JPS59182341A - 試料発光の異方性測定装置 - Google Patents
試料発光の異方性測定装置Info
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- JPS59182341A JPS59182341A JP58058432A JP5843283A JPS59182341A JP S59182341 A JPS59182341 A JP S59182341A JP 58058432 A JP58058432 A JP 58058432A JP 5843283 A JP5843283 A JP 5843283A JP S59182341 A JPS59182341 A JP S59182341A
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- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 21
- 208000004605 Persistent Truncus Arteriosus Diseases 0.000 claims description 17
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
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- 101100192211 Arabidopsis thaliana PTAC14 gene Proteins 0.000 abstract 1
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- ZWYDDDAMNQQZHD-UHFFFAOYSA-L titanium(ii) chloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Ti+2] ZWYDDDAMNQQZHD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/6445—Measuring fluorescence polarisation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/443—Emission spectrometry
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、偏光パルス光により励起された試料からの発
光の鉛直偏光成分と水平偏光成分とを検出して、各偏光
成分強度の時間に対するヒストグラムから異方性曲線を
求めるようにした試料発光の異方性測定装置に関する。
光の鉛直偏光成分と水平偏光成分とを検出して、各偏光
成分強度の時間に対するヒストグラムから異方性曲線を
求めるようにした試料発光の異方性測定装置に関する。
この種の装置は主（こ高分子やたんばく質等生体物質の
梯Ｓ造の解析等に用いられる。
梯Ｓ造の解析等に用いられる。
ところで従来の異方性測定装置は、試料発光の鉛直偏光
成分と水平偏光成分とを検出するの（こ同一の光検出系
を用いて行なうという手法をとっていたために、測定に
多大な時間がかかり、また鉛直０１１１光成分と水平偏
光成分とを異なった時間に測定せざるを得ないために試
料励起用７句レス光源のランププロフィルの変化が大き
く測定結果に作用するといった欠点があった。
成分と水平偏光成分とを検出するの（こ同一の光検出系
を用いて行なうという手法をとっていたために、測定に
多大な時間がかかり、また鉛直０１１１光成分と水平偏
光成分とを異なった時間に測定せざるを得ないために試
料励起用７句レス光源のランププロフィルの変化が大き
く測定結果に作用するといった欠点があった。
他の従来手段として、試料の発光の鉛直偏光成分を検出
する光検出系と、水平偏光成分を検出する光検出−系と
の２つの光検出系を用いメモリセレクタにより、どちら
の光検出系が、光子を検出したかを判定し、その判定に
より波高分析器のメモリを切換える手段があるが、この
手段においては単一のＴ Ａ Ｃ（Ｔｉｍｅ ｔｏ Ａ
ｍｐｌｉｔｕｄｅ Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ時間電圧変換器
）しか用いていないので、ＴＡＣの特徴として一個の光
電子パルスしかストップパルスとして受は入れ得ないか
らやはり１回の発光に対し、１個の光電子パルスしかデ
ータとしてとれず、また両方の光検出系が光子を検出す
るとそのデータは捨てざるを得ないといった欠点がある
。
する光検出系と、水平偏光成分を検出する光検出−系と
の２つの光検出系を用いメモリセレクタにより、どちら
