JPS59218980A - パルス整形回路 - Google Patents
パルス整形回路Info
- Publication number
- JPS59218980A JPS59218980A JP9243083A JP9243083A JPS59218980A JP S59218980 A JPS59218980 A JP S59218980A JP 9243083 A JP9243083 A JP 9243083A JP 9243083 A JP9243083 A JP 9243083A JP S59218980 A JPS59218980 A JP S59218980A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- amplitude
- output
- pulse shaping
- input
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は放射線検出器等から出力される振幅の大きく異
なる各種のパルスをほぼ振幅の等しいパルスに整形する
ためのパルス整形回路に関する。
なる各種のパルスをほぼ振幅の等しいパルスに整形する
ためのパルス整形回路に関する。
放射線測定装置の一種として用いられている比例計数管
は、放射線の電離作用によって生じた一次イオンの数に
比例する高さのパルスを出力するようになっている。こ
の比例計数管を用いて線源を測定すると、例えばα粒子
とβ粒子を区別して測定することができる。
は、放射線の電離作用によって生じた一次イオンの数に
比例する高さのパルスを出力するようになっている。こ
の比例計数管を用いて線源を測定すると、例えばα粒子
とβ粒子を区別して測定することができる。
第1図はこのような測定原理を説明するためのものであ
る。比例計数管はその印加電圧が比較的低い領域■、に
存在する場合、α粒子のみを計数したパルスを出力する
。また印加電圧が比較的高い領域■2 に存在する場合
には、α粒子とβ粒子の双方を計数したパルスを出力す
る。従ってα粒子は印加電圧■1 の領域で測定を行っ
てこれを求めることができる。またβ粒子については、
印加電圧■2 の領域における測定結果とα粒子につい
て求められた計数値との差をとることにより求めること
ができる。
る。比例計数管はその印加電圧が比較的低い領域■、に
存在する場合、α粒子のみを計数したパルスを出力する
。また印加電圧が比較的高い領域■2 に存在する場合
には、α粒子とβ粒子の双方を計数したパルスを出力す
る。従ってα粒子は印加電圧■1 の領域で測定を行っ
てこれを求めることができる。またβ粒子については、
印加電圧■2 の領域における測定結果とα粒子につい
て求められた計数値との差をとることにより求めること
ができる。
ところが印加電圧■2 の領域で出力されるα粒子の検
出パルスとβ粒子のそれとは振幅が非常に異なり、前者
の方が後者に比べて約1000倍も大きくなっている。
出パルスとβ粒子のそれとは振幅が非常に異なり、前者
の方が後者に比べて約1000倍も大きくなっている。
これはα粒子の場合その飛程が短いのでその全エネルギ
が比例計数管内で失われるのに対して、β粒子の飛程は
比例計数管の寸法を大きく越えるものだからである。
が比例計数管内で失われるのに対して、β粒子の飛程は
比例計数管の寸法を大きく越えるものだからである。
このように計数を行おうとするパルスの振幅の最大値と
最小値の比、すなわちダイナミックレンジが大きく異な
るため、従来ではパルスの計測部に大きな振幅のパルス
を人力したとき基線の乱れが発生した。そしてこれによ
り、この直後に振幅の小さなパルスが人力されるとこれ
を計数することができない場合があった。また基線に乱
れが発生したとき、乱れた基線の部分をパルスとして計
数してしまうこともあった。このようなことから、従来
ではα粒子とβ粒子の合計を正確に計数することができ
ず、結果としてβ粒子を正確にSt+j定することがで
きなかった。
最小値の比、すなわちダイナミックレンジが大きく異な
るため、従来ではパルスの計測部に大きな振幅のパルス
を人力したとき基線の乱れが発生した。そしてこれによ
り、この直後に振幅の小さなパルスが人力されるとこれ
を計数することができない場合があった。また基線に乱
れが発生したとき、乱れた基線の部分をパルスとして計
数してしまうこともあった。このようなことから、従来
ではα粒子とβ粒子の合計を正確に計数することができ
ず、結果としてβ粒子を正確にSt+j定することがで
きなかった。
以上α粒子とβ粒子を例にとって説明したが、α粒子と
1粒子についても同様であり、更に一般的には振幅の大
きく異なるパルスの測定について同様の問題が存在した
。
1粒子についても同様であり、更に一般的には振幅の大
きく異なるパルスの測定について同様の問題が存在した
。
本発明はこのような事情に鑑み、振幅の大きく異なるパ
ルスから振幅のほぼ一定したパルスを作成するためのパ
ルス整形回路を提供することをその目的とする。
ルスから振幅のほぼ一定したパルスを作成するためのパ
ルス整形回路を提供することをその目的とする。
本発明ではパルス整形回路に、遮断領域を利用して入力
信号に対する出力信号の振幅を制御するトランジスタエ
ミックフォロワー回路と、この回路の出力信号を遅延さ
せるディレィラインとを具(11uさせ、エミックフォ
ロワー回路の出力信号とディレィラインによって遅延さ
れた信号とを合成してパルス整形を行う。
信号に対する出力信号の振幅を制御するトランジスタエ
ミックフォロワー回路と、この回路の出力信号を遅延さ
せるディレィラインとを具(11uさせ、エミックフォ
ロワー回路の出力信号とディレィラインによって遅延さ
れた信号とを合成してパルス整形を行う。
以下実施例につき本発明の詳細な説明する。
第2図は本実施例のパルス整ノ1a回路を表わしたもの
である。この回路の入力端子11.12の間に供給され
るパルスは、カップリング用のコンデンサ13を介して
エミックフオロワ接続されたトランジスタ14のベース
に印加されるようになっている。トランジスタ14のエ
ミッタには、これを保護するためのダイオード15のア
ノード側が接続されている。このダイオード15のカソ
ード側には、出力端子16が接続されており、この出力
端子16と他方の出力端子17との間にはディレィライ
ン18の入力端端子と抵抗19が並列に接続されている
。ディレィライン18はディレィ時間をτ秒に設定され
ており、その出力端子20.21を短絡させた波形整形
用のラインである。抵抗19は、その抵抗値をディレィ
ラインの特性インピーダンスに等しく設定されている。
である。この回路の入力端子11.12の間に供給され
るパルスは、カップリング用のコンデンサ13を介して
エミックフオロワ接続されたトランジスタ14のベース
に印加されるようになっている。トランジスタ14のエ
ミッタには、これを保護するためのダイオード15のア
ノード側が接続されている。このダイオード15のカソ
ード側には、出力端子16が接続されており、この出力
端子16と他方の出力端子17との間にはディレィライ
ン18の入力端端子と抵抗19が並列に接続されている
。ディレィライン18はディレィ時間をτ秒に設定され
ており、その出力端子20.21を短絡させた波形整形
用のラインである。抵抗19は、その抵抗値をディレィ
ラインの特性インピーダンスに等しく設定されている。
この回路の動作を第3図〜第5図を用いて説明する。こ
のうち第3図aは入力端子11.12に印加される入力
信号の例として振幅の異なる3つの入力信号22〜24
を表わしている。また同図すはこのとき出力端子16.
17に表われる3つの出力信号25〜27の波形を表わ
している。この実施例では、2番目に人力された入力信
号23とほぼ同一・の振幅を最大振幅としてパルス整形
を行う。このため人力信号24の斜線で表わした部分2
8がトランジスタ14の遮断領域に設定されている。
のうち第3図aは入力端子11.12に印加される入力
信号の例として振幅の異なる3つの入力信号22〜24
を表わしている。また同図すはこのとき出力端子16.
17に表われる3つの出力信号25〜27の波形を表わ
している。この実施例では、2番目に人力された入力信
号23とほぼ同一・の振幅を最大振幅としてパルス整形
を行う。このため人力信号24の斜線で表わした部分2
8がトランジスタ14の遮断領域に設定されている。
今、第1番目の人力信号22が入力端子1112に加わ
ると、この信号レベルに比例したペース電流が流れ、ダ
イオード15のカソード側に第4図aに示す信号波形が
得られる。この電圧波形はディレィ時間τ秒のディレィ
ライン18に加わり、反射されて2τ秒だけ遅延された
遅延信号波形が得られる。出力端子16.17には、こ
れらの信号波形が合成された形で、第4図Cあるいは第
3図すに示す出力信号25が得られる。
ると、この信号レベルに比例したペース電流が流れ、ダ
イオード15のカソード側に第4図aに示す信号波形が
得られる。この電圧波形はディレィ時間τ秒のディレィ
ライン18に加わり、反射されて2τ秒だけ遅延された
遅延信号波形が得られる。出力端子16.17には、こ
れらの信号波形が合成された形で、第4図Cあるいは第
3図すに示す出力信号25が得られる。
第2番目の人力信号23が入力端子11.12に加わっ
た場合にも、同様の原理で整形後の出力信号26が得ら
れる。第2番目の人力信号23は第1番目のそれ22よ
りも振幅が大きいので、両出力信号25.26の振幅値
もこれに応じて異なることになる。
た場合にも、同様の原理で整形後の出力信号26が得ら
れる。第2番目の人力信号23は第1番目のそれ22よ
りも振幅が大きいので、両出力信号25.26の振幅値
もこれに応じて異なることになる。
第3番目の人力信号24が入力端子11.12に加わる
と、その振幅が第2番目の人力信号23の最大値よりも
大きいに1−分てトランジスタ14が遮断領域にはいる
。遮断領域にはいった部分では、人力信号24の振幅レ
ベルにかかわらず、トランジスタ14の出力レベルは第
28目の人力信号23の最大振幅に対するそれとほぼ等
しくなる。
と、その振幅が第2番目の人力信号23の最大値よりも
大きいに1−分てトランジスタ14が遮断領域にはいる
。遮断領域にはいった部分では、人力信号24の振幅レ
ベルにかかわらず、トランジスタ14の出力レベルは第
28目の人力信号23の最大振幅に対するそれとほぼ等
しくなる。
従ってダイオード15のカソード側には、第5図aに示
すように振幅を制限された信号波形が得られる。ディレ
ィライン18からは2τ秒だけ遅延された遅延信号波形
(第5図b)が得られるので、出力端子16.17には
第5図Cあるいは第3図すに示すような出力信号27が
得られることになる。
すように振幅を制限された信号波形が得られる。ディレ
ィライン18からは2τ秒だけ遅延された遅延信号波形
(第5図b)が得られるので、出力端子16.17には
第5図Cあるいは第3図すに示すような出力信号27が
得られることになる。
このように本実施例のパルス整形回路を用いれば、振幅
の大きく異なるパルスから振幅のほぼ等しいパルスを作
成することができる。従って前記した放射線測定の場合
にもガスフロ−カウンタでα、β、T線源のカウントを
正確に行うことができる。
の大きく異なるパルスから振幅のほぼ等しいパルスを作
成することができる。従って前記した放射線測定の場合
にもガスフロ−カウンタでα、β、T線源のカウントを
正確に行うことができる。
以上説明したように本発明ではトランジスタエミックフ
ォロワー回路とディレィラインのそれぞれの特性を生か
してパルス整形を行うので、入力電力消費の少ない回路
を作成することができる。
ォロワー回路とディレィラインのそれぞれの特性を生か
してパルス整形を行うので、入力電力消費の少ない回路
を作成することができる。
第1図は比例計数管の特性図、第2図〜第5図は本発明
の一実施例を説明するだめのもので、このうち第2図は
パルス整形回路の回路図、第3図はこの回路の入力信号
と出力信号の波形図、第4図は比例的率さな振幅の人力
信号についての波形処理を説明するための各種波形図、
第5図は大きな振幅の人力信号についての波形処理を説
明するための各種波形図である。 11.12・・・・・・入力端子、 14・・・・・・トランジスタ、 16.17・・・・・・出力端子、 18・・・・・・ディレィライン。 出 願 人 日本原子力事業株式会社 代 理 人 弁理士 山 内 梅 雄 策 4 図 時間 第 5 ロ l/T’−2’t fM
の一実施例を説明するだめのもので、このうち第2図は
パルス整形回路の回路図、第3図はこの回路の入力信号
と出力信号の波形図、第4図は比例的率さな振幅の人力
信号についての波形処理を説明するための各種波形図、
第5図は大きな振幅の人力信号についての波形処理を説
明するための各種波形図である。 11.12・・・・・・入力端子、 14・・・・・・トランジスタ、 16.17・・・・・・出力端子、 18・・・・・・ディレィライン。 出 願 人 日本原子力事業株式会社 代 理 人 弁理士 山 内 梅 雄 策 4 図 時間 第 5 ロ l/T’−2’t fM
Claims (1)
- トランジスタの遮断領域を利用して人力信号に対する出
力信号の振幅を所定のレベル以下に制限するトランジス
タエミックフォロワ回路と、この回路の前記出力信号を
入力するディレィラインとを備え、ディレィラインに人
力される信号とこれから反射され遅延されて出力される
信号とを合成して、遅延時間に相当する幅をもちかつ振
幅の制限されたパルスを作成することを特徴とするパル
ス整形回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9243083A JPS59218980A (ja) | 1983-05-27 | 1983-05-27 | パルス整形回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9243083A JPS59218980A (ja) | 1983-05-27 | 1983-05-27 | パルス整形回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59218980A true JPS59218980A (ja) | 1984-12-10 |
JPH0521190B2 JPH0521190B2 (ja) | 1993-03-23 |
Family
ID=14054218
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9243083A Granted JPS59218980A (ja) | 1983-05-27 | 1983-05-27 | パルス整形回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59218980A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017098926A (ja) * | 2015-11-13 | 2017-06-01 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
US11431378B2 (en) | 2015-11-13 | 2022-08-30 | Renesas Electronics Corporation | Semiconductor device |
-
1983
- 1983-05-27 JP JP9243083A patent/JPS59218980A/ja active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017098926A (ja) * | 2015-11-13 | 2017-06-01 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
US11431378B2 (en) | 2015-11-13 | 2022-08-30 | Renesas Electronics Corporation | Semiconductor device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0521190B2 (ja) | 1993-03-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3725677A (en) | Computer utilizing random pulse trains | |
US4482808A (en) | Apparatus for measuring neutrons and gamma rays | |
US3818356A (en) | Pulse-shape discriminating circuit, for discriminating between pulses of differing amplitude and time duration | |
JPS59218980A (ja) | パルス整形回路 | |
US2796533A (en) | Logarithmic count rate or frequency meter | |
US2638273A (en) | Dual-channel counting rate meter | |
US4398101A (en) | Four input coincidence detector | |
US4051373A (en) | Delay line clipping in a scintillation camera system | |
US3916193A (en) | Radiation flux measuring device | |
Gwinn et al. | A log N and period amplifier utilizing statistical fluctuation signals from a neutron detector | |
US4468744A (en) | Scintillation camera | |
US3576995A (en) | Radiation survey meter counting loss compensation circuit | |
US2676756A (en) | Electronic scaling circuits | |
JPS61500133A (ja) | より良い光度測定方法および回路 | |
JPH033198B2 (ja) | ||
US3126482A (en) | Radio-activity contamination monitor with discrimination | |
CA1052012A (en) | Delay line clipping in a scintillation camera system | |
JPH0519061A (ja) | 放射線検出信号弁別回路 | |
US4001590A (en) | Radiation flux measuring device | |
US2962673A (en) | Amplitude modulation meter | |
US3426199A (en) | Nuclear flux measuring apparatus employing current fluctuations from neutron detectors | |
JPH0375833B2 (ja) | ||
Gyönyör et al. | A TRANSISTORIZED ANTICOINCIDENCE CIRCUIT FOR COUNTING AT LOW BACKGROUND LEVELS | |
JPH03185386A (ja) | 放射線検出器を用いた放射線量の測定方法 | |
JPS61149883A (ja) | 測距装置 |