多数設けたものであり、フォトダイオード７への散乱光
の影響や光の偏在を緩和するものである。
蛍光測定装置を図３により説明する。図３において、１
はキセノンフラッシュランプ、２は光学フィルタ、３は
蛍光室、４は光学フィルタ、５は光電子増倍管、６は光
分散素子（ディフューザ）、７はフォトダイオード、
８、９はプリアンプ回路、１０、１１はＡ／Ｄ変換回
路、１２はデータ処理装置としてのＣＰＵ、１３はキセ
ノンフラッシュランプ１のトリガ回路である。光分散素
子６は金網や金属板・ガラス板に数十〜数百μｍの孔を
多数設けたものであり、フォトダイオード７への散乱光
の影響や光の偏在を緩和するものである。
【０００４】次に、この従来のＳＯ2 濃度を測定する蛍
光測定装置の動作を図４の動作波形図を用いて説明す
る。蛍光室（フローセル）３には試料導入通路を介して
試料ガスが導入されている。この状態で、ＣＰＵ１２が
トリガ回路１３に駆動パルスを供給すると、トリガ回路
１３が図４の（イ）に示すトリガパルスをキセノンフラ
ッシュランプ１に供給し、キセノンフラッシュランプ１
はトリガパルスからＴ1 時間後に図４（ロ）に示すパル
ス光を放出する。このキセノンフラッシュランプ１から
放出されたパルス光のうち、ＳＯ2 の励起に最適な波長
域を光学フィルタ２により選択的に透過させて、蛍光室
３内の試料ガスに照射する。これにより励起された試料
ガス中のＳＯ2 は、その基底状態に戻る際に、励起光よ
りもやや長い波長の蛍光を放出する。光学フィルタ４は
この蛍光の波長域のみを選択して通過させ、光電子増倍
管５がその蛍光の強度を検出する。一方、蛍光室３を通
過したパルス光は光分散素子６を通過し、フォトダイオ
ード７により検出される。このとき、蛍光発光と受光素
子の応答が十分高速であるので、光電子増倍管５、フォ
トダイオード７の出力は光源の発光とほぼ同時に発生す
る。このままでは信号処理を行いにくいので、光電子増
倍管５、フォトダイオード７の出力をプリアンプ回路
８、９により電流電圧変換を行うとともに、数百マイク
ロ秒程度の時定数を有する積分回路によって信号を時間
的に引き延ばすことにより、プリアンプ回路８、９から
図４の（ハ）、（ニ）に示す信号が得られる。この場
合、パルス波高のピークが光量の情報を有している。こ
のプリアンプ回路８、９の出力はＡ／Ｄ変換回路１０、
１１に入力され、図４の（ホ）に示すように、トリガパ
ルスからＴ2 時間後に発生される、ＣＰＵ１２からのタ
イミングパルスによってＡ／Ｄ変換されてデータとして
データ処理装置としてのＣＰＵ１２に取り込まれる。
光測定装置の動作を図４の動作波形図を用いて説明す
る。蛍光室（フローセル）３には試料導入通路を介して
試料ガスが導入されている。この状態で、ＣＰＵ１２が
トリガ回路１３に駆動パルスを供給すると、トリガ回路
１３が図４の（イ）に示すトリガパルスをキセノンフラ
ッシュランプ１に供給し、キセノンフラッシュランプ１
はトリガパルスからＴ1 時間後に図４（ロ）に示すパル
ス光を放出する。このキセノンフラッシュランプ１から
放出されたパルス光のうち、ＳＯ2 の励起に最適な波長
域を光学フィルタ２により選択的に透過させて、蛍光室
３内の試料ガスに照射する。これにより励起された試料
ガス中のＳＯ2 は、その基底状態に戻る際に、励起光よ
りもやや長い波長の蛍光を放出する。光学フィルタ４は
この蛍光の波長域のみを選択して通過させ、光電子増倍
管５がその蛍光の強度を検出する。一方、蛍光室３を通
過したパルス光は光分散素子６を通過し、フォトダイオ
ード７により検出される。このとき、蛍光発光と受光素
子の応答が十分高速であるので、光電子増倍管５、フォ
トダイオード７の出力は光源の発光とほぼ同時に発生す
る。このままでは信号処理を行いにくいので、光電子増
倍管５、フォトダイオード７の出力をプリアンプ回路
８、９により電流電圧変換を行うとともに、数百マイク
ロ秒程度の時定数を有する積分回路によって信号を時間
的に引き延ばすことにより、プリアンプ回路８、９から
図４の（ハ）、（ニ）に示す信号が得られる。この場
合、パルス波高のピークが光量の情報を有している。こ
のプリアンプ回路８、９の出力はＡ／Ｄ変換回路１０、
１１に入力され、図４の（ホ）に示すように、トリガパ
ルスからＴ2 時間後に発生される、ＣＰＵ１２からのタ
イミングパルスによってＡ／Ｄ変換されてデータとして
データ処理装置としてのＣＰＵ１２に取り込まれる。
【０００５】ＣＰＵ１２は光電子増倍管５からの出力、
即ち、Ａ／Ｄ変換回路１０の出力の複数回の測定値を平
滑化処理し、ＳＯ2 濃度測定値を出力する。また、ＣＰ
Ｕ１２はフォトダイオード７からの出力、即ち、Ａ／Ｄ
変換回路１１の出力の複数回の測定値を平滑化処理し
て、光源の光量のばらつき、光源の個体差を監視して、
ＳＯ2 濃度測定値を補正する。
即ち、Ａ／Ｄ変換回路１０の出力の複数回の測定値を平
