JPS6196532A - 光学レンズ装置 - Google Patents

光学レンズ装置

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JPS6196532A
JPS6196532A JP59216250A JP21625084A JPS6196532A JP S6196532 A JPS6196532 A JP S6196532A JP 59216250 A JP59216250 A JP 59216250A JP 21625084 A JP21625084 A JP 21625084A JP S6196532 A JPS6196532 A JP S6196532A
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lens
film lens
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optical lens
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智 嶋田
Hiroshi Sasaki
宏 佐々木
Nobuyoshi Tsuboi
坪井 信義
Hideki Nihei
秀樹 二瓶
Norifumi Miyamoto
詔文 宮本
Tetsuo Ito
伊藤 鉄男
Yoshio Sato
佐藤 美雄
Atsumi Watabe
渡部 篤美
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は光デイスク装置、カメラ、レーザービームプリ
シタなどの焦点調整を必要とする光学系に利用するに好
適な光学レンズ装置に関する6〔発明の背景〕 上記したところの装置は多くのレンズにより構成される
光学系であり、レンズは土にガラスにより名が成される
。かつレンズのうち多くのものは焦点調整を自動的に行
なう必要があるために、レンズの駆動機構を有している
係る光学系の代表的−・例として光デイスク装置につい
て、以下説明する。光デイスク装置は雑誌「日立評論J
 1984年8月号等にてすでによく知られたものであ
る。
第2図は従来の光デイスク装置の光学系の全体構成を示
す。同図の各部の記号とその動作について以下に説明す
る。1は光源となるレーザダイオードである。2はコリ
メーションレンズで、レーザーダイオード1の光束を平
行光にする63は偏光ビームスプリッタ(以下PBSと
略称する)で、コリメーションレンズの出力光を透過す
るとともに、つぎに述べる記号4で示すλ/4板からの
もどり光を屈折する。λ/4板4はPBS3で入射光と
反射光の識別を容易にするために光の位相偏光に用いる
65は対物レンズであり、入射光を集゛光するために用
いられる。6はカップリングレンズで、PBS3からの
光束を受けてこれを集光させる。カップリングレンズ6
は直交された2つのかまぼこ形レンズで構成されている
。7は光検知器である。光検知器7はカップリングレン
ズ6からの入射光L6の光スポツト形状を検知すること
によって対物レンズ5からの出力光L5の光スポツト形
状を間接的に検知する。8はアクチュエータであり、ア
クチュエータ8は光検知器7の出力に従い、対物レンズ
5の出力光L5の焦点位置を調整する。81はレンズ駆
動部であり、レンズ駆動部81はアクチュエータ8から
の駆動制御出力によって、対物レンズ5の位置を調整す
る。9は情報を光学的に記録、再生、消去等が可能なデ
イスフであり、その一部を示す。ディスク9は対物レン
ズ5からの出力光L5がディスク面上に所望の光スポッ
トを照射することによって、上記の記録、再生、消去な
どを可能にしている。10はモータであり、ディスク9
はモータ10により駆動する。
第3図は第2図に示した光検知器7の従来の実施例を示
す。同図において、L6は第2図のカップリングレンズ
6の出力光L6を示す。Pl。
P2.P3.P4はそれぞれ光量を電気信号に変えるた
めのフォトダイオードである。入射光L6の光スポット
が真円のとき、フォトダイオードPL、P2.P3、及
びP4の出力電圧をそれぞれVl、V2.V3.V4と
すると、これらはそれぞれ等しくなるように整定しであ
る。71゜72はそれぞれディスク9上にトラッキング
を行うための減算器である。フォトダイオードP1の出
力電圧■1とフォトダイオードP2の出力電圧v2の差
(V 1−V 2)の出力信号を検出することによって
、間接的に対物レンズ5からの出力光L5が所定のライ
ン上に照射されているか否かを判別する。もし、対物レ
ンズ5の出力光L5がディスク9の情報記録ラインに対
称に当っていないときには、出力電圧v1とv2に差を
