JPH0113527B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0113527B2 JPH0113527B2 JP954283A JP954283A JPH0113527B2 JP H0113527 B2 JPH0113527 B2 JP H0113527B2 JP 954283 A JP954283 A JP 954283A JP 954283 A JP954283 A JP 954283A JP H0113527 B2 JPH0113527 B2 JP H0113527B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- infrared
- output
- sample
- measured
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 11
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 9
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 6
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000003915 air pollution Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(a) 発明の技術分野
本発明は空気汚染やガス洩れの検知、測定に使
用される赤外線透過率測定方式の改良に関す。
用される赤外線透過率測定方式の改良に関す。
(b) 従来技術と問題点
空気汚染の度合や、ガス洩れの検知に、赤外線
の透過がガスの成分濃度によつて異なる点を利用
して第１図にブロツクダイヤグラムに示すような
赤外線透過率測定装置が使用されている。第２図
は第１図の測定系の各部における信号波形の時間
的経過を示す。
の透過がガスの成分濃度によつて異なる点を利用
して第１図にブロツクダイヤグラムに示すような
赤外線透過率測定装置が使用されている。第２図
は第１図の測定系の各部における信号波形の時間
的経過を示す。
赤外線半導体レーザ１からの赤外線は、チヨツ
パーモータ２によつて回転するチヨツパー３によ
つて断続されてコリメート光学系４により平行光
線となつてビームスプリツタ５に至り、その透過
光は被測定試料６を透過して集光光学系７を経て
赤外線検知器８によつて電気信号に変換される。
パーモータ２によつて回転するチヨツパー３によ
つて断続されてコリメート光学系４により平行光
線となつてビームスプリツタ５に至り、その透過
光は被測定試料６を透過して集光光学系７を経て
赤外線検知器８によつて電気信号に変換される。
一方ビームスプリツタ５で反射した赤外線は集
光光学系９を経て赤外線検知器１０によつて電気
信号に変換される。
光光学系９を経て赤外線検知器１０によつて電気
信号に変換される。
赤外線検知器８と１０との出力の比較により被
測定試料６の透過率が測定されるのだが、小型で
高出力の得られる赤外線半導体レーザ１はその出
力を一定に保持することが難しく、第２図Ｂに示
すように若干変動し、従つて又、同図B′に示す
ように試料６を透過した赤外線の出力も変動して
おり、従つて単に両出力の比較では意味がなく、
同一時点における出力比較を行わなければならな
い。同一時点とはいえ、試料６透過のため若干の
遅れΔtが生じる故に、この時間差を顧慮した時
点、例えば、第２図の波形Ｂ，B′におけるａ，
a′点あるいはｂ，b′点における両者の出力比較を
行わなければならず、このため赤外線検知器８，
１０の出力は夫々増幅器１１，１２により同一増
幅度で増幅された後、ラツチ回路１３，１４によ
つて例えば試料６を通過しない出力波形Ｂのｂ
点、試料６を透過した出力波形B′のb′点の出力が
摘出され、比較される。
測定試料６の透過率が測定されるのだが、小型で
高出力の得られる赤外線半導体レーザ１はその出
力を一定に保持することが難しく、第２図Ｂに示
すように若干変動し、従つて又、同図B′に示す
ように試料６を透過した赤外線の出力も変動して
おり、従つて単に両出力の比較では意味がなく、
同一時点における出力比較を行わなければならな
い。同一時点とはいえ、試料６透過のため若干の
遅れΔtが生じる故に、この時間差を顧慮した時
点、例えば、第２図の波形Ｂ，B′におけるａ，
a′点あるいはｂ，b′点における両者の出力比較を
行わなければならず、このため赤外線検知器８，
１０の出力は夫々増幅器１１，１２により同一増
幅度で増幅された後、ラツチ回路１３，１４によ
つて例えば試料６を通過しない出力波形Ｂのｂ
点、試料６を透過した出力波形B′のb′点の出力が
摘出され、比較される。
即ち、チヨツパ信号Ａがタイミング制御回路１
５に付与されて形成されるラツチタイミングパル
スＣおよびC′（ＣとC′間にΔtの時間差あり）を
夫々上記ｂ，b′時点に制御して所定時点の出力
Ｄ，D′を得て、これを透過率演算回路１６に付
与し、タイミング制御回路１５より付与される演
算タイミングＥ時点における両出力Ｄ，D′の比
較から得られる透過率が表示部１７に表示：ある
いは記録される。
５に付与されて形成されるラツチタイミングパル
スＣおよびC′（ＣとC′間にΔtの時間差あり）を
夫々上記ｂ，b′時点に制御して所定時点の出力
Ｄ，D′を得て、これを透過率演算回路１６に付
与し、タイミング制御回路１５より付与される演
算タイミングＥ時点における両出力Ｄ，D′の比
較から得られる透過率が表示部１７に表示：ある
いは記録される。
上記公知方式においては、既述のように赤外線
出力Ｂ，B′における夫々ａ，a′点あるいはｂ，
