JPH0577258B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0577258B2 JPH0577258B2 JP62146656A JP14665687A JPH0577258B2 JP H0577258 B2 JPH0577258 B2 JP H0577258B2 JP 62146656 A JP62146656 A JP 62146656A JP 14665687 A JP14665687 A JP 14665687A JP H0577258 B2 JPH0577258 B2 JP H0577258B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample particles
- light
- scattered
- optical system
- photometric
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 42
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 11
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 238000005375 photometry Methods 0.000 claims description 2
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 210000000601 blood cell Anatomy 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、フローサイトメータ等に用いられ、
検体粒子からの散乱光を受光し、検体粒子の性状
等を解析する粒子解析装置に関するものである。
検体粒子からの散乱光を受光し、検体粒子の性状
等を解析する粒子解析装置に関するものである。
［従来の技術］
フローサイトメータ等に用いられる従来の粒子
解析装置では、フローセルの中央部の例えば
200μｍ×200μｍの微小な矩形断面を有する流通
部内を、シース液に包まれて通過する血球細胞等
の検体液に照射光を照射し、その結果生ずる前方
散乱光及び側方散乱光更には蛍光により、検体の
形状、大きさ、屈折率等の粒子的性質を得ること
により検体粒子の解析を行う。
解析装置では、フローセルの中央部の例えば
200μｍ×200μｍの微小な矩形断面を有する流通
部内を、シース液に包まれて通過する血球細胞等
の検体液に照射光を照射し、その結果生ずる前方
散乱光及び側方散乱光更には蛍光により、検体の
形状、大きさ、屈折率等の粒子的性質を得ること
により検体粒子の解析を行う。
第６図において、フローセル１の中央部の紙面
に垂直な流通部２内を検体粒子Ｓが通過し、この
流れと直交する方向にレーザー光源３が配置され
ている。このレーザー光源３から出射されたレー
ザー光Ｌの光軸Ｏ上に、検体粒子Ｓに対してレー
ザー光源３側に２組のシリンドリカルレンズを直
交させて成る結像レンズ４が配置されている。ま
た、検体粒子Ｓに対してレーザー光源３と反対側
の光軸Ｏ上に、遮光板５、集光レンズ６、光電検
出器７が順次に配列されている。そして、光電検
出器７の出力は演算回路８に接続されている。
に垂直な流通部２内を検体粒子Ｓが通過し、この
流れと直交する方向にレーザー光源３が配置され
ている。このレーザー光源３から出射されたレー
ザー光Ｌの光軸Ｏ上に、検体粒子Ｓに対してレー
ザー光源３側に２組のシリンドリカルレンズを直
交させて成る結像レンズ４が配置されている。ま
た、検体粒子Ｓに対してレーザー光源３と反対側
の光軸Ｏ上に、遮光板５、集光レンズ６、光電検
出器７が順次に配列されている。そして、光電検
出器７の出力は演算回路８に接続されている。
レーザー光源３から出射されたレーザー光Ｌ
は、結像レンズ４により任意の長径、短径の結像
ビームに成形され、流通部２内を流れる検体粒子
Ｓに照射される。検体粒子Ｓによつて散乱されな
いレーザー光Ｌは遮光板５でその直進が阻止さ
れ、検体粒子Ｓによつて散乱された散乱光のう
ち、前方散乱光は集光レンズ６を介して光電検出
器７に集光され検体粒子Ｓの性状が測定される。
即ち、一般に前方散乱光検出強度は粒子径に対応
し、この散乱光検出強度により演算回路８におい
て粒子径を算出することができる。
は、結像レンズ４により任意の長径、短径の結像
ビームに成形され、流通部２内を流れる検体粒子
Ｓに照射される。検体粒子Ｓによつて散乱されな
いレーザー光Ｌは遮光板５でその直進が阻止さ
れ、検体粒子Ｓによつて散乱された散乱光のう
ち、前方散乱光は集光レンズ６を介して光電検出