の光検出系が、光子を検出したかを判定し、その判定に
より波高分析器のメモリを切換える手段があるが、この
手段においては単一のＴ Ａ Ｃ（Ｔｉｍｅ ｔｏ Ａ
ｍｐｌｉｔｕｄｅ Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ時間電圧変換器
）しか用いていないので、ＴＡＣの特徴として一個の光
電子パルスしかストップパルスとして受は入れ得ないか
らやはり１回の発光に対し、１個の光電子パルスしかデ
ータとしてとれず、また両方の光検出系が光子を検出す
るとそのデータは捨てざるを得ないといった欠点がある
。
本発明はこのような点にあって、試料からの発光の鉛直
偏光成分と水平偏光成分の双方を同時に検出し、かつ１
回の発光に対して双方の光検出系が光電子パルスを時間
的に前後して検出しても、同時に検出しても双方の光検
出系の検出結果をデータとしてとることができる新規一
手段を提供するものである。
偏光成分と水平偏光成分の双方を同時に検出し、かつ１
回の発光に対して双方の光検出系が光電子パルスを時間
的に前後して検出しても、同時に検出しても双方の光検
出系の検出結果をデータとしてとることができる新規一
手段を提供するものである。
而して、本発明は、試料からの発光の鉛直偏光成分と水
平偏光成分とを検出して各個も成分強度の時間に対する
ヒストグラムから異方性曲線を求めるようにした試料発
光の異方性測定装置において、試料からの発光を検出す
る光検出器を２個設け、一方の光検出器と試料の間には
試料に照射される励起光の偏光方向と平行な偏光発光成
分を通過する検光子を設け、他方の光検出器と試料との
間には前記励起光の偏光方向と垂直な偏光発光成分を通
過する検光子を設け、また各光検出器には、試料への励
起光の基準時間において同時に動作を開始する２組のＴ
ＡＣを各別に接続して、各組のＴＡＣを各光検出器で生
じる光電子パルスをストップパルスとして各別に動作停
止せしめられるようにし、もって、試料発光の鉛直偏光
成分と水平偏光成分とを同時に検出できるようにしたこ
とを要旨としている。
平偏光成分とを検出して各個も成分強度の時間に対する
ヒストグラムから異方性曲線を求めるようにした試料発
光の異方性測定装置において、試料からの発光を検出す
る光検出器を２個設け、一方の光検出器と試料の間には
試料に照射される励起光の偏光方向と平行な偏光発光成
分を通過する検光子を設け、他方の光検出器と試料との
間には前記励起光の偏光方向と垂直な偏光発光成分を通
過する検光子を設け、また各光検出器には、試料への励
起光の基準時間において同時に動作を開始する２組のＴ
ＡＣを各別に接続して、各組のＴＡＣを各光検出器で生
じる光電子パルスをストップパルスとして各別に動作停
止せしめられるようにし、もって、試料発光の鉛直偏光
成分と水平偏光成分とを同時に検出できるようにしたこ
とを要旨としている。
以下に図面に基づき本発明の一実施例を説明する。図中
１はパルス励起光を発する光源、２は試料、３，４は試
料からの発光を検出する光検出器としての例えば光電子
パルス、５は前記パルス光源１が発するパルス励起光を
検出し、その励起光の基準時間に後述するＴＡＣの動作
開始させるスタートパルスを発するスタートパルス発生
回路である。この回路５は光検出器６とパルス整形回路
７とで構成される。
１はパルス励起光を発する光源、２は試料、３，４は試
料からの発光を検出する光検出器としての例えば光電子
パルス、５は前記パルス光源１が発するパルス励起光を
検出し、その励起光の基準時間に後述するＴＡＣの動作
開始させるスタートパルスを発するスタートパルス発生
回路である。この回路５は光検出器６とパルス整形回路
７とで構成される。
前記光源１と試料２との間には分光器或いはフィルター
等の分光手段８と偏光子９とが設けである。又、一方の
光検出器３と試料２との間には、前記偏光子９を通って
試料２に照射されるパルス励起光の偏光方向と平行な偏
光発光成分を通過する検光子ＩＯが設けられ、他方の光
検出器４と試料２の間には、前記励起光の偏光方向と垂
直な偏光発光成分を通過する検光子１１が設けられてい
る。従って、試料２からの発光は１記検光子１０．１１
によって鉛直偏光成分と水平偏光成分とに分けられ、各
偏光成分が各別の光検出器３，４で検出されることとな
る。１２．１３はパルス整形回路で、前記各検出器３，
４で発生した光電子パルスの波形整形を行なう。
等の分光手段８と偏光子９とが設けである。又、一方の
光検出器３と試料２との間には、前記偏光子９を通って
試料２に照射されるパルス励起光の偏光方向と平行な偏
光発光成分を通過する検光子ＩＯが設けられ、他方の光
検出器４と試料２の間には、前記励起光の偏光方向と垂
直な偏光発光成分を通過する検光子１１が設けられてい
