JPS6156912B2 - - Google Patents

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JPS6156912B2
JPS6156912B2 JP52146588A JP14658877A JPS6156912B2 JP S6156912 B2 JPS6156912 B2 JP S6156912B2 JP 52146588 A JP52146588 A JP 52146588A JP 14658877 A JP14658877 A JP 14658877A JP S6156912 B2 JPS6156912 B2 JP S6156912B2
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semiconductor
switches
light
scanning
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JP52146588A
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Mutsuo Takenochi
Shunsuke Tomyama
Takashi Ozawa
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Fujifilm Business Innovation Corp
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Fuji Xerox Co Ltd
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Publication date
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    • H04N1/04Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa
    • H04N1/19Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa using multi-element arrays
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    • H04N1/192Simultaneously or substantially simultaneously scanning picture elements on one main scanning line
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    • H04N1/1931Simultaneously or substantially simultaneously scanning picture elements on one main scanning line using electrically scanned linear arrays, e.g. linear CCD arrays with scanning elements electrically interconnected in groups
    • HELECTRICITY
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    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
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    • H01L27/14665Imagers using a photoconductor layer
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    • H04N1/031Details of scanning heads ; Means for illuminating the original for picture information pick-up with photodetectors arranged in a substantially linear array the photodetectors having a one-to-one and optically positive correspondence with the scanned picture elements, e.g. linear contact sensors

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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は手書、タイプ或いは印刷された原稿な
