JPH04110619A - 測光用の装置 - Google Patents

測光用の装置

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JPH04110619A
JPH04110619A JP22661290A JP22661290A JPH04110619A JP H04110619 A JPH04110619 A JP H04110619A JP 22661290 A JP22661290 A JP 22661290A JP 22661290 A JP22661290 A JP 22661290A JP H04110619 A JPH04110619 A JP H04110619A
Authority
JP
Japan
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light
output
light source
counter
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Pending
Application number
JP22661290A
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English (en)
Inventor
Hitoshi Tozawa
戸沢 均
Yoichi Hosoi
細井 洋一
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Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
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Publication date
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  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、点滅する光源の測光値を正しく測定するた
めの測光用の装置に関するものである。
[従来の技術] 点滅する光(断続光)を安定に測定する場合がある。こ
の点滅光の光源はダイナミック点灯するたとえば蛍光表
示管や液晶デイスプレィである。点滅した光に対し、そ
の点滅周期の整数倍の時間でデータをサンプリングすれ
ば平均値応答することになり、正しい測定が可能となる
。そのため、サンプリング時間、すなわちA/D変換器
の積分時間を可変するようになっている測光器があった
[発明が解決しようとする課題] しかし、光源の点滅周期が分からないと適切なサンプリ
ング時間を設定できない。そこでオペレータは点滅周期
を調べるためには、別途オシロスコープを用意し、測光
器のアナログ出力を観察する必要が生じる。このように
することは、実験室レベルではともかく、野外などのフ
ィールドでオシロスコープを準備するのは煩雑である。
[発明の目的] この発明は、光源の直流光はもちろん、点滅した光に対
し、特別な知識や操作をオペレータに強いることな(、
平均値応答して光源の光を測定できる測光用の装置を提
供することを目的とする。
[発明の要旨] この発明は特許請求に記載の測光用の装置を要旨として
いる。
[課題を解決するための手段] 第1図と第2図の実施例を参照する。
受光部2は、光源りの点滅する光を受光して光電出力6
を出力する。
レベル設定手段1はある一定のレベルの出力を発生する
コンパレータ3は、レベル設定手段1の出力と受光部2
の光電出力6を比較する。
カウンタ4は、コンパレータ3からのコンパレータ出カ
フを所定時間計数し、この計数値と所定時間の関係で光
源りの点滅周波数を求める。
積分手段5は、その点滅周波数に応じて、受光部2の光
電出力6をサンプリングする。
[作用コ 光源りの点滅周波数を検知して、この点滅周波数に応じ
て、受光部2の光電出力6をサンプリングする時間を適
切に自動的に設定する。
[実施例] 第1図を参照する。
この発明の測光用の装置は、スライスレベル設定手段1
、受光部2、コンパレータ3、カウンタ4および積分手
段5を有している。
受光部2は、光源りの光を受光するものである。光源り
はたとえば発光ダイオードである。受光部2はたとえば
ホトダイオードである。受光部2から得られる光電出力
6は、コンパレータ3に入る。またスライスレベル設定
手段1からスライスレベル8がコンパレータ3に入る。
コンパレータ3は第2図のようにこれらスライスレベル
8と光電出力6を比較する。
コンパレータ3にはカウンタ4が接続されている。カウ
ンタ4と受光部2は積分手段5に接続されている。積分
手段5は、たとえばサンプルホールド回路や積分時間可
変型A/Dコンバータを採用できる。
[操作] まず光源りを点灯する。光源りの光は未知の周波数で点
滅している。受光部2は、この光を受けて波形の光電出
力6の電圧をコンパレータ3に与える。スライスレベル
設定手段lは、所定のスライスレベル8の電圧をコンパ
レータ3に与える。
コンパレータ3は、第2図に示すように光電出力6の電
圧とスライスレベル8の電圧を比較する。これにより、
パルス形のコンパレータ出カフが生じる。このコンパレ
ータ出カフはカウンタ4に入り、カウンタ4は、ある一
定の時間にコンパレータ3からいくつのパルス状のコン
パレータ出カフが入ったかを計数する。これにより、カ
ウンタ4は、この−定の時間とコンパレータ出カフの数
の関係から、光源りの点滅周波数を求めることができる
この点滅周波数に応じて、積分手段5は自動的にサンプ
リング時間を設定する。このため、受光部2の光電出力
6は積分手段5によりそのサンプリング時間中サンプリ
ングされる。これにより、光源りの点滅する光を測光で
きる。
ところでこの発明は上述の実施例に限定されない。たと
えば、光源もしくは被測定光源は発光ダイオードに限ら
ず液晶デイスプレィや蛍光表示管などのダイナミック点
灯しているデイスプレィデイバイスの光を測定すること
もできる。
また、スライスレベル設定手段としては、■所定の電圧
に設定できる方式、■ピーク検出回路と分圧凹路を組み
合わせる方式が採用できる。
積分手段としては、■積分型A/D変換器の積分時間を
制御する方式、■積分回路における積分コンデンサを切
り換える方式、■サンプルホールド回路のサンプリング
時間を制御する方式などが採用できる。
[発明の効果] この発明によれば、点滅周波数が未知の被測定物であっ
ても、自動的に周波数を検知し、適切なサンプリング時
間を設定し、平均値応答した測光をする。発光ダイオー
ドや液晶デイスプレィのようにダイナミック点灯してい
るデイスプレィデイバイスを測定する際、点滅周波数を
気にすることなく簡単に測定でき第1図はこの測定用の
装置を示すブロック図、第2図は受光部からの光電出力
とスライスレベル設定手段からのスライスレベルとによ
り得られるコンパレータ出力の波形を示す図である。
1・・・・・・スライスレベル設定手段2・・・・・・
受光部 3・・・・・・コンパレータ 4・・・・・・カウンタ 5・・・・・・積分手段 6・・・・・・光電出力 フ・・・・・・コンパレータ出力 8・・・・・・スライスレベル

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  光源(L)の点滅する光を受光して光電出力(6)を
    出力する受光部(2)と、ある一定の出力を発生する設
    定手段(1)と、設定手段(1)の一定の出力と受光部
    (2)の光電出力(6)を比較するコンパレータ(3)
    と、コンパレータ(3)からの出力(7)を所定時間計
    数し、この計数と所定時間との関係で光源(L)の点滅
    周波数を求めるカウンタ(4)と、その点滅周波数に応
    じて受光部(2)の光電出力(6)をサンプリングする
    積分手段(5)と、を備える測光用の装置。
JP22661290A 1990-08-30 1990-08-30 測光用の装置 Pending JPH04110619A (ja)

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JPH04110619A true JPH04110619A (ja) 1992-04-13

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06137947A (ja) * 1992-10-27 1994-05-20 Takenaka Komuten Co Ltd 特定パルス光の受光強度の高増幅測定装置
WO2006126544A1 (ja) * 2005-05-23 2006-11-30 Availvs Corporation 発光体の輝度測定方法とその装置
JP2009175125A (ja) * 2007-10-31 2009-08-06 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte Ltd 光の特性の周波数計数への変換
JP5197907B2 (ja) * 2000-08-03 2013-05-15 浜松ホトニクス株式会社 光検出装置

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