JPS60158719A - 波形整形方法 - Google Patents
波形整形方法Info
- Publication number
- JPS60158719A JPS60158719A JP1338684A JP1338684A JPS60158719A JP S60158719 A JPS60158719 A JP S60158719A JP 1338684 A JP1338684 A JP 1338684A JP 1338684 A JP1338684 A JP 1338684A JP S60158719 A JPS60158719 A JP S60158719A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- waveform
- input
- mimic
- waveform shaping
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/01—Shaping pulses
- H03K5/04—Shaping pulses by increasing duration; by decreasing duration
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Pulse Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は放射線測定等の分野において、入力信号を所定
の時間幅のパルス信号に整形するための波形整形方法に
関する。
の時間幅のパルス信号に整形するための波形整形方法に
関する。
第１図は本発明の波形整形方法を適用することのできる
放射線測定装置の一般的な構成を表わしたものである。
放射線測定装置の一般的な構成を表わしたものである。
線源１１から放出される放射線は、この装置の検出器１
２によって検出される。検出出力はμ■程度の微弱なも
のである。プリアンプ１３はこれをｍＶ程度に増幅する
と共に、内蔵の２０回路で波形整形を行う。リニアアン
プ（メインアンプ）１４は、これを波高分析器等の測定
器１５に適合した電圧レベルまで増幅すると共に、測定
器１５に合わせて必要な波形整形を行う。
２によって検出される。検出出力はμ■程度の微弱なも
のである。プリアンプ１３はこれをｍＶ程度に増幅する
と共に、内蔵の２０回路で波形整形を行う。リニアアン
プ（メインアンプ）１４は、これを波高分析器等の測定
器１５に適合した電圧レベルまで増幅すると共に、測定
器１５に合わせて必要な波形整形を行う。
リニアアンプの波形整形方法には、遅延線を用いた波形
整形方法や、微分回路を用いた波形整形方法が存在して
いる。
整形方法や、微分回路を用いた波形整形方法が存在して
いる。
前者の方法では、終端を短絡させた遅延線を用い、入力
信号から遅延後の信号を差し引いてパルス信号の整形を
行う。
信号から遅延後の信号を差し引いてパルス信号の整形を
行う。
第２図はこの波形整形方法の原理を示したものである。
同図ａのようなパルス１７が発生したとすると、これを
基にして同図すのような遅延されたパルス信号１８を作
成し、両者の和として同図Ｃに示すパルス信号１９を得
る。
基にして同図すのような遅延されたパルス信号１８を作
成し、両者の和として同図Ｃに示すパルス信号１９を得
る。
ところがこの波形整形方法では、次のような問題がある
。
。
■パルス信号にノイズが重畳されているときは、このノ
イズが５倍に加算されることになり、Ｓ／Ｎ比が低下し
てしまう。
イズが５倍に加算されることになり、Ｓ／Ｎ比が低下し
てしまう。
■第３図ではその詳細を省略したが、例えば指数関数波
形についてはベースラインが正確に補正されず、アンダ
ーシュートが発生してしまう゛。
形についてはベースラインが正確に補正されず、アンダ
ーシュートが発生してしまう゛。
■パルス幅を任意に変えることが困難である。
後者の方法は、ＣＲによる微分回路を用いて、入力信号
を微分するというものである。
を微分するというものである。
第３図はこの波形整形方法の原理を示したものである。
同図２のようなパルス２０が発生したとするとこれを微
分し、同図すのようなパルス信号２１を作成し、波形整
形を行なう。
分し、同図すのようなパルス信号２１を作成し、波形整
形を行なう。
しかし、この波形整形方法にも、次のような問題がある
。
。
■微分後の波形整形には一般にガウシアンフィルタを用
いるために、微分を行なうことによるＳ／Ｎ比の低下が
無視できなくなる。
いるために、微分を行なうことによるＳ／Ｎ比の低下が
無視できなくなる。
■微分後の波形は、微分時定数を持った指数関数のため
に、尾を引き信号が完全にベースラインに戻るまでの時
間が無視できなくなる。すなわちシャープな特性を得る
ことができない。
