JPH0225136B2 - - Google Patents
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- JPH0225136B2 JPH0225136B2 JP57183244A JP18324482A JPH0225136B2 JP H0225136 B2 JPH0225136 B2 JP H0225136B2 JP 57183244 A JP57183244 A JP 57183244A JP 18324482 A JP18324482 A JP 18324482A JP H0225136 B2 JPH0225136 B2 JP H0225136B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pulse
- waveform
- measuring
- tac
- light
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
Links
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- 208000037258 Truncus arteriosus Diseases 0.000 claims description 43
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 39
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 claims description 22
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 20
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 3
- MWPLVEDNUUSJAV-UHFFFAOYSA-N anthracene Chemical compound C1=CC=CC2=CC3=CC=CC=C3C=C21 MWPLVEDNUUSJAV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000005375 photometry Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/6408—Fluorescence; Phosphorescence with measurement of decay time, time resolved fluorescence
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
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- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は試料の発光寿命を測定する装置に関し
殊に励起光のパルス幅に比べてそれ程長くない寿
命の発光を測定するための装置に関する。
殊に励起光のパルス幅に比べてそれ程長くない寿
命の発光を測定するための装置に関する。
励起光のパルス幅に比べて発光寿命が十分長い
と、発光波形のみ測定し、その減衰曲線から寿命
を求めることができるが、励起光のパルス幅に比
べて発光寿命がそれ程長くない場合、発光波形は
パルス幅の影響を受けて歪を生じる。そのため、
この場合は、発光波形のみならず励起光パルス波
形も測定する必要があり、これらの量は真の発光
波形とコンボリユーシヨン積分の式で表わされ
る。ここにコンボルーシヨン積分の式とは、測定
された発光波形をＩ(t)、励起光パルス波形をＰ
（ｔ）、真の発光波形をＧ(t)とすると、 Ｉ（ｔ）＝∫t 0Ｐ（t′）Ｇ（ｔ−t′）dt′ で表わされる。Ｉ(t)、Ｐ(t)からデコンボリユー
シヨン演算によりＧ(t)を求め、発光寿命を得る。
と、発光波形のみ測定し、その減衰曲線から寿命
を求めることができるが、励起光のパルス幅に比
べて発光寿命がそれ程長くない場合、発光波形は
パルス幅の影響を受けて歪を生じる。そのため、
この場合は、発光波形のみならず励起光パルス波
形も測定する必要があり、これらの量は真の発光
波形とコンボリユーシヨン積分の式で表わされ
る。ここにコンボルーシヨン積分の式とは、測定
された発光波形をＩ(t)、励起光パルス波形をＰ
