JPH03181825A - 光子計数測光装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は光子計数測光装置、特に光電子増倍管を利用し
て生物、化学発光等の微弱光を測光し、光子計数法によ
り発光試料の分析を行う光子計数測光装置に関する。

［従来の技術］ 光電子放出現象を利用した測光装置において、光電子増
倍管、光導電セル、イメージオルシコン、イオンチェン
バ等が光の検出、測定用に使用されている。

特に、光電子増倍管（フォトマルチプライヤ−以下ＰＭ
Ｔと称する）は、光電陰極と出力電極との間に１つ以上
の２次電子放出電極（ダイノード）を有しており、高い
電流増幅率が得られる光電管である。

従って、このＰＭＴは特に高い光電感度や入射光強度の
変化に対する早い応答性が要求される場合に微弱光束測
定用電子管として広範囲に利用されている。

そして、この種のＰＭＴを用いた測光装置では、主に光
子計数法により発光試料の分析が行われている。

すなわち、この光子計数法は、光がＰＭＴの光電面に入
射され、光電子が放出されるとき光が極微弱であれば、
光子数に比例した出力が検出されるという原理に基づい
た微弱光検出方法である。

・一般に、この種の光子計数法による測光装置としては
、その回路構成は大別してＰＭＴのパルス信号を直接、
計数するフォトンカウンティング方式と、ＰＭＴのパル
ス出力信号の直流成分から所定のパルス信号に変換、出
力して計数する直流成分測定方式とのいずれかが採用さ
れており、両者共に広範囲に利用されている。

具体的には、このような光子計数法における測光装置は
、例えばＰＭＴに波高値弁別器と計数回路とを組み合わ
せることにより構成され、微弱光の測定を行っている。

すなわち、前記フォトンカウンティング方式を用いた測
光装置は、入射光子による光電子の１つ１つに対応する
ＰＭＴ出力パルス信号を直接計数するために、高感度に
微弱光を測光することができる特徴がある。従って、極
微弱光の測光に対しては高精度に測定が可能である。

ところが、このフォトンカウンティング方式では、該Ｐ
ＭＴ出力パルス数を電気的に調整制御することが不可能
であり、このために、発光試料から発せられる光が比較
的大きな入射光に対しては、複数のパルスが連続して出
力されてしまい、これにより測光回路の応答速度が悪く
なり、正常なパルス数を計数することができなくなると
いう欠点があった。

この結果、発光試料の発光量が多い時には、高精度測定
が不可能であった。

そこで、従来において発光量の多い発光試料の分析に対
しては、直流成分測定方式が使用されている。

すなわち、この直流成分測定方式を用いた測光装置では
、前記ＰＭＴの出力する出力パルス数は前記フォトンカ
ウンティング値の１／１０〜１／１００程度と少なくな
るが、前記高圧電源回路のＰＭＴ入力端子を調整するこ
とにより、電気的にＰＭＴ出力の直流電流を調整して、
所定の電圧レベルに変換することができる。そして、こ
の電圧レベルに応じたパルス数を出力し、これを計数し
ているので、入射光量の多い発光試料を測定することが
可能となる。

以上のようなことから従来の測光装置としては、上記フ
ォトンカウンティング方式と直流成分測定方式とが利用
され、被測定物である発光試料の発光量に応じて測定者
は両者のいずれかを選択し、使い分けていた。

すなわち、測定者は予め発光試料の発する発光量を試料
の種類等から予測し、該発光量が微弱光の場合にはフォ
トンカウンティング方式の測光装置を、強い光量の場合
は直流成分測定方式の測光装置をそれぞれ用意して所望
の発光試料の光量を測定していた。

［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、従来の測光装置である前記フォトンカウ
ンティング方式や直流成分測定方式のいずれか一方の１
台の装置だけでは、極微弱光から強い光まで発する発光
試料の測定を行うことは不可能であった。

すなわち、前述したフォトンカウンティング方式では、
極微弱光測定専用のため強い光を発する試料に対しては
高精度測定に対応できず、測定可能とする方法としては
、光学的な絞り機構やフィルタ等を付加することにより
、ＰＭＴの入射光量を可変させることが考えられている
。

しかし、機構的に装置が複雑になり、大型化するなどの
問題点があり、更に装置自体のＳ／Ｎ比が悪化するとい
う問題があった。

また、直流成分測定方式では、極微弱光に対しては著し
く低い直流レベルを検出することとなるので、どうして
も感度不足となる問題点があった。

従って、従来においては、極微弱光から強い光の測光に
対しては予めフォトンカウンティング方式と直流成分測
定方式との２台の測光装置を準備し、光量に応じていず
れかの方式を使用しなければ測定できなかった。

また、このために、測定者は異なる測定方式の２台の測
光装置を取り扱わなければならず、測定に手間と時間が
かかっていた。

発明の目的 本発明は上記従来の課題に鑑みなされたものであり、そ
の目的は、フォトンカウンティング回路と直流成分測定
回路とを並設して、極微弱光から強い光までの光量を発
する発光試料などに対しても１台の装置で測光可能とす
る光子計数測光装置を提供することにある。

［課題を解決するための手段］ 上記目的を達成するために、本発明に係る光子計数測光
装置によれば、発光試料の発光を光電子増倍管に入射さ
せ、該光電子増倍管により光量に応じた所定数及び波高
値のパルス信号を出力し、該パルス信号を計数して光量
を測定する光子計数測光装置において、前記パルス信号
のうち所定波高値以上を所定のパルスを出力するフォト
ンカウンティング回路と、前記パルス信号の光量に応じ
た直流レベルを検出し、この直流レベルに対応したパル
ス間隔のパルス信号を出力する直流成分測定回路と、前
記フォトンカウンティング回路と前記直流成分測定回路
との少なくともいずれか一方又は双方の出力するパルス
信号を人力し、該パルス信号を計数して測光値を出力す
る測光値出力回路とを有することを特徴としている。

［作用］ 以上のような構成としたので本発明によれば、発光試料
の発光量が予めわかっている場合において、発光試料か
ら発せられる光量が極微弱光のときは、前記フォトンカ
ウンティング回路を動作させ、所定波高値以上のパルス
信号を出力し、また、発光試料から発せられる光量が強
い光の時には直流成分測定回路を動作させ、光量に応じ
た直流レベルを検出し所定のパルス信号を出力する。

従って、前記測光値出力回路により、前記発光試料の発
する光量に応じて前記フォトンカウンティング回路と前
記直流成分測定回路との少なくとも一方又は双方の出力
するパルス信号を計数して、測光値を出力することがで
きる。

この結果、上記フォトンカウンティング回路と直流成分
測定回路との並設により、１台の測光装置で発光試料の
発する極微弱光から強い光までの光量を高精度に測定す
ることができる。

［実施例］ 以下、図面に基づいて本発明に係る測光装置の好適な実
施例を説明する。

第１図は本発明の第１実施例であり、フォトンカウンテ
ィング回路と直流成分測定回路と測光値出力回路とから
構成される装置 図において、発光試料１０は、生物発光、化学発光等の
試料特有の極微弱光１０ａや比較的強い光１０ｂを発す
る液体である。

ＰＭＴｌ　２は、発光試料が発する光１０ａ。

１０ｂを入射する光電子増倍管であり、該入射される光
量に応じた所定数及び波高値のパルスをパルス信号１２
ａ，１２ｂとして出力する。

高圧電源回路１４は、前記ＰＭＴ１２に高圧電圧、すな
わちＰＭＴ電圧１４ａを供給しており、ＰＭＴｌ２の出
力するパルス信号１２ａ，１２ｂの波高値を可変するこ
とができ、所定値に設定している。

次に、発光試料の極微弱光１０ａを測光するフォトンカ
ウンティング回路２０は、図示の如くプリアンプ２２と
コンパレータ２４と波形整形回路２６とで構成され、コ
ンデンサＣ１により前記ＰＭＴ１２に接続されている。

コンデンサＣ１は、前記ＰＭＴ１２の出力するＰＭＴ出
力信号１２ａをフォトンカウンティング回路２０へ人力
するための結合コンデンサであり、該パルス信号１２ａ
の直流成分を除去している。