どの種々の画像を時系列の電気信号に変換する走
査型読取装置および読取方法に関する。
さらに詳しくは、一列に配列した複数個の光導
電セルと、各光導電セルの両電極に接続した複数
個の走査用半導体スイツチと、信号検出用負荷抵
抗および充電用電圧直流電源とから構成される固
体受光素子アレイ、ならびにその光導電セル上に
原稿の光像を投影する結像光学系を具備したこと
を特徴とする小型、安価な走査型読取装置および
読取方法に関する。
印刷された文字、絵などの画像のフアクシミリ
伝送には、従来から種々の複雑な型の光学的読取
装置が使用されている。
第1図は、市販されている光ダイオードアレイ
(PDA)の基本回路を示したものである。D1
D2,……,Dnはフオトダイオード、S1,S2,…
…,SnはFETスイツチ、Rは負荷抵抗、Eは直
流電源、G1,G2,……,GnはFETスイツチのゲ
ートで、このゲートの走査回路はシフトレジスタ
SRで構成される。
画像読取時に、フオトダイオードD1……Dnに
光像が照射されると、これらのダイオードの内部
インビーダンスが照射光像の強度に応じて変化す
る。この状態で、FETスイツチS1……Snを、例
えば左端から右端に向かつて順次に1個ずつ閉成
して一次元走査を行なうと、負荷抵抗Rの両端に
画像の電気的信号が得られる。
第1図に示したような市販の光ダイオードアレ
イやCCDセンサーは集積化されているため、原
稿の読取には縮小光学系を使わなければならな
い。このため光学系部分が大型化することはさけ
られず、これは、小型の原稿読取装置を作るため
には極めて都合の悪いことである。
それでは、例えば特開昭52−91314号公報にも
示されるように、1:1の原稿結像光学系、具体
的にはセルフオツクレンズを使えるような、原稿
幅大の受光素子アレイを採用しさえすれば小型に
できるかと言うと、そうではない。
市販の単品半導体スイツチを使つて読取回路を
作ろうとすれば、部品の大きさ、個数から判断し
てかなり大型且つ高価なものになつてしまう。ま
た、IC化されたスイツチ回路を用いたとして
も、これと受光素子アレイとの接続が複雑となる
ために、相当に大型化することはさけられない。
また第1図のような回路構成では、特定の1つ
のフオトダイオードおよび負荷抵抗に流れる電流
を読取る際に、厳密にいえば、前記電流は、他の
フオトダイオードや配線によつて生ずる浮遊容量
を流れる電流をも含むことになるので、読取画信
号の忠実やS/N比が低下するという問題があ
る。
したがつて、本発明の主な目的は、原稿幅大の
受光素子アレイおよびこれに近接配置された非シ
リコン系電界効果半導体スイツチの使用により、
以上のような欠点をなくし、小型で、安価な走査
型読取装置および読取方法を提供することにあ
る。
また本発明の目的は、1:1の結像光学系で、
一般原稿を時系列の電気信号に変換することので
きる小型な走査型読取装置および読取方法を提供
することにある。
本発明の別の目的は、1つの受光素子を含む基
本回路に、半導体スイツチを2個ずつ配置するこ
とによつて、極めて小数の電気部品で、一次元の
固体走査を可能とする走査型読取装置および読取
方法を提供することにある。
更に本発明の他の目的は、次の読出時点まで累
積された消滅電荷を高速で充電するときの電流を
検出する方式の採用により、実時間方式に比べて
高速の走査型読取装置および読取方法を提供する
ことにある。
以下本発明を、図面を参照して詳細に説明す
る。第3図は本発明の1実施例の概略斜視図で、
原稿結像光学系1、固体受光素子アレイ2、電気
的走査回路3,4および信号検出器5から構成さ
れる。
なお、原稿即ち二次元画像を時系列の電気信号
に変換するためには、一次元走査に原稿送り、又
はセンサー移送の機械的走査を付け加えればよい
だけなので、ここでは一次元走査に限つて述べ
る。
結像光学系1は原稿置き台6とレンズ7とで構
成される。この光学系は1:1結像光学系なの
で、レンズ7としてはセルフオツクレンズを使う
ことができ、小型化が容易である。
固体受光素子アレイ2は光導電体8、透明電極
9、対向電極10で構成され、この受光素子アレ
イ2に電気的走査回路3,4と信号検出回路5が
接続されている。なお、11は信号検出端子であ
る。
固体受光素子アレイ2は画素サイズに分割さ
れ、一次的に配列されている。原稿を8本/mmの
読取分解能で信号変換したいときには、受光素子
のセグメントのサイズを100μm×100μm、ピツ
チを125μmにすればよい。
固体受光素子アレイ2を拡大して、アレイ方向
断面を示したのが、第4図である。光導電体8
は、暗抵抗が1012Ω−cm以上、光感度が1pA/1u
×以上、光応答時間10msec以下の条件を満足す
るものでなければならない。
このような条件を満足するものには、Se−Te
合金、CdSe、N型或いはP型のシリコン結晶等