滑化処理し、ＳＯ2 濃度測定値を出力する。また、ＣＰ
Ｕ１２はフォトダイオード７からの出力、即ち、Ａ／Ｄ
変換回路１１の出力の複数回の測定値を平滑化処理し
て、光源の光量のばらつき、光源の個体差を監視して、
ＳＯ2 濃度測定値を補正する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】従来の蛍光測定装置は
上記のように構成されており、データの取込みはＣＰＵ
１２からの周期的なタイミング信号、すなわち、ＣＰＵ
１２からトリガ回路１３に駆動パルスが供給されてから
所定時間後に発生される信号により行われている。しか
しながら、パルス点灯光源においては、トリガ入力から
発光までに数マイクロ秒程度の遅れがあり、その時間に
はパルス毎にばらつきがある。また、使用時間とともに
遅れが長くなる特徴がある。したがって、光源へのトリ
ガ入力から光電子増倍管５、フォトダイオード７の検出
信号の取込みまでの時間を一定とした場合、各パルス毎
に、また、時間経過とともにタイミングがずれるので、
平滑化処理した測定値の誤差の原因になるという問題点
があった。
上記のように構成されており、データの取込みはＣＰＵ
１２からの周期的なタイミング信号、すなわち、ＣＰＵ
１２からトリガ回路１３に駆動パルスが供給されてから
所定時間後に発生される信号により行われている。しか
しながら、パルス点灯光源においては、トリガ入力から
発光までに数マイクロ秒程度の遅れがあり、その時間に
はパルス毎にばらつきがある。また、使用時間とともに
遅れが長くなる特徴がある。したがって、光源へのトリ
ガ入力から光電子増倍管５、フォトダイオード７の検出
信号の取込みまでの時間を一定とした場合、各パルス毎
に、また、時間経過とともにタイミングがずれるので、
平滑化処理した測定値の誤差の原因になるという問題点
があった。
【０００７】また、従来の蛍光測定装置では、上記のよ
うに、光源点灯の際にのみデータの取込みを行ってい
る。しかし、光電子増倍管、光電管、フォトダイオード
などの光検出器は入射光に対して電流を出力するが、入
射光が全くない場合でも、出力はゼロとはならず、一般
に暗電流と呼ばれる出力が残存する。また、電気回路に
より電圧信号への変換、波形の整形等の加工を行い、さ
らに、Ａ／Ｄ変換回路によって出力をＡ／Ｄ変換する場
合、各使用回路のオフセットにより、Ａ／Ｄ変換後のゼ
ロと信号のゼロとは必ずしも完全には一致しない。さら
に、このようなゼロ点のずれは時間的に一定とは限ら
ず、時間的に変動するので、光源点灯の際にのみデータ
の取込みを行っていたのでは、誤差が発生するという問
題点もあった。
うに、光源点灯の際にのみデータの取込みを行ってい
る。しかし、光電子増倍管、光電管、フォトダイオード
などの光検出器は入射光に対して電流を出力するが、入
射光が全くない場合でも、出力はゼロとはならず、一般
に暗電流と呼ばれる出力が残存する。また、電気回路に
より電圧信号への変換、波形の整形等の加工を行い、さ
らに、Ａ／Ｄ変換回路によって出力をＡ／Ｄ変換する場
合、各使用回路のオフセットにより、Ａ／Ｄ変換後のゼ
ロと信号のゼロとは必ずしも完全には一致しない。さら
に、このようなゼロ点のずれは時間的に一定とは限ら
ず、時間的に変動するので、光源点灯の際にのみデータ
の取込みを行っていたのでは、誤差が発生するという問
題点もあった。
【０００８】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、パルス点灯光源の発光時期のばらつき
による誤差を除去できるとともに、時間的に変動する光
検出器の暗電流や電気回路のオフセットによる誤差を除
去し、高精度に蛍光を測定することができる蛍光測定装
置を提供することを目的とする。
たものであって、パルス点灯光源の発光時期のばらつき
による誤差を除去できるとともに、時間的に変動する光
検出器の暗電流や電気回路のオフセットによる誤差を除
去し、高精度に蛍光を測定することができる蛍光測定装
置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、請求項１の蛍光測定装置は、試料が導入される試料
室と、試料室内の試料を励起するためのパルス点灯光源
と、パルス点灯光源を駆動するためのトリガ回路と、試
料から放出される蛍光を検出する蛍光検出器と、この蛍
光検出器からの信号が入力されて演算処理を行うデータ
処理部とを備えたものにおいて、上記励起光を検出する
励起光検出器と、この励起光検出器の出力が導入される
タイミング発生回路を設け、このタイミング発生回路の
出力によってデータ取込みのタイミングを決定すること
を特徴とする。
め、請求項１の蛍光測定装置は、試料が導入される試料
室と、試料室内の試料を励起するためのパルス点灯光源
と、パルス点灯光源を駆動するためのトリガ回路と、試
料から放出される蛍光を検出する蛍光検出器と、この蛍