そして、このコンデンサＣ１はプリアンプ２２に接続さ
れている。

プリアンプ２２は、ＰＭＴ出力の微弱電流を所定振幅レ
ベルまで増幅する増幅回路である。

コンパレータ２４は、前記ブリアンプ出力の増幅された
電流値を入力し、設定されている電流波高値Ｖｔと比較
して該波高値Ｖｔ以上の電流値を出力している。

波形整形回路２６は、前記コンパレータ２４の出力する
Ｖｔ以上の電流値を波形整形して所定のパルス電圧信号
を出力する。

また、発光試料１０の比較的強い光１０ｂを測光する直
流成分測定回路としてのＣ−Ｐコンバータ３０は、ＬＰ
（ｏ−バス）フィルタ回路３２と積分回路３４とコンパ
レータ３６、ワンショット回路３８、ドライブ回路４０
及びスイッチング素子４２により構成されている。

このＣ−Ｐ　（カレント−パルス数）コンパレータ３０
は、前記ＰＭＴ１２に接続され、ＬＰフィルタ回路３２
にＰＭＴ出力信号１２ｂを入力している。

ＬＰフィルタ回路３２は、抵抗Ｒ１，Ｒ２及びコンデン
サＣ２で構成され、入力端の抵抗Ｒ１、出力側に抵抗Ｒ
２とが直列接続され、該抵抗Ｒ１゜Ｒ２間の接続点から
コンデンサＣ２を介してアースに接続されている。これ
により、人力されるＰＭＴ出力信号１２ｂの直流成分か
ら光量に応じた直流レベルを検出している。

積分回路３４は、オペアンプ３３と積分コンデンサＣ３
とで構成され、前記抵抗Ｒ２に接続されているオペアン
プ３３の反転入力端子（−）は、積分コンデンサＣ３を
介して出力端子に接続され、他方の非反転入力端子（＋
）はアースに接続されている。

この積分回路３４は、前記ＬＰフィルタ回路３２らの直
流電圧レベルを入力し、該積分コンデンサＣ３の充放電
により、所定レベルの三角波積分電圧を出力する。

スイッチング素子４２は、前記積分コンデンサＣ３と並
列に接続され、積分波形を生成するために、スイッチン
グ（ＯＮｌｏＦＦ）して、該積分コンデンサＣ３の充放
電を行うスイッチング回路である。例えば、ＴｒやＦＥ
Ｔ等が用いられる。

コンパレータ３６は、前記積分回路３４の出力する積分
電圧を入力し、設定されている電圧レベルＶｔと比較す
る比較器である。

ワンショット回路３８は、前記コンパレータ３６の出力
する比較結果を入力し、これに対応して所定のパルス信
号を出力する、例えば単安定マルチバイブレータ等であ
る。

ドライブ回路４０は、前記ワンショット回路３８の出力
するパルス信号に応じて前記スイッチング素子４２を０
Ｎ１０ＦＦ駆動するための回路である。すなわち、この
ドライブ回路４０により、該スイッチング素子４２の駆
動を停止して積分回路３４の動作を停止させることがで
きる。

測光値出力回路５０は、切替スイッチ５２とカウンタ回
路５４、ＣＰＵ回路５６とから構成されており、前記フ
ォトンカウンティング回路２０やＣ−Ｐコンバータ３０
の出力するパルス信号を該切替スイッチ５２を介して人
力させ、表示回路６０へ測光値信号として出力している
。

すなわち、この測光値出力回路５０は、この切替スイッ
チ５２の一方の人力接点ａには前記波形整形回路２６の
出力端子が接続され、他方の人力接点すには前記ワンシ
ョット回路３８の出力端子が接続されている。

そして、該切替スイッチ５２の出力端子はカウンタ回路
５４に接続され、このカウンタ回路５４の出力はＣＰＵ
回路５６に接続されている。

切替スイッチ５２は、前記フォトンカウンティング回路
２０か、ｃ−ｐコンバータ３０かのどちらかの出力する
パルス信号を選択するための２人力接点１出力スイッチ
である。

ここで、前記フォトンカウンティング回路２０を選択し
て切替えた場合は、切替スイッチ５２から停止制御信号
５２ａがＣ−Ｐコンバータ３０のドライブ回路４０へ出
力される。

次に、第１図に示されている測光装置の回路動作を各部
の波形が示されている第２図を用いて説明する。

第２図は第１図に示されている各回路部で出力されるパ
ルス波形であり、横軸に時間ｔ１縦軸に電流■又は電圧
レベル■を示す。

第１図において、まず、発光試料１０を測光する場合、
測定者は発光試料の種類あるいは量等により極微弱光か
ら強い光までの発光量を予測して、切替スイッチ５２を
切替える。すなわち、例えば発光量が極微弱光である場
合を以下、説明する。