に、尾を引き信号が完全にベースラインに戻るまでの時
間が無視できなくなる。すなわちシャープな特性を得る
ことができない。
■分解能と効率が、上の■、■の両者の互いに反する関
係にあり、目的によってどちらかを優先させなければな
らない。
係にあり、目的によってどちらかを優先させなければな
らない。
以上のように、従来の波形整形方法では、プリアンプか
ら得られる信号の精度や分解能や効率が損われるという
欠点があった。
ら得られる信号の精度や分解能や効率が損われるという
欠点があった。
本発明はこのような事情に鑑み、指数関数波形のように
予め波形の定まったパルス信号を基にして分解能、効率
を共に向上させながらも、短い時間幅のパルス信号を得
る波形整形方法を提供することをその目的とする。
予め波形の定まったパルス信号を基にして分解能、効率
を共に向上させながらも、短い時間幅のパルス信号を得
る波形整形方法を提供することをその目的とする。
本発明では、予め波形の定まった入力信号について、そ
の入力されたタイミングを検出し、この入力信号の波形
を模擬しかつ波高を調整した模擬信号を所定の遅延時間
経過後に発生させる。そしてこれら両者の信号の差をと
ることにより入力信号の波形を整形する。
の入力されたタイミングを検出し、この入力信号の波形
を模擬しかつ波高を調整した模擬信号を所定の遅延時間
経過後に発生させる。そしてこれら両者の信号の差をと
ることにより入力信号の波形を整形する。
以下実施例につき本発明の詳細な説明する。
第４図は本発明の波形整形方法を、実現するためのメイ
ンアンプの回路構成例を表わしたものである。この回路
の信号入力端子２４には、例えば第１図に示した放射線
測定装置のプリアンプ１３から信号２５が入力されるよ
うになっている。
ンアンプの回路構成例を表わしたものである。この回路
の信号入力端子２４には、例えば第１図に示した放射線
測定装置のプリアンプ１３から信号２５が入力されるよ
うになっている。
信号２５の波形は、その出力される回路装置の構成によ
って予め定まっていることが多い。例えばＣＲ微分回路
を備えたプリアンプを経た信号２５は、第５図（Ａ＞に
示すような微分波形と゛なっている。またホトフィード
バック型のプリアンプを経た信号２５は、同図（Ｂ 、
）に示すように、この信号２５が入力されるたびに信号
レベルが１段ずつ上昇する階段波形となっている。
って予め定まっていることが多い。例えばＣＲ微分回路
を備えたプリアンプを経た信号２５は、第５図（Ａ＞に
示すような微分波形と゛なっている。またホトフィード
バック型のプリアンプを経た信号２５は、同図（Ｂ 、
）に示すように、この信号２５が入力されるたびに信号
レベルが１段ずつ上昇する階段波形となっている。
信号入力端子２４に入力された信号２５は、演算器２６
を経た後、信号２７として信号出力端子２８に出力を開
始される。この一方で、信号２７はタイミングゲート２
９に供給され、その到来したタイミングが検出される。
を経た後、信号２７として信号出力端子２８に出力を開
始される。この一方で、信号２７はタイミングゲート２
９に供給され、その到来したタイミングが検出される。
検出信号３１は模擬信号発生器３２に供給される。
模擬信号発生器３２には信号２５が供給されるようにな
っており、検出信号３１の入力された後、所定の遅延時
間が経過した時点で模擬信号３３を発生する。模擬信号
３３の波形は、信号２５０波形の種類に応じて予め定め
られている。また模擬信号３３の出力開始時点における
信号のレベルは、 ′信号２５のこの時点でのレベルと
一致するように調整されている。例えば信号２５が第６
図ａに示すような波形であれば、模擬信号３３は同図す
に示すような波形となる。
っており、検出信号３１の入力された後、所定の遅延時
間が経過した時点で模擬信号３３を発生する。模擬信号
３３の波形は、信号２５０波形の種類に応じて予め定め
られている。また模擬信号３３の出力開始時点における
信号のレベルは、 ′信号２５のこの時点でのレベルと
一致するように調整されている。例えば信号２５が第６
図ａに示すような波形であれば、模擬信号３３は同図す
に示すような波形となる。
信号２５を時間ｔの関数ｆ （ｔ）で表わし、ΔＴの遅
延時間後に関数ｆ 、（ｔ ）を模擬した模擬信号３３
を作るとする。このとき、模擬信号３３は次の関数ｇ（
ｔ）で表わされる。
延時間後に関数ｆ 、（ｔ ）を模擬した模擬信号３３
を作るとする。このとき、模擬信号３３は次の関数ｇ（
ｔ）で表わされる。
演算器２６は以下のように両信号２５．３３の差をとり
、（ｉ−号２７を作成する。
、（ｉ−号２７を作成する。
ｆ （ｔ） −ｇ （ｔ）
このように、信号出力端子２８には、信号入力端子２４
に信号２５が入力されてから遅延時間ΔＴの間だけ、信
号２５の波形を出力し、それ以後の出力レベルは０とな