b′点における比較測定を行わなければならず、正
確にΔt時間の遅延をもつてラツチタイミングｃ，
c′を行うことは実際には決して容易ではない。更
にこの遅延時間Δtが試料６を取り巻く環境変化
によつて必ずしも、一定ではなく、一旦正確に保
持し得た後も後日、再調整の必要が生じる欠点が
あり、測定結果の信頼性を維持することが極めて
難しい。
出力Ｂ，B′における夫々ａ，a′点あるいはｂ，
b′点における比較測定を行わなければならず、正
確にΔt時間の遅延をもつてラツチタイミングｃ，
c′を行うことは実際には決して容易ではない。更
にこの遅延時間Δtが試料６を取り巻く環境変化
によつて必ずしも、一定ではなく、一旦正確に保
持し得た後も後日、再調整の必要が生じる欠点が
あり、測定結果の信頼性を維持することが極めて
難しい。
(c) 発明の目的
本発明は従来方式における上記欠点を除去して
信頼性の高い測定結果の得られるこの種の測定方
式を得ることをその目的とする。
信頼性の高い測定結果の得られるこの種の測定方
式を得ることをその目的とする。
(d) 発明の構成
上記本発明の目的は、被測定試料を通過する赤
外線と然らざる赤外線とが、共に赤外線検知器に
よつて電気信号に変換された後、夫々ピークホー
ルド回路を経て、比較測定される本発明による測
定方式によつて達成される。
外線と然らざる赤外線とが、共に赤外線検知器に
よつて電気信号に変換された後、夫々ピークホー
ルド回路を経て、比較測定される本発明による測
定方式によつて達成される。
即ち、赤外線出力に変動があり、従つて又赤外
線検知器出力にも変動があつてもピークホールド
回路は付与される変動出力の最大値を保持するた
めに、特別に遅延時間Δtを正確に配慮する必要
がなくなる。従つて、勿論遅延時間Δtの時間的
変化に対する対策も無視できる。
線検知器出力にも変動があつてもピークホールド
回路は付与される変動出力の最大値を保持するた
めに、特別に遅延時間Δtを正確に配慮する必要
がなくなる。従つて、勿論遅延時間Δtの時間的
変化に対する対策も無視できる。
ピークホールド回路としては公知の抵抗、コン
デンサーからなる微分回路、あるいは集積回路で
構成されるデイジタルピークホールド回路が利用
できる。
デンサーからなる微分回路、あるいは集積回路で
構成されるデイジタルピークホールド回路が利用
できる。
(e) 発明の実施例
以下図面に示す実施例により、本発明の要旨を
具体的に説明する。全図を通じ同一符号は同一対
象物を示す。
具体的に説明する。全図を通じ同一符号は同一対
象物を示す。
第３図、第４図は、夫々第１図、第２図に準じ
て本発明方式のブロツクダイヤグラムと各部の信
号波形の時間的経過を示す。
て本発明方式のブロツクダイヤグラムと各部の信
号波形の時間的経過を示す。
本発明方式においては、直接の赤外線出力、お
よび試料６を通過した赤外線出力が夫々、赤外線
検知器８，１０、増幅器１１，１２を経た出力
Ｂ，B′はピークホールド回路１８，１９に付与
され、チヨツパ信号Ａより得られるピーク検出／
ホールドタイミング信号Ｃによつてピークホール
ドされて出力Ｄ，D′となつて透過率演算回路１
６に入力され、演算タイミング信号Ｅ時点でその
比が求められる。
よび試料６を通過した赤外線出力が夫々、赤外線
検知器８，１０、増幅器１１，１２を経た出力
Ｂ，B′はピークホールド回路１８，１９に付与
され、チヨツパ信号Ａより得られるピーク検出／
ホールドタイミング信号Ｃによつてピークホール
ドされて出力Ｄ，D′となつて透過率演算回路１
６に入力され、演算タイミング信号Ｅ時点でその
比が求められる。
この比より求められる透過率が直接表示部１７
に表示、あるいは記録させてもよいが、図示例の
ように、測定期間毎に比較測定される出力をＮ回
加算平均回路２０を介して表示、あるいは記録さ
せることによつて含まれる雑音による測定結果の
精度低下を防止することができる。
に表示、あるいは記録させてもよいが、図示例の
ように、測定期間毎に比較測定される出力をＮ回
加算平均回路２０を介して表示、あるいは記録さ
せることによつて含まれる雑音による測定結果の
精度低下を防止することができる。
(f) 発明の効果
以上説明のように、本発明方式においては赤外
線半導体レーザの出力の変動に特別の配慮を払う
必要なく、精度の高い測定結果を得るという著し
い工業的効果を備えている。
線半導体レーザの出力の変動に特別の配慮を払う
必要なく、精度の高い測定結果を得るという著し
い工業的効果を備えている。
第１図は従来より使用される測定方式の一例を
ブロツクダイヤグラムで示し、第２図は該方式各
部における信号波形の時間的経過を、第３図は本
発明の１実施例をブロツクダイヤグラムで示し、
第４図は該実施例の各ブロツクにおける信号波形
の時間的経過を示す。 図において１は赤外線半導体レーザ、３はチヨ
ツパー、６は被測定試料、８，１０は赤外線検知
器、１３，１４はラツチ回路、１５はタイミング
制御回路、１６は透過率演算回路、１７は表示
部、１８，１９はピークホールド回路、２０はＮ
回加算平均回路を示す。
ブロツクダイヤグラムで示し、第２図は該方式各
部における信号波形の時間的経過を、第３図は本
発明の１実施例をブロツクダイヤグラムで示し、
第４図は該実施例の各ブロツクにおける信号波形
の時間的経過を示す。 図において１は赤外線半導体レーザ、３はチヨ
ツパー、６は被測定試料、８，１０は赤外線検知
器、１３，１４はラツチ回路、１５はタイミング
制御回路、１６は透過率演算回路、１７は表示
部、１８，１９はピークホールド回路、２０はＮ
回加算平均回路を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 同一の赤外線光源よりチヨツピングされて被