この場合、切替スイッチ５２をａ側にしてフォトンカウ
ンティング回路２０と測光値出力回路５０とを接続する
。そして、発光試料１０を注入すると極微弱光１０ａが
発せられ、ＰＭＴ１２から所定のパルス信号１２ａが出
力される。この出力パルスはｍ２図（ａ）に示されてい
るＰＭＴ出力電流分布となる。

そして、このパルス信号１２ａは、直流成分を含んでお
り、１つ１つの光電子に対応する出力パルスのみをフォ
トンカウンティング回路２０に供給するため、直流分を
カットするコンデンサＣ１を介してこのプリアンプ２２
に該パルス信号１２ａが入力される。

そして、プリアンプ２２により所定レベルに増幅された
ＰＭＴ出力電流分布は、第２図（ｂ）のようになり、コ
ンパレータ２４に入力され、図に示すようにコンパレー
タ２４が設定された所定の波高値レベルＶｔと比較し、
入力されるパルス信号１２ａのＶｔ以上の波高値パルス
信号２４ａのみを出力する。

更に、該パルス信号２４ａは、波形整形回路２６により
波形整形されて第２図（ｅ）のような光量に応じたパル
ス信号に変換される。

これにより、前記フォトンカウンティング回路２０から
出力されるこのパルス信号がＤＪ光値出力回路５０の切
替スイッチ５２を介し、カウンタ回路５４により計数さ
れる。

そして、この計数結果を更にＣＰＵ回路５６で画像信号
にＤ／Ａ　（デジタル・アナログ）変換し、所望の測光
値を出力して表示回路６０に画像表示させる。これによ
り、極微弱光１０ａを発する発光試料の分析が行われる
。

なお、前記切替スイッチ５２は、フォトンカウンティン
グ回路２０の動作時には停止制御信号５２ａをＣ−Ｐコ
ンバータ回路３０のドライブ回路４０に出力して動作を
一時停止させている。

これにより、高感度、高帯域の微弱電流を増幅するプリ
アンプ２２へのＣ−Ｐコンバータ３０から発するスイッ
チングノイズによる影響を防止している。

また、フォトンカウンティング動作時において、高圧電
源回路１４の高圧電圧１４ａは、一定のＰＭＴ出力パル
ス波高値をＰＭＴ１２から出力させるため、例えばＣＰ
Ｕ回路５６の出力する制御信号により予め設定された一
定値に保持されている。

次に、発光試料の発する光量が多い場合の測定において
、例えば強い光を発する発光試料の光量を測光する場合
について、以下説明する。

まず、この場合には前記切替スイッチ５２を前記ａ側か
らｂ側に切替え、１ｌｌｌ光値出力回路５０をｃ−ｐコ
ンバータ３０に接続する。

そして、発光試料１０を注入すると、強い光が発せられ
、ＰＭＴ１２からその光量に応じたパルス信号１２ｂが
出力される。

すなわち、このＰＭＴ出力電流のパルス信号１２ｂは、
１つ１つの光子に対応する出力パルスのランダムな集ま
りであり、入射光量が多くなると各パルス間の間隔が狭
くなり、最終的に直流に近い状態になる。

そして、この出力パルス信号１２ｂはＬＰフィルタ３２
に入力され、これにより該パルス信号に含まれでいる直
流成分だけを通過させ、これに基づいて、例えば直流電
圧に変換して光量に応じた所定の直流電圧レベルが検出
される。

ここで、もちろん、この出力パルス信号１２ｂは、フォ
トンカウンティング回路２０にはコンデンサＣ１により
直流成分が人力されない。

そして、この直流電圧レベルが積分回路３４に人力され
る。

すなわち、オペアンプ３３の反転入力端子（−）に直流
電圧が供給されると、積分コンデンサＣ３に電圧が充電
され、ここで、充電電圧が次段のコンパレータ３６に入
力される。充電時には、スイッチング素子４２は、スイ
ッチオフ状！！（ＯＦＦ）であるものとする。

そして、この充電電圧レベルはコンパレータ３６に設定
されている設定レベルＶｒと比較され、Ｖ「と一致する
と該コンパレータ３６は、ワンショット回路３８にトリ
ガ検出信号を出力する。

これにより、ワンショット回路３８が第２図（ｅ）に示
す所定パルス幅のパルス信号を−発出カし、測光値出力
回路５０へ人力させると共に、ドライブ回路４０にも入
力させる。