（ｔ）、真の発光波形をＧ(t)とすると、 Ｉ（ｔ）＝∫t 0Ｐ（t′）Ｇ（ｔ−t′）dt′ で表わされる。Ｉ(t)、Ｐ(t)からデコンボリユー
シヨン演算によりＧ(t)を求め、発光寿命を得る。
従来試料の発光寿命を時間相関光子計数法に基
づいて求める場合、１回の発光に対し単一の光電
子パルスしか計測できず、測光効率が悪いため測
定に長時間要した。
づいて求める場合、１回の発光に対し単一の光電
子パルスしか計測できず、測光効率が悪いため測
定に長時間要した。
この欠点を改良し、１回の発光で複数個の光電
子パルスを計測する装置として特開昭57−137843
号公報に示されたものがある。この装置は概ね第
１図に示すように、パルス光の発光源１と、該パ
ルス光が照射された試料２の発する光を受けて光
電子パルスを発する光検出器３と、前記発光源１
のパルス光の発光時にスタートパルスを発するス
タートパルス発生手段４（通常、フオトマル５と
波形整形回路６とで構成される。）と、この手段
が発するスタートパルスによつて動作し光検出器
３が発する複数個の光電子パルスをストツプパル
スとして順次動作停止する複数個の時間−電圧変
換器（以下、TACという。）７と、該TAC７の
出力信号を順次取出すマルチプレクサ８、および
それからの出力信号を記憶演算処理する回路手段
９とから成つている。従来の装置によつてデコン
ボリユーシヨン演算により発光寿命を求めるに
は、試料の発光波形Ｉ(t)の測定とは別の時間に、
試料２を散乱体に置き換えて、励起光パルス波形
Ｐ(t)を測定しなければならない。通常TACを多
チヤンネル構成として測定時間の短縮を図つたと
しても装置のパルス対分解能に限度があり、この
限界以内の複数個の光電子パルスが発生した場
合、個々の光電子パルスを区別できず、いわゆる
パイルアツプ効果が起きるため、多チヤンネル
TACの効果があまり発揮できず、やはり測定に
長時間を要するという欠点を残す。従つて比較的
短寿命の試料ではパルス励起光の繰返し数を約
20KHzとしても励起光パルス波形測定に１時間、
発光波形測定に１時間以上計２時間以上も費すこ
とが多い。更に繰り返し数の少ないパルスレーザ
を用いた場合励起光パルス波形の測定だけでも10
時間以上というような場合がある。また、このよ
うに測定時間が長いと励起光のパルス波形が多少
変化する場合もあるので、Ｐ(t)、Ｉ(t)を別の時
間に測定した場合、測定されたＰ(t)はＩ(t)測定
時のＰ(t)と多少異なつており、デコンボリユー
シヨン演算で発光寿命を求めたとしても、誤差が
大きくなるという欠点も生じる。
子パルスを計測する装置として特開昭57−137843
号公報に示されたものがある。この装置は概ね第
１図に示すように、パルス光の発光源１と、該パ
ルス光が照射された試料２の発する光を受けて光
電子パルスを発する光検出器３と、前記発光源１
のパルス光の発光時にスタートパルスを発するス
タートパルス発生手段４（通常、フオトマル５と
波形整形回路６とで構成される。）と、この手段
が発するスタートパルスによつて動作し光検出器
３が発する複数個の光電子パルスをストツプパル
スとして順次動作停止する複数個の時間−電圧変
換器（以下、TACという。）７と、該TAC７の
出力信号を順次取出すマルチプレクサ８、および
それからの出力信号を記憶演算処理する回路手段
９とから成つている。従来の装置によつてデコン
ボリユーシヨン演算により発光寿命を求めるに
は、試料の発光波形Ｉ(t)の測定とは別の時間に、
試料２を散乱体に置き換えて、励起光パルス波形
Ｐ(t)を測定しなければならない。通常TACを多
チヤンネル構成として測定時間の短縮を図つたと
しても装置のパルス対分解能に限度があり、この
限界以内の複数個の光電子パルスが発生した場
合、個々の光電子パルスを区別できず、いわゆる
パイルアツプ効果が起きるため、多チヤンネル
TACの効果があまり発揮できず、やはり測定に
長時間を要するという欠点を残す。従つて比較的
短寿命の試料ではパルス励起光の繰返し数を約
20KHzとしても励起光パルス波形測定に１時間、
発光波形測定に１時間以上計２時間以上も費すこ
とが多い。更に繰り返し数の少ないパルスレーザ
を用いた場合励起光パルス波形の測定だけでも10
時間以上というような場合がある。また、このよ
うに測定時間が長いと励起光のパルス波形が多少
変化する場合もあるので、Ｐ(t)、Ｉ(t)を別の時
間に測定した場合、測定されたＰ(t)はＩ(t)測定
