JPH0521190B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0521190B2 JPH0521190B2 JP9243083A JP9243083A JPH0521190B2 JP H0521190 B2 JPH0521190 B2 JP H0521190B2 JP 9243083 A JP9243083 A JP 9243083A JP 9243083 A JP9243083 A JP 9243083A JP H0521190 B2 JPH0521190 B2 JP H0521190B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- amplitude
- pulse
- input
- circuit
- particles
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
Links
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- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 6
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 17
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
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- 230000005260 alpha ray Effects 0.000 description 1
- LBDSXVIYZYSRII-IGMARMGPSA-N alpha-particle Chemical compound [4He+2] LBDSXVIYZYSRII-IGMARMGPSA-N 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は放射線検出器等から出力される振幅の
大きく異なる各種のパルスをほぼ振幅の等しいパ
ルスに整形するためのパルス整形回路に関する。
大きく異なる各種のパルスをほぼ振幅の等しいパ
ルスに整形するためのパルス整形回路に関する。
放射線測定装置の一種として用いられている比
例計数管は、放射線の電離作用によつて生じた一
次イオンの数に比例する高さのパルスを出力する
ようになつている。この比例計数管を用いて線源
を測定すると、例えばα粒子とβ粒子を区別して
測定することができる。
例計数管は、放射線の電離作用によつて生じた一
次イオンの数に比例する高さのパルスを出力する
ようになつている。この比例計数管を用いて線源
を測定すると、例えばα粒子とβ粒子を区別して
測定することができる。
第1図はこのような測定原理を説明するための
ものである。比例計数管はその印加電圧が比較的
低い領域V1に存在する場合、α粒子のみを計数
してパルスを出力する。また印加電圧が比較的高
い領域V2に存在する場合には、α粒子とβ粒子
の双方を計数したパルスを出力する。従つてα粒
子は印加電圧V1の領域で測定を行つてこれを求
めることができる。またβ粒子については、印加
電圧V2の領域における測定結果とα粒子につい
て求められた計数値との差をとることにより求め
ることができる。
ものである。比例計数管はその印加電圧が比較的
低い領域V1に存在する場合、α粒子のみを計数
してパルスを出力する。また印加電圧が比較的高
い領域V2に存在する場合には、α粒子とβ粒子
の双方を計数したパルスを出力する。従つてα粒
子は印加電圧V1の領域で測定を行つてこれを求
めることができる。またβ粒子については、印加
電圧V2の領域における測定結果とα粒子につい
て求められた計数値との差をとることにより求め
ることができる。
ところが印加電圧V2の領域で出力されるα粒
子の検出パルスとβ粒子のそれとは振幅が非常に
異なり、前者の方が後者に比べて約1000倍も大き
くなつている。これはα粒子の場合その飛程が短
いのでその全エネルギが比例計数管内で失われる
のに対して、β粒子の飛程は比例計数管の寸法を
大きく越えるものだからである。
子の検出パルスとβ粒子のそれとは振幅が非常に
異なり、前者の方が後者に比べて約1000倍も大き
くなつている。これはα粒子の場合その飛程が短
いのでその全エネルギが比例計数管内で失われる
のに対して、β粒子の飛程は比例計数管の寸法を
大きく越えるものだからである。
このように計数を行おうとするパルスの振幅の
最大値と最小値の比、すなわちダイナミツクレン
ジが大きく異なるため、従来ではパルスの計測部
に大きな振幅のパルスを入力したとき基線の乱れ
が発生した。そしてこれにより、この直後に振幅
の小さなパルスが入力されるとこれを計数するこ
とができない場合があつた。また基線に乱れが発
生したとき、乱れた基線の部分をパルスとして計
数してしまうこともあつた。このようなことか
ら、従来ではα粒子とβ粒子の合計を正確に計数
することができず、結果としてβ粒子を正確に測
定することができなかつた。
最大値と最小値の比、すなわちダイナミツクレン
ジが大きく異なるため、従来ではパルスの計測部
に大きな振幅のパルスを入力したとき基線の乱れ
が発生した。そしてこれにより、この直後に振幅
の小さなパルスが入力されるとこれを計数するこ
とができない場合があつた。また基線に乱れが発
生したとき、乱れた基線の部分をパルスとして計
数してしまうこともあつた。このようなことか
ら、従来ではα粒子とβ粒子の合計を正確に計数
