JPS59151039A - 光散乱式粒子計数装置 - Google Patents
光散乱式粒子計数装置Info
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- JPS59151039A JPS59151039A JP58025338A JP2533883A JPS59151039A JP S59151039 A JPS59151039 A JP S59151039A JP 58025338 A JP58025338 A JP 58025338A JP 2533883 A JP2533883 A JP 2533883A JP S59151039 A JPS59151039 A JP S59151039A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/1012—Calibrating particle analysers; References therefor
-
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- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1429—Signal processing
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、光散乱式粒子計数装置に関するものであり
、とりわけ、内部自動校正手段を有する光散乱式粒子計
数装置に関するものである。
、とりわけ、内部自動校正手段を有する光散乱式粒子計
数装置に関するものである。
従来、たとえばレーザ光源によるこの種の装置にあって
は、レーザの共振ミラーから漏れる光をゲインを調整す
る内部自動校正を行なうもの桑あった。このような従来
の装置は、構成が比較的簡単である利点を有するものの
、光源からの光出力の変動のみしか検知することができ
ず、集光光学系のひずみ、汚染等による集光率の変化や
、受光光電変換素子の経時変化等は検知できないという
欠点があった。
は、レーザの共振ミラーから漏れる光をゲインを調整す
る内部自動校正を行なうもの桑あった。このような従来
の装置は、構成が比較的簡単である利点を有するものの
、光源からの光出力の変動のみしか検知することができ
ず、集光光学系のひずみ、汚染等による集光率の変化や
、受光光電変換素子の経時変化等は検知できないという
欠点があった。
また、以上の装置において、レーザ出力を増大するため
に共振ミラーの反射率を上昇させると、共振ミラーの反
射率が温度などの外的条件により変化するおそれがあり
、このような反射率の変化は、共振ミラーから漏れる光
の強度変動を招くこととなり、この漏れる光を自動校正
の基準として使用し得なくなるという欠点が存在してい
た。
に共振ミラーの反射率を上昇させると、共振ミラーの反
射率が温度などの外的条件により変化するおそれがあり
、このような反射率の変化は、共振ミラーから漏れる光
の強度変動を招くこととなり、この漏れる光を自動校正
の基準として使用し得なくなるという欠点が存在してい
た。
この発明は、以上のような従来のものの欠点を解消しよ
うとするもので、粒子検出領域における粒子による散乱
光がパルス光であるのに対し、当該領域における空気分
子による散乱光は直流光である点に着目し、空気分子に
よる散乱光を、粒子による散乱光と同一の集光系、光電
変換素子により測光し、この測光値を用いて粒子計数系
の自動校正を行なうようにした光散乱式粒子計数装置を
提供することを目的とするものである。
うとするもので、粒子検出領域における粒子による散乱
光がパルス光であるのに対し、当該領域における空気分
子による散乱光は直流光である点に着目し、空気分子に
よる散乱光を、粒子による散乱光と同一の集光系、光電
変換素子により測光し、この測光値を用いて粒子計数系
の自動校正を行なうようにした光散乱式粒子計数装置を
提供することを目的とするものである。
以下、この発明を第１図に示ず一実施例について説明す
る。図において、照射領域（図示せず）からの散乱光を
受光する光電素子１の出力に前置増幅器２か接続されて
おり、前置増幅器２の出力にはパルス信号と直流信号を
分割してそれぞれ増幅する第１の増幅器３と第２の増幅
器４が接続されている。パルス信号を増幅する第１の増
幅器３には波高分析回路５が接続されており、粒子の計
数系を構成している。直流信号を増幅する第２の増幅器
４には比較回路６が接続され、比較回路６の出力はライ
ン７を経て光電素子１の高電圧＃８に接続され、自動校
正系を構成している。
る。図において、照射領域（図示せず）からの散乱光を
受光する光電素子１の出力に前置増幅器２か接続されて
おり、前置増幅器２の出力にはパルス信号と直流信号を
分割してそれぞれ増幅する第１の増幅器３と第２の増幅
器４が接続されている。パルス信号を増幅する第１の増
幅器３には波高分析回路５が接続されており、粒子の計
数系を構成している。直流信号を増幅する第２の増幅器
４には比較回路６が接続され、比較回路６の出力はライ
ン７を経て光電素子１の高電圧＃８に接続され、自動校
正系を構成している。
つぎに、動作について説明する。光電素子１に照射領域
から、粒子による散乱光であるパルス光と空気分子によ
る散乱光である直流光が入射する。
から、粒子による散乱光であるパルス光と空気分子によ
る散乱光である直流光が入射する。
したがって前置増幅器２の出力（Ａ点）は、第２［９（
Ａ）のようにグランドレベルＧすなわち出力Ｏを基線と
じて、直流光の成分ａにパルス光の成分（ｂ−ａ）が重
畳された波形となる。このような波形でなるＡ点の出力
は、第１、第２の増幅器３、で ／Ｉ八へルス信号と直流信号に分割してそれぞれ増幅さ
れ、第１、第２の増幅器３．４の出力（Ｂ点、０点）は
それぞれ第２図（１３）、（Ｃ）に示す波形となる。
Ａ）のようにグランドレベルＧすなわち出力Ｏを基線と
じて、直流光の成分ａにパルス光の成分（ｂ−ａ）が重
畳された波形となる。このような波形でなるＡ点の出力
は、第１、第２の増幅器３、で ／Ｉ八へルス信号と直流信号に分割してそれぞれ増幅さ
れ、第１、第２の増幅器３．４の出力（Ｂ点、０点）は
それぞれ第２図（１３）、（Ｃ）に示す波形となる。
そうじて、第１の増幅器３の出力であるパルス信号は波
高分析回路５に入力され、本来の粒子計数が行なわれる
。一方、第２の増幅器４の出力である直流信号は比較回