光検出器からの信号が入力されて演算処理を行うデータ
処理部とを備えたものにおいて、上記励起光を検出する
励起光検出器と、この励起光検出器の出力が導入される
タイミング発生回路を設け、このタイミング発生回路の
出力によってデータ取込みのタイミングを決定すること
を特徴とする。
【００１０】また、請求項２の蛍光測定装置は、試料が
導入される試料室と、試料室内の試料を励起するための
パルス点灯光源と、パルス点灯光源を駆動するためのト
リガ回路と、試料から放出される蛍光を検出する蛍光検
出器と、この蛍光検出器からの信号を光源点灯時に取り
込んで演算処理を行うデータ処理部とを備えたものにお
いて、上記蛍光検出器の出力を取り出すタイミングパル
スを発生するタイミング発生回路を備え、このタイミン
グ発生回路が光源点灯の合間にもデータを取込むように
タイミングパルスを発生することを特徴とする。
導入される試料室と、試料室内の試料を励起するための
パルス点灯光源と、パルス点灯光源を駆動するためのト
リガ回路と、試料から放出される蛍光を検出する蛍光検
出器と、この蛍光検出器からの信号を光源点灯時に取り
込んで演算処理を行うデータ処理部とを備えたものにお
いて、上記蛍光検出器の出力を取り出すタイミングパル
スを発生するタイミング発生回路を備え、このタイミン
グ発生回路が光源点灯の合間にもデータを取込むように
タイミングパルスを発生することを特徴とする。
【００１１】
【作用】本発明の蛍光測定装置は上記のように構成され
ており、請求項１の蛍光測定装置では、トリガ回路によ
って駆動されるパルス点灯光源が試料室内の試料を励起
し、試料から放出される蛍光が蛍光検出器によって検出
される一方、励起光が励起光検出器によって検出され、
タイミング発生回路がこの励起光検出器の出力によって
パルス光源の点灯を検出すると、データを取り込むタイ
ミング信号を発生し、このタイミング信号に同期して蛍
光検出器の出力をデータ処理部に取り込むので、パルス
点灯光源の発光のばらつきにかかわらず高精度に蛍光を
測定することができる。
ており、請求項１の蛍光測定装置では、トリガ回路によ
って駆動されるパルス点灯光源が試料室内の試料を励起
し、試料から放出される蛍光が蛍光検出器によって検出
される一方、励起光が励起光検出器によって検出され、
タイミング発生回路がこの励起光検出器の出力によって
パルス光源の点灯を検出すると、データを取り込むタイ
ミング信号を発生し、このタイミング信号に同期して蛍
光検出器の出力をデータ処理部に取り込むので、パルス
点灯光源の発光のばらつきにかかわらず高精度に蛍光を
測定することができる。
【００１２】また、請求項２の蛍光測定装置では、トリ
ガ回路によって駆動されるパルス点灯光源が試料室内の
試料を励起し、試料から放出される蛍光が蛍光検出器に
よって検出されるが、パルス蛍光法においては、光源の
点灯時間は周期に対して非常に短くその時間の大半は暗
状態にあり、光源点灯から一定時間後には、検出器の出
力は暗電流と見なすことができるので、蛍光検出器の出
力を取り出すタイミングパルスを発生するタイミング発
生回路が光源点灯時だけでなく、光源点灯の合間にもデ
ータを取込むようにタイミングパルスを発生することに
より、検出器の暗電流及び回路のオフセットを常に測定
し、データのゼロ点を求めることができるので、誤差な
く正確に蛍光を測定することができる。
ガ回路によって駆動されるパルス点灯光源が試料室内の
試料を励起し、試料から放出される蛍光が蛍光検出器に
よって検出されるが、パルス蛍光法においては、光源の
点灯時間は周期に対して非常に短くその時間の大半は暗
状態にあり、光源点灯から一定時間後には、検出器の出
力は暗電流と見なすことができるので、蛍光検出器の出
力を取り出すタイミングパルスを発生するタイミング発
生回路が光源点灯時だけでなく、光源点灯の合間にもデ
ータを取込むようにタイミングパルスを発生することに
より、検出器の暗電流及び回路のオフセットを常に測定
し、データのゼロ点を求めることができるので、誤差な
く正確に蛍光を測定することができる。
【００１３】
【実施例】以下、本発明の蛍光測定装置をＳＯ2 濃度測
定に適用した一実施例について図１を用いて説明する。
図１において、１はキセノンフラッシュランプ、２は光
学フィルタ、３は蛍光室、４は光学フィルタ、５は光電
子増倍管、６は光分散素子（ディフューザ）、７はフォ
トダイオード、８、９はプリアンプ回路、１０、１１は
Ａ／Ｄ変換回路、１２はデータ処理装置としてのＣＰ
Ｕ、１３はキセノンフラッシュランプ１のトリガ回路で
あり、これらは従来の蛍光測定装置の構成と同様で、本
実施例の蛍光測定装置には更に、タイミング発生回路１
４が付加されている。
定に適用した一実施例について図１を用いて説明する。
図１において、１はキセノンフラッシュランプ、２は光
学フィルタ、３は蛍光室、４は光学フィルタ、５は光電