更に、そのパルス信号は、ドライブ回路４０を介し５．
スイッチング素子４２に供給され、スイッチオフ状態（
ＯＦＦ）からオン状態（ＯＮ）に変わる。

ここで、もちろん、ドライブ回路４０には、切替スイッ
チ５２からの停止制御信号５２ａが人力されておらず、
該ドライブ回路４０は動作状態にある。

この結果、積分コンデンサＣ３に充電された電圧は放電
し始め、第２図（ｅ）に示すようにコンパレータ３５で
設定されている電圧レベルＶｒでリセットされる。

これによって積分コンデンサＣ３の充放電電圧は三角波
の積分電圧となる。

以上のようにして、ｃ−ｐコンバータ３０ではＰＭＴ出
力電流の直流成分により積分コンデンサＣ３の充放電に
より積分され、その積分電圧が所定レベルＶｒに達する
と、スイッチング素子４２がオン・オフされ、リセット
されてリセットパルスが該Ｖｒの設定に応じて所定の周
期で繰り返し出力される。

そして、このＣ−Ｐコンバータ３０の出力は、該リセッ
トパルス、すなわちワンショット回路３８の出力するパ
ルス信号となり、単位時間当りの出力パルス数（リセッ
トする回数）は、Ｃ−Ｐコンバータ３０の入力端子に比
例することになり、光量に応じたパルス信号を出力する
ことができる。

そして、該パルス信号は、測定値出力回路５０に人力さ
れ、同様にして切替スイッチ５２を介し、カウンタ回路
５４で計数され、更にＣＰＵ回路５６を介して測光値出
力が表示回路６０に画像表示される。

また、Ｃ−Ｐコンバータ動作時において、高圧電源回路
１４のＰＭＴ高圧電圧１４ａは、光量に応じてＣ−Ｐコ
ンバータの出力パルス数が適切な範囲の値となるように
前記ＣＰＵ回路５６で調整制御することができる。これ
により、比較的強い光量に対しても測光が可能となる。

なお、フォトンカウンティング回路２０及びＣ−Ｐコン
バータ３０は、共に入力電流が微弱なため、装置として
例えば、人力ラインに寄生容量や浮遊容量などが加わる
と発振してしまったり、また両回路を並列接続した場合
には、入力容量やインピーダンス不整合による相互干渉
を起こしたりする不具合が生じる。

また、切替スイッチ５２で両回路を切替える場合には、
配線等による寄生容量やスイッチ自体のリーク電流等が
発生する。

このようなことから、本実施例では前記直流カットコン
デンサＣ１やＬＰフィルタ回路３２により、上記のよう
な点を改善することが可能となり、パルス成分と直流成
分とを有効に分離し、かつ両回路の相互干渉を防止して
いる。

以上のようにして本実施例によれば、フォトンカウンテ
ィング回路２０及びＣ−Ｐコンバータ３０は、共にＰＭ
Ｔ１２の入射光量に比例した数のパルス信号を出力し、
単一のカウンタ回路５４、ＣＰＵ回路５６、表示回路６
０をスイッチ又はゲート回路等により切、替えて使用す
ることが可能となり、その分、回路構成を共通化して簡
略することができる。もちろん、カウンタ回路５４をそ
れぞれ独立に設けて計数しても良い。

次に、第３図には、ｃ−ｐコンバータ回路の他の実施例
が示されている。

このＣ−Ｐコンバータ７０は、ｃ−ｐコンバータの回路
形式として積分コンデンサＣ４がコンパレータ３３の反
転入力端子（−）とアース間に並列接続され構成されて
いる。

これにより、積分コンデンサＣ４にはＬＰフィルタ回路
３２の出力する直流電圧が入力されて充電が行われる。

従って、前述した第１図の積分回路３４と同様な動作に
より、積分された電圧出力を得ることができる。

そして、このＣ−Ｐコンバータ７０は前述したＣ−Ｐコ
ンバータ３０よりもオペアンプ３３を削除でき、簡単な
回路構成で直流成分の測定が可能である。

また、更に第４図には、直流成分測定回路として他の実
施例が示されており、前記Ｃ−Ｐコンバータ３０．７０
に代わってＩ−Ｖ変換回路８０とＡ／Ｄコンバータ８２
とで構成された直流電流測定回路８４が示されている。

