JP7412331B2 - 光電子増倍管を用いて光子を計数するための方法 - Google Patents
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Description
501 顕微鏡光学系を有する顕微鏡スタンド
502 サンプルステージ
503 サンプル
504 光学アダプタ
505 共焦点走査および検出ユニット
506 照明装置
507 照明ファイバ
508 レーザー光源
509 制御ユニット
510 制御プログラムとプレゼンテーションプログラムとを備えた計算機
511 光電子増倍管を有するセンサアセンブリ
Claims (11)
- 光電子増倍管(511)を用いて光子を計数するための方法であって、
入射する光子は、前記光電子増倍管(511)によって生成された生信号においてパルスを生成し、
前記生信号をノイズ信号および/またはオフセット分だけ補正することによって、前記生信号から測定信号が得られ、
前記測定信号は、アナログの積分された測定信号を形成するために、時間に関して積分され、
前記アナログの積分された測定信号の値を、前記光電子増倍管に入射した所定の数の光子に対応する積分比例値と比較することによって、前記光電子増倍管(511)に入射する光子の数が求められ、
前記所定の数の光子は、1つの光子を含み、
前記積分比例値は、積分された較正信号を形成するために前記光電子増倍管(511)によって生成された生信号から得られる較正信号を時間に関して積分した値と、前記時間の間に前記光電子増倍管(511)に入射した光子の数と、によって決定され、
積分された測定信号の値が積分比例値に達するかまたは積分比例値を上回るたびに、積分比例値が積分された測定信号から減算され、
積分された測定信号から積分比例値が減算されるたびに光子の数の計数値を増分することにより、光子の数が決定される、
方法。 - 前記ノイズ信号もしくは前記オフセットは、前記光電子増倍管(511)によって暗所で生成される生信号から得られる、
請求項1記載の方法。 - 前記較正信号は、前記光電子増倍管(511)に入射した光子の数を決定するために、予め定められた光子検出閾値と比較される、
請求項1または2記載の方法。 - 正規化された積分比例値が決定され、前記積分比例値は、前記光電子増倍管(511)に入射した単一の光子に対応する、
請求項1から3までのいずれか1項記載の方法。 - 前記較正信号は、前記光電子増倍管(511)が低い光子レートでかつ/または暗所で生成された生信号から得られる、
請求項1から4までのいずれか1項記載の方法。 - 前記光電子増倍管は、半導体またはシリコン光電子増倍管である、
請求項1から5までのいずれか1項記載の方法。 - 顕微鏡システム、共焦点顕微鏡システム(500)または走査型共焦点顕微鏡システムで使用される、
請求項1から6までのいずれか1項記載の方法。 - 光電子増倍管(511)と計算ユニット(509,510)とからなるアセンブリであって、請求項1から7までのいずれか1項記載の方法を実施するように構成された、アセンブリ。
- コンピュータプログラムであって、請求項8記載のアセンブリに、請求項1から7までのいずれか1項記載の方法を実施させる命令を含んでいる、コンピュータプログラム。
- 機械可読記憶媒体であって、前記機械可読記憶媒体上に記憶された請求項9記載のコンピュータプログラムを備えている、機械可読記憶媒体。
- 顕微鏡システム、共焦点顕微鏡システム(500)または走査型共焦点顕微鏡システムであって、請求項8記載のアセンブリを備えている、顕微鏡システム、共焦点顕微鏡システム(500)または走査型共焦点顕微鏡システム。
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