時のＰ(t)と多少異なつており、デコンボリユー
シヨン演算で発光寿命を求めたとしても、誤差が
大きくなるという欠点も生じる。
本発明はこのような点にあつて励起光パルス波
形と発光波形とを同時に測定できる装置を開発す
ることによつて、上記諸欠点の解消を図つたもの
である。
形と発光波形とを同時に測定できる装置を開発す
ることによつて、上記諸欠点の解消を図つたもの
である。
而して、本発明に係る試料の発光寿命測定装置
は、パルス光の発光源と、該パルス光の基準時間
としてのスタートパルスの発生手段と、前記発光
源のパルス光を２分する手段と、該手段にて分配
された一方の光を受けて光電子パルスを発する励
起光パルス波形測定用の光検出器と、他方の光を
照射された試料からの発光を受けて光電子パルス
を発する発光波形測定用の光検出器と、前記各光
検出器に各別に接続された励起光パルス波形測定
用TAC及び発光波形測定用TACを備え、各TAC
は前記スタートパルスによつて同時に動作すると
共に、励起光パルス波形測定用TACは励起光パ
ルス波形用測定検出器から送られる光電子パルス
をストツプパルスとして、他方、発光波形測定用
TACは発光波形測定用光検出器から送られる光
電子パルスをストツプパルスとして夫々動作開始
時から光電子パルスを受けるまでの時間に比例し
た電圧を出力するようにされ、両TACの出力は
多チヤンネル波高分析器として動作するＡ／Ｄ変
換器とコンピユーターにより励起パルス波形と発
光波形のヒストグラムを形成し、上記波形を基に
デコンボルーシヨンの演算処理により発光寿命を
算出するようにしたことを要旨としている。
は、パルス光の発光源と、該パルス光の基準時間
としてのスタートパルスの発生手段と、前記発光
源のパルス光を２分する手段と、該手段にて分配
された一方の光を受けて光電子パルスを発する励
起光パルス波形測定用の光検出器と、他方の光を
照射された試料からの発光を受けて光電子パルス
を発する発光波形測定用の光検出器と、前記各光
検出器に各別に接続された励起光パルス波形測定
用TAC及び発光波形測定用TACを備え、各TAC
は前記スタートパルスによつて同時に動作すると
共に、励起光パルス波形測定用TACは励起光パ
ルス波形用測定検出器から送られる光電子パルス
をストツプパルスとして、他方、発光波形測定用
TACは発光波形測定用光検出器から送られる光
電子パルスをストツプパルスとして夫々動作開始
時から光電子パルスを受けるまでの時間に比例し
た電圧を出力するようにされ、両TACの出力は
多チヤンネル波高分析器として動作するＡ／Ｄ変
換器とコンピユーターにより励起パルス波形と発
光波形のヒストグラムを形成し、上記波形を基に
デコンボルーシヨンの演算処理により発光寿命を
算出するようにしたことを要旨としている。
以下に図面に基づき本発明の一実施例を説明す
る。第２図は本発明の一実施例としての試料の発
光寿命測定装置を示し、図中、１１はパルス光の
発光源、１２は該パルス光の基準時間としてのス
タートパルスの発生手段で、例えばフオトマル１
３とパルス整形回路１４とで構成される。１５は
前記発光源１１のパルス光を２分する手段として
例えばビームスプリツタ、１６は該手段１５で分
配された一方の光を受けて光電子パルスを発する
励起光パルス波形測定用の光検出器として例えば
フオトマル１７は前記手段１５で分配された残り
の光を照射される試料、１８は該試料１７から発
する光を受けて光電子パルスを発する発光波形測
定用光検出器として例えばフオトマル、１９，２
０は前記各光検出器１６，１８に各別に接続され
たTACである。光検出器１６に接続されたTAC
を励起光パルス波形測定用TAC、光検出器１８
に接続されたTACを発光波形測定用TACと呼
ぶ。各TAC１９，２０は、スタートパルスによ
つて同時にコンデンサを定電流で充電開始し、光
電子パルスが入力されると充電を終了するという
原理に基づいており、従つてスタートパルスで動
作して後光電子パルスが入力されるまでの時間に
比例した電圧を出力する。また上記原理から明ら
かなように１個のTACは１個の光電子パルスし
か計数できないため、通常TAC１９，２０とも
多チヤンネル構成とし、１回の発光で光検出器が
順次発する複数個の光電子パルスを各チヤンネル
のTACで１個づつ計数できるように構成されて
いる。このような多チヤンネル構成の技術は特開
昭57−137843号公報にも開示されており公知であ
る。図示例ではTAC１９は２チヤンネル１９ａ，