る。従って、試料２からの発光は１記検光子１０．１１
によって鉛直偏光成分と水平偏光成分とに分けられ、各
偏光成分が各別の光検出器３，４で検出されることとな
る。１２．１３はパルス整形回路で、前記各検出器３，
４で発生した光電子パルスの波形整形を行なう。
１４．１５は２組のＴＡＣで、前記パルス整形回路１２
．１３を介して光検出器３，４に各別に接続されている
。両組のＴＡＣ１４，１５はスタートパルス発生回路５
が発するスタートパルスによって同時に動作を開始する
が、一方の組のＴＡ。
．１３を介して光検出器３，４に各別に接続されている
。両組のＴＡＣ１４，１５はスタートパルス発生回路５
が発するスタートパルスによって同時に動作を開始する
が、一方の組のＴＡ。
Ｃ１４は一方の光検出器３が検出する光子による光電子
パルスをストップパルスとして動作停止し、他方の組の
ＴＡＣ１５は他方の光検出器４が検出する光子による光
電子パルスをストップパルスとして動作停止する。ここ
にＴＡＣとは時間に比例した電圧を出力する装置をいい
、一般にはスタートパルスによってコンデンサを定電流
で充電し始め、光電子パルスが入力されると充電を終了
するという１１に基づいている。従ってこの原理から明
らかなようにコンデンサの充電々圧を検出することによ
り、スタートパルスが入力されてから光電子パルスが入
力されるまでの時間に比例した電圧を得ることができる
のである。又、ＴＡＣの特徴として１個のストップパル
スしか計数することができないため、通常は前記２組の
ＴＡＣｌ ４゜１５とも多チヤンネル構成として、１回
の発光で光検出器３，４が順次発する複数個の光電子パ
ルスを各チャンネルのＴＡＣで計数できるようにしてい
る。このような多チヤンネル構成の技術は特ｆノ１ｍ昭
５７−１３７８４３号公報にも開示されており公知であ
る。図示例では各組のＴＡＣとも４チヤンネルｌ ４
ａ 〜ｄ、 １５ ａ−ｄとしている。１６は、前記
両ＴＡＣ１４，１５の出力電圧を取出して鉛直偏光成分
強度と水平偏光成分強度との時間に対するヒストグラム
を作る回路手段で、マルチプレクサ１７とＡ／Ｄｆ換器
１８と、ＴＡＣの出力電圧をその電圧に対応したチャン
ネルに計数するコンピュータ１９とから成っている。こ
のようにして得られた鉛直偏光成分のヒストグラムを１
１１（１；）、水平偏光成分のヒストグラムを■工（１
） とすると、異方性曲線γ（１）は次式から求めら
れる。
パルスをストップパルスとして動作停止し、他方の組の
ＴＡＣ１５は他方の光検出器４が検出する光子による光
電子パルスをストップパルスとして動作停止する。ここ
にＴＡＣとは時間に比例した電圧を出力する装置をいい
、一般にはスタートパルスによってコンデンサを定電流
で充電し始め、光電子パルスが入力されると充電を終了
するという１１に基づいている。従ってこの原理から明
らかなようにコンデンサの充電々圧を検出することによ
り、スタートパルスが入力されてから光電子パルスが入
力されるまでの時間に比例した電圧を得ることができる
のである。又、ＴＡＣの特徴として１個のストップパル
スしか計数することができないため、通常は前記２組の
ＴＡＣｌ ４゜１５とも多チヤンネル構成として、１回
の発光で光検出器３，４が順次発する複数個の光電子パ
ルスを各チャンネルのＴＡＣで計数できるようにしてい
る。このような多チヤンネル構成の技術は特ｆノ１ｍ昭
５７−１３７８４３号公報にも開示されており公知であ
る。図示例では各組のＴＡＣとも４チヤンネルｌ ４
ａ 〜ｄ、 １５ ａ−ｄとしている。１６は、前記
両ＴＡＣ１４，１５の出力電圧を取出して鉛直偏光成分
強度と水平偏光成分強度との時間に対するヒストグラム
を作る回路手段で、マルチプレクサ１７とＡ／Ｄｆ換器
１８と、ＴＡＣの出力電圧をその電圧に対応したチャン
ネルに計数するコンピュータ１９とから成っている。こ
のようにして得られた鉛直偏光成分のヒストグラムを１
１１（１；）、水平偏光成分のヒストグラムを■工（１
） とすると、異方性曲線γ（１）は次式から求めら
れる。
このとき、もし分光器やフォトマル等の光検出システム
に偏光特性があってそれを補正する必要があるなら、偏
光子９を鉛直にした場合と水平にした場合とにおいて、
上記Ｉ １１（す、ｌ工（句を求め、次式によって異方
性曲線を求めればよい。
に偏光特性があってそれを補正する必要があるなら、偏
光子９を鉛直にした場合と水平にした場合とにおいて、
上記Ｉ １１（す、ｌ工（句を求め、次式によって異方
性曲線を求めればよい。
但し、工１ｌ（ｔ）、工↓（１）は偏光子９を鉛直偏光
方間に設置した場合における鉛直偏光成分、水平偏光成
分のヒストグラム ｌ １１（ｔ）、Ｉｘ （ｔ）は偏
光子を水平偏光方向に設置した場合における鉛直偏光成
分、水平偏光成分のヒストグラムである。図中、２０・
・はレンズ、２１・・・は分光手段、２２は切換スイッ
チである。この切換スイッチ２２を図示とは反対方向に
切換えると、一方の光検出器３で検出される光電子パル
スを全てのＴｉＣｌ２．ｔｓによって計数することがで
き、最大８個の光電子パルスの計数が可能となる。この
ような使用法は偏光成分測定以外の通常の螢光減衰曲線
測定に際し多チャンネルＴＡＣを有効に利用できるため
有用である。
方間に設置した場合における鉛直偏光成分、水平偏光成
分のヒストグラム ｌ １１（ｔ）、Ｉｘ （ｔ）は偏
光子を水平偏光方向に設置した場合における鉛直偏光成
分、水平偏光成分のヒストグラムである。図中、２０・
・はレンズ、２１・・・は分光手段、２２は切換スイッ
チである。この切換スイッチ２２を図示とは反対方向に
切換えると、一方の光検出器３で検出される光電子パル
スを全てのＴｉＣｌ２．ｔｓによって計数することがで
き、最大８個の光電子パルスの計数が可能となる。この
ような使用法は偏光成分測定以外の通常の螢光減衰曲線
測定に際し多チャンネルＴＡＣを有効に利用できるため
有用である。
本発明に係・る試料発光の異方性測定装置は以上説明し
た如く、試料からの発光の鉛直偏光成分と水平偏光成分
とを２つの光検出器で同時に検出し、かつ雨検出器で発
生した各偏光成分の光電子パルスを各別のＴＡＣで計数
するようにしているため、発光の異方性解析に必要な量
を同時に測定することができ、しかも格別のＴＡＣがそ
れぞれ多チャンネル化されているため、１回の発光で多
光子事象が計測できるため測定時間が著しく短縮し得る
という効果がある。加えて、測定中の光源の不安定性は
鉛直偏光成分、水平偏光成分の双方に反映されるから、
結果的にその不安定性が自動的に補正され、異方性の高
精度測定を可能とするといった効果をもつ。
た如く、試料からの発光の鉛直偏光成分と水平偏光成分
とを２つの光検出器で同時に検出し、かつ雨検出器で発
生した各偏光成分の光電子パルスを各別のＴＡＣで計数
するようにしているため、発光の異方性解析に必要な量
を同時に測定することができ、しかも格別のＴＡＣがそ
れぞれ多チャンネル化されているため、１回の発光で多
光子事象が計測できるため測定時間が著しく短縮し得る
という効果がある。加えて、測定中の光源の不安定性は
鉛直偏光成分、水平偏光成分の双方に反映されるから、
結果的にその不安定性が自動的に補正され、異方性の高
精度測定を可能とするといった効果をもつ。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の一実施例を示す全体構成図である。
Claims (1)
- 偏光パルス光により励起された試料からの発光の鉛直偏
光成分と水平偏光成分とを検出して、各偏光成分強度の
時間に対するヒストグラムから異方性曲線を求めるよう
にした試料発光の異方性測定装置において、試料からの
発光を検出する光検出器を２個設け、一方の光検出器と
試料の間には試料に照射される励起光の偏光方向と平行
な偏光発光成分を通過する検光子を設け、他方の光検出
器と試料との間には前記励起光の偏光方向と垂直な偏光
発光成分を通過する検光子を設け、また各光検出器には
、試料への励起光の基準時間において同時に動作を開始
する２組のＴＡＣを各別に接続して、各組のＴＡＣを各
光検出器で発生した光電子パルスをストップパルスとし
て各別に動作停止せしめられるようにし、もって、試料
発光の鉛直偏光成分と水平偏光成分とを同時に検出でき
るようにしたことを特徴とする試料発光の異方性測定装
置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58058432A JPS59182341A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | 試料発光の異方性測定装置 |
| US06/594,482 US4586820A (en) | 1983-03-31 | 1984-03-27 | Apparatus for measuring anisotropy of light emitted from the sample |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58058432A JPS59182341A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | 試料発光の異方性測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59182341A true JPS59182341A (ja) | 1984-10-17 |
Family