器７に集光され検体粒子Ｓの性状が測定される。
即ち、一般に前方散乱光検出強度は粒子径に対応
し、この散乱光検出強度により演算回路８におい
て粒子径を算出することができる。
しかしながら、この従来例では第７図に示すよ
うに検体粒子が透光性である場合に、散乱光検出
強度と粒子径の関数は単調増加関数とならず、或
る粒子径付近で直線性が崩れてしまい、その粒子
径付近の測定ができないという問題点がある。
うに検体粒子が透光性である場合に、散乱光検出
強度と粒子径の関数は単調増加関数とならず、或
る粒子径付近で直線性が崩れてしまい、その粒子
径付近の測定ができないという問題点がある。
［発明の目的］
本発明の目的は、上述の問題点を解決し、粒子
径によらずに測定が可能な粒子解析装置を提供す
ることにある。
径によらずに測定が可能な粒子解析装置を提供す
ることにある。
［発明の概要］
上述の目的を達成するための本発明の要旨は、
検体粒子に光ビームを照射する照射光学系と、検
体粒子によつて散乱された前記光ビームの散乱光
のみを検出する測光光学系と、該測光光学系の光
路内にあつて、検体粒子によつて第１、第２の角
度をもつて散乱された散乱光をそれぞれ検出する
第１、第２の測光手段と、前記光ビームが前記第
１、第２の測光手段に直接入射することを阻止す
るための遮光部材と、前記第１、第２の測光手段
のそれぞれの検出信号を補正係数によつて補正し
かつ演算和を演算する演算手段とを有し、該演算
手段の演算出力が前記検体粒子の粒子径の単調増
加関数となるようにしたことを特徴とする粒子解
析装置である。
検体粒子に光ビームを照射する照射光学系と、検
体粒子によつて散乱された前記光ビームの散乱光
のみを検出する測光光学系と、該測光光学系の光
路内にあつて、検体粒子によつて第１、第２の角
度をもつて散乱された散乱光をそれぞれ検出する
第１、第２の測光手段と、前記光ビームが前記第
１、第２の測光手段に直接入射することを阻止す
るための遮光部材と、前記第１、第２の測光手段
のそれぞれの検出信号を補正係数によつて補正し
かつ演算和を演算する演算手段とを有し、該演算
手段の演算出力が前記検体粒子の粒子径の単調増
加関数となるようにしたことを特徴とする粒子解
析装置である。
［発明の実施例］
本発明を第１図〜第５図に図示の実施例に基づ
いて詳細に説明する。なお、第６図と同一符号は
同一の部材を示し、同一の機能を備えるものとす
る。
いて詳細に説明する。なお、第６図と同一符号は
同一の部材を示し、同一の機能を備えるものとす
る。
第１図において、１０は穴あきミラーであり、
その直進方向には第１の光電検出器７が設けら
れ、反射方向には第２の光電検出器１１が設けら
れ、第１、第２の光電検出器７，１１の出力はそ
れぞれ演算回路１２に接続されている。
その直進方向には第１の光電検出器７が設けら
れ、反射方向には第２の光電検出器１１が設けら
れ、第１、第２の光電検出器７，１１の出力はそ
れぞれ演算回路１２に接続されている。
検体粒子Ｓによつて散乱された光のうち、角度
０の近傍からθ1までの光は穴あきミラー１０の穴
部をそのまま通過して、第１の光電検出器７によ
り測光され、角度θ1からθ2までの光は穴あきミラ
ー１０によつて反射され、第２の光電検出器１１
により測光される。
０の近傍からθ1までの光は穴あきミラー１０の穴
部をそのまま通過して、第１の光電検出器７によ
り測光され、角度θ1からθ2までの光は穴あきミラ
ー１０によつて反射され、第２の光電検出器１１
により測光される。
第２図に示すように、散乱角度θに応じて散乱
光検出強度Ｉと粒子径φの関係は異なり、穴あき
ミラー１０を用いて散乱角度０〜θ2までの散乱光
を、散乱角度０〜θ1までの散乱光と、θ1〜θ2まで
の散乱光とを別個にして検出し、それぞれ散乱光
検出強度Ｉ（０〜θ1）、Ｉ（θ1〜θ2）に対し、演算
回路１２において、Ｉ（０〜θ1）を半減し、Ｉ（θ1
〜θ2）と加算する。これにより第３図に示すよう
に、散乱光検出強度Ｉが粒子径φの単調増加関数
となる。
光検出強度Ｉと粒子径φの関係は異なり、穴あき
ミラー１０を用いて散乱角度０〜θ2までの散乱光
を、散乱角度０〜θ1までの散乱光と、θ1〜θ2まで
の散乱光とを別個にして検出し、それぞれ散乱光
検出強度Ｉ（０〜θ1）、Ｉ（θ1〜θ2）に対し、演算
回路１２において、Ｉ（０〜θ1）を半減し、Ｉ（θ1
〜θ2）と加算する。これにより第３図に示すよう
に、散乱光検出強度Ｉが粒子径φの単調増加関数
となる。
上述の実施例では、穴あきミラー１０を１個使
用し、２つの散乱角度成分に分けて演算したが、
第４図に示すように複数の穴あきミラー１０ａ，
１０ｂ，１０ｃ及び光電検出器７，１１ａ，１１
ｂ，１１ｃを使用して複数の散乱角度成分に分け
て演算してもよい。即ち、一般に散乱角度０〜