１９ｂ、TAC２０は６チヤンネル２０ａ…２０
ｆとしている。２１は前記両TAC１９，２０の
出力信号を取出し励起光パルス波形と発光波形の
ヒストグラムを形成し、さらに上記ヒストグラム
を基にデコンボリユーシヨンの演算処理をする回
路手段で、マルチプレクサ２２と、Ａ／Ｄ変換器
２３と、コンピユータ２４とから成つている。
る。第２図は本発明の一実施例としての試料の発
光寿命測定装置を示し、図中、１１はパルス光の
発光源、１２は該パルス光の基準時間としてのス
タートパルスの発生手段で、例えばフオトマル１
３とパルス整形回路１４とで構成される。１５は
前記発光源１１のパルス光を２分する手段として
例えばビームスプリツタ、１６は該手段１５で分
配された一方の光を受けて光電子パルスを発する
励起光パルス波形測定用の光検出器として例えば
フオトマル１７は前記手段１５で分配された残り
の光を照射される試料、１８は該試料１７から発
する光を受けて光電子パルスを発する発光波形測
定用光検出器として例えばフオトマル、１９，２
０は前記各光検出器１６，１８に各別に接続され
たTACである。光検出器１６に接続されたTAC
を励起光パルス波形測定用TAC、光検出器１８
に接続されたTACを発光波形測定用TACと呼
ぶ。各TAC１９，２０は、スタートパルスによ
つて同時にコンデンサを定電流で充電開始し、光
電子パルスが入力されると充電を終了するという
原理に基づいており、従つてスタートパルスで動
作して後光電子パルスが入力されるまでの時間に
比例した電圧を出力する。また上記原理から明ら
かなように１個のTACは１個の光電子パルスし
か計数できないため、通常TAC１９，２０とも
多チヤンネル構成とし、１回の発光で光検出器が
順次発する複数個の光電子パルスを各チヤンネル
のTACで１個づつ計数できるように構成されて
いる。このような多チヤンネル構成の技術は特開
昭57−137843号公報にも開示されており公知であ
る。図示例ではTAC１９は２チヤンネル１９ａ，
１９ｂ、TAC２０は６チヤンネル２０ａ…２０
ｆとしている。２１は前記両TAC１９，２０の
出力信号を取出し励起光パルス波形と発光波形の
ヒストグラムを形成し、さらに上記ヒストグラム
を基にデコンボリユーシヨンの演算処理をする回
路手段で、マルチプレクサ２２と、Ａ／Ｄ変換器
２３と、コンピユータ２４とから成つている。
上記構成において、今、発光源１１が１回パル
ス光Ｐを発すると、スタートパルス発生手段１２
がパルス光Ｐの立上り時を検出して第３図に示す
ようにスタートパルスPoを発する。このパルス
PoによつてTAC１９，２０が同時に動作する。
また前記パルス光Ｐはビームスプリツタ１５で２
分され、一方は励起光パルス波形測定用光検出器
１６に、他方は試料１７に照射される。光検出器
１６は前記パルス光を受けて光電子パルスP′1，
P′2を発し、他方、試料１７はパルス光Ｐによつ
て励起され、発光する。この発光は発光波形測定
用の光検出器１８で受けられ、光電子パルスP1，
P2…を発する。そして、これら各パルスP′1，
P′2，P1，P2…は各別のTAC１９，２０にストツ
プパルスとして作用され、各TAC１９，２０、
詳しくは各チヤンネルのTAC１９ａ，１９ｂ，
２０ａ，２０ｂ…はスタートパルスによつて同時
に動作開始してから光電子パルスP′1，P′2，P1，
P2…が入力されるまでの時間に比例したアナロ
グ電圧を出力する。この出力信号は、次段の回路
手段２１に取出され保持される。
ス光Ｐを発すると、スタートパルス発生手段１２
がパルス光Ｐの立上り時を検出して第３図に示す
ようにスタートパルスPoを発する。このパルス
PoによつてTAC１９，２０が同時に動作する。
また前記パルス光Ｐはビームスプリツタ１５で２
分され、一方は励起光パルス波形測定用光検出器
１６に、他方は試料１７に照射される。光検出器
１６は前記パルス光を受けて光電子パルスP′1，
P′2を発し、他方、試料１７はパルス光Ｐによつ
て励起され、発光する。この発光は発光波形測定
用の光検出器１８で受けられ、光電子パルスP1，
P2…を発する。そして、これら各パルスP′1，
P′2，P1，P2…は各別のTAC１９，２０にストツ
プパルスとして作用され、各TAC１９，２０、
詳しくは各チヤンネルのTAC１９ａ，１９ｂ，
２０ａ，２０ｂ…はスタートパルスによつて同時
に動作開始してから光電子パルスP′1，P′2，P1，
P2…が入力されるまでの時間に比例したアナロ