生じるので、その差の大きさ、及び符号により、ディス
ク9上の記録ラインからずれていることを検知し、その
差がなくなるまで、対物レンズ5の位置を制御するため
のトラッキング制御信号TAIを出・力する。
減算器72についても減算器71と同様に、フォトダイ
オードP3とP4の出力電圧v3とv4を入力信号とし
て、トラッキング制御信号TA2を得る。73.74は
加算器、75は比較器であり、対物レンズ5の出力光L
5がディスク9に当る焦点深度を調整するためのオート
フォーカス制御用の出力信号FAを得る部分である。こ
れは。
焦点深度がディスク9の記録ラインに合致しているとき
には入射光L6が真円の状態でフォトダイオードPL、
P2.P3.P4に均等に入射し。
しかもその光束量も最も大きく、出力電圧Vl。
V2.V3.V4がそれぞれが等しく、その太きさは最
大になる。もし、焦点深度がずれて、入射光L6がだ円
形状になり、フォトダイオードP1゜P2.P3.P4
(7)出力電圧Vl、V2.V3゜v4で作成した(V
1+V3)と(V2+V4)の値に差を生じないように
なる。この現象を加算器73,74、及び比較器75を
用いて検出し、その出力信号FAが零になるまで、対物
レンズ5の位置を調整する。第4図はトラッキング、及
びオートフォーカス制御による対物レンズ5の駆動部の
従来実施例を示す。同図において、811゜812.8
13,814はコイルである。815は対物レンズ5の
ホルダーである。816,817は磁石、818,81
9はばね、820はフレームである。対物レンズ5はホ
ルダー815で固定され、ばね818,819により、
光学ヘッドのフレーム820に据付けである。磁石81
6゜817は対物レンズ5の位置を定める要素のひとつ
として用いるもので、ホルダー815を鉄片など磁性体
とすることにより磁石816,817に吸引力と、ばね
818,819の引張り強さにより対物レンズ5の位置
が定まっている。第3図からのフォーカス制御用出力信
号FAにより、コイル811,812にも電流を流し、
対物レンズ5の位置を上、下に動かし、所望の焦点深度
にする。
トラッキング制御信号TA、TBはそれぞれコイル81
3,814に電流を流し、対物レンズ5の左右の位置を
調整し、所望のトラッキングを行う。
以上、従来の方式によれば、ディスクの記録ラインに対
して、光スポットを正確に照射するためのトラッキング
、及び焦点深度の制御を行うことができる。
このように、光デイスク装置は非常に複雑な光学系であ
り、各部の位置、角度等を厳密に調整することが不可欠
である。また対物レンズなど焦点の自動調整を要するも
のについてみると、第4図に示したように多くの構成部
品を有し、かつガラスレンズを使用するために慣性が大
きく応答が遅いという問題がある。
〔発明の目的〕
以上のことから、本発明においては特にレンズを1量・
簡便なものとし、小形で応答することのできる光学レン
ズ装置を提供することを目的とする。
〔発明の概要〕
本発明においては、レンズとして薄膜状のマイクロフレ
ネルレンズを使用する。さらには薄膜状レンズの上に圧
電素子を設け、その印加電圧を制御して焦点調整する6 〔発明の実施例〕 第6図は本発明の一例を示す全体構造図である。
レーザーダイオード1からでた発散光は、後述するマイ
クロフレネルレンズMFLであるコリメーションレンズ
2で平行光になり、偏光ビームスプリッタ3を透過して
、直線偏光となり後述するMFLである対物レンズ5で
絞られてディスク9に焦点を結ぶよう構成される。ここ
で、偏光ビームスプリッタはよく知られているようにλ
/4板との組合せにより、ディスク面で反射した光がレ
ーザーダイオード1に戻るのを防止するために用いられ
ている。すなわち、λ/4板4はカットされた面内に含
まれる光学軸と45度を成す方向に振動する直線偏光を
円偏光に、円偏光を直線偏光に変える働きをする位相差
板である。ディスクから反射した光がλ/4板4を通る
と直線偏光の方向は入射時のそれから90度変換される
。したがってディスクからの反射光は偏光ビームスプリ
ッタ3でレーザーダイオードl側へは戻らずに全光量が
光検知器7側へ屈折される。カップリングレンズ6は後
述するようなマイクロフレネルレンズであるので、対物
レンズ5とディスク9の距離により光検知器7に作るス
ポット形状が異なり、これは検知器の信号の増減として
捕えられる。このため光検知器7の信号を用いて、対物
レンズ5とディスク9の距離すなわち、フォーカシング
と半径方向すなわちトラッキングの制御を行うことがで
きる。このフォーカシング、トラッキングは対物レンズ
5を支承しているバネ53に設けられた圧電素子54.
56に与える電圧を制御することにより行うことができ
る。この詳細については後述する。
このように本発明によれば、従来必要とされていた高価
なコリメーションレンズ、対物レンズ、およびシリンド
リカルレンズを安価なマイクロフレネルレンズにするこ
とができるばかりでなく、それらを偏光ビームスプリッ
タ3に直接接合することにより時間を要する光軸調整の
手間を省くことができる。また、対物レンズの軽量化と
柔かいバネ53で支承したことにより、圧電素子54゜
56で制御することが可能となり、構造が単純になり周
波数特性も向上する。さらに全体の構成を見るとレーザ
ーダイオード1からアクチュエータを含んだ対物レンズ
5までの光ヘッドを小形化することができる。
第5図に本発明を実施したときの制御系のブロック図を
示す。
第5図では、光学ヘッドを制御するアクチュエータ並び
にディスク駆動用のモータの概略の制御回路図を示す。
第5図の7は光学ヘッド中の光検知器、831は光検知
器7の出力、焦点制御信号FAに、応じて光学ヘッドを
制御するアクチュエータ834を駆動し、光学ヘッドの
対物レンズ5からの光ビームをディスク9上に焦点を合
わせるオートフォーカスサーボ回路、 832は光検知器7の出力、トラッキング制御信号TA
I、TA2に応じてアクチュエータ834を駆動し、光
学ヘッドの対物レンズ5からの光ビームを、ディスク9
のトラック上に位置決めするオートトラッキングサーボ
回路、 1000は復調回路の出力、再生信号SRに応じてモー
タ10を駆動し、ディスク7の回転数制御を行う回転制
御回路である。
復調回M700は光検知器7の出力、トラッキング制御
信号TAI、TA2から再生信号を復調する復調回路で
ある。
第7図では、オートフォーカスサーボ831並びにアク
チュエータ8の詳細構成を示す。
光検知器7からの焦点制御信号FAは、位相補償回路8
35、フォーカスAGC(自動ゲイン調整)回路836
、切換回路839を介して、書込み読出しの各モードに
対して一定の大きさにゲイン調整された焦点制御信号F
AIとなる6焦点制御信号FAIは、ゲイン調整された
トラッキング制御信号TA4と加算器840で加算され
、駆動回路841を介して圧電素子54が駆動信号Al
、、=FA1+TA4に応じて駆動される。
同様に、ゲイン調整されたトラッキング制御信号TA4
に対して、焦点制御信号FAIは引算器゛842で引算
され、駆動回路843を介して圧電素子56が駆動信号
A2=FA1−TA4に応じて駆動される。
また、ディスクが装着されていない場合には、三角波発
生器837の出力が切換回路839を介して駆動回路8
41,843に入力され、圧電素子54.56の変位に
より対物レンズが上下動し。
ディスク9が装着されて、焦点制御信号FAが検知器8
38に入力されると、切換回路839がA側に切換り、
オートフォーカスサーボに引込まれる。
上述のように、圧電素子54.56は焦点制御信号FA
1.  トラッキング制御信号TA4による駆動信号A
l=FA1+TA3、A2;FAl−TA4.によって
駆動され、トラッキング制御48号が正になると例えば
圧電素子は伸び、このため対物レンズ5はディスク9に
接近する。合焦点位置に対物レンズ5がある時に、フォ
ーカス制御信号FAIが零で、合焦点時より対物レンズ
5がディスク9から遠ざかると、フォーカス制御信号F
AIが正方向に変化するように設定しておけば、上述の
圧電素子54.56の変位により、対物レンズ5がディ
スク9に接近し、合焦点位置まで移動する。このように
、上述のオートフォーカス制御回路により、ディスク9
の面振れ等に対して、常に対物レンズ5の焦点をディス
ク9上に合わせることが可能となる。
第8図では、第5図のオートトラッキングサーボ832
並びにアクチュエータ8の詳細構成を示す。
トラッキング制御信号TAIとTA2は、比較器850
にて、トラッキング制御信号TA3 (=TA 1−T
A 2)に変換される。
このトラキラキング制御信号TA3は、位相補償回路5
81、トラッキングAGC回路852を介して、加算器
853の入力となる。
一方、ジャンプ指令JCがジャンプパルス発生回路85
4に加えられ、この出力ジャンプパルスJPも加算器8
53の入力となる。
この加算器853の出力TA4は、加算器840゜引算
器842にそれぞれ加えられ、これらの加算器840、
引算器842の出力Al、A2は、焦点制御信号FAI
との関係から、A1=FA1+TA4.A2=FA1−
TA4となる。これらの駆動信号Al、A2が駆動回路
841,843を介して圧電素子54.56に加えられ
、これらの圧電素子54.56はトラッキング制御信号
TA4に応じて変位する。
これらの圧電素子54.56に加えられる駆動信号Al
、A2中のトラッキング制御信号TA4の符号は、トラ
ッキング制御信号TA4に対して2つの圧電素子54.
56が逆の動き(一方が伸びる場合は、他方が縮む)と
なるように、反対に設定する。
従って、圧電素子54.56にトラッキング制御信号T
A4に応じて生じる変位は、対物レンズ5からのビーム
光がディスク9上のトラックに対して直角方向に移動せ
しめるように、ディスク9の表面に対する対物レンズ5
上の平行面からの対物レンズ5の角度を変化させるので
、トラックに対するビーム光のずれを光検知器7によっ
て検出したトラック制御信号TAI、TA2を上述の回
路に加えることにより、トラックに対するビーム光のず
れを無くし、正確にビーム光をトラック上に照射できる
ように制御するオートトラッキングサーボが構成できる
また、光ビームの照射するトラックを移動させるトラッ
クジャンプ指令JCが入力されると、トラッキング制御
信号TA4にジャンプパルスJPが加わることにより、
光ビームの照射トラックの移動が行なわれる。
更に、トラック制御信号TA4は、高周波信号を排除し
、低周波成分のみを通過させる位相補償回路854を介
して、低周波トラッキング制御信号TA5に変換され、
加算器855に加わり、更に駆動回路856に加えられ
る。
駆動回路856は加算器855の出力、ヘッド送り信号
H1に応じて、光学ヘッド送り用のアクチュエータコイ
ル857に電流を供給する。
前記トラック制御信号TA5は高周波成分が排除されて
いるので、ヘッド送り信号H1はディスクの回転によっ
てビーム光の照射されるトラックが徐々に径方向に移動
することに対応する直流信号となるので、光学ヘッドの
径方向の送りがこの制御系によって行なわれる。
また、ビーム光を照射するトラックを大幅に移動する場
合は、移動トラック指令ADIが比較器859に加えら
れる。
この比較器859には、トラッキング制御信号TA3の
ゼロクロスをトラック数カウンタ858によってカウン
トした移動トラック数AD2が加えられ、移動トラック
指令ADIがら差引いた残りトラック数AD3が出力さ
れる。
この残りトラック数AD3は切換回路860に加わり、
残りトラック数がN以上の場合は電源電圧を、N以下の
場合は零となる。トラッキング制御信号TA6が、加算
器855に加わる。ここで、Nは、圧電素子54.56
による対物レンズの移動によりトラック制御可能なトラ
ック数である。
上述の構成により、移動トラック摺合ADLにより、ビ
ーム光°の照射トラックが移動トランク指令ADIから
N以内に入るまで、光学ヘッドを送り用アクチュエータ
コイルには最大電圧が印加され、最高速で移動し、ビー
ム光の照射トラックが移動トラック指令ADIからN以
内に入ると、今度はトラックジャンプ指令がジャンプパ
ルス発生回路に入力され、圧電素子54.56による対
物レンズ制御により、移動トラック指令ADIにより指
定されたトラックにビーム光が照射されるように制御さ
れる。
第9図では、第5図の回転制御1000.並びにモータ
10の詳細説明を示す。
加算器76でトラッキング制御信号TAI。
TA2を加算して、ディスク9に照射したビーム光の反
射光の光検知器7による検出光信号の総和SSを得、プ
リアンプ77、信号生成回路78を介して、再生信号S
Rが生成される。
この再生信号SRからクロック分離回路1ooxを介し
て再生信号周波数に同期したクロックCLIを出力し、
基準信号発生器の出力パルスCL2を基に前記クロック
CLIを位相検波器1002にて位相検波し、クロック
CLIと基準信号CL2どの位相差に応じた位相検波器
1002の出力CL3が、補償回路1004を介して駆
動回路1005に加わり、ディスク回転用のモータ10
のコイル1006に基準信号CL2に対するクロックC
LIの位相差に応じた電流が流れる。従って、ディスク
の再生信号周波数が基7着信号周波数に一致する様にモ
ータ10aの回転数制御が行なわれる。
次に第6図のコリメーションレンズ6とカップリングレ
ンズ6について説明する。まず、コリメーションレンズ
2について、第10図、第11図を用いて説明する6 第10図にフレネルゾーンプレートを利用した非等方性
ビーム(だ円ビーム)を等方性ビーム(真円)に変換す
る光学系を示す。201で示されるフレネルゾーンプレ
ートは一方向に光を集約する能力を持つ機能素子で1円
柱レンズ(かまぼこ形レンズ)と同じ働きを持ち、円柱
レンズより軽量小形という特徴がある。非等方性ビーム
101は2枚のフレネルゾーンプレート201によって
等方性ビーム202に変換される。
第11図の201aはフレネルゾーンプレート201を
上から見た図である。201b、201cはこの素子を
横からみたものを示す。この素子上には凹凸(凹:21
1.凸:210)が次の規則によって交互に作られてい
る。このフレネルゾーンプレートの焦点距離(平行な光
を入射した時に一点に集約するまでの距離)をf。とし
、素子の中心に近い順にみぞ、もしくは谷までの距離を
rll rm1  r3”’ rmとした時1.1α了
fa”z        ・・・(1)なる式が成り立
つ。ここでλは入射する光の波長である。具体的にはr
l は図中206.r、は207、r、は209で示さ
れる。
第12図と第13図にフレネルゾーンプレートを利用し
た非点収差方式焦点位置検出光学系ならびに、フレネル
ゾーンプレートの構成図を示す。
これは第6図のカップリング6に相当する。非点収差方
式焦点位置検呂方式は2枚の異なる焦点位置を持つシリ
ンドリカルレンズを直交方向にならべ、透過ビームを、
ある方向に長いだ円から、その方向に対して直角方向に
長いだ円まで変化させることで焦点位置を検畠する手法
である。
本構成の特徴は直交する2枚のシリンドリカルレンズを
1枚のフレネルゾーンプレートで実現し光学系を軽量小
形にしたことである。
フレネルゾーンプレートの焦点距Rfは次の式により決
定される。
f =(r、)”/ n 2.           
・・12)(ここで、nはフレネルゾーンプレートの凹
凸の数、r、は中心からn番目の凹凸までの距離、λは
光の波長である。すなわちnの値つまり凹凸の数を変え
ることにより異なった焦点距離を持たせることができる
具体的な例が第12図の602で示される複合化フレネ
ルゾーンプレートである。たて方向と横方向の凹凸を異
なったピッチで形成し、それぞれの方向に異なった焦点
距離を持たせている。
この複合化プレネルゾーンプレート602へ平行ビーム
光601を照射すると、その出力ビーム形状は603か
ら608で示される様に連続的に形状が変化する。光デ
イスク装置の対物レンズが合焦点位置にある時、平行ビ
ームが返ってくるとし、かつその時711で示される四
分割センサに真円すなわち605の位置に設置しておけ
ば、焦点がずれて、平行ビームがくずれた時、センサ上
のビーム形状は711a、711cで示される様に変化
し焦点ずれを検知することができる。
第13図に複合化フレネルゾーンプレートの詳細を示す
、縦方向ならびに横方向にそれぞれピッチの異なる溝を
オーバーラツプさせて2枚の異なった焦点距離の円柱レ
ンズの役をはたす。縦方向の溝による焦点位置J1は式
(2)よりj、=(r、)”/nλ         
・・・(3)として与えられる。r9は中心から縦方向
の最大距離で図中、r□は612、r2は613、・・
・r8は615で与えられる。
また同様に横方向の溝による焦点位Mf、は式%式%(
4) である。r /は中心から横方向の最大距離で図中r工
′は619、r 、 /は620、・・・r、 /は6
22で与えられる。
次に第1図(a)、(b)を用いて本発明の主要部であ
る可動マイクロレンズの実施例の構造と動作を説明する
。51はガラス、セラミックス、プラスチックスの透明
材料からなる基板、52はこの基板上にホトリソグラフ
ィーの技術を応用して形成した薄膜フレネルレンズで、
透明基板中に屈折率分布を作るいわゆるGRIN形のも
ので基板中に直接不純物を拡散するプロセスで中央から
徐々にその間隔が狭くなる複数個の円を屈折率分布で基
板中に作り込む、n番目の円の半径R3は前記の(1)
式で与えられる。
このようなレンズはフレネルレンズとして従来から知ら
れているが、ホトリソグラフィ微細加工技術を応用する
ことによって超小形のマイクロフレネルレンズを製作で
きる。寸法の一例は、基板の厚みが数10〜数100μ
m、フレネルレンズの外径は100μm〜数Iで極薄、
小径のレンズ  −がホトリソグラフィにより量産でき
る。53゜55は基板の外側に形成した梁で中央の円形
レンズ部を弾性的に支持する。この上にはPVF (ポ
リ弗化ビニリデン)などの薄板圧電素子を54゜56を
被着される。支持部53.55は直交するように形成さ
れており、第1図(b)に示すように圧電素子54.5
6に加える電圧を調整することによりレンズ52に入射
、集光する光ビームの方向をそれぞれ梁の方向に撮らせ
る。第1図(b)にはそれぞれの圧電素子に加える電圧
とレンズ基板51の挙動を説明する。圧電素子54.5
4’に電圧が印加されない場合(1)のように基板51
の変形はないから光ビームLXは垂直に入射し、ディス
ク9に入射する。第1図(a)に示したようにディスク
9にレーザ光L1を照射し、情報を記録する場合にはデ
ィスク上で約1μmφのスポット径に集束させる必要が
あるのでディスク9の回転などによる上下動がある場合
、レンズ 51は常にこれに追随して動き、ディスク9面上に光ビ
ームL1を集束させなければならないにのためディスク
の上下動を前述したフォーカス検知(第7図参照)によ
り検出し、ディスク9とレンズ52の距離が一定になる
よう制御する。第1図(b)の(2)では圧電素子54
.54’に同一極性、同値の電圧を加えることにより、
弾性支持部53または55の対称的に変形させレンズ5
2に垂直変位AZを与え、ディスク9との距離を一定に
保つ。また、第1図(a)に示すディスク9上の情報ビ
ット91は1μmくらいの小さいものゆえ、これを読取
る照射光はこの寸法精度で制御して情報ビット91上に
当てなければならない。これに対し、ディスク9の回転
に伴なう半径方向のふれは数10μmと大きいので、デ
ィスク9上に集束する光スポラ1〜はこのふれに追随さ
せる必要がある。これはディスク半径方向に配列した弾
性支持部53をこの上に被着した圧電素子54.54’
に異極性の電圧を加えて非対称に変形させ、第1図(b
)(3)に示すようにレンズ52を傾け(理解しやすい
ように誇張して描いである)ディスク9上での光スポッ
トをΔrふらせて回転ぶれに追随させる。この要領にて
ディスク9のトラック方向に配列した弾性支持部55を
非対称に変形させることにより、ディスク9上での光ス
ポットをジッタリングさせることができる。書換可能型
光ディスクの対物レンズとして本発明を応用する場合。
ディスク9に書かれた情報ビット91を消去するに必要
な時間だけ光を照射する機能としてジッタリング・が有
用となる。
以上の説明は透明基板上に1個のマイクロフレネルレン
ズを持つ構成について光デイスク用対物レンズを例にと
ってその概略を説明したが、本発明の薄膜レンズ装置は
超小型で低コストゆえ光ビームを2方向に高速スキャニ
ングする装置としてバーコードリーダーやレーザビーム
プリンタ等の情報機器用デバイスとしても有効である。
また、第1図(a)の説明では薄膜レンズの実施例とし
て屈折率分布を基板中に形成させる。GRINレンズの
例を述べたが、第1図(b)に示すような、透明基板上
にPMMA (ポリメタアクリレート)をホトレジスト
材として1μmくらいの膜厚に塗布し、これをホトリソ
グラフィーで微細加工したマイクロフレネルレンズを用
いてもよい。ただし、PMMA材は耐湿性に難があるた
め、長期使用のためにはスタンピングの技法で透明基板
中に溝を形成することによりマイクロフレネルレンズを
構成した方がよい。
第14図は光デイスク用として必要な機能を具備した薄
膜レンズ装置で、基板51はガラスなどの透明材料から
なる薄板で中央部には主レンズ52、周辺部にはトラッ
ク検知用小レンズ59と情報検知用小レンズ58が2個
ずつ配置されている。これらのレンズは第1図で説明し
たと同じホトリソグラフィ技術を用いて微細加工され、
寸法は主レンズ52の直径が例えば2+nmで検知用レ
ンズ58.59の直径が0.5 mmである。これらの
レンズの外側には弾性支持部53.55が直交する関係
で配設され、その上には薄板圧電素子54゜56が被着
されている。レーザダイオードからの光は上部から小レ
ンズ58.59の範囲まで入射してくるが、その強度は
ガウス分布の周辺付近となる故弱い。これに比較し、主
レンズ52に入射する光強度は極めて強くディスク9上
に情報ビット91を書込むに充分なパワーを有するよう
回折限界までスポット径を絞り込まれる。この他に、検
知レンズ58で検知した情報ビット91を消去する場合
には圧電素子56.56’に異極性の電圧を印加しなが
らトラック方向(円周方向)にディスク上の光スポット
をジッタリング振動させ、情報ビットを所要の時間照射
して消去させる。相変態を利用する材料は一般的に書込
時間より消去時間が長く、このため光スポットをディス
ク上の情報ビットに追従させ所要の時間だけ照射する必
要がある。小レンズ59はトラック検知用の光ビームを
情報ビット91が書込まれるラインを検出しラインから
光スポットが外れた場合、圧電素子54.54’ に異
極性の電圧を与え、前記第1図(b)の要領でトラッキ
ングを行うためのものである。
第14図(b)には実施例を示す。これは矢印方向から
来る半導体レーザの出射光を矩形状レンズ52と円状レ
ンズ521に主に取入れ、別の円状レンズ58にはレー
ザからの出射光強度の低い光を取入れ、ディスク面9に
照射し、読出光910゜書込み920、消去光930を
作るものである。
このようにディスク面に異なる形状強度の光を一枚の基
板51上に同時に形成することにより、読出し、消去、
、書込み作業を任意に実行できる光ディスクに好適な光
ヘツド用レンズ装置を提供できる。
第15図は本発明による効果のひとつを説明するための
、トラッキング、あるいはフォーカス制御の周波数特性
の概念図を示す。
同図において、Flは従来の光学ヘッドの制御について
の周波数特性であり、FNは本発明の光学ヘッドについ
ての周波数特性である。
本発明の光学ヘッドは従来のものに比べて、重量が軽く
できるので、レンズの位置を制御するためのばねの強さ
も弱めることができるので、応答範囲を拡大できる。し
たがって、従来よりも高速度で所定の制御が行い得るの
で、ディスク上への記録、及び信号の再生などにおいて
、高速度化、S/Nの向上ができる。
〔発明の効果〕
以上詳細に述べたように、本発明によれば光学レンズ装
置を簡単、小型に構成することができる。
また焦点、軌道調整容易であり、従来のものに較べて高
い周波数特性を得ることができる。また。
一枚の基板上に書込、消去、軌道及び情報検知機能を有
する多機能レンズ装置を実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の主要部である可動マイクロレンズの実
施例の説明図、第2図は従来の光デイスク装置の光学系
の全体構成図、第3図は従来の光検知器の構成図、第4
図は従来の対物レンズ駆動部の構成図、第5図は本発明
の実施例の制御系のブロック図、第6図は本発明の実施
例の全体構成図、第7図は本発明の実施例のオートフォ
ーカスサーボ系のブロック図、第8図は本発明の実施例
のトラッキングサーボ系のブロック図、第9図は本発明
の実施例の回転制御系のブロック図、第10図は本発明
の実施例のフレネルゾーンプレートを利用した光学系の
説明図、第11図は本発明の実施例のフレネルゾーンプ
レートの説明図、第12図は本発明の実施例のフレネル
ゾーンプレートを利用した非点収差方式焦点位置検出光
学系の説明図、第13図は本発明の実施例のフレネルゾ
ーンプレートの構成図、第14図は本発明の他の実施例
の薄膜レンズ装置の構成図、第15図は本発明による効
果のひとつを説明する。トラッキングあるいはフォーカ
ス制御の周波数特性の概念図である。 1・・・レーザダイオード、。2・・・コリメーション
レンズ、3・・・偏光ビームスプリッタ、4・・・λ/
4板、5・・・対物レンズ、6・・・カップリングレン
ズ、7・・・  ′箔I III Cb) L1 +000 Y:Jら口

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、端部を固定された薄膜状レンズの周囲に圧電素子を
    備えた光学レンズ装置。 2、端部を固定され弾性を有する薄膜状レンズの周囲に
    圧電素子を備えた光学レンズ装置。 3、端部を固定された薄膜状レンズの周囲に圧電素子を
    備え、圧電素子に印加する電圧を調整して薄膜状レンズ
    の焦点位置を制御する光学レンズ装置。 4、第3項の光学レンズ装置において、薄膜状レンズを
    介して対向する位置に設けられた圧電素子に同極性、同
    電位の電圧を印加し高さ方向の焦点位置を調整すること
    を特徴とする光学レンズ装置。 5、第3項の光学レンズ装置において、薄膜状レンズを
    介して対向する位置に設けられた圧電素子に異極性又は
    同極性異電位の電圧を印加し側方方向の焦点位置を調整
    することを特徴とする光学レンズ装置。 6、端部を固定され弾性を有する薄膜状レンズの周囲に
    圧電素子を備えた光学レンズ装置であって、前記薄膜状
    レンズは該レンズと対向する位置に設けられ回転する記
    録媒体に光ビームを照射しその反射光に基づいて記録媒
    体の記録情報を再生するための第1の薄膜状レンズと、
    記録媒体の回転方向と直角方向に配置された1対のレン
    ズであつて一方より入射し他方より反射光を受取りトラ
    ッキングを行なう第2の薄膜状レンズとを備え、前記圧
    電素子は第2の薄膜状レンズと同方向の外部側に一対設
    けられ第2の薄膜状レンズを介して得た反射光にもとづ
    いて印加電圧が調整されることを特徴とする光学レンズ
    装置。 7、端部を固定され弾性を有する薄膜状レンズの周囲に
    圧電素子を備えた光学レンズ装置であつて、前記薄膜状
    レンズは該レンズと対向する位置に設けられ回転する記
    録媒体に光ビームを照射しその反射光に基づいて記録媒
    体の記録情報を再生するための第1の薄膜状レンズと、
    記録媒体の回転方向に配置された1対のレンズであつて
    一方より入射し他方より反射光を受取りジッタリングを
    行なう第3の薄膜状レンズとを備え、前記圧電素子は第
    2の薄膜状レンズと同方向の外部側に一対設けられ第3
    の薄膜状レンズを介して得た反射光にもとづいて印加電
    圧が調整されることを特徴とする光学レンズ装置。 8、端部を固定され弾性を有する薄膜状レンズの周囲に
    圧電素子を備えた光学レンズ装置であつて、前記薄膜状
    レンズは該レンズと対向する位置に設けられ回転する記
    録媒体に光ビームを照射しその反射光に基づいて記録媒
    体の記録情報を再生するための第1の薄膜状レンズと、
    記録媒体の回転方向と直角方向に配置された1対のレン
    ズであつて一方より入射し他方より反射光を受取りトラ
    ッキングを行なう第2の薄膜状レンズと、記録媒体の回
    転方向に配置された1対のレンズであつて一方より入射
    し他方より反射光を受取りジッタリングを行なう第3の
    薄膜状レンズとを備え、前記圧電素子は第2の薄膜状レ
    ンズと同方向の外部側に一対設けられ第2薄膜状レンズ
    を介して得た反射光にもとづいて印加電圧が調整される
    第1の圧電素子と、第3の薄膜状レンズと同方向の外部
    側に一対設けられ第3の薄膜状レンズを介して得た反射
    光にもとづいて印加電圧が調整される第2の圧電素子と
    を備えることを特徴とする光学レンズ装置。 9、端部を固定され弾性を有する薄膜状レンズの周囲に
    圧電素子を備えた光学レンズ装置であつて、前記薄膜状
    レンズは該レンズと対向する位置に設けられ回転する記
    録媒体に光ビームを照射しその反射光に基づいて記録媒
    体の記録情報を再生するためのものとされ、圧電素子は
    記録媒体の回転方向に薄膜レンズを介して一対配置され
    、記録情報の消去の際に高周波の信号が印加され長円ビ
    ームを作ることを特徴とする光学レンズ装置。 10、端部を固定された薄膜状レンズが弾性を有するこ
    とを特徴とする光学レンズ装置。 11、第10項のレンズにおいて、薄膜状レンズが1個
    または複数個の円状または矩形状の光を記録媒体上に形
    成できることを特徴とする光学レンズ装置。
JP59216250A 1984-10-11 1984-10-17 光学レンズ装置 Granted JPS6196532A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59216250A JPS6196532A (ja) 1984-10-17 1984-10-17 光学レンズ装置
EP85112483A EP0180767B1 (en) 1984-10-11 1985-10-02 Optical lens device
DE8585112483T DE3575805D1 (de) 1984-10-11 1985-10-02 Halterung fuer optische linse.
US06/786,499 US4775967A (en) 1984-10-11 1985-10-11 Beam spot control device using a thin micro lens with an actuator

Applications Claiming Priority (1)

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JP59216250A JPS6196532A (ja) 1984-10-17 1984-10-17 光学レンズ装置

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JPH0519210B2 JPH0519210B2 (ja) 1993-03-16

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ID=16685620

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JP59216250A Granted JPS6196532A (ja) 1984-10-11 1984-10-17 光学レンズ装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63304437A (ja) * 1987-06-04 1988-12-12 Mitsubishi Electric Corp 光ヘッド装置
JPH08212563A (ja) * 1995-11-10 1996-08-20 Mitsubishi Electric Corp 光学式ディスク装置

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JPS63304437A (ja) * 1987-06-04 1988-12-12 Mitsubishi Electric Corp 光ヘッド装置
JPH08212563A (ja) * 1995-11-10 1996-08-20 Mitsubishi Electric Corp 光学式ディスク装置

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