がある。透明電極9は、読取画素サイズのセグメ
ント9a,9b,9c……9nに分割された透明
導電膜で、例えばSnO2やIn2O3などである。従つ
て、固体受光素子アレイ2への光像は透明電極9
側から照射される。
対向電極10もm個のセグメント10,10
……10mに分割され、各セグメントは、分割
された透明電極セグメント9a,9b,9c……
9nの複数個を同時にカバーする共通電極とな
る。対向電極10は透明であつても不透明であつ
てもよいので、通常の金属の真空蒸着で容易につ
けることができる。
対向電極10が透明である場合には、光像をそ
の側から照射し、電極9は不透明であつてもよい
ことは当然である。
こうして得られる固体受光素子アレイ2は、各
セグメントについて、第2図に示した基本的等価
回路になるように接続されている。この場合、走
査用スイツチSA,SBはON抵抗が抵抗が105Ω以
下、OFF抵抗が1011Ω以上の半導体(FET)ス
イツチであり、第3図の走査回路3,4に含まれ
ている。
つぎに、第2図を参照して本発明による読取方
法について説明する。各受光素子Dは等価的に、
光スイツチPDとセンサ容量またはp−n接合容
量Cjとの並列回路であらわされる。SA,SBは走
査用FETスイツチで、Rは外部負荷抵抗であ
る。
スイツチSA,SBが閉じ、かつ受光素子Dに光
が照射されない状態では、受光素子D(PD,
Cj)には、逆バイアス電圧Eがかゝり、p−n
接合部には Q=CjE の電荷が蓄積される。前記電荷Qは通常飽和電荷
量と呼ばれる。
充電が終了してからスイツチSA,SBの少なく
とも一方が開かれ、その直後に、原画像の光像が
照射され始める。明かるさLの光がT時間照射さ
れたとき、受光素子Dの感度をIA/1uxとする
と、受光素子Dの光導電によつてその内部で放電
される電荷Qdは、 Qd=ILT となる。QdがQに等しくなるときのLとTの積
を飽和露光量という。
その後で受光素子への光照射を遮断してふたた
びスイツチSA,SBを閉じると、、内部放電した
電荷Qdに相当するだけの電荷が再充電される。
この再充電の電流を負荷抵抗Rの両端で検出すれ
ば画信号となるわけである。
したがつて、位置の異る受光素子Dの回路のス
イツチSA,SBが時系列的に開閉されて、受光素
子の一次元走査が実行されれば、出力信号は共通
の負荷抵抗Rから取り出されることになり、信号
端子11に電気的な読取画像信号が得られる。
以上に述べたスイツチの規則的開閉動作をさせ
るのが、第3図の走査回路3と4で、この2つの
スイツチ走査回路により、受光素子アレイ方向の
一次元的走査が行なわれ、画像信号の時系列読出
が可能となる。
先にも述べたように、本発明の光センサは比較
的大きいので、これらスイツチ回路が、部品の選
択次第で大きくなつてしまう性質を有する。前述
集積化されたスイツチ回路を使うとしても、配線
が長く、かつ複雑なつてしまうので実際には難し
い。
本発明はさらに非シリコン系半導体スイツチを
使い、これらを受光素子アレイと同基板上に形成
することによつて、前述の欠点のない小型、安価
な走査型読取装置を提供するものである。
第5図に、本発明を12個の固体受光素子アレイ
に適用した場合の電気回路の一例を示す。
図中で固体受光素子すなわち光導電セルを、ダ
イオードの記号D1,D2……で示したのは、透
明電極がSnO2すなわちn型半導体で、ダイオー
ド特性を示す構造になつているからである。単な
る光導電セルより、光ダイオード構造の方が読取
信号のS/N比は上がる。
図中第2,3図と同一の符号は同一部分をあら
わしている。SR1,SR2は半導体スイツチSA
1〜SA4,SB1〜SB3を制御して主走査を行な
わせるためのシフトレジスタ、C1,C2はシフ
トレジスタSR1,SR2を制御するカウンタ、
CLは各カウンタに入力されるクロツク信号、1
2は分周器である。
カウンタC2とシフトレジスタSR2によつて
半導体スイツチSB1〜SB3のいずれか1つが
ONにされ、その時間内に他の半導体スイツチSA
1〜SA4が1つずつ順次ONにされる。
これにより、光導電セルD1〜D12の回路に
挿入された1対のスイツチSA,SBが同時にON
となる位置が順次に移動し、光導電セルD〜D1
2の1次元走査が行なわれる。
この回路を、B4版サイズ原稿の読取用に構成
するには、光導電セルDが2048個必要となる。こ
の場合、1個の対向電極セグメントに32個の透明
電極セグメントを対向させるようにすると、半導
体スイツチはSAが32個、SBが64個必要となり、
96個の半導体スイツチで1次元走査を行なわせる
ことができる。
固体受光素子アレイ2および各半導体スイツチ
SA,SBを1体化した、本発明の一実施例の断面
図を第6図に、またその下面図を第7図に示す。
13はガラス等の絶縁性基板、14はその上に
形成された透明電極、15は光導電体、16は対
向電極、17はソース電極、18A,Bは酸化亜
鉛、硫化カドミウム、硫化亜鉛、セレン化カドミ