子増倍管、６は光分散素子（ディフューザ）、７はフォ
トダイオード、８、９はプリアンプ回路、１０、１１は
Ａ／Ｄ変換回路、１２はデータ処理装置としてのＣＰ
Ｕ、１３はキセノンフラッシュランプ１のトリガ回路で
あり、これらは従来の蛍光測定装置の構成と同様で、本
実施例の蛍光測定装置には更に、タイミング発生回路１
４が付加されている。
【００１４】次に、本実施例のＳＯ2 濃度を測定する蛍
光測定装置の動作を図２の動作波形図を用いて説明す
る。従来の蛍光測定装置と同様に、蛍光室（フローセ
ル）３には試料導入通路を介して試料ガスが導入されて
いる。この状態で、ＣＰＵ１２がトリガ回路１３に駆動
パルスを供給すると、トリガ回路１３が図２の（イ）に
示すトリガパルスをキセノンフラッシュランプ１に供給
し、キセノンフラッシュランプ１が図２の（ロ）に示す
パルス光を放出する。このキセノンフラッシュランプ１
から放出されたパルス光のうち、ＳＯ2 の励起に最適な
波長域を光学フィルタ２により選択的に透過させて、蛍
光室３内の試料ガスに照射する。これにより励起された
試料ガス中のＳＯ2 は、その基底状態に戻る際に、励起
光よりもやや長い波長の蛍光を放出する。光学フィルタ
４はこの蛍光の波長域のみを選択して通過させ、光電子
増倍管５がその蛍光の強度を検出し、プリアンプ回路８
から図２の（ハ）に示す信号が出力される。一方、蛍光
室３を通過したパルス光は光分散素子６を通過し、フォ
トダイオード７によって信号強度が検出され、プリアン
プ回路９から図２の（ニ）に示す信号が出力される。そ
して、プリアンプ回路８、９の出力がＡ／Ｄ変換回路１
０、１１に入力されとともに、プリアンプ回路９の出力
はタイミング発生回路１４にも供給される。タイミング
発生回路１４はプリアンプ回路９の出力がしきい値レベ
ルＶS を越えてから一定時間Ｔ3 後に、図２の（ホ）に
示すＡ／Ｄ変換のためのタイミング信号ａをＡ／Ｄ変換
回路１０、１１にそれぞれ供給し、Ａ／Ｄ変換回路１
０、１１はこの時点でのプリアンプ回路８、９の出力を
Ａ／Ｄ変換してＣＰＵ１２に入力する。
光測定装置の動作を図２の動作波形図を用いて説明す
る。従来の蛍光測定装置と同様に、蛍光室（フローセ
ル）３には試料導入通路を介して試料ガスが導入されて
いる。この状態で、ＣＰＵ１２がトリガ回路１３に駆動
パルスを供給すると、トリガ回路１３が図２の（イ）に
示すトリガパルスをキセノンフラッシュランプ１に供給
し、キセノンフラッシュランプ１が図２の（ロ）に示す
パルス光を放出する。このキセノンフラッシュランプ１
から放出されたパルス光のうち、ＳＯ2 の励起に最適な
波長域を光学フィルタ２により選択的に透過させて、蛍
光室３内の試料ガスに照射する。これにより励起された
試料ガス中のＳＯ2 は、その基底状態に戻る際に、励起
光よりもやや長い波長の蛍光を放出する。光学フィルタ
４はこの蛍光の波長域のみを選択して通過させ、光電子
増倍管５がその蛍光の強度を検出し、プリアンプ回路８
から図２の（ハ）に示す信号が出力される。一方、蛍光
室３を通過したパルス光は光分散素子６を通過し、フォ
トダイオード７によって信号強度が検出され、プリアン
プ回路９から図２の（ニ）に示す信号が出力される。そ
して、プリアンプ回路８、９の出力がＡ／Ｄ変換回路１
０、１１に入力されとともに、プリアンプ回路９の出力
はタイミング発生回路１４にも供給される。タイミング
発生回路１４はプリアンプ回路９の出力がしきい値レベ
ルＶS を越えてから一定時間Ｔ3 後に、図２の（ホ）に
示すＡ／Ｄ変換のためのタイミング信号ａをＡ／Ｄ変換
回路１０、１１にそれぞれ供給し、Ａ／Ｄ変換回路１
０、１１はこの時点でのプリアンプ回路８、９の出力を
Ａ／Ｄ変換してＣＰＵ１２に入力する。
【００１５】そして、ＣＰＵ１２はフォトダイオード７
からの出力、即ち、Ａ／Ｄ変換回路１１の出力の複数回
の測定値を平滑化処理して、光源の光量のばらつき、光
源の個体差を監視して補正値を演算するとともに、光電
子増倍管５からの出力、即ち、Ａ／Ｄ変換回路１０の出
力の複数回の測定値を平滑化処理し、光源変動に基づく
補正を行った後、ＳＯ2 濃度測定値を出力する。
からの出力、即ち、Ａ／Ｄ変換回路１１の出力の複数回
の測定値を平滑化処理して、光源の光量のばらつき、光
源の個体差を監視して補正値を演算するとともに、光電
子増倍管５からの出力、即ち、Ａ／Ｄ変換回路１０の出
力の複数回の測定値を平滑化処理し、光源変動に基づく
補正を行った後、ＳＯ2 濃度測定値を出力する。
【００１６】次に、請求項２の発明の実施例について、
同じく図１、図２を用いて説明する。キセノンフラッシ
ュランプ１がパルス光を放出してからＣＰＵ１２がＡ／
Ｄ変換回路１０、１１の出力を取り込むまでの動作は上
記実施例と同様であるので、説明を省力する。この実施
例では、さらに、ＣＰＵ１２内のタイミングパルス発生
回路が図２の（イ）に示すトリガパルスの中間の時間