る。前記した第６図ａに示した信号２５に対しては、同
図Ｃに示す信号２７が作成されることになる。
に信号２５が入力されてから遅延時間ΔＴの間だけ、信
号２５の波形を出力し、それ以後の出力レベルは０とな
る。前記した第６図ａに示した信号２５に対しては、同
図Ｃに示す信号２７が作成されることになる。
実施例では放射線測定における波形整形について説明し
たが、本発明をこれ以外の用途に適用することができる
ことはもちろんである。
たが、本発明をこれ以外の用途に適用することができる
ことはもちろんである。
以上説明したように本発明によれば、各信号が入力され
るたびに一定時間だけこれらの信号を通過させる。この
結果として、過去に入力された信号の影響を立ち切るこ
とができ、次々と入力される各信号をシャープに波形整
形することができる。
るたびに一定時間だけこれらの信号を通過させる。この
結果として、過去に入力された信号の影響を立ち切るこ
とができ、次々と入力される各信号をシャープに波形整
形することができる。
すなわち各信号の波高を正しく測定することが可能であ
り、また計数率特性が良くなるので、更に強い線源等の
測定を行うことが可能となる。
り、また計数率特性が良くなるので、更に強い線源等の
測定を行うことが可能となる。
第１図は放射線測定装置の一般的な構成を示すブロック
図、第２図は従来の波形整形方法のうち遅延線を用いた
方法を説明するための各種波形図、第３図は同じ〈従来
の波形整形方法のうち微分回路を用いた方法を説明する
ための各種波形整形図、第４図は本発明の波形整形方法
を実施する回路の構成例を示したブロック図、第５図（
Ａ）〜（Ｃ）はこの回路に入力される信号の波形例を示
す各種波形図、第６図は波形整形の原理を示す各種波形
図である。 ２５・・・・・・信号（入力信号）、 ２６・・・・・・演算器、 ２７・・・・・・信号（整形後の信号）、２９・・・・
・・タイミングゲート、 ３２・・・・・・模擬信号発生器。 出 願 人 日本原子カ事業株式会社 代 理 人 弁理士 山 内 梅 雄 第２図 時閉 第６図 手続補正書 く自発） 昭和５９年３月７日 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 １、事件の表示 波形整形方法 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 氏名（名称） 日本原子力事業株式会社４、代理人 ６う１５１ ツき（３２（１）０９６９ ファクシミリ
（３２０）０９５２明細書の発明の詳細な説明の欄 図面 ６、補正の内容 ２ど−−へ。 、′・＼ （１）本願明細書第３ページ第３行目の「第３図」を「
第２図」と訂正する。 （２）同明細書第３ページ第１０行目の「同図２」を「
同図ａｊと訂正する。 （３）同明細書第４ページ第２行目の「両者の」を「両
者で」と訂正する。 （４）図面第３図を別紙の通りに訂正する。 手続補正書く方式） 昭和５９年４月２７日 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 １、事件の表示− 昭和５９年 特許願第１３３８６号 ２、発明の名称 波形整形方法 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 氏名（名称） 日本原子力事業株式会社４、代理人 ■１５１ 酋１（３２０）０９６９ ファクシミリ （
３，２０）０９５２住所 東京都渋谷区代々木２−１’
１−１２木村ビル７階昭和５９年４月２４日（発送日） ６、補正の対象 （１）本願明細書第８ページ第１３行目の［第５図（Ａ
）〜（Ｃ〉」を「第５図（Ａ）〜（Ｂ）」と訂正する。
図、第２図は従来の波形整形方法のうち遅延線を用いた
方法を説明するための各種波形図、第３図は同じ〈従来
の波形整形方法のうち微分回路を用いた方法を説明する
ための各種波形整形図、第４図は本発明の波形整形方法
を実施する回路の構成例を示したブロック図、第５図（
Ａ）〜（Ｃ）はこの回路に入力される信号の波形例を示
す各種波形図、第６図は波形整形の原理を示す各種波形
図である。 ２５・・・・・・信号（入力信号）、 ２６・・・・・・演算器、 ２７・・・・・・信号（整形後の信号）、２９・・・・
・・タイミングゲート、 ３２・・・・・・模擬信号発生器。 出 願 人 日本原子カ事業株式会社 代 理 人 弁理士 山 内 梅 雄 第２図 時閉 第６図 手続補正書 く自発） 昭和５９年３月７日 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 １、事件の表示 波形整形方法 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 氏名（名称） 日本原子力事業株式会社４、代理人 ６う１５１ ツき（３２（１）０９６９ ファクシミリ