図において、Ｉ−Ｖ変換回路８０はオペアンプ８４と帰
還抵抗Ｒ３で構成されており、この回路８０は該オペア
ンプ８４の反転入力端子（−）と出力端子間に帰還抵抗
Ｒ３が接続され、非反転入力端子（＋）は、アースに接
続されている。

これにより、前述した前記ＬＰラフイル回路３２から人
力される光量に応じた所定レベルの直流電流ＩをＶｏ−
ＩＸＲ３により、電圧レベルにＶｏに変換している。

Ａ／Ｄコンバータ８２は、前記１−Ｖ変換回路８０の出
力電圧を人力して、該電圧レベルに応じた所定のパルス
信号を生成し、かつ計数し、計数結果として測光値を出
力する。

測光値出力回路９０は、前述した測光値出力回路７０と
基本的には同一機能の回路であり、フォトンカウンティ
ング回路２０の出力するパルス信号を計数するカウンタ
回路５４とＣＰＵ回路５７とから構成されている。すな
わち、ＣＰＵ回路５７は、前記Ａ／Ｄコンバータ８２及
び該カウンタ回路５４の出力するパルス信号を人力し、
両回路のいずれか一方又は双方の計数結果を測光値出力
信号として出力する。

これにより、本実施例では、前述した第１図に示されて
いる切替スイッチ５４を設けること無く、例えばＣＰＵ
回路５７の制御によってフォトンカウンティング回路２
０及び直流電流測定回路８４のどちらか一方又は双方の
出力結果、すなわち極微弱光、強い光の測光値結果を表
示回路６０上に画像表示することができる。

［発明の効果］ 以上のようなフォトンカウンティング回路と直流成分測
定回路とを並設した本発明に係る光子計数測光装置によ
れば、極微弱光から比較的強い光までの光量を発する各
種発光試料を１台の測光装置で簡単な操作により測定す
ることができる。

更に、並設されている前記各回路の出力信号を測光値出
力回路で共通に測光するので、回路構成を大幅に簡略化
でき、かつ光学系の機構も共通化できるので、装置自体
を小型化、軽量化できる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明に係る第１実施例を示す光子計数測光
装置の回路構成図、 第２図は、前記第１実施例に示す回路構成の各回路部の
出力波形を示した説明図、 第３図は、前記第１実施例に示すＣ−Ｐコンバータの他
の実施例を示した回路構成図、第４図は、本発明に係る
第２実施例を示す光子計数測光装置の回路構成図である
。 １０　・・・　発光試料 １０ａ・・・　極微弱光 １０ｂ・・・　強い光 １２　・・・　ＰＭＴ １２ａ、１２ｂ・・・　ＰＭＴ出力パルス信号２０　・
・・　フォトンカウンティング回路２２　・・・　プリ
アンプ ２４゜ ６ ０ ２ ４ ８ ０ ２ ５０゜ ２ ４ ６ Ｉ ２ Ｃ３゜ Ｒ１゜ ３ ３６　・・・　コンパレータ ・・・　波形整形回路 ・・・　Ｃ−Ｐコンバータ ・・・　ＬＰラフイル回路 ・・・　積分回路 ・・・　ワンショット回路 ・・・　ドライブ回路 ・・・　スイッチング素子 ９０　・・・　測光値出力回路 ・・・　切替スイッチ ・・・　カウンタ回路 ・・・　ＣＰＵ回路 ・・・　結合コンデンサ ・・・　コンデンサ Ｃ４・・・　積分コンデンサ Ｒ２・・・　抵抗 ・・・　帰還抵抗。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 発光試料の、発する光を光電子増倍管に入射させ、該光
   電子増倍管により光量に応じた所定の数及び波高値のパ
   ルス信号を出力し、該パルス信号を計数して光量を測定
   する光子計数測光装置において、前記パルス信号のうち
   所定波高値以上のパルスを出力するフォトンカウンティ
   ング回路と、前記パルス信号の光量に応じた直流レベル
   を検出し、この直流レベルに対応したパルス間隔のパル
   ス信号を出力する直流成分測定回路と、 前記フォトンカウンティング回路と前記直流成分測定回
   路との少なくともいずれか一方又は双方の出力するパル
   ス信号を入力し、該パルス信号を計数して測光値を出力
   する測光値出力回路と、を有することを特徴とする光子
   計数測光装置。