で、図２の（ハ）に示すプリアンプ回路８の出力が存在
しない時間に、Ａ／Ｄ変換回路１０に対して図２の
（ホ）に示すＡ／Ｄ変換のためのタイミング信号ｂを供
給する。これにより、Ａ／Ｄ変換回路１０は蛍光のない
状態での信号、すなわち、ゼロ点の信号強度をＡ／Ｄ変
換してＣＰＵ１２に入力する。
同じく図１、図２を用いて説明する。キセノンフラッシ
ュランプ１がパルス光を放出してからＣＰＵ１２がＡ／
Ｄ変換回路１０、１１の出力を取り込むまでの動作は上
記実施例と同様であるので、説明を省力する。この実施
例では、さらに、ＣＰＵ１２内のタイミングパルス発生
回路が図２の（イ）に示すトリガパルスの中間の時間
で、図２の（ハ）に示すプリアンプ回路８の出力が存在
しない時間に、Ａ／Ｄ変換回路１０に対して図２の
（ホ）に示すＡ／Ｄ変換のためのタイミング信号ｂを供
給する。これにより、Ａ／Ｄ変換回路１０は蛍光のない
状態での信号、すなわち、ゼロ点の信号強度をＡ／Ｄ変
換してＣＰＵ１２に入力する。
【００１７】そして、ＣＰＵ１２はタイミング信号ａに
よるＡ／Ｄ変換回路１０の出力からタイミング信号ｂに
よるＡ／Ｄ変換回路１０の出力を減算してゼロ点変動を
除去するとともに、複数回の減算値を平滑化処理する。
さらに、ＣＰＵ１２はＡ／Ｄ変換回路１１の出力の複数
回の測定値を平滑化処理して、光源の光量のばらつき等
による補正値を求め、この補正値によって蛍光強度に対
応する演算値を補正することにより、真の蛍光強度を算
出する。
よるＡ／Ｄ変換回路１０の出力からタイミング信号ｂに
よるＡ／Ｄ変換回路１０の出力を減算してゼロ点変動を
除去するとともに、複数回の減算値を平滑化処理する。
さらに、ＣＰＵ１２はＡ／Ｄ変換回路１１の出力の複数
回の測定値を平滑化処理して、光源の光量のばらつき等
による補正値を求め、この補正値によって蛍光強度に対
応する演算値を補正することにより、真の蛍光強度を算
出する。
【００１８】なお、上記実施例では本発明の蛍光測定装
置をＳＯ2 濃度測定に適用した場合について説明した
が、ＳＯ2 に限らず、ＮＯ、ＮＯ2 等の無機ガスやエチ
ルベンゼン、キシレン、ナフタレン等の芳香族炭化水素
類の測定にも本発明の蛍光測定装置を適用することがで
きる。
置をＳＯ2 濃度測定に適用した場合について説明した
が、ＳＯ2 に限らず、ＮＯ、ＮＯ2 等の無機ガスやエチ
ルベンゼン、キシレン、ナフタレン等の芳香族炭化水素
類の測定にも本発明の蛍光測定装置を適用することがで
きる。
【００１９】また、上記実施例では、フォトダイオード
７の出力によって蛍光検出器の出力を補正する場合を説
明したが、光源の光量の変動がほとんどない場合には、
フォトダイオードの出力をデータとして取り込む必要は
ない。
７の出力によって蛍光検出器の出力を補正する場合を説
明したが、光源の光量の変動がほとんどない場合には、
フォトダイオードの出力をデータとして取り込む必要は
ない。
【００２０】さらに、請求項２の発明の実施例において
は、蛍光検出器の出力のみについて光源点灯の合間にデ
ータを取込む場合について説明したが、フォトダイオー
ドの暗電流も誤差の原因になる場合には、フォトダイオ
ードの出力についても光源点灯の合間にデータを取込む
ことも可能であり、また、この請求項２の発明の実施例
ではタイミング発生回路１４によって、データの取り込
みを制御するように説明したが、検出器の暗電流及び回
路のオフセットのみが問題となる場合には、タイミング
発生回路１４を設ける必要はない。
は、蛍光検出器の出力のみについて光源点灯の合間にデ
ータを取込む場合について説明したが、フォトダイオー
ドの暗電流も誤差の原因になる場合には、フォトダイオ
ードの出力についても光源点灯の合間にデータを取込む
ことも可能であり、また、この請求項２の発明の実施例
ではタイミング発生回路１４によって、データの取り込
みを制御するように説明したが、検出器の暗電流及び回
路のオフセットのみが問題となる場合には、タイミング
発生回路１４を設ける必要はない。
【００２１】以上、本発明の実施例を説明したが、本発
明は上記実施例に限定されるものではなく特許請求の範
囲に記載された本発明の要旨の範囲内で種々の変更を行
うことが可能である。本発明の変更実施態様を下記に例
示する。
明は上記実施例に限定されるものではなく特許請求の範
囲に記載された本発明の要旨の範囲内で種々の変更を行
うことが可能である。本発明の変更実施態様を下記に例
示する。
【００２２】（１）試料が導入される試料室と、試料室
内の試料を励起するためのパルス点灯光源と、パルス点
灯光源を駆動するためのトリガ回路と、試料から放出さ
れる蛍光を検出する蛍光検出器と、励起光の強度を検出
する励起光検出器と、両検出器からの信号が入力されて
演算処理を行うデータ処理部とを備えた蛍光測定装置に
おいて、上記励起光検出器の出力が導入されるタイミン
グ発生回路を設け、このタイミング発生回路の出力によ