することができず、結果としてβ粒子を正確に測
定することができなかつた。
以上α粒子とβ粒子を例にとつて説明したが、
α粒子とγ粒子についても同様であり、更に一般
的には振幅の大きく異なるパルスの測定について
同様の問題が存在した。
α粒子とγ粒子についても同様であり、更に一般
的には振幅の大きく異なるパルスの測定について
同様の問題が存在した。
本発明はこのような事情に鑑み、振幅の大きく
異なるパルスから振幅のほぼ一定したパルスを作
成するためのパルス整形回路を提供することをそ
の目的とする。
異なるパルスから振幅のほぼ一定したパルスを作
成するためのパルス整形回路を提供することをそ
の目的とする。
本発明ではパルス整形回路に、遮断領域を利用
して入力信号に対する出力信号の振幅を制御する
トランジスタエミツタフオロワ−回路と、この回
路の出力信号を遅延させるデイレイラインとを具
備させ、エミツタフオロワー回路の出力信号とデ
イレイラインによつて遅延された信号とを合成し
てパルス整形を行う。
して入力信号に対する出力信号の振幅を制御する
トランジスタエミツタフオロワ−回路と、この回
路の出力信号を遅延させるデイレイラインとを具
備させ、エミツタフオロワー回路の出力信号とデ
イレイラインによつて遅延された信号とを合成し
てパルス整形を行う。
以下実施例につき本発明を詳細に説明する。
第2図は本実施例のパルス整形回路を表わした
ものである。この回路の入力端子11,12の間
に供給されるパルスは、カツプリング用のコンデ
ンサ13を介してエミツタフオロワ接続されたト
ランジスタ14のベースに印加されるようになつ
ている。トランジスタ14のエミツタには、これ
を保護するためのダイオード15のアノード側が
接続されている。このダイオード15のカソード
側には、出力端子16が接続されており、この出
力端子16と他方の出力端子17との間にはデイ
レイライン18と入力端子と抵抗19が並列に接
続されている。デイレイライン18はデイレイ時
間をτ秒に設定されており、その出力端子20,
21を短絡させた波形整形用のラインである。抵
抗19は、その抵抗値をデイレイラインの特性イ
ンピーダンスに等しく設定されている。
ものである。この回路の入力端子11,12の間
に供給されるパルスは、カツプリング用のコンデ
ンサ13を介してエミツタフオロワ接続されたト
ランジスタ14のベースに印加されるようになつ
ている。トランジスタ14のエミツタには、これ
を保護するためのダイオード15のアノード側が
接続されている。このダイオード15のカソード
側には、出力端子16が接続されており、この出
力端子16と他方の出力端子17との間にはデイ
レイライン18と入力端子と抵抗19が並列に接
続されている。デイレイライン18はデイレイ時
間をτ秒に設定されており、その出力端子20,
21を短絡させた波形整形用のラインである。抵
抗19は、その抵抗値をデイレイラインの特性イ
ンピーダンスに等しく設定されている。
この回路の動作を第3図〜第5図を用いて説明
する。このうち第3図aは入力端子11,12に
印加される入力信号の例として振幅の異なる3つ
の入力信号22〜24を表わしている。また同図
bはこのとき入力端子16,17に表われる3つ
の出力信号25〜27の波形を表わしている。こ
の実施例では、2番目に入力された入力信号23
とほぼ同一の振幅を最大振幅としてパルス整形を
行う。このため入力信号24の斜線で表わした部
分28がトランジスタ14の遮断領域に設定され
ている。
する。このうち第3図aは入力端子11,12に
印加される入力信号の例として振幅の異なる3つ
の入力信号22〜24を表わしている。また同図
bはこのとき入力端子16,17に表われる3つ
の出力信号25〜27の波形を表わしている。こ
の実施例では、2番目に入力された入力信号23
とほぼ同一の振幅を最大振幅としてパルス整形を
行う。このため入力信号24の斜線で表わした部
分28がトランジスタ14の遮断領域に設定され
ている。
今、第1番目の入力信号22が入力端子11,
12に加わると、この信号レベルに比例したベー
ス電流が流れ、ダイオード15のカソード側に第
4図aに示す信号波形が得られる。この電圧波形
はデイレイ時間τ秒のデイレイライン18に加わ
り、反射されて2τ秒だけ遅延された遅延信号波形
が得られる。出力端子16,17には、これらの
信号波形が合成された形で、第4図cあるいは第
3図bに示す出力信号25が得られる。
12に加わると、この信号レベルに比例したベー
ス電流が流れ、ダイオード15のカソード側に第
4図aに示す信号波形が得られる。この電圧波形
はデイレイ時間τ秒のデイレイライン18に加わ
り、反射されて2τ秒だけ遅延された遅延信号波形
が得られる。出力端子16,17には、これらの
信号波形が合成された形で、第4図cあるいは第
3図bに示す出力信号25が得られる。
第2番目の入力信号23が入力端子11,12
に加わつた場合にも、同様の原理で整形後の出力
信号26が得られる。第2番目の入力信号23は
第1番目のそれ22よりも振幅が大きいので、両
出力信号25,26の振幅値もこれに応じて異な
ることになる。
に加わつた場合にも、同様の原理で整形後の出力
信号26が得られる。第2番目の入力信号23は
第1番目のそれ22よりも振幅が大きいので、両
出力信号25,26の振幅値もこれに応じて異な
ることになる。
第3番目の入力信号24が入力端子11,12
に加わると、その振幅が第2番目の入力信号23
の最大値よりも大きい部分でトランジスタ14が
遮断領域にはいる。遮断領域にはいつた部分で
は、入力信号24の振幅レベルにかかわらず、ト
ランジスタ14の出力レベルは第2番目の入力信