グ電圧を出力する。この出力信号は、次段の回路
手段２１に取出され保持される。
かくして、発光源１１を繰返し発光させて、そ
の度に各TAC１９，２０から出力信号を取出し
て波高分析器として動作するコンピユータの別々
のメモリグループに記憶される。その結果縦軸に
電圧、横軸に同一の電圧の出力信号があつた回数
（カウント数）をとつてあらわせば、第３図中Ａ，
Ｂに示す如き光電子発生頻度のヒストグラムが得
られる。電圧に時間に対応するのでこのヒストグ
ラムの曲線Ａは励起光パルス波形Ｐ(t)をあらわ
し、曲線Ｂは発光波形Ｉ(t)をあらわす。従つて、
回路手段２１中のコンピユータ２４において、上
記Ｐ(t)、Ｉ(t)をデコンボリユーシヨンの演算処
理で真の発光波形Ｇ(t)を求め、この波形Ｇ(t)か
ら発光寿命が得られる。第４図に溶媒中のアント
ラセンを試料として用いた場合の実測データを示
す。横軸は時間、縦軸はカウント数である。尚、
第３図において、直線ＣはTAC１９ａ，１９ｂ
の動作特性、直線ＤはTAC２０ａ〜２０ｆの動
作特性であり、t′1，t′2，t1，t2…は各光電子パル
スP′1，P′2，P1，P2…が入力されるまでの時間、
V′1，V′2，V1，V2…は上記各時間に対応した電
圧である。図中、各TACの動作特性図は、スタ
ートパルスを同一の基準時間として重なつて示さ
れている。また、第２図中、２５…は集光レン
ズ、２６は減光手段、２７はフイルタ−又は分光
器、２８はパルス整形回路、２９は切換スイツチ
である。この切換スイツチ２９を切換えると、
TAC１９はTAC２０と並列に接続され、合計８
チヤンネルのTACで発光波形Ｉ(t)を測定できる。
但し、この場合、励起光パルス波形Ｐ(t)は同時
には測定できない。従つて、切換スイツチ２８を
切換えることによつて励起光のパルス幅に比べて
寿命の十分長い発光を多チヤンネルTACの特色
を生かし効率よく測定することもでき、より広範
な試料の測定に適用することができる。
の度に各TAC１９，２０から出力信号を取出し
て波高分析器として動作するコンピユータの別々
のメモリグループに記憶される。その結果縦軸に
電圧、横軸に同一の電圧の出力信号があつた回数
（カウント数）をとつてあらわせば、第３図中Ａ，
Ｂに示す如き光電子発生頻度のヒストグラムが得
られる。電圧に時間に対応するのでこのヒストグ
ラムの曲線Ａは励起光パルス波形Ｐ(t)をあらわ
し、曲線Ｂは発光波形Ｉ(t)をあらわす。従つて、
回路手段２１中のコンピユータ２４において、上
記Ｐ(t)、Ｉ(t)をデコンボリユーシヨンの演算処
理で真の発光波形Ｇ(t)を求め、この波形Ｇ(t)か
ら発光寿命が得られる。第４図に溶媒中のアント
ラセンを試料として用いた場合の実測データを示
す。横軸は時間、縦軸はカウント数である。尚、
第３図において、直線ＣはTAC１９ａ，１９ｂ
の動作特性、直線ＤはTAC２０ａ〜２０ｆの動
作特性であり、t′1，t′2，t1，t2…は各光電子パル
スP′1，P′2，P1，P2…が入力されるまでの時間、
V′1，V′2，V1，V2…は上記各時間に対応した電
圧である。図中、各TACの動作特性図は、スタ
ートパルスを同一の基準時間として重なつて示さ
れている。また、第２図中、２５…は集光レン
ズ、２６は減光手段、２７はフイルタ−又は分光
器、２８はパルス整形回路、２９は切換スイツチ
である。この切換スイツチ２９を切換えると、
TAC１９はTAC２０と並列に接続され、合計８
チヤンネルのTACで発光波形Ｉ(t)を測定できる。
但し、この場合、励起光パルス波形Ｐ(t)は同時
には測定できない。従つて、切換スイツチ２８を
切換えることによつて励起光のパルス幅に比べて
寿命の十分長い発光を多チヤンネルTACの特色
を生かし効率よく測定することもでき、より広範
な試料の測定に適用することができる。
本発明に係る試料の発光寿命測定装置は上記の
ように構成したため次の如き効果がある。
ように構成したため次の如き効果がある。
発光波形Ｉ(t)と励起光パルス波形Ｐ(t)を同
時に測定することができるため、測定時間が半
減できる。特にTACを多チヤンネルで構成す
ればそれによる測光効率の向上と相俟つて著し
く測定時間が短縮でき、実用的効果が高い。
時に測定することができるため、測定時間が半
減できる。特にTACを多チヤンネルで構成す
ればそれによる測光効率の向上と相俟つて著し
く測定時間が短縮でき、実用的効果が高い。
測定時間が短縮できるため、励起光の経時の