（３２０）０９５２明細書の発明の詳細な説明の欄 図面 ６、補正の内容 ２ど−−へ。 、′・＼ （１）本願明細書第３ページ第３行目の「第３図」を「
第２図」と訂正する。 （２）同明細書第３ページ第１０行目の「同図２」を「
同図ａｊと訂正する。 （３）同明細書第４ページ第２行目の「両者の」を「両
者で」と訂正する。 （４）図面第３図を別紙の通りに訂正する。 手続補正書く方式） 昭和５９年４月２７日 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 １、事件の表示− 昭和５９年 特許願第１３３８６号 ２、発明の名称 波形整形方法 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 氏名（名称） 日本原子力事業株式会社４、代理人 ■１５１ 酋１（３２０）０９６９ ファクシミリ （
３，２０）０９５２住所 東京都渋谷区代々木２−１’
１−１２木村ビル７階昭和５９年４月２４日（発送日） ６、補正の対象 （１）本願明細書第８ページ第１３行目の［第５図（Ａ
）〜（Ｃ〉」を「第５図（Ａ）〜（Ｂ）」と訂正する。
Claims (1)
- 予め波形の定まった入力信号についてその入力タイミン
グを検出し、所定の遅延時間経過後に、この入力信号の
波形を模擬しかつ波高を調整した模擬信号を発生させ、
これら両者の信号の差をとることにより前記入力信号の
波形を整形する波形整形方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1338684A JPS60158719A (ja) | 1984-01-30 | 1984-01-30 | 波形整形方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1338684A JPS60158719A (ja) | 1984-01-30 | 1984-01-30 | 波形整形方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60158719A true JPS60158719A (ja) | 1985-08-20 |
Family
ID=11831653
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1338684A Pending JPS60158719A (ja) | 1984-01-30 | 1984-01-30 | 波形整形方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60158719A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6488390A (en) * | 1987-09-30 | 1989-04-03 | Shimadzu Corp | Radiation pulse processing circuit |
| JP2008002920A (ja) * | 2006-06-22 | 2008-01-10 | Shimadzu Corp | パルス計測用ディジタルフィルタ |
| JP2010204124A (ja) * | 2010-06-14 | 2010-09-16 | Toshiba Corp | 放射線検出器 |
| JP2013187559A (ja) * | 2012-03-05 | 2013-09-19 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | パルス生成回路 |
-
1984
- 1984-01-30 JP JP1338684A patent/JPS60158719A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6488390A (en) * | 1987-09-30 | 1989-04-03 | Shimadzu Corp | Radiation pulse processing circuit |
| JP2008002920A (ja) * | 2006-06-22 | 2008-01-10 | Shimadzu Corp | パルス計測用ディジタルフィルタ |
| JP2010204124A (ja) * | 2010-06-14 | 2010-09-16 | Toshiba Corp | 放射線検出器 |
| JP2013187559A (ja) * | 2012-03-05 | 2013-09-19 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | パルス生成回路 |
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