ウム等の非シリコン系電界効果半導体層、19
A,Bは絶縁体層、20A,Bはドレイン電極、
21A,Bはゲート電極である。
以上において、14〜16が第5図の光導電セ
ルDを構成し、14,18A〜21Aがスイツチ
SAを、また17,18B〜21BがスイツチB
を、それぞれ構成する。
第7図は、第5図における例えばSA1〜SA
4,D1〜D4およびSB1を1ブロツクとして
構成した場合の、電極パターンの平面図を示して
いる。
以上の説明から明らかなように、本発明の半導
体スイツチは、市販のMOS型スイツチと同じ構
造を有する。
また、前記非シリコン系電界効果半導体は、従
来の複写機用感光体で使われるようなもので、樹
脂結着剤とブレンドしたものを吹きつけたり、真
空蒸着のごとき、任意の便宜な手段によつて薄膜
化することができ、本発明のような長いアレイ長
をカバーするスイツチ群を作るには極めて適して
いる。
以上に説明した本発明の走査型読取装置は、単
品あるいは集積化半導体スイツチで構成する場合
に比べて、読取回路が小型、安価なうえ、基板上
の導電膜パターン処理だけで結線ができるため、
量産化もやりやすいという利点がある。
本発明者等が実施した装置は、第3図および第
5図の概略図と同じ構造である。
原稿結像光学系1の光学レンズ7としてはF
4,5、全光学長60mmのセルフオツクレンズを使
用した。
一方の走査回路3は、カウンタC1とシフトレ
ジスタSR1で構成され、それから半導体スイツ
チSAに結線され、各スイツチSA1,SA2……
は、一定個数おきの複数個の光導電セルD1,D
2……を同時にスイツチできるように配線されて
いる。
他方の走査回路4は、カウンタC2とシフトレ
ジスタSR2からなり、同様に半導体スイツチSB
を介して光導電セルDに接続されているが、1個
のスイツチSBが連続した複数個の光導電セルを
同時にスイツチできるように配線されている。
半導体スイツチSB1,SB2……の出力端は、
すべて共通に接続されて信号検出回路5の抵抗R
に接続され、電源Eを通つて閉回路をつくつてい
る。
第5図から明らかなように、半導体スイツチ
SAとSBのON状態の組み合わせで信号が読み出
されるので、シフトレジスタSR1,SR2のON
状態を一方向にそろえれば、固体受光素子アレイ
2の一次元走査が可能になる。
このために、カウンタC1にクロツク信号CL
を供給すると共に、同じクロツク信号を、分周器
12を介してカウンタC2に加える。シフトレジ
スタとしては、TI社のSN74154を使つた。
半導体スイツチSA,SBは、第6図に示すよう
に、受光素子アレイ2と同じ基板13上に、その
近傍に並べて作る。
第7図に示すように、絶縁性基板13上に形成
された導体パターンは、第5図の配線図どおりに
できており、同一平面内に光導電セルの透明電極
14、半導体スイツチのソース電極17およびド
レイン電極20A,Bがある。
半導体スイツチSA,SBの構造は第6,7図に
示したとおりで、すべてのスイツチについて、ソ
ース電極とドレイン電極の間隙は10μmで、電界
効果半導体層18A,Bは2μmのCdS半導体、
絶縁層19A,Bは1μmのSiO2、ゲート電極
21A,Bはアルミ金属膜である。
光導電セルは、絶縁性基板13上に、まず100
μm×500μm、ピツチ125μmでSnO2の透明電
極14を設け、この上にSe−Te合金膜の光導電
体15を幅100μm、厚み2μmでつける。この
上に16個の透明電極14を共用するように対向電
極16を金の蒸着で作る。
電極26からの結線はワイヤボンダ、又は重ね
蒸着で行なわれ、もう一方の半導体スイツチSB
のソース電極17に接続される。
以上に述べたようにして、本発明の読取装置を
作成し、一次元パターンを固体受光素子上に投影
して電気的走査回路3,4をスタートさせ、出力
信号をストレージ型オシロスコープに入力し、画
像を表示された。オシロスコープ上に表示された
図形は投影された光学像と良く一致するものであ
つた。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のフオトダイオードアレイの基本
回路図、第2図は、本発明の読取方法を説明する
ための、光センサー1個に着目したときの等価回
路、第3図は本発明の読取装置の概略斜視図、第
4図は本発明の光導電セルのアレイ部の拡大断面
図、第5図は本発明の1実施例を示すブロツク
図、第6図は本発明の受光部と半導体スイツチの
断面図、第7図はその電極パターンの1例を示す
下面図である。 1……結像光学系、2……固体受光素子アレ
イ、3,4……走査回路、5……信号検出器、7
……光学レンズ、8……光導電層、9……透明電
極、9a,9b……電極セグメント、10……対
向電極、SR1,SR2……シフトレジスタ、R…
…共通負荷抵抗、SA,SB……半導体スイツチ、
D……受光素子。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 光導電体層と、 光導電体層の一面に一次元的に配列され、電気