影響が少ないばかりか、たとえば励起光の波形
が多少変化しても、その効果が、同時に測定さ
れる励起光パルス波形Ｐ(t)と発光波形Ｉ(t)に
反映されるので、デコンボリユーシヨンにより
高精度の発光寿命が得られる。
影響が少ないばかりか、たとえば励起光の波形
が多少変化しても、その効果が、同時に測定さ
れる励起光パルス波形Ｐ(t)と発光波形Ｉ(t)に
反映されるので、デコンボリユーシヨンにより
高精度の発光寿命が得られる。
構成的には、特開昭57−137843号公報に記載
の装置にビームスプリツタ１５、励起光パルス
波形測定用検出器１６及びTAC１９を付加し
たものであるから、上記従来装置にこれらの部
品を付加することによつて簡単に本発明装置に
改良できる。従つて、本発明は既存の装置の大
半の部分を利用できるので実施化が容易であ
る。またこの場合、従来装置においてTACが
多チヤンネルで構成されているなら、そのうち
の何個かを励起光パルス波形測定用TACとし
て用いることもでき、その場合は従来装置にビ
ームスプリツタと光検出器を、更にコンピユー
タからのTACコントロール信号の多少の修正
により本発明を実施できる。
の装置にビームスプリツタ１５、励起光パルス
波形測定用検出器１６及びTAC１９を付加し
たものであるから、上記従来装置にこれらの部
品を付加することによつて簡単に本発明装置に
改良できる。従つて、本発明は既存の装置の大
半の部分を利用できるので実施化が容易であ
る。またこの場合、従来装置においてTACが
多チヤンネルで構成されているなら、そのうち
の何個かを励起光パルス波形測定用TACとし
て用いることもでき、その場合は従来装置にビ
ームスプリツタと光検出器を、更にコンピユー
タからのTACコントロール信号の多少の修正
により本発明を実施できる。
一方、本発明装置は、励起光パルス波形測定
用と発光波形測定用という２組のTACを使用
しているので、実施例に示したように両者を切
換スイツチの切換によつて並列的に接続できる
ように構成することにより、励起光パルス幅に
比べて発光寿命の十分長いものの測定を行なう
場合は、装置内に含む全てのTACを一系列と
して有効に使用することにより、著しく測光効
率を上げることもでき試料に応じた測定態様で
実施できるという効果も併せもつ。
用と発光波形測定用という２組のTACを使用
しているので、実施例に示したように両者を切
換スイツチの切換によつて並列的に接続できる
ように構成することにより、励起光パルス幅に
比べて発光寿命の十分長いものの測定を行なう
場合は、装置内に含む全てのTACを一系列と
して有効に使用することにより、著しく測光効
率を上げることもでき試料に応じた測定態様で
実施できるという効果も併せもつ。
第１図は従来の試料の発光寿命測定装置を示す
ブロツク図、第２図は本発明の一実施例を示すブ
ロツク図、第３図は第２図の装置による発光寿命
測定動作を説明する図、第４図は第２図の装置に
よつて測定したデータを示す図である。 １１…発光源、１２…スタートパルス発生手
段、１５…分配手段（ビームスプリツタ）、１６
…励起光パルス波形測定用光検出器、１７…試
料、１８…発光波形測定用光検出器、１９…励起
光パルス波形測定用TAC、２０…発光波形測定
用TAC。
ブロツク図、第２図は本発明の一実施例を示すブ
ロツク図、第３図は第２図の装置による発光寿命
測定動作を説明する図、第４図は第２図の装置に
よつて測定したデータを示す図である。 １１…発光源、１２…スタートパルス発生手
段、１５…分配手段（ビームスプリツタ）、１６
…励起光パルス波形測定用光検出器、１７…試
料、１８…発光波形測定用光検出器、１９…励起
光パルス波形測定用TAC、２０…発光波形測定
用TAC。
Claims (1)
- １ パルス光の発光源と、該パルス光の基準時間
としてのスタートパルスの発生手段と、前記発光
源のパルス光を２分する手段と、該手段にて分配
された一方の光を受けて光電子パルスを発する励
起光パルス波形測定用の光検出器と、他方の光を
照射された試料からの発光を受けて光電子パルス
を発する発光波形測定用の光検出器と、前記各光
検出器に各別に接続された励起光パルス波形測定
用TAC及び発光波形測定用TACを備え、各TAC
は前記スタートパルスによつて同時に動作すると
共に、励起光パルス波形測定用TACは励起光パ
ルス測定用光検出器から送られる光電子パルスを
ストツプパルスとして、他方、発光波形測定用
TACは発光波形測定用光検出器から送られる光