ってデータ取込みのタイミングを決定することを特徴と
する蛍光測定装置。
内の試料を励起するためのパルス点灯光源と、パルス点
灯光源を駆動するためのトリガ回路と、試料から放出さ
れる蛍光を検出する蛍光検出器と、励起光の強度を検出
する励起光検出器と、両検出器からの信号が入力されて
演算処理を行うデータ処理部とを備えた蛍光測定装置に
おいて、上記励起光検出器の出力が導入されるタイミン
グ発生回路を設け、このタイミング発生回路の出力によ
ってデータ取込みのタイミングを決定することを特徴と
する蛍光測定装置。
【００２３】（２）試料が導入される試料室と、試料室
内の試料を励起するためのパルス点灯光源と、パルス点
灯光源を駆動するためのトリガ回路と、試料から放出さ
れる蛍光を検出する蛍光検出器と、励起光の強度を検出
する励起光検出器と、両検出器からの信号を光源点灯時
に取り込んで演算処理を行うデータ処理部とを備えた蛍
光測定装置において、上記両検出器の出力を取り出すタ
イミングパルスを発生するタイミング発生回路を備え、
このタイミング発生回路が光源点灯の合間にもデータを
取込むようにタイミングパルスを発生することを特徴と
する蛍光測定装置。
内の試料を励起するためのパルス点灯光源と、パルス点
灯光源を駆動するためのトリガ回路と、試料から放出さ
れる蛍光を検出する蛍光検出器と、励起光の強度を検出
する励起光検出器と、両検出器からの信号を光源点灯時
に取り込んで演算処理を行うデータ処理部とを備えた蛍
光測定装置において、上記両検出器の出力を取り出すタ
イミングパルスを発生するタイミング発生回路を備え、
このタイミング発生回路が光源点灯の合間にもデータを
取込むようにタイミングパルスを発生することを特徴と
する蛍光測定装置。
【００２４】
【発明の効果】本発明の蛍光測定装置は上記のように構
成されており、タイミング発生回路が励起光検出器の出
力によってパルス光源の点灯を検出すると、データを取
り込むタイミング信号を発生し、このタイミング信号に
同期して蛍光検出器の出力をデータ処理部に取り込むの
で、パルス点灯光源の時間的不安定性の影響を排除する
ことができ、また、蛍光検出器の出力を取り出すタイミ
ングパルスを発生するタイミング発生回路が光源点灯時
だけでなく、光源点灯の合間にもデータを取込むように
タイミングパルスを発生することにより、検出器の暗電
流及び回路のオフセットを常に測定し、データのゼロ点
を求めているので、検出器の暗電流およびプリアンプ回
路、Ａ／Ｄ変換回路等のオフセットの影響を排除するこ
とができ、蛍光量を正確に測定することができる。
成されており、タイミング発生回路が励起光検出器の出
力によってパルス光源の点灯を検出すると、データを取
り込むタイミング信号を発生し、このタイミング信号に
同期して蛍光検出器の出力をデータ処理部に取り込むの
で、パルス点灯光源の時間的不安定性の影響を排除する
ことができ、また、蛍光検出器の出力を取り出すタイミ
ングパルスを発生するタイミング発生回路が光源点灯時
だけでなく、光源点灯の合間にもデータを取込むように
タイミングパルスを発生することにより、検出器の暗電
流及び回路のオフセットを常に測定し、データのゼロ点
を求めているので、検出器の暗電流およびプリアンプ回
路、Ａ／Ｄ変換回路等のオフセットの影響を排除するこ
とができ、蛍光量を正確に測定することができる。
【図１】本発明の蛍光測定装置の一実施例を示す図であ
る。
る。
【図２】図１の実施例の動作波形を示す図である。
【図３】従来の蛍光測定装置を示す図である。
【図４】従来の蛍光測定装置の動作波形を示す図であ
る。
る。
１ キセノンフラッシュランプ ２ 光学フィルタ ３ 蛍光室 ４ 光学フィルタ ５ 光電子増倍管 ６ 光分散素子 ７ フォトダイオード ８、９ プリアンプ回
路 １０、１１ Ａ／Ｄ変換回路 １２ ＣＰＵ １３ トリガ回路 １４ タイミング発生
回路
路 １０、１１ Ａ／Ｄ変換回路 １２ ＣＰＵ １３ トリガ回路 １４ タイミング発生
回路
Claims (2)
- 【請求項１】 試料が導入される試料室と、試料室内の
試料を励起するためのパルス点灯光源と、パルス点灯光
源を駆動するためのトリガ回路と、試料から放出される
蛍光を検出する蛍光検出器と、この蛍光検出器からの信
号が入力されて演算処理を行うデータ処理部とを備えた
蛍光測定装置において、上記励起光を検出する励起光検
出器と、この励起光検出器の出力が導入されるタイミン
グ発生回路を設け、このタイミング発生回路の出力によ
ってデータ取込みのタイミングを決定することを特徴と
する蛍光測定装置。 - 【請求項２】 試料が導入される試料室と、試料室内の
試料を励起するためのパルス点灯光源と、パルス点灯光
源を駆動するためのトリガ回路と、試料から放出される
蛍光を検出する蛍光検出器と、この蛍光検出器からの信
号を光源点灯時に取り込んで演算処理を行うデータ処理