号23の最大振幅に対するそれとほぼ等しくな
る。従つてダイオード15のカソード側には、第
5図aに示すように振幅を制限された信号波形が
得られる。デイレイライン18からは2τ秒だけ遅
延された遅延信号波形(第5図b)が得られるの
で、出力端子16,17には第5図cあるいは第
3図bに示すような出力信号27が得られること
になる。
に加わると、その振幅が第2番目の入力信号23
の最大値よりも大きい部分でトランジスタ14が
遮断領域にはいる。遮断領域にはいつた部分で
は、入力信号24の振幅レベルにかかわらず、ト
ランジスタ14の出力レベルは第2番目の入力信
号23の最大振幅に対するそれとほぼ等しくな
る。従つてダイオード15のカソード側には、第
5図aに示すように振幅を制限された信号波形が
得られる。デイレイライン18からは2τ秒だけ遅
延された遅延信号波形(第5図b)が得られるの
で、出力端子16,17には第5図cあるいは第
3図bに示すような出力信号27が得られること
になる。
このように本実施例のパルス整形回路を用いれ
ば、振幅の大きく異なるパルスから振幅のほぼ等
しいパルスを作成することができる。従つて前記
した放射線測定の場合にもガスフローカウンタで
α、β、γ線源のカウントを正確に行うことがで
きる。
ば、振幅の大きく異なるパルスから振幅のほぼ等
しいパルスを作成することができる。従つて前記
した放射線測定の場合にもガスフローカウンタで
α、β、γ線源のカウントを正確に行うことがで
きる。
以上説明したように本発明ではトランジスタエ
ミツタフオロワー回路とデイレイラインのそれぞ
れの特性を生かしてパルス整形を行うので、入力
電力消費の少ない回路を作成することができる。
ミツタフオロワー回路とデイレイラインのそれぞ
れの特性を生かしてパルス整形を行うので、入力
電力消費の少ない回路を作成することができる。
第1図は比例計数管の特性図、第2図〜第5図
は本発明の一実施例を説明するためのもので、こ
のうち第2図はパルス整形回路の回路図、第3図
はこの回路の入力信号と出力信号の波形図、第4
図は比例的小さな振幅の入力信号についての波形
処理を説明するための各種波形図、第5図は大き
な振幅の入力信号についての波形処理を説明する
ための各種波形図である。 11,12……入力端子、14……トランジス
タ、16,17……出力端子、18……デイレイ
ライン。
は本発明の一実施例を説明するためのもので、こ
のうち第2図はパルス整形回路の回路図、第3図
はこの回路の入力信号と出力信号の波形図、第4
図は比例的小さな振幅の入力信号についての波形
処理を説明するための各種波形図、第5図は大き
な振幅の入力信号についての波形処理を説明する
ための各種波形図である。 11,12……入力端子、14……トランジス
タ、16,17……出力端子、18……デイレイ
ライン。
Claims (1)
- 1 トランジスタの遮断領域を利用して入力信号
に対する出力信号の振幅を所定のレベル以下に制
限するトランジスタエミツタフオロワ回路と、こ
の回路の前記出力信号を入力するデイレイライン
とを備え、デイレイラインに入力される信号とこ
れから反射され遅延されて出力される信号とを合
成して、遅延時間に相当する幅をもちかつ振幅の
制限されたパルスを作成することを特徴とするパ
ルス整形回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9243083A JPS59218980A (ja) | 1983-05-27 | 1983-05-27 | パルス整形回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9243083A JPS59218980A (ja) | 1983-05-27 | 1983-05-27 | パルス整形回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59218980A JPS59218980A (ja) | 1984-12-10 |
JPH0521190B2 true JPH0521190B2 (ja) | 1993-03-23 |
Family
ID=14054218
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9243083A Granted JPS59218980A (ja) | 1983-05-27 | 1983-05-27 | パルス整形回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59218980A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6719228B2 (ja) * | 2015-11-13 | 2020-07-08 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
US10090881B2 (en) | 2015-11-13 | 2018-10-02 | Renesas Electronics Corporation | Semiconductor device |
-
1983
- 1983-05-27 JP JP9243083A patent/JPS59218980A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS59218980A (ja) | 1984-12-10 |
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