θ1、θ2〜θ3、θ3〜θ4、…に対する散乱光検出強度
をＩ（０〜θ1）、Ｉ（θ2〜θ3）、Ｉ（θ3〜θ4）、
…とす
れば、Ｉ＝a1・Ｉ（０〜θ1）＋a2・Ｉ（θ1〜θ2）＋
a3・Ｉ（θ2〜θ3）＋…とする単調増加関数が得られ
る。
用し、２つの散乱角度成分に分けて演算したが、
第４図に示すように複数の穴あきミラー１０ａ，
１０ｂ，１０ｃ及び光電検出器７，１１ａ，１１
ｂ，１１ｃを使用して複数の散乱角度成分に分け
て演算してもよい。即ち、一般に散乱角度０〜
θ1、θ2〜θ3、θ3〜θ4、…に対する散乱光検出強度
をＩ（０〜θ1）、Ｉ（θ2〜θ3）、Ｉ（θ3〜θ4）、
…とす
れば、Ｉ＝a1・Ｉ（０〜θ1）＋a2・Ｉ（θ1〜θ2）＋
a3・Ｉ（θ2〜θ3）＋…とする単調増加関数が得られ
る。
また、実施例では集光レンズ６と光電検出器７
の間に穴あきミラー１０を配置しているが、例え
ばフローセル１と集光レンズ６の間のように、穴
あきミラー１０は測光光学系の中の任意の位置に
配置することができる。更には、第５図に示すよ
うに穴のあいてないミラー１３を使用しても、同
等の効果を得ることができる。
の間に穴あきミラー１０を配置しているが、例え
ばフローセル１と集光レンズ６の間のように、穴
あきミラー１０は測光光学系の中の任意の位置に
配置することができる。更には、第５図に示すよ
うに穴のあいてないミラー１３を使用しても、同
等の効果を得ることができる。
［発明の効果］
以上説明したように本発明に係る粒子解析装置
は、従来の検体粒子の解析上の問題点が解消さ
れ、解析能力が向上することができる。また、従
前ではフイルタを用いて同等の効果を得ることも
できるが、フイルタを用いた場合は各散乱光強度
成分をａ倍（０≦ａ≦１）して加え合わせる効果
しか得ることができない。しかし、穴あきミラー
を使用して、複数の光電検出器からの信号を演算
処理した場合には、定数ａの範囲は実数の全域で
あるので、最終的に単調増加関数を得易くなると
いう利点がある。
は、従来の検体粒子の解析上の問題点が解消さ
れ、解析能力が向上することができる。また、従
前ではフイルタを用いて同等の効果を得ることも
できるが、フイルタを用いた場合は各散乱光強度
成分をａ倍（０≦ａ≦１）して加え合わせる効果
しか得ることができない。しかし、穴あきミラー
を使用して、複数の光電検出器からの信号を演算
処理した場合には、定数ａの範囲は実数の全域で
あるので、最終的に単調増加関数を得易くなると
いう利点がある。
図面は本発明に係る粒子解析装置の実施例を示
し、第１図はその構成図、第２図、第３図は散乱
光検出強度と粒子径の関係のグラフ図、第４図、
第５図は他の実施例の構成図であり、第６図は従
来装置の説明図、第７図は従来例における散乱光
検出強度と粒子径の関係のグラフ図である。 符号１はフローセル、２は流通部、３はレーザ
ー光源、４は結像レンズ、５は遮光板、６は集光
レンズ、７，１１は光電検出器、１０は穴あきミ
ラー、１２は演算回路である。
し、第１図はその構成図、第２図、第３図は散乱
光検出強度と粒子径の関係のグラフ図、第４図、
第５図は他の実施例の構成図であり、第６図は従
来装置の説明図、第７図は従来例における散乱光
検出強度と粒子径の関係のグラフ図である。 符号１はフローセル、２は流通部、３はレーザ
ー光源、４は結像レンズ、５は遮光板、６は集光
レンズ、７，１１は光電検出器、１０は穴あきミ
ラー、１２は演算回路である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 検体粒子に光ビームを照射する照射光学系
と、検体粒子によつて散乱された前記光ビームの
散乱光のみを検出する測光光学系と、該測光光学
系の光路内にあつて、検体粒子によつて第１、第
２の角度をもつて散乱された散乱光をそれぞれ検
出する第１、第２の測光手段と、前記光ビームが
前記第１、第２の測光手段に直接入射することを
阻止するための遮光部材と、前記第１、第２の測
光手段のそれぞれの検出信号を補正係数によつて
補正しかつ演算和を演算する演算手段とを有し、
該演算手段の演算出力が前記検体粒子の粒子径の
単調増加関数となるようにしたことを特徴とする
粒子解析装置。 ２ 前記第１、第２の測光手段は穴あきミラーに
よつて分岐された２つの光路内にそれぞれ配置す
るようにした特許請求の範囲第１項に記載の粒子
解析装置。 ３ 前記光ビームの照射位置に複数の検体粒子が
次々と通過するようにした特許請求の範囲第１項
に記載の粒子解析装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62146656A JPS63309838A (ja) | 1987-06-12 | 1987-06-12 | 粒子解析装置 |