電子パルスをストツプパルスとして夫々動作開始
時から光電子パルスを受けるまでの時間に比例し
た電圧を出力するようにされ、もつて、両TAC
の出力信号を基にして得られたヒストグラムをデ
コンボルーシヨンの演算処理に従つて発光寿命を
測定するようにしたことを特徴とする試料の発光
寿命測定装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57183244A JPS5972049A (ja) | 1982-10-19 | 1982-10-19 | 試料の発光寿命測定装置 |
| US06/539,680 US4600306A (en) | 1982-10-19 | 1983-10-06 | Apparatus for measuring the luminous lifetime of a sample |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57183244A JPS5972049A (ja) | 1982-10-19 | 1982-10-19 | 試料の発光寿命測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5972049A JPS5972049A (ja) | 1984-04-23 |
| JPH0225136B2 true JPH0225136B2 (ja) | 1990-05-31 |
Family
ID=16132295
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57183244A Granted JPS5972049A (ja) | 1982-10-19 | 1982-10-19 | 試料の発光寿命測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4600306A (ja) |
| JP (1) | JPS5972049A (ja) |
Families Citing this family (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6110745A (ja) * | 1984-06-26 | 1986-01-18 | Horiba Ltd | 発光寿命測定装置 |
| JPH06100532B2 (ja) * | 1986-08-25 | 1994-12-12 | 浜松ホトニクス株式会社 | 高空間・時間分解計測装置 |
| US5264905A (en) * | 1992-04-27 | 1993-11-23 | Grumman Aerospace Corporation | Electro-optic automated test equipment |
| DE4420572C2 (de) * | 1994-06-03 | 1999-02-04 | Hartmut Dr Rer Nat Lucht | Vorrichtung zur Bestimmung der Konzentration von fluoreszierenden Stoffen |
| JPH09196752A (ja) * | 1995-11-15 | 1997-07-31 | Bunshi Bio Photonics Kenkyusho:Kk | 測光装置 |
| US6766183B2 (en) | 1995-11-22 | 2004-07-20 | Medtronic Minimed, Inc. | Long wave fluorophore sensor compounds and other fluorescent sensor compounds in polymers |
| DE19718016A1 (de) * | 1997-04-29 | 1998-11-05 | Drexhage Karl Heinz | Verfahren zur optischen Detektion von Analytmolekülen in einem natürlichen biologischen Medium |
| US6055451A (en) * | 1997-12-12 | 2000-04-25 | Spectrx, Inc. | Apparatus and method for determining tissue characteristics |