    的に互いに絶縁分離された画素サイズの電極セグ
    メント、 光導電層の他面に配置され、複数の電極セグメ
    ントに対向し、ダイオードおよびコンデンサの並
    列等価回路成分よりなる画素サイズの複数の受光
    素子を形成する対向電極と、 対向電極に接続された第1の半導体スイツチ
    と、各電極セグメントに接続された第2の半導体
    スイツチと、 前記第1、第2半導体スイツチに対して直列に
    接続された共通負荷抵抗および電源と、 前記各受光素子に光が照射されない間に前記第
    1、第2半導体スイツチを同時に閉成して、各コ
    ンデンサを充電すると共に、前記各受光素子に光
    が照射される間中前記第1、第2半導体スイツチ
    の少なくとも一方を開放するスイツチ制御手段
    と、 前記各受光素子に光が照射された、後に前記第
    1および第2スイツチを所定の順序で開閉し、対
    向配置された電極セグメントおよび対向電極間に
    順次に電圧を印加して一次元走査を行なわせ、前
    記各コンデンサを再充電する走査制御手段とを具
    備し、 前記第1、第2半導体スイツチ、受光素子およ
    びこれら相互間の配線は同一の絶縁基板上に形成
    され、 電極セグメントおよび対向電極のいずれか一方
    が透明であり、さらに 前記第1、第2半導体スイツチの少なくとも一
    方が非シリコン系半導体から構成されたことを特
    徴とする走査型読取装置。 2 各対向電極をそれぞれ第1のスイツチ群を介
    して共通負荷抵抗に接続し、各対向電極に対向し
    ている複数の電極セグメントを1群とし、各群内
    の対応位置にある電極セグメントを互いに電気的
    に接続し、かつそれぞれ第2のスイツチ群を介し
    て電源に接続し、第1および第2のスイツチ群を
    制御することにより、透明電極セグメントの一次
    元走査を行なうことを特徴とする前記特許請求の
    範囲第1項記載の走査型読取装置。 3 光導電体層と、光導電体層の一面に一次元的
    に配列され、電気的に互いに絶縁分離された画素
    サイズの電極セグメントと、光導電層の他面に配
    置され、複数の電極セグメントに対向し、ダイオ
    ードおよびコンデンサの並列等価回路成分よりな
    る画素サイズの複数の受光素子を形成する対向電
    極と、対向電極に接続された第1の半導体スイツ
    チと、各電極セグメントに接続された第2の半導
    体スイツチと、前記第1、第2半導体スイツチに
    対して直列に接続された共通負荷抵抗および電源
    とを含む走査型読取装置による画像の読取方法で
    あつて、 前記各受光素子に光が照射されない状態で、第
    1、第2の半導体スイツチを同時に閉成して、各
    コンデンサを充電する過程と、 前記第1、第2の半導体スイツチの少なくとも
    一方が開放された状態で、前記各受光素子に光像
    を照射し、各コンデンサの電荷を照射光の強度に
    応じて放電させる過程と、 前記各受光素子に対する光像の照射が終つた
    後、前記各受光素子に光が照射されない状態で、
    第1、第2の半導体スイツチを所定の順序で閉成
    して、各コンデンサを所定の順序で個々に再充電
    する過程と、 再充電時に共通負荷抵抗に流れる電流を検出
    し、読取信号として出力する過程とよりなること
    を特徴とする走査型読取方法。
JP14658877A 1977-12-08 1977-12-08 Scan reader Granted JPS5479511A (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14658877A JPS5479511A (en) 1977-12-08 1977-12-08 Scan reader
US05/967,757 US4271435A (en) 1977-12-08 1978-12-08 Scanning type readout device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14658877A JPS5479511A (en) 1977-12-08 1977-12-08 Scan reader

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5479511A JPS5479511A (en) 1979-06-25
JPS6156912B2 true JPS6156912B2 (ja) 1986-12-04

Family

ID=15411099

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