ID=13084220
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58058432A Pending JPS59182341A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | 試料発光の異方性測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4586820A (ja) |
| JP (1) | JPS59182341A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998013676A1 (fr) * | 1996-09-24 | 1998-04-02 | Laboratory Of Molecular Biophotonics | Procede et dispositif pour mesurer la polarisation |
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|---|---|---|---|---|
| FR2568012B1 (fr) * | 1984-07-17 | 1986-10-31 | Centre Tech Ind Papier | Appareil pour mesurer l'etat de formation d'une feuille de papier |
| US4651011A (en) * | 1985-06-03 | 1987-03-17 | At&T Technologies, Inc. | Non-destructive method for determining the extent of cure of a polymer |
| US5197764A (en) * | 1991-07-11 | 1993-03-30 | The Reynolds And Reynolds Company | Alphanumeric color-coded filing method and system therefor |
| US5422712A (en) * | 1992-04-01 | 1995-06-06 | Toa Medical Electronics Co., Ltd. | Apparatus for measuring fluorescent spectra of particles in a flow |
| GB2537870A (en) * | 2015-04-29 | 2016-11-02 | The Univ Of Durham | Light detecting apparatus |
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| JPS5212881A (en) * | 1975-07-21 | 1977-01-31 | Hitachi Ltd | Device for measuring a degree of deflection of fluorescence |
| JPS5515031A (en) * | 1978-07-20 | 1980-02-01 | Japan Spectroscopic Co | Polarized fluorescence measuring unit |
| JPS57137843A (en) * | 1981-02-20 | 1982-08-25 | Hokkaido Daigaku | Measuring apparatus of luminescence life of sample |
Family Cites Families (2)
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| US4419583A (en) * | 1980-05-31 | 1983-12-06 | Noeller Hans Guenter | Polarization fluoroimmunoassay with pulsed light source |
-
1983
- 1983-03-31 JP JP58058432A patent/JPS59182341A/ja active Pending
-
1984
- 1984-03-27 US US06/594,482 patent/US4586820A/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4586820A (en) | 1986-05-06 |
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