| CA2343401C (en) | 1998-09-11 | 2009-01-27 | Spectrx, Inc. | Multi-modal optical tissue diagnostic system |
| US6342701B1 (en) * | 1999-07-08 | 2002-01-29 | International Business Machines Corporation | Time correlated photon counting |
| JP4459390B2 (ja) * | 2000-06-08 | 2010-04-28 | 浜松ホトニクス株式会社 | 蛍光測定方法、蛍光測定装置及びそれを用いた試料評価装置 |
| WO2002066986A2 (en) * | 2001-02-15 | 2002-08-29 | Medtronic Minimed, Inc. | Polymers functionalized with fluorescent boronate motifs |
| US7045361B2 (en) | 2001-09-12 | 2006-05-16 | Medtronic Minimed, Inc. | Analyte sensing via acridine-based boronate biosensors |
| US7332700B2 (en) * | 2004-04-26 | 2008-02-19 | Bruce Masato Ishimoto | Photomultiplier tube with dynode modulation for photon-counting |
| KR100885927B1 (ko) * | 2007-10-16 | 2009-02-26 | 광주과학기술원 | 형광수명 측정 방법 및 장치 |
| FR3002651B1 (fr) * | 2013-02-22 | 2015-04-10 | Areva Nc | Procede d'asservissement du gain et du zero d'un dispositif de comptage de photons a pixels multiples, et systeme de mesure de lumiere mettant en œuvre ce procede |
| WO2022030062A1 (ja) * | 2020-08-06 | 2022-02-10 | 浜松ホトニクス株式会社 | 時間計測装置、蛍光寿命計測装置、及び時間計測方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57137843A (en) * | 1981-02-20 | 1982-08-25 | Hokkaido Daigaku | Measuring apparatus of luminescence life of sample |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3918812A (en) * | 1973-05-07 | 1975-11-11 | Us Energy | Diagnoses of disease states by fluorescent measurements utilizing scanning laser beams |
-
1982
- 1982-10-19 JP JP57183244A patent/JPS5972049A/ja active Granted
-
1983
- 1983-10-06 US US06/539,680 patent/US4600306A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57137843A (en) * | 1981-02-20 | 1982-08-25 | Hokkaido Daigaku | Measuring apparatus of luminescence life of sample |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4600306A (en) | 1986-07-15 |
| JPS5972049A (ja) | 1984-04-23 |
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