部とを備えた蛍光測定装置において、上記蛍光検出器の
出力を取り出すタイミングパルスを発生するタイミング
発生回路を備え、このタイミング発生回路が光源点灯の
合間にもデータを取込むようにタイミングパルスを発生
することを特徴とする蛍光測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28573994A JPH08145889A (ja) | 1994-11-21 | 1994-11-21 | 蛍光測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28573994A JPH08145889A (ja) | 1994-11-21 | 1994-11-21 | 蛍光測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08145889A true JPH08145889A (ja) | 1996-06-07 |
Family
ID=17695425
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28573994A Pending JPH08145889A (ja) | 1994-11-21 | 1994-11-21 | 蛍光測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08145889A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999008490A1 (de) * | 1997-08-12 | 1999-02-18 | Patent-Treuhand-Gesellschaft für elektrische Glühlampen mbH | Verfahren zum erzeugen von impulsspannungsfolgen für den betrieb von entladungslampen und zugehörige schaltungsanordnung |
| JP2006523843A (ja) * | 2003-04-15 | 2006-10-19 | センサーズ・フォー・メデセン・アンド・サイエンス・インコーポレーテッド | 光センサーに対する周辺光の影響を減じるための装置及び方法 |
| JP2006300728A (ja) * | 2005-04-20 | 2006-11-02 | Hamamatsu Photonics Kk | 光検出用回路及び光検出器 |
| JP2012508890A (ja) * | 2008-11-13 | 2012-04-12 | ペトローリアム アナライザー カンパニー，エルピー | サンプルまたはサンプル成分の分析システム、およびこのシステムの製造方法および使用方法 |
| CN103196874A (zh) * | 2012-01-09 | 2013-07-10 | 纳米及先进材料研发院有限公司 | 用于监控人健康的基于聚集诱导发光性发光物(aie)的尿蛋白检测装置 |
| CN103674915A (zh) * | 2013-12-10 | 2014-03-26 | 河北先河环保科技股份有限公司 | 一种荧光反应检测器以及使用该反应检测器的二氧化硫自动监测装置 |
| KR20190010522A (ko) | 2016-05-19 | 2019-01-30 | 후지 덴키 가부시키가이샤 | 수질 분석계 |
-
1994
- 1994-11-21 JP JP28573994A patent/JPH08145889A/ja active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999008490A1 (de) * | 1997-08-12 | 1999-02-18 | Patent-Treuhand-Gesellschaft für elektrische Glühlampen mbH | Verfahren zum erzeugen von impulsspannungsfolgen für den betrieb von entladungslampen und zugehörige schaltungsanordnung |
| US6225758B1 (en) | 1997-08-12 | 2001-05-01 | Patent-Treuhand-Gesellschaft Fuer Elektrische Gluehlampen Mbh | Method for producing impulse voltage sequences to operate discharge lamps and circuit pertaining thereto |