| US07/165,497 US4893929A (en) | 1987-03-13 | 1988-03-08 | Particle analyzing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62146656A JPS63309838A (ja) | 1987-06-12 | 1987-06-12 | 粒子解析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63309838A JPS63309838A (ja) | 1988-12-16 |
| JPH0577258B2 true JPH0577258B2 (ja) | 1993-10-26 |
Family
ID=15412656
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62146656A Granted JPS63309838A (ja) | 1987-03-13 | 1987-06-12 | 粒子解析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63309838A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59176649A (ja) * | 1983-03-28 | 1984-10-06 | Shimadzu Corp | 粒子分析装置 |
| JPS6214037A (ja) * | 1985-07-11 | 1987-01-22 | Canon Inc | 粒子解析装置 |
-
1987
- 1987-06-12 JP JP62146656A patent/JPS63309838A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59176649A (ja) * | 1983-03-28 | 1984-10-06 | Shimadzu Corp | 粒子分析装置 |
| JPS6214037A (ja) * | 1985-07-11 | 1987-01-22 | Canon Inc | 粒子解析装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63309838A (ja) | 1988-12-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2930710B2 (ja) | 偏光強度差分散乱を使用する粒子寸法分析 | |
| US4893929A (en) | Particle analyzing apparatus | |
| JP2002277348A (ja) | 透過率測定方法及び装置 | |
| JPS62168033A (ja) | 粒子解析装置 | |
| JP3151036B2 (ja) | サブミクロン粒子の検出方法および装置 | |
| JPH09126984A (ja) | 粒度分布測定装置 | |
| JP2694304B2 (ja) | 光回折、散乱式粒度分布測定装置 | |
| JPH0213830A (ja) | 粒子測定装置 | |
| JP4763159B2 (ja) | フローサイトメータ | |
| JPH0277636A (ja) | 粒子測定装置 | |
| JPH0577258B2 (ja) | ||
| JPS6244650A (ja) | 粒子解析装置 | |
| JPH06221989A (ja) | 光散乱式微粒子検出装置 | |
| JPS6244649A (ja) | 粒子解析装置 | |
| JPH02193041A (ja) | 粒度分布測定装置 | |
| JPH02173550A (ja) | 粒度分布測定装置 | |
| JP3144687B2 (ja) | 粒子測定装置 | |
| JPH03214038A (ja) | 空気中に散布されたエアロゾルと粉麈などの測定装置 | |
| JPS6135335A (ja) | 粒子解析装置 | |
| JP2001330551A (ja) | 粒子測定装置 | |
| JPH02304333A (ja) | 流動細胞分析装置 | |
| JP2836481B2 (ja) | 粒度分布測定装置 | |
| CA2048476A1 (en) | Photometer arrangement with scattered light trap | |
| JPH01240839A (ja) | 粒子解析装置 | |
| JPH0213829A (ja) | 粒子測定装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |