JPH03228235A - 情報記録再生用ヘッド - Google Patents
情報記録再生用ヘッドInfo
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- JPH03228235A JPH03228235A JP2200765A JP20076590A JPH03228235A JP H03228235 A JPH03228235 A JP H03228235A JP 2200765 A JP2200765 A JP 2200765A JP 20076590 A JP20076590 A JP 20076590A JP H03228235 A JPH03228235 A JP H03228235A
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- polarizing beam
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Landscapes
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光ディスク装置などに好適な情報記録再生用ヘ
ッドに関する。
ッドに関する。
〔従来の技術及び発明が解決しようとする課題]上記し
たところの装置は多くのレンズにより構成される光学系
であり、レンズは主にガラスにより構成される。かつレ
ンズのうち多くのものは焦点調整を自動的に行なう必要
があるために、レンズの駆動機構を有している。
たところの装置は多くのレンズにより構成される光学系
であり、レンズは主にガラスにより構成される。かつレ
ンズのうち多くのものは焦点調整を自動的に行なう必要
があるために、レンズの駆動機構を有している。
このような光学系の代表的−例として光ディスク装置に
ついて、以下説明する。光ディスク装置は雑誌「日立評
論J 1984年8月号等にてすでによく知られたもの
である。
ついて、以下説明する。光ディスク装置は雑誌「日立評
論J 1984年8月号等にてすでによく知られたもの
である。
第2図は従来の光ディスク装置の光学系の全体構成を示
す。同図の各部の記号とその動作について以下に説明す
る。■は光源となろレーザダイオードである。2はコリ
メーションレンズで、レザーダイオード1の光束を平行
光にする。3は偏光ビームスプリッタ(以下PBSと略
称する)で、コリメーションレンズの出力光を透過する
とともに、つぎに述べる記号4で示す1/4波長板から
のもどり光を屈折する。1/4波長板はPH10で入射
光と反射光の識別を容易にするために光の位相偏光に用
いる。5は対物レンズであり、入射光を集光するために
用いられる。6はカップリングレンズで、PBS3から
の光束を受けてこれを集光させる。カップリングレンズ
6は直交された2つのかまぼこ形レンズで構成されてい
る。7は光検知器である。光検知器7はカップリングレ
ンズ6からの入射光■、6の光スポツト形状を検知する
ことによって対物レンズ5からの出力光L5の光スポツ
ト形状を間接的に検知する。8はアクチュエータであり
、アクチュエータ8は光検知器7の出力に従い、対物レ
ンズ5の出力光L5の焦点位置を調整する。81はレン
ズ駆動部であり、レンズ駆動部81はアクチュエータ8
からの駆動制御出力によって、対物レンズ5の位置を調
整する。
す。同図の各部の記号とその動作について以下に説明す
る。■は光源となろレーザダイオードである。2はコリ
メーションレンズで、レザーダイオード1の光束を平行
光にする。3は偏光ビームスプリッタ(以下PBSと略
称する)で、コリメーションレンズの出力光を透過する
とともに、つぎに述べる記号4で示す1/4波長板から
のもどり光を屈折する。1/4波長板はPH10で入射
光と反射光の識別を容易にするために光の位相偏光に用
いる。5は対物レンズであり、入射光を集光するために
用いられる。6はカップリングレンズで、PBS3から
の光束を受けてこれを集光させる。カップリングレンズ
6は直交された2つのかまぼこ形レンズで構成されてい
る。7は光検知器である。光検知器7はカップリングレ
ンズ6からの入射光■、6の光スポツト形状を検知する
ことによって対物レンズ5からの出力光L5の光スポツ
ト形状を間接的に検知する。8はアクチュエータであり
、アクチュエータ8は光検知器7の出力に従い、対物レ
ンズ5の出力光L5の焦点位置を調整する。81はレン
ズ駆動部であり、レンズ駆動部81はアクチュエータ8
からの駆動制御出力によって、対物レンズ5の位置を調
整する。
9は情報を光学的に記録、再生、消去等が可能なディス
クであり、その一部を示す。ディスク9は対物レンズ5
からの出力光L5がディスク面上に所望の光スポットを
照射することによって、上記の記録、再生、消去などを
可能にしている。10はモータであり、ディスク9はモ
ータ10により駆動する。
クであり、その一部を示す。ディスク9は対物レンズ5
からの出力光L5がディスク面上に所望の光スポットを
照射することによって、上記の記録、再生、消去などを
可能にしている。10はモータであり、ディスク9はモ
ータ10により駆動する。
第3図は第2図に示した光検知器7の従来の実施例を示
す。同図において、L 6は第2図のカップリングレン
ズ6の出力光L6を示す。Pl。
す。同図において、L 6は第2図のカップリングレン
ズ6の出力光L6を示す。Pl。
P2.P3.P4はそれぞれ光量を電気信号に変えるた
めのフォトダイオードである。入射光L 6の光スポッ
トが真円のとき、フォトダイオードPI、P2.P3、
及びP4の出力電圧をそれぞれVl、V2.V3.V4
とすると、これらはそれぞれ等しくなるように帽定しで
ある。71゜72はそれぞれディスク9上にトラッキン
グを行うための減算器である。フォトダイオードP1の
出力電圧v1とフォトダイオードP2の出力電圧v2の
差(Vl−V2)の出力信号を検出することによって、
間接的に対物レンズ5からの出力光L5が所定のライン
上に照射されているか否かを判別する。もし、対物レン
ズ5の出力光L 5がディスク9の情報記録ラインに対
称に当っていないときには、出力電圧v1と■2に差を
生しるので、その差の大きさ、及び符号により、ディス
ク9Lの記録ラインからずれていることを検知し、その
差がなくなるまで、対物レンズ5の位置を制御するため
のトラッキング制御信号TAIを出力する。
めのフォトダイオードである。入射光L 6の光スポッ
トが真円のとき、フォトダイオードPI、P2.P3、
及びP4の出力電圧をそれぞれVl、V2.V3.V4
とすると、これらはそれぞれ等しくなるように帽定しで
ある。71゜72はそれぞれディスク9上にトラッキン
グを行うための減算器である。フォトダイオードP1の
出力電圧v1とフォトダイオードP2の出力電圧v2の
差(Vl−V2)の出力信号を検出することによって、
間接的に対物レンズ5からの出力光L5が所定のライン
上に照射されているか否かを判別する。もし、対物レン
ズ5の出力光L 5がディスク9の情報記録ラインに対
称に当っていないときには、出力電圧v1と■2に差を
生しるので、その差の大きさ、及び符号により、ディス
ク9Lの記録ラインからずれていることを検知し、その
差がなくなるまで、対物レンズ5の位置を制御するため
のトラッキング制御信号TAIを出力する。
減算器72についても減算器71と同様に、フォ1へダ
イオードP3とP4の出力電圧■3とv4を人力信号と
して、トラッキング制御信号TA2を得る。73.74
は加算器、75は比較器であり、対物レンズ5の出力光
L5がディスク9に当る焦点深度を調整するためのオー
トフォーカス制御用の出力信号FAを得る部分である。
イオードP3とP4の出力電圧■3とv4を人力信号と
して、トラッキング制御信号TA2を得る。73.74
は加算器、75は比較器であり、対物レンズ5の出力光
L5がディスク9に当る焦点深度を調整するためのオー
トフォーカス制御用の出力信号FAを得る部分である。
これは、焦点深度がディスク9の記録ラインに合致して
いるときには入射光L6が真円の状態でフォトダイオー
ドPL、P2.P3.P4に均等に入射し、しかもその
光束量も最も大きく、出力電圧Vl。
いるときには入射光L6が真円の状態でフォトダイオー
ドPL、P2.P3.P4に均等に入射し、しかもその
光束量も最も大きく、出力電圧Vl。
V2.V3.V4がそれぞれが等しく、その大きさは最
大になる。もし、焦点深度がずれて、入射光L6がだ円
形状になり、フォトダイオードP1゜P2.P3.P4
(7)出力電圧Vl、V2.V3゜■4で作成した(V
1+V3)と(V2+V4)の値に差を生じないように
なる。この現象を加算器13,74、及び比較器75を
用いて検出し、その出力信号FAが零になるまで、対物
レンズ5の位置を調整する。第4図はトラッキング、及
びオートフォーカス制御による対物レンズ5の訃動部の
従来実施例を示す。同図において、811゜812.8
13,814はコイルである。815は対物レンズ5の
ホルダーである。816,817は磁石、818,81
9はばね、820はフレームである。対物レンズ5はホ
ルダー815で固定され、ばね818,819により、
光学ヘッドのフレーム820に据付けである。磁石81
6゜817は対物レンズ5の位置を定める要素のひとつ
として用いるもので、ホルダー815を鉄片など磁性体
とすることにより磁石816,817に吸引力と、はね
818,819の引張り強さにより対物レンズ5の位置
が定まっている。第3図からのフォーカス制御用出力信
号FAにより、コイル811,812にも電流を流し、
対物レンズ5の位置を上、下に動かし、所望の焦点深度
にする。
大になる。もし、焦点深度がずれて、入射光L6がだ円
形状になり、フォトダイオードP1゜P2.P3.P4
(7)出力電圧Vl、V2.V3゜■4で作成した(V
1+V3)と(V2+V4)の値に差を生じないように
なる。この現象を加算器13,74、及び比較器75を
用いて検出し、その出力信号FAが零になるまで、対物
レンズ5の位置を調整する。第4図はトラッキング、及
びオートフォーカス制御による対物レンズ5の訃動部の
従来実施例を示す。同図において、811゜812.8
13,814はコイルである。815は対物レンズ5の
ホルダーである。816,817は磁石、818,81
9はばね、820はフレームである。対物レンズ5はホ
ルダー815で固定され、ばね818,819により、
光学ヘッドのフレーム820に据付けである。磁石81
6゜817は対物レンズ5の位置を定める要素のひとつ
として用いるもので、ホルダー815を鉄片など磁性体
とすることにより磁石816,817に吸引力と、はね
818,819の引張り強さにより対物レンズ5の位置
が定まっている。第3図からのフォーカス制御用出力信
号FAにより、コイル811,812にも電流を流し、
対物レンズ5の位置を上、下に動かし、所望の焦点深度
にする。
トラッキング制御信号TA、TBはそれぞれコイル81
3,814に電流を流し、対物レンズ5の左右の位置を
調整し、所望のトラッキングを行う。
3,814に電流を流し、対物レンズ5の左右の位置を
調整し、所望のトラッキングを行う。
以上、従来の方式によれば、ディスクの記録ラインに対
して、光スポットを正確に照射するためのトラッキング
、及び焦点深度の制御を行うことができる。
して、光スポットを正確に照射するためのトラッキング
、及び焦点深度の制御を行うことができる。
このように、光ディスク装置は非常に複雑な光学系であ
り、各部の位置、角度等を厳密に調整することが不可欠
である。また対物レンズなど焦点の自動調整を要するも
のについてみると、第4図に示したように多くの構成部
品を有し、かつガラスレンズを使用するために慣性が大
きく応答が遅いという問題がある。
り、各部の位置、角度等を厳密に調整することが不可欠
である。また対物レンズなど焦点の自動調整を要するも
のについてみると、第4図に示したように多くの構成部
品を有し、かつガラスレンズを使用するために慣性が大
きく応答が遅いという問題がある。
以上のことから、本発明においては特に光学系部材を軽
量・簡便なものとし、小形で応答することのできる情報
記録再生ヘッドを提供することを目的とする。
量・簡便なものとし、小形で応答することのできる情報
記録再生ヘッドを提供することを目的とする。
本発明は、光源からの光を平行光に変える第1のレンズ
と、その平行光を透過する偏光ビームスプリッタと、偏
光ビームスプリッタを透過した平行光の位相をずらす1
/4波長板と、1/4波長板を透過した平行光を光ディ
スク上に集光し、光ディスクから反射して戻った光を平
行光に変える第2のレンズと、第2のレンズ及び174
波長板を介して戻った平行光を反射させる前記の偏光ビ
ームスプリッタと、偏光ビームスプリッタが反射した平
行光を光検知器へ集光する第3のレンズと、を備えた情
報記録再生用ヘッドにおいて、前記の1/4波長板を偏
光ビームスプリッタの光ディスク側の面に接着したこと
を特徴とするものである。
と、その平行光を透過する偏光ビームスプリッタと、偏
光ビームスプリッタを透過した平行光の位相をずらす1
/4波長板と、1/4波長板を透過した平行光を光ディ
スク上に集光し、光ディスクから反射して戻った光を平
行光に変える第2のレンズと、第2のレンズ及び174
波長板を介して戻った平行光を反射させる前記の偏光ビ
ームスプリッタと、偏光ビームスプリッタが反射した平
行光を光検知器へ集光する第3のレンズと、を備えた情
報記録再生用ヘッドにおいて、前記の1/4波長板を偏
光ビームスプリッタの光ディスク側の面に接着したこと
を特徴とするものである。
また、l/4波長板を偏光ビームスプリッタの前記の面
にスペーサを介して取り付けてもよい。
にスペーサを介して取り付けてもよい。
上記のように1/4波長板を偏光ビームスプリッタに接
着したので、ヘッドの光軸方向の寸法が短くなるからヘ
ッドを薄型にできる。さらに、部品点数が減り、光軸調
整の手間が省ける。
着したので、ヘッドの光軸方向の寸法が短くなるからヘ
ッドを薄型にできる。さらに、部品点数が減り、光軸調
整の手間が省ける。
また、1/4波長板をスペーサを介して偏光ビームスプ
リッタに取り付ければ、ヘッドを薄型にできると共に、
1/4波長板とPBSとの光軸回りの角度の位置関係を
微調整できる。
リッタに取り付ければ、ヘッドを薄型にできると共に、
1/4波長板とPBSとの光軸回りの角度の位置関係を
微調整できる。
第6図は本発明の一例を示す全体構造図である。
レーザーダイオードlからでた発散光は、第1のレンズ
、即ち後述するマイクロフレネルレンズMFI、である
コリメーションレンズ2で平行光になり、偏光ビームス
プリッタ3を透過して直線偏光となり、第2のレンズ、
即ち後述するMFLである対物レンズ5で絞られてディ
スク9に焦点を結ぶよう構成される。ここで、偏光ビー