| JP2006523843A (ja) * | 2003-04-15 | 2006-10-19 | センサーズ・フォー・メデセン・アンド・サイエンス・インコーポレーテッド | 光センサーに対する周辺光の影響を減じるための装置及び方法 |
| JP2010256363A (ja) * | 2003-04-15 | 2010-11-11 | Sensors For Medicine & Science Inc | 光センサーに対する周辺光の影響を減じるための装置及び方法 |
| JP2006300728A (ja) * | 2005-04-20 | 2006-11-02 | Hamamatsu Photonics Kk | 光検出用回路及び光検出器 |
| JP2012508890A (ja) * | 2008-11-13 | 2012-04-12 | ペトローリアム アナライザー カンパニー，エルピー | サンプルまたはサンプル成分の分析システム、およびこのシステムの製造方法および使用方法 |
| CN103196874A (zh) * | 2012-01-09 | 2013-07-10 | 纳米及先进材料研发院有限公司 | 用于监控人健康的基于聚集诱导发光性发光物(aie)的尿蛋白检测装置 |
| CN103674915A (zh) * | 2013-12-10 | 2014-03-26 | 河北先河环保科技股份有限公司 | 一种荧光反应检测器以及使用该反应检测器的二氧化硫自动监测装置 |
| KR20190010522A (ko) | 2016-05-19 | 2019-01-30 | 후지 덴키 가부시키가이샤 | 수질 분석계 |
| US10302564B2 (en) | 2016-05-19 | 2019-05-28 | Fuji Electric Co., Ltd. | Water quality analyzer |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4397692B2 (ja) | 時間相関のある多光子計数計測のシステムおよび方法 | |
| KR101879491B1 (ko) | 화염 검출 시스템 | |
| KR102099230B1 (ko) | 형광분석에 의한 체외 검출 및/또는 정량화를 위한 시스템 | |
| EP2273253A1 (en) | Fluorescence detector and fluorescence detection method | |
| WO2008033057A2 (fr) | Procédé de determination fluorométrique des paramètres de la photosynthèse d'organisme photo-autotrophes, dispositif pour le mettre en oeuvre et chambre de mesure | |
| JP2011513740A (ja) | 光子混合検出器を用いた時間分解分光分析方法およびシステム | |
| CN102822665A (zh) | 荧光检测装置和荧光检测方法 | |
| NL9002563A (nl) | Pulsmodulatie van de excitatielichtbron van stromingscytometers. | |
| JP2008256380A (ja) | 光計測装置及び光計測装置の調整方法 | |
| JPH0140949B2 (ja) | ||
| JP2009244010A (ja) | 蛍光検出装置 | |
| JPH08145889A (ja) | 蛍光測定装置 | |
| JP5351742B2 (ja) | ガス中の煤塵濃度計測方法及び燃焼設備の運転方法 | |
| KR102126694B1 (ko) | 시간분해 형광신호 분석장치 | |
| CN106979941B (zh) | 一种荧光爆炸物探测仪的荧光信号检测装置及其检测方法 | |
| US5071249A (en) | Light waveform measuring apparatus | |
| JP2000304697A (ja) | 蛍光寿命測定方法および装置 | |
| JPS59182341A (ja) | 試料発光の異方性測定装置 | |
| JP7023370B2 (ja) | 自動分析装置及び光計測方法 | |
| JP5125495B2 (ja) | 発光分析装置 | |
| JPH09170950A (ja) | 測光装置 | |
| JP2016017766A (ja) | 光検出回路及び光量測定装置 | |
| JPH08304283A (ja) | 蛍光光度計 | |
| JP2013072720A (ja) | 分光光度計および分光光度計における信号積算方法 | |
| Perez et al. | Design of a multi-parameter substance analyzer |