路６に入力され、ここで基準電圧さ比較され、直流信号
ａが、任意に設定した基準値と一致するように高電圧源
８を自動的に調整する信号か比較回路６から高電圧源８
に加えら、ｉｌ、る。
高分析回路５に入力され、本来の粒子計数が行なわれる
。一方、第２の増幅器４の出力である直流信号は比較回
路６に入力され、ここで基準電圧さ比較され、直流信号
ａが、任意に設定した基準値と一致するように高電圧源
８を自動的に調整する信号か比較回路６から高電圧源８
に加えら、ｉｌ、る。
かように高電圧源８を調整するのは、光電素子１か光電
子増倍管の場合である。光電素子がフ第１・ダイオード
あるいは光電子増倍管などのときは、ライン９を介して
前置増幅器２のゲインを制御することにより、同一の目
的が達せられる。
子増倍管の場合である。光電素子がフ第１・ダイオード
あるいは光電子増倍管などのときは、ライン９を介して
前置増幅器２のゲインを制御することにより、同一の目
的が達せられる。
なお、光源は、必ずしもレーザに限るものではないが、
迷光を除去して空気分子による散乱光を検出し易い点、
レーザによるものがもっとも好ましい。
迷光を除去して空気分子による散乱光を検出し易い点、
レーザによるものがもっとも好ましい。
以上のように、この発明は、試料空気中の粒子を検出す
る照射領域に、同時に発生する空気分子の散乱光を検出
して自動校正するようにしたので、集光光学系の集光率
の変化や光電素子の経時変化等を含めて総合的な自動校
正を自動的に達成することができ、その効果は犬なるも
のがある。しかも本発明によれば、測定中に於ける校正
が可能となる為：校正の為の測定中断等の不都合を排除
でき、長時間連続測定に適したものとなる。
る照射領域に、同時に発生する空気分子の散乱光を検出
して自動校正するようにしたので、集光光学系の集光率
の変化や光電素子の経時変化等を含めて総合的な自動校
正を自動的に達成することができ、その効果は犬なるも
のがある。しかも本発明によれば、測定中に於ける校正
が可能となる為：校正の為の測定中断等の不都合を排除
でき、長時間連続測定に適したものとなる。
第１図はこの発明の一実施例の結線図、第２図は同じく
各部の出力波形図である。 １・光電素子、２・前置増幅器、３．４ 第１、第２の
増幅器、５ 波高分析器、６ 比較回路、８ 高電圧源
。
各部の出力波形図である。 １・光電素子、２・前置増幅器、３．４ 第１、第２の
増幅器、５ 波高分析器、６ 比較回路、８ 高電圧源
。
Claims (3)
- （１）照射領域からの散乱光を受光する光電素子と、こ
の光電素子の出力を粒子による散乱光に対応するパルス
信号と空気分子による散乱光に対応する直流信号吉に分
割してそれぞれ増幅する第１、第２の増幅器と、この第
１の増幅器の出力に接続されだ波高分析回路と、前記第
２の増幅器の出力に接続され基準電圧との比較により前
記直流信号を一定に保持するための信号を出力する比較
回路を備えてなる光散乱式粒子計数装置。 - （２）光電素子が高電圧源に接続された光電子増倍管で
あって、比較回路の出力が前記高電圧源に接て 続さイＶ謀る特許請求の範囲第１項記載の光散乱式％式
％ - （３）光電素子がフォトダイオード、あるいは光電子増
倍管であって、比較回路の出力が前記光電素子の出力に
接続された前置増幅器に接続されてなる特許請求の範囲
第１項記載の光散乱式粒子計数装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58025338A JPS59151039A (ja) | 1983-02-17 | 1983-02-17 | 光散乱式粒子計数装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58025338A JPS59151039A (ja) | 1983-02-17 | 1983-02-17 | 光散乱式粒子計数装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59151039A true JPS59151039A (ja) | 1984-08-29 |
| JPH0230659B2 JPH0230659B2 (ja) | 1990-07-09 |
Family
ID=12163121
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58025338A Granted JPS59151039A (ja) | 1983-02-17 | 1983-02-17 | 光散乱式粒子計数装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59151039A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6387548U (ja) * | 1986-11-26 | 1988-06-07 | ||
| JPH0597038U (ja) * | 1992-06-09 | 1993-12-27 | タツタ電線株式会社 | 圧力スイッチ装置 |
| JP2006105905A (ja) * | 2004-10-08 | 2006-04-20 | Fuji Electric Systems Co Ltd | 微粒子測定装置 |
-
1983
- 1983-02-17 JP JP58025338A patent/JPS59151039A/ja active Granted
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6387548U (ja) * | 1986-11-26 | 1988-06-07 | ||
| JPH0528515Y2 (ja) * | 1986-11-26 | 1993-07-22 | ||
| JPH0597038U (ja) * | 1992-06-09 | 1993-12-27 | タツタ電線株式会社 | 圧力スイッチ装置 |
| JP2006105905A (ja) * | 2004-10-08 | 2006-04-20 | Fuji Electric Systems Co Ltd | 微粒子測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0230659B2 (ja) | 1990-07-09 |
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