ムスプリッタはよく知られているように1/4波長板と
の組合せにより、ディスク面で反射した光がレーザーダ
イオード1に戻るのを防止するために用いられている。
、即ち後述するマイクロフレネルレンズMFI、である
コリメーションレンズ2で平行光になり、偏光ビームス
プリッタ3を透過して直線偏光となり、第2のレンズ、
即ち後述するMFLである対物レンズ5で絞られてディ
スク9に焦点を結ぶよう構成される。ここで、偏光ビー
ムスプリッタはよく知られているように1/4波長板と
の組合せにより、ディスク面で反射した光がレーザーダ
イオード1に戻るのを防止するために用いられている。
すなわち、174波長板4はカットされた面内に含まれ
る光学軸と45度を成す方向に振動する直線偏光を円偏
光に、円偏光を直線偏光に変える働きをする位相差板で
ある。ディスクから反射した光が1/4波長板4を通る
と直線偏光の方向は入射時のそれから90度変換される
。したがってディスクからの反射光は偏光ビームスプリ
ッタ3でレーザーダイオード1側へは戻らずに全光量が
光検知器7側へ屈折される。1/4波長板4は偏光ビー
ムスプリッタ3の対物レンズ側の面に接着して、ヘッド
の薄型化をはかる。接着剤には紫外線硬化性樹脂、松脂
等を用いる。1/4波長板4は人工水晶等の材料をガラ
ス等の薄い基板上に蒸着して作ることもできる。また、
この1/4波長板4は偏光ビームスプリッタ3の面との
間に光軸回りに回転可能な薄いスペーサを介して取り付
けてもよい。この場合、1/4波長板とPBSとの光軸
回りの角度の微調整をした後固定する。カップリングレ
ンズ6は後述するようなマイクロフレネルレンズである
ので、対物レンズ5とディスク9の距離により光検知器
7に作るスポット形状が異なり、これは検知器の16号
の増減として捕らえられる。このため光検知器7の信号
を用いて、対物レンズ5とディスク9の距離、すなわち
フォーカシングと、半径方向、すなわちトラッキングの
制御を行うことができる。このフォーカシングとトラッ
キングは対物レンズ5を支承しているバネ53に設けら
れた圧電素子54.56に与える電圧を制御することに
より行うことができる。この詳細については後述する。
る光学軸と45度を成す方向に振動する直線偏光を円偏
光に、円偏光を直線偏光に変える働きをする位相差板で
ある。ディスクから反射した光が1/4波長板4を通る
と直線偏光の方向は入射時のそれから90度変換される
。したがってディスクからの反射光は偏光ビームスプリ
ッタ3でレーザーダイオード1側へは戻らずに全光量が
光検知器7側へ屈折される。1/4波長板4は偏光ビー
ムスプリッタ3の対物レンズ側の面に接着して、ヘッド
の薄型化をはかる。接着剤には紫外線硬化性樹脂、松脂
等を用いる。1/4波長板4は人工水晶等の材料をガラ
ス等の薄い基板上に蒸着して作ることもできる。また、
この1/4波長板4は偏光ビームスプリッタ3の面との
間に光軸回りに回転可能な薄いスペーサを介して取り付
けてもよい。この場合、1/4波長板とPBSとの光軸
回りの角度の微調整をした後固定する。カップリングレ
ンズ6は後述するようなマイクロフレネルレンズである
ので、対物レンズ5とディスク9の距離により光検知器
7に作るスポット形状が異なり、これは検知器の16号
の増減として捕らえられる。このため光検知器7の信号
を用いて、対物レンズ5とディスク9の距離、すなわち
フォーカシングと、半径方向、すなわちトラッキングの
制御を行うことができる。このフォーカシングとトラッ
キングは対物レンズ5を支承しているバネ53に設けら
れた圧電素子54.56に与える電圧を制御することに
より行うことができる。この詳細については後述する。
このように本発明によれば、従来必要とされていた高価
なコリメーションレンズ、対物レンズ、およびシリンド
リカルレンズを安価なマイクロフレネルレンズにするこ
とができるばかりでなく、1/4波長板を含めてそれら
を偏光ビームスプリッタ3に直接接合することにより時
間を要する光軸調整の手間を省くことができる。また、
対物レンズの軽量化と柔かいバネ53で支承したことに
より、圧電素子54.56で制御することが可能となり
、構造が単純になり周波数特性も向上する。
なコリメーションレンズ、対物レンズ、およびシリンド
リカルレンズを安価なマイクロフレネルレンズにするこ
とができるばかりでなく、1/4波長板を含めてそれら
を偏光ビームスプリッタ3に直接接合することにより時
間を要する光軸調整の手間を省くことができる。また、
対物レンズの軽量化と柔かいバネ53で支承したことに
より、圧電素子54.56で制御することが可能となり
、構造が単純になり周波数特性も向上する。
さらに全体の構成を見ると、レーザーダイオードlから
アクチュエータを含んだ対物レンズ5までの光学ヘッド
全体を小形、かつ薄型化することができる。
アクチュエータを含んだ対物レンズ5までの光学ヘッド
全体を小形、かつ薄型化することができる。
第5図に本発明を実施したときの制御系のブロック図を
示す。
示す。
第5図では、光学ヘッドを制御するアクチュエータ並び
にディスク腫動用のモータの概略の制御回路図を示す。
にディスク腫動用のモータの概略の制御回路図を示す。
第5図の7は光学ヘッド中の光検知器、831は光検知
器7の出力、焦点制御44号FAに、応じて光学ヘッド
を制御するアクチュエータ834を駆動し、光学ヘッド
の対物レンズ5からの光ビームをディスク9上に焦点を
合わせるオートフォーカスサーボ回路。
器7の出力、焦点制御44号FAに、応じて光学ヘッド
を制御するアクチュエータ834を駆動し、光学ヘッド
の対物レンズ5からの光ビームをディスク9上に焦点を
合わせるオートフォーカスサーボ回路。
832は光検知[17の出力、トラッキング制御信号T
AI、TA2に応じてアクチュエータ834を駆動し、
光学ヘッドの対物レンズ5からの光ビームを、ディスク
9のトラック上に位置決めするオートトラッキングサー
ボ回路。
AI、TA2に応じてアクチュエータ834を駆動し、
光学ヘッドの対物レンズ5からの光ビームを、ディスク
9のトラック上に位置決めするオートトラッキングサー
ボ回路。
1000は復調回路の出力、再生信号SRに応じてモー
タ10を駆動し、ディスク7の回転数制御を行う回転制
御回路である。
タ10を駆動し、ディスク7の回転数制御を行う回転制
御回路である。
復調回路700は光検知器7の出力、トラッキング制御
信号TAI、TA2から再生信号を復調する復調回路で
ある。
信号TAI、TA2から再生信号を復調する復調回路で
ある。
第7図では、オートフォーカスサーボ831並びにアク
チュエータ8の詳細構成を示す。
チュエータ8の詳細構成を示す。
光検知器7からの焦点制御信号FAは、位相補償回路8
35、フォーカスAGC(自動ゲイン調整)回路836
、切換回路839を介して、書込み読出しの各モードに
対して一定の大きさにゲイン調整された焦点制御信号F
ALとなる。
35、フォーカスAGC(自動ゲイン調整)回路836
、切換回路839を介して、書込み読出しの各モードに
対して一定の大きさにゲイン調整された焦点制御信号F
ALとなる。
焦点制御信号FAIは、ゲイン調整されたトラッキング
制御(ii号TA4と加算器840で加算され、駆動回
路841を介して圧電素f54が駆動信号Al=FAl
+TA4に応じて駆動される。
制御(ii号TA4と加算器840で加算され、駆動回
路841を介して圧電素f54が駆動信号Al=FAl
+TA4に応じて駆動される。
同様に、ゲイン調整されたトラッキング制御信号T A
4に対して、焦点制御信号FAIは引算器842で引
算され、駆動回路843を介して圧電素子56が駆動信
号A2=FAl−TA4に応じて1!動される。
4に対して、焦点制御信号FAIは引算器842で引
算され、駆動回路843を介して圧電素子56が駆動信
号A2=FAl−TA4に応じて1!動される。
また、ディスクが装着されていない場合には、三角波発
生器837の出力が切換回路839を介して駆動回路8
41,843に入力され、圧電素子54.56の変位に
より対物レンズが上下動し、ディスク9が装着されて、
焦点制御信号FAが検知器838に人力されると、切換
回路839がA側に切換り、オートフォーカスサーボに
引込まれる。
生器837の出力が切換回路839を介して駆動回路8
41,843に入力され、圧電素子54.56の変位に
より対物レンズが上下動し、ディスク9が装着されて、
焦点制御信号FAが検知器838に人力されると、切換
回路839がA側に切換り、オートフォーカスサーボに
引込まれる。
上述のように、圧電素子54.56は焦点制御信号FA
I、トラッキング制御信号TA4による駆動信号A1=
FA1+’l’A3.A2=1=’Al−Ta2、によ
って駆動され、トラッキング制御信号が正になると例え
ば圧電素子は伸び、このため対物レンズ5はディスク9
に接近する。合焦点位置に対物レンズ5がある時に、フ
ォーカス制御信号FAIが零で、合焦点時より対物レン
ズ5がディスク9から遠ざかると、フォーカス制御信号
FAIが正方向に変化するように設定しておけば、上述
の圧電素子54.56の変位により、対物レンズ5がデ
ィスク9に接近し、合焦点位置まで移動する。このよう
に上述のオートフォーカス制御回路により、ディスク9
の而振れ等に対して、常に対物レンズ5の焦点をディス
ク9上に合わせることが可能となる。
I、トラッキング制御信号TA4による駆動信号A1=
FA1+’l’A3.A2=1=’Al−Ta2、によ
って駆動され、トラッキング制御信号が正になると例え
ば圧電素子は伸び、このため対物レンズ5はディスク9
に接近する。合焦点位置に対物レンズ5がある時に、フ
ォーカス制御信号FAIが零で、合焦点時より対物レン
ズ5がディスク9から遠ざかると、フォーカス制御信号
FAIが正方向に変化するように設定しておけば、上述
の圧電素子54.56の変位により、対物レンズ5がデ
ィスク9に接近し、合焦点位置まで移動する。このよう
に上述のオートフォーカス制御回路により、ディスク9
の而振れ等に対して、常に対物レンズ5の焦点をディス
ク9上に合わせることが可能となる。
第8図では、第5図のオートトラッキングサーボ832
並びにアクチュエータ8の詳細構成を示す。
並びにアクチュエータ8の詳細構成を示す。
トラッキング制御信号TAIとTa2は、比較器850
にて、トラッキング制御信号TA3 (=”I’A 1
−’I”A 2) 4:、変換される。
にて、トラッキング制御信号TA3 (=”I’A 1
−’I”A 2) 4:、変換される。
このトラッキング制御信号TA3は、位相補償回路58
1、トラッキングAGC回路852を介して、加算器8
53の入力となる。
1、トラッキングAGC回路852を介して、加算器8
53の入力となる。
一方、ジャンプ指令J Cがジャンプパルス発生回路8
54に加えられ、この出方ジャンプパルスJ l’も加
算器853の人力となる。
54に加えられ、この出方ジャンプパルスJ l’も加
算器853の人力となる。
この加算器853の出力1゛A4は、加算器840、引
算器842にそれぞれ加えられ、これらの加算器840
、引算器842の出力At、A2は、焦点制御信号FA
Iとの関係から、Al=FAl十TA4.A2=FAl
−Ta2となる。これらの駆動信号Al、A2が駆動回
路841,843を介して圧電素子54.56に加えら
れ、これらの圧電素子54.56はトラッキング制御信
号T A 4に応じて変位する。
算器842にそれぞれ加えられ、これらの加算器840
、引算器842の出力At、A2は、焦点制御信号FA
Iとの関係から、Al=FAl十TA4.A2=FAl
−Ta2となる。これらの駆動信号Al、A2が駆動回
路841,843を介して圧電素子54.56に加えら
れ、これらの圧電素子54.56はトラッキング制御信
号T A 4に応じて変位する。
これらの圧電素子54.56に加えられる駆動信号Al
、A2中のトラッキング制御信号TA4の符号は、トラ
ッキング制御信号TA4に対して2つの圧電素子54.
56が逆の動き(一方が伸びる場合は、他方が縮む)と
なるように、反対に設定する。
、A2中のトラッキング制御信号TA4の符号は、トラ
ッキング制御信号TA4に対して2つの圧電素子54.
56が逆の動き(一方が伸びる場合は、他方が縮む)と
なるように、反対に設定する。
従って、圧電素子54.56にトラッキング制御信号T
A4に応じて生じる変位は、対物レンズ5からのビーム
光がディスク9上のトラックに対して直角方向に移動せ
しめるように、ディスク9の表面に対する対物レンズ5
上の平行面からの対物レンズ5の角度を変化させるので
、トラックに対するビーム光のずれを光検知器7によっ
て検出したトラック制御信号TAI、’I″A2を上述
の回路に加えることにより、トランクに対するビーム光
のずれを無くし、正確にビーム光をトラック上に照射で
きるように制御するオートトラッキングサーボが構成で
きる。
A4に応じて生じる変位は、対物レンズ5からのビーム
光がディスク9上のトラックに対して直角方向に移動せ
しめるように、ディスク9の表面に対する対物レンズ5
上の平行面からの対物レンズ5の角度を変化させるので
、トラックに対するビーム光のずれを光検知器7によっ
て検出したトラック制御信号TAI、’I″A2を上述
の回路に加えることにより、トランクに対するビーム光
のずれを無くし、正確にビーム光をトラック上に照射で
きるように制御するオートトラッキングサーボが構成で
きる。
また、光ビームの照射するトラックを移動させるトラッ
キングジャンプ指令JCが人力されると、トラッキング
制御信号TA4にジャンプパルスJPが加わることによ
り、光ビームの照射トラックの移動が行なわれる。
キングジャンプ指令JCが人力されると、トラッキング
制御信号TA4にジャンプパルスJPが加わることによ
り、光ビームの照射トラックの移動が行なわれる。
更に、トラック制御信号’l’ A 4は、高周波信号
を排除し、低周波成分のみを通過させる位相補償回路8
54を介して、低周波トラッキング制御信号TA5に変
換され、加算器855に加わり、更に駆動回路856に
加えられる。
を排除し、低周波成分のみを通過させる位相補償回路8
54を介して、低周波トラッキング制御信号TA5に変
換され、加算器855に加わり、更に駆動回路856に
加えられる。
駆動回路856は加算器855の出力、ヘッド送り信号
H1に応じて、光学ヘッド送り用のアクチュエータコイ
ル857に電流を供給する。
H1に応じて、光学ヘッド送り用のアクチュエータコイ
ル857に電流を供給する。
前記トラック制御信号TA5は高周波成分が排除されて
いるので、ヘッド送り信号I(1はディスクの回転によ
ってビーム光の照射されるトラックが徐々に径方向に移
動することに対応する直流信号となるので、光学ヘッド
の径方向の送りがこの制御系によって行なわれる。
いるので、ヘッド送り信号I(1はディスクの回転によ
ってビーム光の照射されるトラックが徐々に径方向に移
動することに対応する直流信号となるので、光学ヘッド
の径方向の送りがこの制御系によって行なわれる。
また、ビーム光を照射するトラックを大幅に移動する場
合は、移動トラック指令ADIが比較器859に加えら
れる。
合は、移動トラック指令ADIが比較器859に加えら
れる。
この比較器859には、トラッキング制御信号TA3の
ゼロクロスをトラック数カウンタ858によってカウン
トした移動トラック数AD2が加えられ、移動トラック
指令ADIから差引いた残りトラック数AD3が出力さ
れる。
ゼロクロスをトラック数カウンタ858によってカウン
トした移動トラック数AD2が加えられ、移動トラック
指令ADIから差引いた残りトラック数AD3が出力さ
れる。
この残りトラック数ΔD3は切換回路860に加わり、
残りトラック数がN以上の場合は電源電圧を、N以下の
場合は零となる。トラッキング制御信号TA6が、加算
器855に加わる。ここで、Nは、圧電素子54.56
による対物レンズの移動によりトラック制御可能なl−
ラック数である。
残りトラック数がN以上の場合は電源電圧を、N以下の
場合は零となる。トラッキング制御信号TA6が、加算
器855に加わる。ここで、Nは、圧電素子54.56
による対物レンズの移動によりトラック制御可能なl−
ラック数である。
上述の構成により、移動トラック指令ADIにより、ビ
ーム光の照射トラックが移動トラック指令ADIからN
以内に入るまで、光学ヘッド送り用アクチュエータコイ
ルには最大電圧が印加され、最高速で移動し、ビーム光
の照射トラックが移動トラック指令ADIからN以内に
入ると、今度はトラックジャンプ指令がジャンプパルス
発生回路に人力され、圧電素子54.56による対物レ
ンズ制御により、移動トラック指令ADIにより指定さ
れたトラックにビーム光が照射されるように制御される
。
ーム光の照射トラックが移動トラック指令ADIからN
以内に入るまで、光学ヘッド送り用アクチュエータコイ
ルには最大電圧が印加され、最高速で移動し、ビーム光
の照射トラックが移動トラック指令ADIからN以内に
入ると、今度はトラックジャンプ指令がジャンプパルス
発生回路に人力され、圧電素子54.56による対物レ
ンズ制御により、移動トラック指令ADIにより指定さ
れたトラックにビーム光が照射されるように制御される
。
第9図では、第5図の回転制御1000、並びにモータ
10の詳細説明を示す。
10の詳細説明を示す。
加算器76でトラッキング制御信号TAI。
TA2を加算して、ディスク9に照射したビーム光の反
射光の光検知器7による検出光信号の総和SSを得、プ
リアンプ77、信号生成回路78を介して、再生信号S
Rが生成される。
射光の光検知器7による検出光信号の総和SSを得、プ
リアンプ77、信号生成回路78を介して、再生信号S
Rが生成される。
この再生信号SRからクロック分離回路10゜1を介し
て再生信号周波数に同期したクロックCLIを出力し、
基準信号発生器の出力パルスC[42を基に前記クロッ
クCLIを位相検波器1002にて位相検波し、クロッ
クCLIと基準信号CL 2との位相差に応じた位相検
波器1002の出力CL3が、補償回路1004を介し
て駆動回路1005に加わり、ディスク回転用のモータ
10のコイル1006に基準信号CL2に対するクロッ
クCLIの位相差に応じた電流が流れる。
て再生信号周波数に同期したクロックCLIを出力し、
基準信号発生器の出力パルスC[42を基に前記クロッ
クCLIを位相検波器1002にて位相検波し、クロッ
クCLIと基準信号CL 2との位相差に応じた位相検
波器1002の出力CL3が、補償回路1004を介し
て駆動回路1005に加わり、ディスク回転用のモータ
10のコイル1006に基準信号CL2に対するクロッ
クCLIの位相差に応じた電流が流れる。
従って、ディスクの再生信号周波数が基準信号周波数に
一致する様にモータ10aの回転数制御が行なオ〕れる
。
一致する様にモータ10aの回転数制御が行なオ〕れる
。
次に第6図のコリメーションレンズ2とカップリングレ
ンズ6について説明する。まず、コリメーションレンズ
2について、第10図、第11図を用いて説明する。
ンズ6について説明する。まず、コリメーションレンズ
2について、第10図、第11図を用いて説明する。
第10図にフレネルゾーンプレートを利用した非等方性
ビーム(だ円ビーl、)を等方性ビーム(真円)に変換
する光学系を示す。201で示されるフレネルゾーンプ
レートは一方向に光を集約する能力を持つ機能素子で、
円柱レンズ(かまぼこ形レンズ)と同じ動きを持ち1円
柱レンズより軽量小形という特徴がある。非等方性ビー
ム101は2枚のフレネルゾーンプレート201によっ
て等方性ビーム202に変換される。
ビーム(だ円ビーl、)を等方性ビーム(真円)に変換
する光学系を示す。201で示されるフレネルゾーンプ
レートは一方向に光を集約する能力を持つ機能素子で、
円柱レンズ(かまぼこ形レンズ)と同じ動きを持ち1円
柱レンズより軽量小形という特徴がある。非等方性ビー
ム101は2枚のフレネルゾーンプレート201によっ
て等方性ビーム202に変換される。
第11図の201aはフレネルゾーンプレート201を
上から見た図である。201b、201Cはこの素子を
横から見たものを示す。この素子上には凹凸(凹:21
1.凸:210)が次の規則によって交互に作られてい
る。このフレネルゾーンプレートの焦点距離(平行な光
を入射した時に一点に集約するまでの距離)をj。とし
、素子の中心に近い順にみぞ、もしくは谷までの距離を
r□l r21 r’j・・・rnとした時、□=
F了了、−1 ・・・(1)なる式が成り
立つ。ここではλは入射する光の波長である。具体的に
はr□は図中206、r2は207、rnは209で示
される。
上から見た図である。201b、201Cはこの素子を
横から見たものを示す。この素子上には凹凸(凹:21
1.凸:210)が次の規則によって交互に作られてい
る。このフレネルゾーンプレートの焦点距離(平行な光
を入射した時に一点に集約するまでの距離)をj。とし
、素子の中心に近い順にみぞ、もしくは谷までの距離を
r□l r21 r’j・・・rnとした時、□=
F了了、−1 ・・・(1)なる式が成り
立つ。ここではλは入射する光の波長である。具体的に
はr□は図中206、r2は207、rnは209で示
される。
第12図と第13図にフレネルゾーンプレートを利用し
た非点収差方式焦点位置検出光学系ならびに、フレネル
ゾーンプレー1〜の構成図を示す。
た非点収差方式焦点位置検出光学系ならびに、フレネル
ゾーンプレー1〜の構成図を示す。
これは第6図のカップリングレンズ6に相当する。
非点収差方式焦点位置検出方式は2枚の異なる焦点位置
を持つシリンドリカルレンズを直交方向にならへ、透過
ビームを、ある方向に長いだ円から、その方向に対して
直角方向に長いだ円まで変化させることで焦点位置を検
出する手法である。
を持つシリンドリカルレンズを直交方向にならへ、透過
ビームを、ある方向に長いだ円から、その方向に対して
直角方向に長いだ円まで変化させることで焦点位置を検
出する手法である。
本構成の特徴は直交する2枚のシリンドリカルレンズを
1枚のフレネルゾーンプレー1−で実現し光学系を軽量
小形にしたことである。
1枚のフレネルゾーンプレー1−で実現し光学系を軽量
小形にしたことである。
フレネルゾーンプレートの焦点距離fは次の式により決
定される。
定される。
f=(r、)”/nλ ・ (2)ここで、
nはフレネルゾーンプレートの凹凸の数、roは中心か
らn番目の凹凸までの距離、λは光の波長である。すな
わちnの値つまり凹凸の数を変えることにより異なった
焦点距離を持たせることができる。
nはフレネルゾーンプレートの凹凸の数、roは中心か
らn番目の凹凸までの距離、λは光の波長である。すな
わちnの値つまり凹凸の数を変えることにより異なった
焦点距離を持たせることができる。
具体的な例が第12図の602で示される複合化フレネ
ルゾーンプレー1・である。縦方向と横方向に凹凸を異
なったピッチで形成し、それぞれの方向に異なった焦点
距離を持たせている。
ルゾーンプレー1・である。縦方向と横方向に凹凸を異
なったピッチで形成し、それぞれの方向に異なった焦点
距離を持たせている。
この複合化フレネルゾーンプレート602へ平行ビーム
光601を照射すると、その出力ビーム形状は603か
ら608で示される様に連続的に形状が変化する。光デ
ィスク装置の対物レンズが合焦点位置にある時、平行ビ
ームが返ってくるとし、かつその時711で示される四
分割センサに真円すなわち605の位置に設置しておけ
ば、焦点がずれて、平行ビームがくずれた時、センサ上
のビーム形状は711a、711cで示される様に変化
し焦点ずれを検知することができる。
光601を照射すると、その出力ビーム形状は603か
ら608で示される様に連続的に形状が変化する。光デ
ィスク装置の対物レンズが合焦点位置にある時、平行ビ
ームが返ってくるとし、かつその時711で示される四
分割センサに真円すなわち605の位置に設置しておけ
ば、焦点がずれて、平行ビームがくずれた時、センサ上
のビーム形状は711a、711cで示される様に変化
し焦点ずれを検知することができる。
第13図に複合化フレネルゾーンプレートの詳細を示す
。縦方向ならびに横方向にそれぞれピッチの異なる溝を
オーバーラツプさせて2枚の異なった焦点距離の円柱レ
ンズの役をはたす。縦方向の溝による焦点位Wlf□は
式(2)よりf、−(ro) ”/ nλ
・ (3)として与えられる。rnは中心から縦方向の
最大距離で図中、r□は612.r、は613.− r
。
。縦方向ならびに横方向にそれぞれピッチの異なる溝を
オーバーラツプさせて2枚の異なった焦点距離の円柱レ
ンズの役をはたす。縦方向の溝による焦点位Wlf□は
式(2)よりf、−(ro) ”/ nλ
・ (3)として与えられる。rnは中心から縦方向の
最大距離で図中、r□は612.r、は613.− r
。
は615で与えられる。
また同様に横方向の溝による焦点位置f2は式(2)
%式%(4)
である。rn′は中心から横方向の最大距離で図中 、
1は619.r2’は620、・・・rn′は622で
与えられる。
1は619.r2’は620、・・・rn′は622で
与えられる。
次に第1図(a)、(b)を用いて可動マイクロレンズ
の実施例の構造と動作を説明する。51はガラス、セラ
ミックス、又はプラスチックスの透明材料からなる基板
、52はこの基板上にホトリソグラフィーの技術を応用
して形成した薄膜フレネルレンズで、透明基板中に屈折
率分布を作るいわゆるGRIN形のもので基板中に直接
不純物を拡散するプロセスで中央から徐々にその間隔が
狭くなる複数個の円を屈折率分布で基板中に作り込む。
の実施例の構造と動作を説明する。51はガラス、セラ
ミックス、又はプラスチックスの透明材料からなる基板
、52はこの基板上にホトリソグラフィーの技術を応用
して形成した薄膜フレネルレンズで、透明基板中に屈折
率分布を作るいわゆるGRIN形のもので基板中に直接
不純物を拡散するプロセスで中央から徐々にその間隔が
狭くなる複数個の円を屈折率分布で基板中に作り込む。
n番目の円の半径R,は次式で与えられる。
Rn =fi霞了
n:自然数
λ:先の波長
f:焦点距離
このようなレンズはフレネルレンズとして従来から知ら
れているが、ホトリソグラフィ微細加工技術を応用する
ことによって超重形のマイクロフレネルレンズを製作で
きる。寸法の一例は、基板の厚みが数lO〜数100μ
m、フレネルレンズの外径は100μm〜数膳で極薄、
小径のレンズがホトリソグラフィにより量産できる。5
3゜55は基板の外側に形成した梁で中央の円形レンズ
部を弾性的に支持する。この上にはPVF (ポリ弗化
ビニリデン)などの薄板圧電素子54゜56を被着させ
る。支持部53.55は直交するように形成されており
、第1図(b)に示すように圧電素子54.56に加え
る電圧を調整することによりレンズ52に入射、集光す
る光ビームの方向をそれぞれ梁の方向に振らせる。第1
図(b)にはそれぞれの圧電素子に加える電圧とレンズ
基板51の挙動を説明する。圧電素子54.54 ’に
電圧が印加されない場合(1)のように基板51の変形
はないから光ビームL1は垂直に入射し、ディスク9に
入射する。第1図(、)に示したようにディスク9にレ
ーザ光L1を照射し、情報を記録する場合にはディスク
上で直径約1μmのスポット径に集束させる必要がある
ので、ディスク9の回転などによる上下動がある場合、
レンズ51は常にこれに追随して動き、ディスク9面七
に光ビームL1を集束させなければならない。
れているが、ホトリソグラフィ微細加工技術を応用する
ことによって超重形のマイクロフレネルレンズを製作で
きる。寸法の一例は、基板の厚みが数lO〜数100μ
m、フレネルレンズの外径は100μm〜数膳で極薄、
小径のレンズがホトリソグラフィにより量産できる。5
3゜55は基板の外側に形成した梁で中央の円形レンズ
部を弾性的に支持する。この上にはPVF (ポリ弗化
ビニリデン)などの薄板圧電素子54゜56を被着させ
る。支持部53.55は直交するように形成されており
、第1図(b)に示すように圧電素子54.56に加え
る電圧を調整することによりレンズ52に入射、集光す
る光ビームの方向をそれぞれ梁の方向に振らせる。第1
図(b)にはそれぞれの圧電素子に加える電圧とレンズ
基板51の挙動を説明する。圧電素子54.54 ’に
電圧が印加されない場合(1)のように基板51の変形
はないから光ビームL1は垂直に入射し、ディスク9に
入射する。第1図(、)に示したようにディスク9にレ
ーザ光L1を照射し、情報を記録する場合にはディスク
上で直径約1μmのスポット径に集束させる必要がある
ので、ディスク9の回転などによる上下動がある場合、
レンズ51は常にこれに追随して動き、ディスク9面七
に光ビームL1を集束させなければならない。
このためディスクの上下動を前述したフォーカス検知(
第7図参照)により検出し、ディスク9とレンズ52の
距離が一定になるよう制御する。第1図(b)の(2)
では圧電素子54.54’に同一極性、同値の電圧を加
えることにより、弾性支持部53または55を対称的に
変形させレンズ52に垂直変位ΔZを与え、ディスク9
との距離を一定に保つ。また、第1図(a)に示すディ
スク9上の情報ビット91は1μ汀1くらいの小さいも
のゆえ、これを読取る照射光はこの1tム精度で制御し
て情報ピノh 91.1に当てなければならない。これ
に対し、ディスク9の回転に伴なう゛i径方向のふれは
数10μrnと大きいので、ディスク9上に集束する光
スポットはこのふれに追随させる必要がある。これはデ
ィスク半径方向に配列した弾性支持部53をこのLに被
着した圧電素子54.54’に異極性の電圧を加えて非
対称に変形すせ、第1図(b)(3)に示すようにレン
ズ52を傾け(理解しやすいように誇張して描いである
)ディスク9上での光スポットを△rふらせて回転ぶれ
に追随させる。この要領にてディスク9のトランク方向
に配列した弾性支持部55を非対称に変形させることに
より、ディスク9上での光スポットをジッタリングさせ
ることができる。
第7図参照)により検出し、ディスク9とレンズ52の
距離が一定になるよう制御する。第1図(b)の(2)
では圧電素子54.54’に同一極性、同値の電圧を加
えることにより、弾性支持部53または55を対称的に
変形させレンズ52に垂直変位ΔZを与え、ディスク9
との距離を一定に保つ。また、第1図(a)に示すディ
スク9上の情報ビット91は1μ汀1くらいの小さいも
のゆえ、これを読取る照射光はこの1tム精度で制御し
て情報ピノh 91.1に当てなければならない。これ
に対し、ディスク9の回転に伴なう゛i径方向のふれは
数10μrnと大きいので、ディスク9上に集束する光
スポットはこのふれに追随させる必要がある。これはデ
ィスク半径方向に配列した弾性支持部53をこのLに被
着した圧電素子54.54’に異極性の電圧を加えて非
対称に変形すせ、第1図(b)(3)に示すようにレン
ズ52を傾け(理解しやすいように誇張して描いである
)ディスク9上での光スポットを△rふらせて回転ぶれ
に追随させる。この要領にてディスク9のトランク方向
に配列した弾性支持部55を非対称に変形させることに
より、ディスク9上での光スポットをジッタリングさせ
ることができる。
書換可能型光ディスクの対物レンズとして本発明を応用
する場合、ディスク9に書かれた情報ビット91を消去
するに必要な時間だけ光を照射する機能としてジッタリ
ングが有用となる。
する場合、ディスク9に書かれた情報ビット91を消去
するに必要な時間だけ光を照射する機能としてジッタリ
ングが有用となる。
以上の説明は透明基板上に1個のマイクロフレネルレン
ズを持つ構成について光ディスク用対物レンズを例にと
ってその概略を説明したが、本発明の薄膜レンズ装置は
超小型で低コストゆえ、光ビームを2方向に拘束スキャ
ニングする装置としてバーコードリーダーやレーザビー
ムプリンタ等の情報機器用デバイスとしても有効である
。また。
ズを持つ構成について光ディスク用対物レンズを例にと
ってその概略を説明したが、本発明の薄膜レンズ装置は
超小型で低コストゆえ、光ビームを2方向に拘束スキャ
ニングする装置としてバーコードリーダーやレーザビー
ムプリンタ等の情報機器用デバイスとしても有効である
。また。
第1図(a)の説明では薄膜レンズの実施例として屈折
率分布を基板中に形成させるO RI Nレンズの例を
述べたが、第1図(b)に示すような、透明基板上にP
MMA (ポリメタアクリレート)をホトレジスト材と
して1μmくらいの膜厚に塗布し、これをホトリングラ
フイーで微細加工したマイクロフレネルレンズを用いて
もよい。ただし、1) M MΔ材は耐湿性に難がある
ため、長期使用のためにはスタンピングの技法で透明基
板中に溝を形成することによりマイクロフレネルレンズ
を構成した方がよい。
率分布を基板中に形成させるO RI Nレンズの例を
述べたが、第1図(b)に示すような、透明基板上にP
MMA (ポリメタアクリレート)をホトレジスト材と
して1μmくらいの膜厚に塗布し、これをホトリングラ
フイーで微細加工したマイクロフレネルレンズを用いて
もよい。ただし、1) M MΔ材は耐湿性に難がある
ため、長期使用のためにはスタンピングの技法で透明基
板中に溝を形成することによりマイクロフレネルレンズ
を構成した方がよい。
第14図は光ディスク用として必要な機能を具備した薄
膜レンズ装置で、基板51はガラスなどの透明材料から
なる薄板で中央部には主レンズ52、周辺部にはI・ラ
ック検知用小レンズ59と情報検知用小レンズ58が2
個ずつ配置されている。これらのレンズは第1図で説明
したと同じホトリソグラフィ技術を用いて微細加]ユさ
れ、1゛法は主レンズ52の直径が例えば2u11で検
知用レンズ58.59の直径が0.5a++である。こ
れらのレンズの外側には弾性支持部53.55が直交す
る関係で配設され、その上には薄板圧電素子54゜56
が被着されている。レーザダイオードからの光は上部か
ら小レンズ58.59の範囲まで入射してくるが、その
強度はガウス分布の周辺付近となる故弱い。これに比較
し、主レンズ52に入射する光強度は極めて強くディス
ク91−に情報ビット91を書込むに充分なパワーを有
するよう回折限界までスポット径を絞り込まれる。この
他に、検知レンズ58で検知した情報ビット91を消去
する場合には圧電素子56.56’ に異極性の電圧を
印加しなからトラック方向(円周方向)にディスク上の
光スボッ1へをジッタリング振動させ、情報ビットを所
要の時間照射して消去させる。相変態を利用する材料は
一般的に書込時間より消去時間が長く、このため光スポ
ットをディスク上の情報ビットに追従させ所要の時間だ
け照射する必要がある。小レンズ59はトラック検知用
の光ビームを情報ビット91が潜込まれるラインを検出
しラインから光スボッ1へが外れた場合、圧電素子54
.54’ に異極性の電圧を与え、前記第1図(b)の
要領でトラッキングを行うためのものである。
膜レンズ装置で、基板51はガラスなどの透明材料から
なる薄板で中央部には主レンズ52、周辺部にはI・ラ
ック検知用小レンズ59と情報検知用小レンズ58が2
個ずつ配置されている。これらのレンズは第1図で説明
したと同じホトリソグラフィ技術を用いて微細加]ユさ
れ、1゛法は主レンズ52の直径が例えば2u11で検
知用レンズ58.59の直径が0.5a++である。こ
れらのレンズの外側には弾性支持部53.55が直交す
る関係で配設され、その上には薄板圧電素子54゜56
が被着されている。レーザダイオードからの光は上部か
ら小レンズ58.59の範囲まで入射してくるが、その
強度はガウス分布の周辺付近となる故弱い。これに比較
し、主レンズ52に入射する光強度は極めて強くディス
ク91−に情報ビット91を書込むに充分なパワーを有
するよう回折限界までスポット径を絞り込まれる。この
他に、検知レンズ58で検知した情報ビット91を消去
する場合には圧電素子56.56’ に異極性の電圧を
印加しなからトラック方向(円周方向)にディスク上の
光スボッ1へをジッタリング振動させ、情報ビットを所
要の時間照射して消去させる。相変態を利用する材料は
一般的に書込時間より消去時間が長く、このため光スポ
ットをディスク上の情報ビットに追従させ所要の時間だ
け照射する必要がある。小レンズ59はトラック検知用
の光ビームを情報ビット91が潜込まれるラインを検出
しラインから光スボッ1へが外れた場合、圧電素子54
.54’ に異極性の電圧を与え、前記第1図(b)の
要領でトラッキングを行うためのものである。
このようにディスク而に異なる形状強度の光を=−枚の
基板51上に同時に形成することにより。
基板51上に同時に形成することにより。
読出し、消去、書込み作業を任意に実行できる光ディス
クに好適な情報記録再生用ヘッドを提供できる。
クに好適な情報記録再生用ヘッドを提供できる。
第15図は本発明による効果のひとつを説明するための
、トラッキング、あるいはフォーカス制御の周波数特性
の概念図を示す。
、トラッキング、あるいはフォーカス制御の周波数特性
の概念図を示す。
同図において、Flは従来の光学ヘッドの制御について
の周波数特性であり、F Nは本発明の光学ヘッドにつ
いての周波数特性である。
の周波数特性であり、F Nは本発明の光学ヘッドにつ
いての周波数特性である。
本発明の光学ヘッドは従来のものに比へて1重量が軽く
できるので、レンズの位置を制御するためのばねの強さ
も弱めることができるから、応答範囲を拡大できる。し
たがって、従来よりも高速度で所定の制御が行い得るの
で、ディスク上への記録、及び信号の再生などにおいて
、高速度化、S/Nの向」二ができる。
できるので、レンズの位置を制御するためのばねの強さ
も弱めることができるから、応答範囲を拡大できる。し
たがって、従来よりも高速度で所定の制御が行い得るの
で、ディスク上への記録、及び信号の再生などにおいて
、高速度化、S/Nの向」二ができる。
以上詳細に述べたように、本発明によ汎ば、従来偏光ビ
ームスプリッタと離して設けていた1/4波長板を、偏
光ビームスプリッタの対物レンズ側の面に接着したので
、部品点数が減り光軸調整の手間が省けるのみならず、
情報記録再生用ヘッドを小型、かつ薄型に構成すること
ができる。
ームスプリッタと離して設けていた1/4波長板を、偏
光ビームスプリッタの対物レンズ側の面に接着したので
、部品点数が減り光軸調整の手間が省けるのみならず、
情報記録再生用ヘッドを小型、かつ薄型に構成すること
ができる。
第1図は本発明の可動マイクロレンズの実施例の説明図
、第2図は従来の光ディスク装置の光学系の全体構成図
、第3図は従来の光検知器の構成図、第4図は従来の対
物レンズ隙動部の構成図、第5図は本発明の実施例の制
御系のブロック図、第6図は本発明の実施例の全体構成
図、第7図は本発明の実施例のオートフォーカスサーボ
系のブロック図、第8図は本発明の実施例のトラッキン
グサーボ系のブロック図、第9図は本発明の実施例の回
転制御系のブロック図、第10図は本発明の実施例のフ
レネルゾーンプレートを利用した光学系の説明図、第1
1図は本発明の実施例のフレネルゾーンプレートの説明
図、第12図は本発明の実施例のフレネルゾーンプレー
トを利用した非点収差方式焦点位置検出光学系の説明図
、第13図は本発明の実施例のフレネルゾーンプレー1
・の構成図、第14図は本発明の他の実施例の薄膜レン
ズ’i+il!の構成図、第15図は本発明による効果
のひとつを説明する、トラッキングあるいはフォーカス
制御の周波数特性の概念図である。 ■・・・レーザダイオード、2・・・コリメーションレ
ンズ、3・・・偏光ビームスプリッタ、4・・・1/4
波長板、 5・・・対物レンズ、 ・・カップリングレンズ、 7・・・光検知器、 ・・ディスク、 54゜ 56・・・圧電 素子。
、第2図は従来の光ディスク装置の光学系の全体構成図
、第3図は従来の光検知器の構成図、第4図は従来の対
物レンズ隙動部の構成図、第5図は本発明の実施例の制
御系のブロック図、第6図は本発明の実施例の全体構成
図、第7図は本発明の実施例のオートフォーカスサーボ
系のブロック図、第8図は本発明の実施例のトラッキン
グサーボ系のブロック図、第9図は本発明の実施例の回
転制御系のブロック図、第10図は本発明の実施例のフ
レネルゾーンプレートを利用した光学系の説明図、第1
1図は本発明の実施例のフレネルゾーンプレートの説明
図、第12図は本発明の実施例のフレネルゾーンプレー
トを利用した非点収差方式焦点位置検出光学系の説明図
、第13図は本発明の実施例のフレネルゾーンプレー1
・の構成図、第14図は本発明の他の実施例の薄膜レン
ズ’i+il!の構成図、第15図は本発明による効果
のひとつを説明する、トラッキングあるいはフォーカス
制御の周波数特性の概念図である。 ■・・・レーザダイオード、2・・・コリメーションレ
ンズ、3・・・偏光ビームスプリッタ、4・・・1/4
波長板、 5・・・対物レンズ、 ・・カップリングレンズ、 7・・・光検知器、 ・・ディスク、 54゜ 56・・・圧電 素子。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、光源からの光を平行光に変える第1のレンズと、前
記平行光を透過する偏光ビームスプリッタと、該偏光ビ
ームスプリッタを透過した平行光の位相をずらす1/4
波長板と、前記1/4波長板を透過した平行光を光ディ
スク上に集光し、該光ディスクから反射して戻った光を
平行光に変える第2のレンズと、該第2のレンズ及び前
記1/4波長板を介して戻った平行光を反射させる前記
偏光ビームスプリッタと、前記偏光ビームスプリッタが
反射した平行光を光検知器へ集光する第3のレンズと、
を備えた情報記録再生用ヘッドにおいて、前記1/4波
長板を前記偏光ビームスプリッタの光ディスク側の面に
接着したことを特徴とする情報記録再生用ヘッド。 2、光源からの光を平行光に変える第1のレンズと、前
記平行光を透過する偏光ビームスプリッタと、該偏光ビ
ームスプリッタを透過した平行光の位相をずらす1/4
波長板と、前記1/4波長板を透過した平行光を光ディ
スク上に集光し、該光ディスクから反射して戻った光を
平行光に変える第2のレンズと、該第2のレンズ及び前
記1/4波長板を介して戻った平行光を反射させる前記
偏光ビームスプリッタと、前記偏光ビームスプリッタが
反射した平行光を光検知器へ集光する第3のレンズと、
を備えた情報記録再生用ヘッドにおいて、前記1/4波
長板を前記偏光ビームスプリッタの光ディスク側の面に
スペーサを介して取り付けたことを特徴とする情報記録
再生用ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2200765A JPH03228235A (ja) | 1990-07-27 | 1990-07-27 | 情報記録再生用ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2200765A JPH03228235A (ja) | 1990-07-27 | 1990-07-27 | 情報記録再生用ヘッド |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21136884A Division JPS6191620A (ja) | 1984-10-11 | 1984-10-11 | 光学レンズ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03228235A true JPH03228235A (ja) | 1991-10-09 |
Family
ID=16429800
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2200765A Pending JPH03228235A (ja) | 1990-07-27 | 1990-07-27 | 情報記録再生用ヘッド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03228235A (ja) |
-
1990
- 1990-07-27 JP JP2200765A patent/JPH03228235A/ja active Pending
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