測定試料を通過する赤外線と然らざる赤外線と
が、共に赤外線検知器によつて電気信号に変換さ
れた後、夫々ピーク・ホールド回路を経て比較測
定されることを特徴とする赤外線透過率測定方
式。 ２ 測定期間毎にピーク・ホールド回路を経て、
比較測定される出力がＮ回加算平均回路を経て、
表示、あるいは記録されることを特徴とする特許
請求の範囲第１項記載の赤外線透過率測定方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58009542A JPS59135349A (ja) | 1983-01-24 | 1983-01-24 | 赤外線透過率測定方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58009542A JPS59135349A (ja) | 1983-01-24 | 1983-01-24 | 赤外線透過率測定方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59135349A JPS59135349A (ja) | 1984-08-03 |
| JPH0113527B2 true JPH0113527B2 (ja) | 1989-03-07 |
Family
ID=11723153
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58009542A Granted JPS59135349A (ja) | 1983-01-24 | 1983-01-24 | 赤外線透過率測定方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59135349A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010054436A (ja) * | 2008-08-29 | 2010-03-11 | Topcon Corp | 植物用センサ装置 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0646358U (ja) * | 1992-11-30 | 1994-06-24 | 佳英 柴野 | 洗浄装置 |
| KR102498059B1 (ko) * | 2017-12-28 | 2023-02-10 | (주)보부하이테크 | 배기관 내 부산물 측정 장치 모듈 및 부산물 측정 방법 |
-
1983
- 1983-01-24 JP JP58009542A patent/JPS59135349A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010054436A (ja) * | 2008-08-29 | 2010-03-11 | Topcon Corp | 植物用センサ装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59135349A (ja) | 1984-08-03 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| GB1387060A (en) | Apparatus for determining correct pyrometer readings with steam or other interference present | |
| JPH0113527B2 (ja) | ||
| US5617212A (en) | Open-path gas monitoring | |
| US4737652A (en) | Method for the periodic determination of a quantity to be measured, using a reference signal | |
| JPS63182550A (ja) | ガスセンサ | |
| JP4790330B2 (ja) | ガス濃度測定装置 | |
| EP0261452A2 (en) | Gas analyzer | |
| JPS597330B2 (ja) | 高炉々況判定方法 | |
| US4884888A (en) | Method and device for contactless optical measurement of distance changes | |
| JPH01235834A (ja) | レーザ方式ガスセンサにおける信号処理方式 | |
| JPH06201828A (ja) | レーザ測距装置 | |
| JPS63103939A (ja) | 赤外線水分計 | |
| JPS60158719A (ja) | 波形整形方法 | |
| JPH0116037Y2 (ja) | ||
| JPS5915089Y2 (ja) | レ−ザ出力監視装置 | |
| JP2977373B2 (ja) | 光ファイバ温度分布センサ | |
| JP2577456B2 (ja) | 厚さ測定装置 | |
| JPS60250240A (ja) | 熱定数測定装置 | |
| JPH0476484A (ja) | レーザレーダ装置 | |
| JPH06109549A (ja) | 赤外線撮像装置 | |
| JPH0823312A (ja) | 信号処理装置 | |
| JPH0321837A (ja) | 分布型光ファイバー温度センサーおよび温度測定方法 | |
| JPH02145933A (ja) | 光ファイバ線状温度分布測定装置 | |
| JPH0626940A (ja) | 温度分布測定方法及びその装置 | |
| JPS6063406A (ja) | 放射線厚さ計 |